表面分析技术前沿进展及多领域联合应用探索-高德英特（北京）科技有限公司-仪器信息网3i讲堂

表面分析技术前沿进展及多领域联合应用探索

表面分析技术已被广泛应用于诸多科学研究以及高科技产业中。本报告将从空间分辨、深度分辨和原位表征多个维度出发，介绍表面分析技术（XPS、AES和TOF-SIMS等）的最新进展以及在多学科领域中的综合应用，包括研究材料表面微区特征组分和化学态的空间分布；研究膜层组分的深度分布；对材料进行原位测试芯能级、价带和导带电子结构等。