冯林博士，爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司应用科学家。于2020年在中国科学技术大学国家同步辐射实验室获得博士学位，研究方向为利用X射线光电子能谱（XPS）和扫描隧道显微镜（STM）等表面分析技术探索低维碳纳米材料表面生长机制。于2022年加入爱发科费恩斯（南京）仪器有限公司，在PHI南京表面分析实验室负责表面分析测试，以及XPS分析技术应用培训，在XPS、UPS（紫外光电子能谱）、AES（俄歇电子能谱）、TOF-SIMS（飞行时间二次离子质谱）等多种表面分析技术的应用方面拥有丰富的经验。