金属丝

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金属丝相关的厂商

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  • 上海顺有金属材料有限公司是专业生产经营有色金属及合金制品的工贸一体化公司.主要产品有金属钙,钙铝合金,金属锂、碲,锶,镍,铅粒等10余种稀贵金属。金属钙品种有:钙块,钙粒钙屑,钙丝钙棒,钙铝合金等,用于钢铁、合金、蓄电池等行业。金属锂品种有:锂带,锂片,电池级金属锂等,用于锂电池、石化、电子、合成橡胶等行业.金属锶品种有:锶块,铝锶合金,高纯锶粒。用于冶金化工、荧光材料,电子,蓄电池等。铅粒铅丸铅粉:直径0.5mm-20.0mm的优质电解铅粒。用于冶金电子,防辐射,配重等领域
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  • 正铭金属材料行凭借灵敏的市场信息和优越的货源渠道,提供优质名牌特殊金属材料及高科技金属产品与专业的服务阵容,我司奉行深入了解并满足客戶需求为导向,积极开拓,公开利润的经营、致力成为客户支持和信赖。公司鼓励在做商业决定中融合为多方可持续的共赢为使命社会价值观,优先为客户考虑提升客户的产品品质及推动精密的升级及提升客户之国际竞争力,致力于与客户建立可持续、积极稳定的商业伙伴关系。 客户购买我们的产品,仅仅是与我公司交往的开始,是售后服务部工作的开始,客户在使用正铭金属材料行产品的整个阶段内,全体售后服务人员以周到、细致、热忱、及时的服务,让客户轻松自如,无后顾之优地使用材料,真正体验到我公司的产品为客户带来的方便和创造的利润价值,让客户买到更放心的材料。
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金属丝相关的仪器

  • 梅特勒托利多在线检测设备为制药行业提供的金属检测机能够帮助客户满足行业标准,集成的剔除装置能够为药片、胶囊和药粉等产品提供专业的检测和剔除方案。 到梅特勒托利多官网详细了解 制药行业金属检测机 Tablex2和Pharma GF(制药行业用的重力下落式金属检测系统)均为镜面抛光的不锈钢材质达到药品级卫生部标准,帮助客户通过FDA认证,紧凑、方便清洁的结构设计方案满足制药行业对金属检测的要求。更先进的电磁线圈设计结合Signature软件控制使以上两种设备具有无可比拟的检测性能和在线稳定性,确保将很小的金属异物检测出来并有效剔除。 Tablex2 制药行业用的金属检测机设计上符合FDA、GMP和制药行业法规,动态检测药片和胶囊中的金属异物,提供全面的产品检测和剔除方案。Tablex 2检测系统对各种金属都具有无与伦比的金属检测精度,包括通常很难检测的金属屑和金属丝。坚固的结构设计和在线稳定性让性能更卓越。具有上下剔除和左右剔除两种剔除方式可选,确保不合格产品被剔除。通过薄膜键控面板进行简单的操作即可实现检测过程的控制。Pharma GF用于制药行业的金属检测机设计上符合FDA、GMP和制药行业法规,Pharma GF用于在垂直下落的药粉中检测并剔除各种金属异物。该设备是一套完整的产品检测系统。Pharma GF对所有金属异物具有无与伦比的检测精度,包括铁、非铁和通常很难检测的不锈钢屑和不锈钢丝。坚固的结构设计和在线稳定性让性能更卓越。集成的剔除装置确保含异物的产品被剔除。到梅特勒托利多官网详细了解 制药行业金属检测机无以伦比的高检测精度Pharma GF金属检测机专门为医药行业设计,提供最高的在线检测精度。金属检测头中采用了超高频率的感应线圈和复杂精密的数字噪声、振动过滤器,保证对各种金属的检测精度都是最高的。微小的铁、非铁和非磁性不锈钢颗粒,以及非球体的筛网丝、碎片都可以检测。符合医药行业(FDA)制造标准设计符合医药行业的卫生标准和FDA指导方针中的21 CFR Part 11要求。整机保护等级为IP65。采用抛光的不锈钢制造。其中的非金属产品滑道达到医药行业等级要求。设计方便拆卸,清理和调整都非常简单。设备认证文档包(EQ Pac)和在线性能确认有完整的设备认证文档包(EQ Pac),包括IQ、OQ和PQ等文档。同时系统中的&ldquo 性能确认程序&rdquo 可以提示何时需要做性能确认操作。性能确认程序会一步一步提示QA人员进行检测。剔除确认是标准的配置,它可以监测剔除装置是否正常工作。在一定的设定时间之内,如果剔除装置没有工作,机器就会报警。符合21 CFR Part 11根据FDA的CFR Part 11要求制造,确保符合GMP要求,同时能够实现网络连接和电子文档存储。集成的剔除装置有多种剔除装置可选,确保当异物被发现时,可以被最有效的剔除。数据收集&网络连接在电子结构中加入一个以太网适配器(选件)可以实现数据的实时收集,帮助实现生产管理。这些数据能够通过远程控制和分析,保住生成日志,触发警报,符合生产规范,获得21 CFR Part 11的认证。操作方便人性化的Signature隔膜键控面板方便快速设置,缩短产品更换重新设置时间 到梅特勒托利多官网详细了解 制药行业金属检测机梅特勒托利多官方客服热线:4008-878-788需要更多信息需要报价 商务信息产品样本服务最大化宣传样本 英文版 (pdf - 2 MB)梅特勒托利多产品检测能力Metal Detection (pdf - 513 KB) 技术信息 知识基础常见问题解答:金属检测机 需要更多信息需要报价
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  • A-Z系列金属丝 400-860-5168转2205
    A-Z系列金属丝 合肥科晶公司提供A-Z系列金属丝,可以按照客户要求加工。Au丝金丝Ag丝银丝Pt丝铂丝Co丝钴丝Cr丝铬丝Al丝铝丝Ni丝镍丝Nb丝铌丝W丝钨丝Mo丝钼丝Sn丝锡丝Ta丝钽丝Ti丝钛丝V丝钒丝…………
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  • 鱼线丝线金属丝拉力测试机的主要技术参数1,传感器:1000N以内自选2,机械系统:单立柱结构、高精密滚珠丝杠;3,导向杆:表面经高温及硬铬电镀处理,HRC60以上;4,防尘装置:抑叠防尘罩,保护丝杆;延长使用寿命;5,显示方式:液晶显示,人机界面/电脑双控,操作方便;6,控制软件:UTM材料试验机专用软件, 中英文显示互换,力量和长度单位可任意切换,向导式菜单操作,测试项目完整,打印报告格式美观,与国际接轨 ,已涵盖GB、ASTM、DIN、JIS、BS… 等测 试标准,亦可自编达到所需; 8,各种控制模式任选: 定位移、定速度、定荷重等;9,夹具: 根据客户要求具体要求定制鱼线丝线金属丝拉力测试机专用夹具一套; 10,机台外壳: 优质55#钢板,静电喷涂,美观大方,长久不褪色;11,多重保护装置: 上下限行程, 紧急刹车开关, 漏电保护装置,断裂停机保护,软体超载保护等;12,整台设备外观大气,造型美观,操作有序,精密度高;13,自动清零:主控计算机接到试验开始指令,测量系统便自动清零;14,自动返车:自动识别试样断裂后,活动横梁自动高速返回初始位置;15,自动存盘:试验数据和测试条件自动存盘,杜绝因突然断电或忘记存盘引起的数据丢失;16,自动变速:试验过程中横梁速度可按预先设定的程序自动变化,也可手动变化;17,结果再现:试验结果可任意存取,可对数据曲线再分析;18,曲线遍历:试验完成后,可用鼠标找出试验曲线逐点的力值和变形数据,求取各种材料的试验参数方便实用;19,结果对比:多个试样特性曲线可用不同颜色迭加、再现、局部放大,实现一组试样的分析比较;20,曲线选择:可根据需要选择应力-应变、力-时间、强度-时间等曲线进行显示和打印;21,单位互换:应力 应变 力 时间 强度等项目可根据需要选择不同单位切换.22,批量试验:对参数相同的试样,一次设定后可顺次完成一批试样的试验;23,试验报告:可按用户要求的格式对试验报告进行编程和打印;24,限位保护:具有程控和机械两级限位保护功能;25,过载保护:当负载超过额定值的 5%时自动停机;26,一机多用:通过配置不同规格的传感器,连接系统和测量软件,实现一机多用。 我公司生产的电子万能材料试验机主要用于对各类材料等进行常规力学性能指标的测试,可根据GB、JIS、ASTM、DIN、ISO等标准自动求取 试验力值、断裂力值、屈服强度、上下屈服强度、抗拉强度、抗压强度、断裂延伸率、拉伸弹性模量、弯曲弹性模量等试验数据。
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金属丝相关的资讯

  • 岛津EPMA在形状记忆合金中的应用
    形状记忆合金是通过热弹性与马氏体相变及其逆变而具有形状记忆效应的由两种以上金属元素所构成的材料。迄今为止,人们发现具有形状记忆效应的合金有50多种,在航空航天、机械电子、生物医疗等领域具有广泛的应用。下文将举例介绍电子探针(EPMA)在镍-钛形状记忆合金中的应用。图1. 岛津场发射电子探针EPMA-8050G岛津EPMA-8050G型电子探针(图1)搭载高质量场发射电子光学系统,结合岛津特有的52.5°高X射线取出角和全聚焦晶体,可以实现:01优越的空间分辨率EPMA-8050G可达到的更高级别的二次电子图像分辨率3nm(加速电压30kV)。(加速电压10kV时20nm@10nA/50nm@100nA/150nm@1μA)02大束流更高灵敏度分析可实现其他仪器所不能达到的大束流(加速电压30kV时可达3μA)。在超微量元素的检测灵敏度上实现了质的飞跃,将元素面分析时超微量元素成分分布的可视化成为现实。按原子比由Ti和Ni各占50%的合金称为镍-钛合金(Nitinol),具有良好的形状记忆性能和超弹性性能。形状记忆合金具有一个显著的特点,即变形到任意形状后,加热到相变温度(相变点)或更高时,能恢复变形前的原始形状,而超弹性合金则是在载荷作用下变形,在载荷消除后恢复原始形状。相变温度大致可以在0℃-100℃之间变化,主要通过改变Ti和Ni的合金原子比值或者加入1%或更少的第三相元素(比如Cr、Co、Cu等)。正畸金属丝是一种典型的镍-钛合金,具备形状记忆和超弹性性能,主要的选材差异在于根据患者的牙周状况和对疼痛的敏感程度来选择具有不同相变温度的矫正材料。图2. 展示了正畸金属丝中主要的合金元素面扫描图像及相分析结果,清晰可见材料基体的元素组成以及其中离散分布的微米级别的混合相结构。图2. 正畸金属丝中各合金元素面扫描图像及相分析结果选择三种具有不同相变温度的正畸材料分别进行定量分析,结果如表1所示,总含量低于1%的Cr元素存在较为明显的含量差异。表1. Af27、Af35、Af40型号正畸金属丝元素定量测试结果结合图3. 展示的三种不同型号的元素面扫描结果,可以更清楚地看到Cr元素含量的差异,同时离散分布的点状微结构中Ni元素被替代的情况也存在差别。图3. 各型正畸金属丝中的元素面扫描图像(a)Af27,(b)Af35,(c)Af40图4. 展示了放大条件下Af27材料中微结构的元素面扫描及相分析结果,表明多化合物混合相的存在。图4. Af27正畸金属丝中化合物相分析更多电子探针仪器信息和相关应用敬请关注岛津科技资讯通推文内容。本文内容非商业广告,仅供专业人士参考。
  • Nature:皮米精度位移测量激光干涉仪助力声子四极拓扑绝缘体观测
    电荷化理论能够描述中性玻色子系统的布洛赫能带,它预言二维量子化的四缘体具有带隙、拓扑的一维边缘模式。苏黎世邦理工大学的Sebastian Huber教授课题组巧妙地利用一种机械超材料结构来模拟二维的拓扑缘体,次在实验上观测到了声子四拓扑缘体。这一具有重要意义的结果时间被刊登在nature上。研究人员通过测试一种机械超材料的体、边缘和拐角的物理属性,发现了理论预言的带隙边缘和隙内拐角态。这为实验实现高维度的拓扑超材料奠定了重要基石。 图1:实验装置示意图(图片来源:doi:10.1038/nature25156) 值得指出的是,Sebastian Huber教授利用细金属丝将100片硅片组成一个10cmX10cm的平面,以此来模式二维拓扑缘体(如图1所示)。关键点是,当硅晶片被超声激励时,只有中心点有振动;其他角尽管连接在一起仍然保持静止。这种行为类似于二维拓扑缘体的带隙边缘和隙内拐角态的电子行为。而如何探测硅晶片的微小振动是整个实验成功的关键,Sebastian Huber教授利用德国attocube system AG公司的IDS3010皮米精度激光干涉仪(如图2所示)来测量硅晶片不同位置的微小振动变化,整个测量系统的不确定度达到5pm的精度,测量统计误差达到10pm,后在通过超声激励后测得硅晶片的中心位置的振动位移为11.2pm,通过傅里叶变换之后在73.6KHz(如图3所示)。通过attocube皮米精度激光干涉仪IDS3010成功实现声子四拓扑缘体的次观测。 图2:皮米精度位移测量激光干涉仪IDS3010 图3:测量系统示意图和经过傅里叶频率变换的测量结果(图片来源:doi:10.1038/nature25156)IDS3010皮米精度位移测量激光干涉仪体积小、测量精度高,分辨率高达1 pm,适合集成到工业应用与同步辐射应用中,包括闭环位移反馈系统搭建、振动测量、轴承误差测量等。同时也得到了国内外众多低温、超导、真空等领域科研用户的认可和肯定。
  • 图像分析法在3D打印金属粉末粒度及形状表征领域的应用
    2021年6月1日,《增材制造 金属粉末性能表征方法》(GB/T 39251-2020)[6]正式实施, 该标准中明确要求按照《粒度分析 图像分析法 第2部分:动态图像分析法》(GB/T 21649.2- 2017)[3]来检测并计算金属粉末颗粒投影的球形度值。早在2018年,德国最大的学术组织德 国工程师协会(Verein Deutscher Ingenieure,VDI)在《Additive manufacturing processes, rapid manufacturing Beam melting of metallic parts Characterisation of powder feedstock》(VDI 3405 Part 2.3)[13]中已将动态图像分析法列为增材制造金属粉末粒度及粒形分析的首选方法;美国材料试验协会(American Society of Testing Materials,ASTM)在《Additive manufacturing — Feedstock materials — Methods to characterize metal powders》(ASTM 52907:2019)[12]中, 也将动态图像分析法列为金属粉末粒度分析的方法之一。此次GB/T 39251的实施,代表着我国在金属粉末表征领域与国际同步。 自1999年动态图像法被发明至今已有22年的发展历程,技术层面已经十分成熟,得益于其“所见即所得”的直接测量方法,如今在亚微米-毫米尺度内正被越来越多的用户推崇, 用于颗粒粒度与粒形表征。本文使用图像分析法,激光衍射法和筛分法分别测量了金属粉末的粒度与形状,从形状分析灵敏度、与传统方法对比以及对大颗粒的检测灵敏度等方面对测量结果进行了对比分析,论证了图像分析法在该领域的应用优势。 1. 动态图像法分析原理说明:1 分散态的颗粒;2 颗粒运动控制装置;3 测量区域;4 光源;5 光学系统;6 景深;7 图像采集 设备;8 图像分析设备;9 显示 图1 动态图像法流程图 动态图像分析流程:粉末样品在(2)颗粒运动控制装置的控制下,均匀分散地进入(3) 测量区域,(4)光源发射的可见光经(5)光学系统转变为平行光,平行光照射到粉末颗粒 后形成的颗粒投影被(6)图像采集设备拍摄捕捉,颗粒图像传输至(8)图像分析设备,统 计分析得到最终结果(9)。图2 基于双摄像头成像技术的Microtrac MRB动态图像分析仪Camsizer X2,分析范围0.8μm-8mm 2 . 动态图像法在增材制造领域的应用优势 增材制造金属粉末粒度一般在20μm-80μm之间并且分布尽可能窄,同时卫星颗粒、非球形颗粒、超大颗粒或熔结颗粒的含量应尽可能低,以提高粉末烧结性能并且避免成型缺陷。 另外,3D打印过程中仅有少部分粉末用于部件成型,另有大部分粉末需要回收利用,回收粉末是否仍然满足打印质量要求是金属粉末质量检测的重要课题。传统方法一般使用筛分法或 气流分级法分级金属粉末得到所需粒度段,使用激光衍射法和筛分法测定金属粉末粒度分布,使用扫描电镜观察金属粉末球形度。 2.1 快速准确定量分析颗粒形状 利用气雾法在不同生产条件下得到原始粉末,并使用筛分法筛选出<60μm的1#与2#合 金粉末,使用SEM扫描电镜观察1#与2#合金粉末,得到图3样品图片,使用动态图像分析仪 Camsizer X2检测1#与2#合金粉末,得到图4的粒度分布与粒形分布曲线。图3 1#、2#合金粉末的扫描电镜图像图4 1#与2#合金粉末的粒度频率分布曲线(左)与球形度曲线(右)分析仪器:Microtrac MRB德国麦奇克莱驰 Camsizer X2 如图4所示,1#与2#样品粒度分布几乎完全重叠,但其球形度SHPT分布曲线呈现明显差 异,其中1#样品SHPT曲线整体更靠近右侧,表明1#样品的颗粒形貌更加规则。 表1 具有相同粒度分布的两个金属粉末样品的动态图像分析结果从表1中可知,1#与2#样品的D10、D50、D90值偏差仅有1μm左右,使用激光粒度仪根 本无法检测出两个样品的差异;使用SEM观察颗粒形状,如图3所示,虽然直观感觉1#样品 的形貌比2#样品更加规则,但SEM无法量化表征粒形数值,只能作为参考展示和定性分析; 使用动态图像法检测两个样品,球形度SPHT平均值分别为0.9166和0.8596,如果把球形度值 0.9作为球形颗粒认定标准的话,1#与2#样品SPHT>0.9的球形颗粒占比分别为65.88%和 38.02%。动态图像分析仪仅用时4-5分钟,就统计了超过1000万颗颗粒信息,得到极佳的具 有统计代表性的结果。 2.2 粒度粒形同步分析 Microtrac MRB动态图像分析仪Camsizer X2采用两个420万像素的高分辨率摄像头,每 秒钟可拍摄超过300张图像,软件统计每一张图像中的每一颗颗粒粒度及形状数据。 使用Camsizer X2检测金属粉末得到颗粒投影原始灰度图像,如图5所示,使用图像分析 功能提取出两颗颗粒的粒度与粒形数据如表2所示。图5 动态图像法单颗粒投影原始图像 表2 单个颗粒粒度与粒形数据动态图像法拍摄统计每一颗颗粒的粒度及粒形数据,基于真实的颗粒测量,所见即所得, 不受样品折射率、遮光率的影响,不受筛网变形影响,检测结果比激光粒度仪和筛分仪更加 可靠。但是在新颁布的国家标准中,粒度分布测定方法仅列出了激光衍射法与筛分法,笔者 分析是在标准制定过程中,考虑到目前图像法分析仪的市场占有率远远低于激光粒度仪,出 于方法普遍性而做出的选择。在德国VDI和美国ASTM标准中,均将图像法列为粒度和粒形 分析方法之一,在后续的标准修订中我们应该改进。 2.3 与传统方法的对比 根据样品不同、检测方法不同、应用方向不同,颗粒粒径有多种不同定义,如图6所示。 图 6 常用的颗粒粒径定义 Xc min:颗粒弦长,从 64 个不同方向测量颗粒在该方向上的最大弦长 Xc,取 64 个弦长值中最小的一 个作为颗粒弦长 Xc min,Xc min常用于和筛分法结果对比。 Xarea:等效球径,与颗粒投影面积相等的圆形的直径,Xarea 常用于和激光衍射法结果对比。 XFe max:颗粒长度,从 64 个不同方向测量颗粒在该方向上的费雷特直径 XFe,取 64 个费雷特直径中最大的一个作为颗粒长度 XFe max,即颗粒的最大卡规径。 动态图像法根据颗粒投影所占据的像素数量与位置,一次进样可以检测图 6 中 3 种不 同的粒径定义。 2.3.1 动态图像法与激光衍射法的对比 激光粒度仪一般基于米氏理论或弗朗霍夫理论,利用颗粒对光的散射现象,根据散射光 能的分布计算被测颗粒的粒度分布:当样品颗粒的散射光分布与某一大小的球形颗粒的分布 一致时,即认为样品颗粒大小等于该球形颗粒的直径。即激光粒度仪所测粒径为图6中的等 效球径Xarea,对于大部分非规则的颗粒样品,激光粒度仪测量结果存在系统性偏差。 分别使用动态图像分析仪与激光粒度仪测量4种不同形状的金属粉末,得到图7的粒度累积分布曲线。图7 激光粒度仪与动态图像分析仪粒度累积分布曲线对比 动态图像分析仪器:Camsizer X2(Microtrac MRB) 激光粒度分析仪器:Sync(Microtrac MRB) 红色曲线:Xc min 颗粒弦长;绿色曲线:Xarea 等效球径;蓝色曲线:XFe max 颗粒长度;黑色曲线:激光粒度 使用动态图像分析仪可以同时得到颗粒弦长Xc min、等效球径Xarea与颗粒长度XFe max三条 曲线,如果样品是球形颗粒,如图7中Sample1与Sample2所示,3条曲线差距很小;如果样品 中含有非球形颗粒,如图7中Sample3与Sample4所示,3条曲线就会呈现明显差异,并且样品 越不规则,3条曲线差异越明显。激光粒度仪无法区分颗粒宽度与长度,其检测结果一般位 于动态图像分析仪的颗粒弦长与颗粒长度之间。Sample2为通过53μm孔径筛网的金属粉末,所有颗粒的弦长均应小于53μm,只有部分 颗粒的长度可能大于53μm。如图7所示,Sample2的红色曲线Xc min上限D100<53μm,只有 蓝色曲线XFe max检测到少量>53μm的颗粒,而黑色曲线激光粒度数据显示有超过5%的颗粒 >53μm,与实际存在误差。这表明,激光粒度仪对颗粒粒度上限的检测精度不够准确,图像分析仪可以准确检测粒度上限D100,更接近真实结果。 2.3.2 动态图像法与筛分法的对比 筛分法作为一种经典的颗粒分级与粒度分布测量方法,被广泛应用于金属粉末的质量控制,此次实施的国家标准中,建议>45μm的金属粉末可以采用筛分法来测定粒度及粒度分布。筛分法的优点是检测范围宽、重复性好、设备成本低,缺点是检测效率低,人为误差大, 受筛网变形影响大。目前所用的筛网一般是金属丝编织筛网,网孔大小指方形网孔编织丝线 间的垂直距离。理论上标准球形颗粒通过筛网的最小孔径等于其颗粒直径,非球形颗粒通过 筛网的最小孔径约等于其颗粒弦长,如图4所示。 分别使用筛分法和动态图像法测量某粒度区间位于100μm-5mm的宽分布塑料颗粒,得到图8所示曲线。图8 宽分布塑料颗粒动态图像法与筛分法一致性曲线,横坐标为筛网目数 动态图像法分析仪器:Camsizer P4(Microtrac MRB) 筛分法分析仪器:AS200C(Retsch GmbH) 如图8所示,即使是粒度分布非常宽的样品,动态图像分析仪Camsizer也能够准确检测, 检测结果Xc min与筛分法结果高度一致,可以直接替代筛分法用于金属粉末的粒度和粒度分布测定。 实际筛分过程中,由于筛网的产地不同、标准不同、质量不同等多方面因素,再加上筛分过程中的人为误差,常常会产生非常大的筛分误差。为减小筛分误差,首先应选用经过计量认证的不易变形的标准筛网,其次,应使用振动筛分仪器在标准程序下进行筛分。 2.4 超大颗粒的检测灵敏度 增材制造金属粉末中少量大颗粒的存在会很大程度上影响粉体流动性和铺粉效率,从而影响成型件的结构强度,容易形成空隙和划痕,所以需要对金属粉末的粒度分布,尤其是超大颗粒的含量进行严格的控制。传统的激光粒度仪由于分析原理限制,对于超大颗粒的检测灵敏度仅为 2%左右。德国麦奇克莱驰 Microtrac MRB 的动态图像分析仪 Camsizer X2 采用 双摄像头技术,拍摄区域宽,分析精度高,对超标颗粒检测灵敏度可达 0.01%。 在约5克<80微米的金属粉末样品(图9 上左)中加入约0.005克(0.1%)的超过200μm 的大颗粒(图9 上中),使用Camsizer X2检测该混合样品得到图9下粒度分布曲线。‍图9 动态图像分析仪Camsizer X2对超大颗粒的检测灵敏度 如图9下所示,Camsizer X2准确检测到0.1%的超大颗粒。继续添加不同组分的超大颗粒, 验证Camsizer X2对大颗粒含量的识别精度,得到如表3结果: 表3 Camsizer X2对不同组分大颗粒的检测精度即使低至0.005%含量的超大颗粒,Camsizer X2也能够准确识别,依靠其双摄像头成像 技术,Camsizer X2超宽的检测范围不会漏拍任何颗粒。 3. 静态图像分析法在增材制造领域的应用 此次实施的标准中,显微镜法也是测量粉末球形度的方法之一。显微镜配备测量软件, 即为一台静态图像分析仪器,方法依据《粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法》 (GB/T 21649.1 2008)[4]。图10 德国麦奇克莱驰Microtrac MRB静态图像分析仪Camsizer M1 静态图像分析仪Camsizer M1配备最多6个不同倍数的放大镜头,可以清晰拍摄细至0.5 微米的颗粒,检测上限可达1.5毫米,完全覆盖金属粉末的粒度范围。 与动态图像法一样,静态图像法同时检测颗粒的多项粒度与粒形参数,如图13所示。分 别使用动态图像分析仪Camsizer X2与静态图像分析仪Camsizer M1检测粒度区间位于38-53 μm和90-106μm的颗粒样品,对比两种方法的优劣,得到图11所示粒度频率分布曲线与表 4检测数据。‍图11 动态图像分析与静态图像分析结果 动态图像分析仪:Camsizer X2 (Microtrac MRB) 静态图像分析仪:Camsizer M1 (Microtrac MRB) 表4 动态图像分析与静态图像分析检测结果静态图像分析仪样品统计量少,容易产生取样误差,适合窄分布的样品。由于颗粒统计量少,所以大颗粒对静态图像分析仪检测结果影响较大,如图11所示,90-106μm样品的静 态图像分析曲线连续性较差,为了增加颗粒统计数量提高统计代表性,静态图像分析仪检测 时间一般在10分钟以上。 由表4可知,窄分布细颗粒样品的动态图像与静态图像检测结果一致性较好,宽分布粗颗粒样品一致性较差;动态图像比静态图像分析时间短,颗粒统计量大。 同时,静态图像分析要求颗粒应以合适浓度均匀分散在载玻片上。Camsizer M1配备专门的粉末分散装置M-jet,使用10-70kPa的负压均匀分散粉末,避免由于分散不均造成的颗粒 堆叠、黏连现象,分散效果如图12所示。图12 采用M-jet分散的金属粉末总览图 Camsizer M1采用透射光与入射光两种光源,能够从多角度拍摄分析金属粉末,在软件中分别读取入射光颗粒图像与透射光颗粒图像,见图13。图13 Camsizer M1入射光(左)与透射光(右)拍摄的金属粉末原始图像 由于颗粒处于静止状态,并且光学系统性能更加优秀,静态图像分析仪的成像质量一般远远优于动态图像分析仪。Camsizer M1的入射光图像(图13 左)能够拍摄颗粒表面细节, 观察卫星颗粒、熔结颗粒以及异形颗粒的状态,有助于更深层次了解金属粉末。 总结 图像分析法在亚微米-毫米尺度内正被广泛应用于粉体粒度分布与颗粒形貌的分析,完美适用于增材制造金属粉末。 图像分析法分为动态图像分析与静态图像分析两种,动态图像法的优势是统计代表性好、 检测时间短,检测结果可以与激光衍射法和筛分法对比,适用于金属粉末的快速准确质检; 静态图像法的优势是图像清晰度高,可以观察更多金属粉末的表面细节,适用于研发,但静态图像法检测时间长、统计代表性有待提高,取样量少容易产生取样误差,摄像头的聚焦范围窄,不适用于宽分布样品的检测分析。参考文献 1. Microtrac MRB. 066 Metal Powders with Lazer Diffraction and Image Analysis Sync X2 EN 2. 郭瑶庆, 严加松, 舒春溪,等. 催化裂化催化剂形貌分析方法的建立[J]. 工业催化, 2020(3):73-77. 3. GB/T 21649.2-2017,粒度分析 图像分析法 第2部分:动态图像分析法[S]. 4. GB/T 21649.1-2008,粒度分析 图像分析法 第1部分:静态图像分析法[S]. 5. GB/T 15445.6-2014,粒度分析结果的表述 第6部分:颗粒形状和形态的定性及定量表述[S]. 6. GB/T 39251-2020,增材制造 金属粉末性能表征方法 7. 罗章, 蔡斌, 陈沈良. 动态图像法应用于海滩沉积物粒度粒形测试及其与筛析法的比较 [J]. 沉积学报, 2016, 34(005):881-891. 8. 涂新斌, 王思敬. 图像分析的颗粒形状参数描述[J]. 岩土工程学报, 2004, 26(5):659-662. 9. 杨启云, 吴玉道, 沙菲,等. 选区激光熔化用Inconel625合金粉末的特性[J]. 中国粉体技术, 2016(3):27-32. 10. [1]刘鹏宇. 典型选区激光熔化粉末的特性及其成型件组织结构的研究[D]. 兰州理工大 学. 11. Nan D , Zz A , Jl B , et al. W–Cu composites with homogenous Cu–network structure prepared by spark plasma sintering using core–shell powders - ScienceDirect[J]. International Journal of Refractory Metals and Hard Materials, 2019, 82:310-316. 12. EN ISO/ASTM 52907-2019,Additive manufacturing - Feedstock materials - Methods to characterize metal powders[S]. 13. VDI 3405 Blatt 2.3:2018-07 Additive manufacturing processes, rapid manufacturing - Beam melting of metallic parts - Characterisation of powder feedstock[S].作者:王瑞青 德国麦奇克莱驰 Microtrac MRB

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