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[报告]Protochips基于机器学习全流程原位解决方案

报告时间: 2024-06-25 09:30

第十届电子显微学网络会议(iCEM 2024)

2024年06月25日 09:00

赵颉 上海微纳国际贸易有限公司

理学博士,毕业于北京工业大学固体微结构与性能研究所,主要研究方向是金属材料塑性变形中的电子显微结构及其变形机理。在电子显微学领域具有超过十年的应用经验,了解多种电子显微学分析方法及制样技术。目前任职于上海微纳国际贸易有限公司,负责电镜制样相关及原位分析设备的推广与销售。

透射电镜已经成为现代材料研究的重要手段之一,由于传统的透射电子显微镜只能局限在真空条件下对样品进行结构已经形貌的观察。针对温度、气氛、液体等环境下样品的动态变化过程难以进行直接的观察。使用原位透射电镜样品杆可以加入不同外场环境对样品进行原位动态的观察,获取最直接的动态结果,尤其是在研究纳米材料、热电材料、能源材料以及催化反应等领域具有十分强大的优势。Protocolchips基于机器学习采用热、电、气体以及液体原位样品杆,为用户带来了硬件以及软件的整合,提供了全新的原位实验解决方案。

上海微纳国际贸易有限公司

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