XPS表面分析技术纳米材料领域中的应用

X射线光电子能谱仪是表面分析领域中一种崭新的分析技术,通过测量固体样品表面约10nm左右被激发出光电子的动能,进而对固体样品表面的元素成分进行定性、定量及价态分析。报告中主要介绍XPS原理、技术特点以及XPS在纳米、二维材料等领域的应用案例,旨在让科研工作者对XPS表面分析技术在材料领域的应用有所了解。

1237 2022-09-06
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