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请教各位,可以用阻抗谱方法研究玻璃材料介电性能,极化机制吗?
实验室的仪器(solartron SI 1260)被人借走用了一个月,拿回来后测量阻抗谱,结果阻抗实部随着频率降低而减小并变成负数,谱图中总是包含一个大的半圆弧,圆心在实部负轴上。检查了zplot的设置参数,都没有问题,问了用仪器的人也说没有改过设置。请问大家有没有碰到这种状况呢?都不知道应该怎么处理好了。btw:利用dummy cell测量的时候,用示波器检测了一下输入信号,结果发现频率正常,但是测量到的振幅总是加载电压的三倍。因为以前仪器正常,所以没有测过这个数值,请问这个正常吗?谢谢。
电化学阻抗测量技术与电化学阻抗谱的数据处理[/url]电化学阻抗谱(Electrochemical Impedance Spectroscopy,简写为 EIS),早期的电化学文献中称为交流阻抗(AC Impedance)。阻抗测量原本是电学中研究线性电路网络频率响应特性的一种方法,引用到研究电极过程,成了电化学研究中的一种实验方法。电化学阻抗谱方法是一种以小振幅的正弦波电位(或电流)为扰动信号的电化学测量方法。由于以小振幅的电信号对体系扰动,一方面可避免对体系产生大的影响,另一方面也使得扰动与体系的响应之间近似呈线性关系,这就使测量结果的数学处理变得简单。同时,电化学阻抗谱方法又是一种频率域的测量方法,它以测量得到的频率范围很宽的阻抗谱来研究电极系统,因而能比其他常规的电化学方法得到更多的动力学信息及电极界面结构的信息。 [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=162225][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=162225]电化学阻抗测量技术与电化学阻抗谱的数据处理[/url]