报告视频
使用截面抛光仪制备电子元件截面样品——截面制备原理与封装半导体元件内部截面制备
专业的汽车生产环境检测系统-PCI系统的介绍
JEOL新一代高性能双束系统及环境颗粒检测系统(PCI)的介绍
日本电子最新核磁技术
精品会议
报告 全固态电池原位观察与分析——CP+SEM+EDS
报告 使用截面抛光仪制备电子元件截面样品——截面制备原理与封装半导体元件内部截面制备
报告 JEOL新一代高性能双束系统及环境颗粒检测系统(PCI)的介绍
报告 日本电子最新核磁技术
推荐专家
陈青山
应用工程师
朱明芬
叶跃奇
NMR高级经理
简诗涵