[报告]Dectris 混合像素直接电子探测技术在4D-STEM研究中的应用
报告时间: 2023-06-20 09:30
第九届 电子显微学网络会议（iCEM 2023）
2023年06月26日 13:30
赵颉
上海微纳国际贸易有限公司
理学博士，毕业于北京工业大学固体微结构与性能研究所，主要研究方向是金属材料塑性变形中的电子显微结构及其变形机理。在电子显微学领域具有超过十年的应用经验，了解多种电子显微学分析方法及制样技术。目前任职于上海微纳国际贸易有限公司，负责电镜制样相关及原位分析设备的推广与销售。
近年来，扫描透射(STEM)技术得到了快速的发展，在材料科学研究中收到了越来越多的重视。同时4D-STEM技术由于可以进行二维(2D)实空间会聚电子束扫描的同时，还会在对应探针的每个位置进行相应的二维(2D)动量空间的数据进行采集，这些数据共同组成了四维(4D)的数据结构。Dectris混合像素直接电子探测技术具有超快的信号读出速度，广泛的探测动态范围以及能量范围，广泛用于透射电子衍射、4D-STEM、应力分析、电场磁场分析、iDPC分析、叠层成像分析等。
上海微纳国际贸易有限公司
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