日本电子株式会社(JEOL)
现任日本电子应用工程师,主要负责FIB-SEM双束系统及氩离子截面抛光仪的样品测试、技术应用以及培训工作,具有丰富的聚焦离子束、双束系统、扫描电镜等理论基础和应用经历。硕士毕业于新南威尔士大学材料科学专业,主研方向为天然生物材料的压电性质和实际应用,积累了丰富的测试样品制备、超微切片、扫描电镜、原子力显微镜等测试研究经验。本科毕业于河北科技大学金属材料工程学系,主要学习方向为合金钢的热处理方案设计和力学性能优化。
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