原子力显微镜 (atomic force microscope, AFM)利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针与受测样品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。技术历史虽只有30余年，但随着更多纳米科研人员对其不断认知以及相关关联等技术的丰富，AFM应用市场一直在不断拓延。

基于此，仪器信息网（instrument.com.cn）在2020年9月24日举办“第二届原子力显微镜主题网络研讨会”，邀请原子力显微镜/扫描探针显微镜研究应用专家、相关检测技术专家，以及实验室相关工作人员等，以网络在线报告、在线网友互动交流的形式，针对当下原子力显微镜/扫描探针显微镜研究热点、新技术及难点、相关市场展望等进行探讨，为同行搭建学习互动平台，增进学术交流。