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[报告]TOF- SIMS飞行时间二次离子质谱仪的最新应用进展

报告时间: 2024-08-05 14:40

第十一届表面分析技术应用论坛暨表面化学分析国家标准宣贯会 网络研讨会

2024年08月05日 09:00

郭茹 北京艾飞拓科技有限公司

毕业于浙江大学环境工程专业。曾在日立、CMIC、日产化学担任分析工程师,从事材料领域的分析研究10年以上,熟悉化学分析、材料分析、表面分析、失效分析等多种分析应用。在TOF-SIMS系统上有7年+的工作经历,在半导体器件、高分子材料、电池材料以及其他有机无机材料方有着丰富的分析经验。现担任IONTOF北京代表处高级应用工程师,针对用户需求提供相应的解决方案。

ToF-SIMS作为一种特殊的表面分析技术,可以接近无损的获取最表面的元素、同位素、分子等信息,拥有高质量分辨和横向空间分辨的同时,还能对样品进行高纵向空间分辨的深度剖析以及三维分析。本报告主要从ToF-SIMS原理和工作模式、最新一代M6的性能优势和技术特色、可选择的多功能解决方案和联用技术、材料表征和实际的应用进展等几个方面进行技术分享。

北京艾飞拓科技有限公司(IONTOF中国代表处)

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