二次离子仪

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二次离子仪相关的厂商

  • 北京艾飞拓科技有限公司作为德国 IONTOF 公司的中国总代理,成立于2012年。主要负责飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS,新一代型号ToFSIMS M6)、低能离子散射能谱仪(LEIS,型号Qtac100)和高分辨磁力显微镜(hr-MFM,型号VLS-80)这三类产品,在中国大陆及港澳地区的销售、售后、宣传、培训、技术服务等工作。公司成员来自北京大学、中科院物理所等一流院校研究生,“以物理学、材料学、国际贸易等专业背景打造核心团队,秉承引进国际质谱领域先进技术的理念,以提高我国材料分析技术为核心目标,密切与国内多所高校、研究机构、科技公司合作,共同攻克技术难题。”IONTOF是由Alfred Benninghoven教授,Dr.Ewald Niehuis和Thomas Heller先生于1989年创立,创始人Prof.Benninghoven教授是国际静态二次离子质谱的奠基人,他们团队始终带领国际二次离子术的发展,从上世纪80年代初开始,Benninghoven教授和他的研究组就致力于飞行时间二次离子质谱的系统和应用研究。依托于明斯特大学和州纳米中心的技术和人才优势,TOF-SIMS已经发展成为无可替代的表面分析手段。TOF.SIMS 5从2003年定型到现在已经成为市场上相当成功的飞行时间二次离子质谱系统。到2016年,世界上已经有超过350套高性能的TOF.SIMS系统成功地应用在世界各地的公司和学术研究机构中。获取更多资讯,请访问艾飞拓官网:www.iontof.com.cn,或扫描下方二维码关注“IONTOF-CHINA”微信公众号。
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  • 400-860-5168转3314
    ULVAC-PHI是全球领先的超高真空表面分析仪器供应商。专注于研发和生产表面分析仪器,包括光电子能谱仪(XPS)、俄歇电子能谱仪(AES)、飞行时间二次离子质谱仪(Tof-SIMS)和动态二次离子质谱仪(D-SIMS)。通过提供独特的技术解决方案,帮助客户解决各种具有挑战性的问题,从而加速新产品和新技术的发展。产品应用领域包括纳米技术、太阳能技术、微电子技术、存储介质、催化、生物材料、药品以及金属、矿物、聚合物、复合材料和涂料等基础材料。作为唯一一家能够同时提供高性能XPS、AES和SIMS全系列表面分析仪器的制造商,ULVAC-PHI在全面性和完整性的表面分析解决方案领域拥有独特的地位。爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司成立于2023年11月,创办理念是为一流的商业产品提供顶级的创新市场营销和售后服务。作为ULVAC-PHI在中国区域的子公司,负责PHI产品在中国的销售和售后服务。主要客户包括清华大学,复旦大学,上海交通大学,南京大学,西安交通大学,厦门大学,山东大学,吉林大学,华南理工大学,中南大学等国内知名高校和科研院所。在全国各地都有销售合作伙伴,能够为您提供全方位的服务。技术专员具备多年超高真空和精密电子分析仪器的使用经验,致力于为合作伙伴提供最佳的产品和服务,以实现最大的效益。
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  • 那诺中国主要提供基于飞行时间的质谱仪,涉及用于材料表面分析应用的飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)、用于气体分析的电子电离飞行时间质谱仪(EI-TOF-MS)、用于环境监测的质子转移反应飞行时间质谱仪(PTR-TOF-MS)等。
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二次离子仪相关的仪器

  • PHI nanoTOF3+ 特征先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力,更加出色的分析精度 飞行时间二次离子质谱仪新一代 TRIFT 质量分析器,更好的质量分辨率 适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析 独特的离子束技术 平行成像 MS/MS 功能,助力有机大分子结构分析 多功能选配附件TRIFT分析器适用于各种形状的样品 宽带通能量+宽立体接收角度宽带通能量、宽立体接受角-适用于各种形貌样品分析主离子束激发的二次离子会以不同角度和能量从样品表面飞 出,特别是对于有高度差异和形貌不规则的样品,即使相同 的二次离子在分析器中会存在飞行时间上的差异,因此导致 质量分辨率变差,并对谱峰形状和背景产生影响。 TRIFT质量分析器可以同时对二次离子发射角度和能量进行 校正, 保证相同二次离子的飞行时间一致, 所以TRIFT兼顾 了高质量分辨率和高检测灵敏度优势,而且对于不平整样品 的成像可以减少阴影效应。 实现高精度分析的一次离子设备先进的离子束技术实现更高质量分辨PHI nanoTOF3+ 能够提供高质量分辨和高空间分辨的TOF-SIMS分析:在高质量分辨模式下,其空间分辨率优于500nm 在高空间分辨模式下,其空间分辨模式优于50 nm。通过结合强度高离子源、高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器,可以实现低噪声、高灵敏度和高质量分辨率的测量 在这两种模式下,只需几分钟的测试时间,均可完成采谱分析。前所未见的无人值守TOF-SIMS自动化多样品分析 -适用于绝缘材料PHI nanoTOF3+搭载全新开发的自动化多样品分析功能,程序可根据 样品导电性自动调整分析时所需的高度与样品台偏压, 可以对包括 绝缘材料在内的各类样品进行无人值守自动化TOF-SIMS分析。 整个分析过程非常简单, 只需三步即可对多个样品进行表面或深度 分析 :①在进样室拍摄样品台照片 ;②在进样室拍摄的照片上指定 分析点 ;③按下分析键,设备自动开始分析。 过去,必须有熟练的操作人员专门操作仪器才能进行TOF-SIMS分析 ; 现在,无论操作人员是否熟练,都可以获得高质量的分析数据标配自动化传样系统PHI nanoTOF3+配置了在XPS上表现优异的全自动样品传送系 统 :样品尺寸可达100mmx100 mm, 而且分析室标配内置 样品托停放装置 ;结合分析序列编辑器(Queue Editor),可以实现对大量样品的全自动连续测试。采用新开发的脉冲氲离子设备获得证书的自动荷电双束中和技术TOF-SIMS测试的大部分样品为绝缘样品,而绝缘样品表面 通常有荷电效应。PHI nanoTOF3+ 采用自动荷电双束中和 技术,通过同时发射低能量电子束和低能量氲离子束,可实现对任何类型和各种形貌的绝缘材料的真正自动荷电中和,无需额外的人为操作。 *需要选配Ar离子设备 远程访问实现远程控制仪器PHI nanoTOF3+允许通过局域网或互联网访问仪器。 只需将样品台放入进样室, 就可以对进样、换样、测试和分析等所有操作进行远程控制。我们的专业人员可以对仪器进行远程诊断。*如需远程诊断,请联系我们的客户服务人员。 从截面加工到截面分析: 只需一个离子源即可完成标配离子设备FIB(Focused lon Beam)功能在PHI nanoTOF3+中, 液态金属离子具设备备 FIB功能, 可以使用单个离子设备对样品进行 横截面加工和横截面TOF-SIMS分析。通过操 作计算机, 可以快速轻松地完成从FIB处理 到TOF-SIMS分析的全过程。此外,可在冷却 条件下进行FIB加工。 在选配Ga源进行FIB加工时,可以获得FIB加 工区域的3D影像 ;Ga源还可以作为第二分析 源进行TOF-SIMS分析。 通过平行成像MS/MS进行 分子结构分析[选配]MS/MS平行成像 同时采集MS1/MS2数据在TOF-SIMS测试中,MS1质量分析分析器接收从样品表面 产生的所有二次离子碎片,对于质量数接近的大分子离子, MS1谱图难以区分。通过安装串联质谱MS2,对于特定离子 进行碰撞诱导解离生产特征离子碎片,MS2谱图可以实现 对分子结构的进一步鉴定。PHI nanoTOF3+具备串联质谱MS/MS平行成像功能, 可以同时获取分析区域的MS1和MS2数据,为有机大分子结构解析提供了强有力的工具。 多样化配置充分发挥TOF-SIMS潜力可拆卸手套箱:可安装在样品导入室可以选配直接连接到样品进样室的可拆卸手套箱。 锂离子电池和有机 OLED等容易与大气发生反应的样品可以直接安装在样品台上。此外,在 冷却分析后更换样品时,可以防止样品表面结霜。 氩团簇离子源(Ar-GCIB):有机材料深度剖析使用氩团簇离子源(Ar-GCIB)能够有效减少溅射过程中对有机材料的破坏,从而在刻蚀过程中保留有机大分子结构信息。Cs源和Ar/O2源:无机材料深度剖析可根据测试需求选择不同的离子源提高二次离子产额,使用Cs源可增强负离子产额 ;O2源可增强正 离子产额
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  • MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子,所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面,应用于SIMS和SNMS的光学采样。 光栅控制,增强深度分析能力 所有能量范围内,离子行程的最小扰动,及恒定离子传输 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器质量数范围: 300amu,500amu,1000amu 检测器: 离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps 质量过滤器: 3F四级杆 杆直径: 9mm 最高加热: 250℃ 离子源: 电子轰击,可用于SNMS和RGA的单根灯丝
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  • Kore SurfaceSeer I是一款高灵敏度的TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪,具有高通量分析功能,可用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化学的理想选择,适用于研发和工业质量控制应用。TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪主要通过离子源发射离子束溅射样品表面进行分析。离子束作为一次离子源,经过一次离子光学系统的聚焦和传输,到达样品表面。样品表面经过溅射,产生二次离子,系统将产生的二次离子提取和聚焦,并将二次离子送入离子飞行系统。在离子飞行系统中,不同种类的二次离子由于质荷比不同,飞行速度也不同,在飞行系统分离,通过检测这些离子进行相关分析。SurfaceSeer I 使用与 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技术,但配备了高亮度、高空 间分辨率的 25kV 液态金属离子枪(LMIG)作为主要离子源。LMIG 的探头尺寸≤ 0.5µ m,可实现高分析空间分辨率。全自动计算机控制,允许在质谱采集期间扫描离子枪,从而可以收集到化学图像或图谱。另外还提供了一个二次电子探测器(SED),用 于调谐初级电子束和 SED 图像捕获。带有12.7µ m重复单元的铜格栅SurfaceSeer I 仪器特点:配备25KV液态金属离子枪(LMIG)作为主要离子源,检测能力更强,质量分辨率更高;具备表面成像和深度剖析功能;提供的SIMS材料谱库包含上千种材料的质谱数据,可识别未知的化合物和材料;可同时分析所有元素及有机物,可消除有机物和元素干扰,使谱图更清晰,检测限更低,能更有效地分析材料样品。专用数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取,其所有储存的数据都能用于溯源性分析。表面分析灵敏度高达 1x109 atoms/cm2SurfaceSeer I 应用领域:表面涂层和处理电子元件和半导体电极与传感器润滑剂催化剂粘合剂薄膜等包装材料腐蚀研究大学教学与科研
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二次离子仪相关的资讯

  • 二次离子质谱2012年市场总需求不到1亿美元
    尽管质谱仪更多的应用于生命科学相关领域,但是还是有一些质谱(MS)技术是专门用于表面科学研究。其中最突出的是二次离子质谱(SIMS)。像大多数涉及电子或离子光学的表面科学技术一样,二次离子质谱是在真空条件下进行。二次离子质谱用一次离子束轰击表面,将样品表面的原子溅射出来成为带电的离子,这些二次离子利用质谱分析器进行分析,得到样品的元素组成数据。可用的质量分析器包括单四极、飞行时间和磁分析器等。离子束是扫描过样品,得到一个样品表面的二维图像。离子束还可以逐层溅射样品,进行深度剖面分析。 2012年二次离子质谱行业市场需求分布   二次离子质谱广泛应用于分析半导体等材料、数据存储等电子产品,二次离子质谱对表面非常灵敏,使其可以分析沉积在这些材料上的薄膜;二次离子质谱也被用于科研单位及政府机构的实验室;虽然材料分析是二次离子质谱比较常见的,但也可以用于环境领域空气中颗粒物分析。2012年,二次离子质谱的市场总需求不到1亿美元。   上述数据摘录于2013年10月SDi发布的市场分析和预测报告&ldquo Mass Spectrometry: Limitless Innovation in Analytical Science&rdquo 。 编译:刘丰秋
  • 二次离子质谱可以测什么?
    二次离子质谱(secondaryionmassspectroscopy,简称SIMS),是一种非常灵敏的表面成份精密分析仪器,原理利用质谱法分析初级离子入射靶面后,样品表面被高能聚焦的一次离子轰击时,一次离子注入被分析样品,把动能传递给固体原子,引起中性粒子和带止负电荷的二次离子发生溅射,然后根据溅射的二次离子的质量信号,对被轰击样品的表面和内部元素分布特征进行分析。通过不同的操作模式,测试可以得到表面质谱、表面成像、深度剖析和三维分析信息,用来完成工业生产和科研研究过程中所需的掺杂和杂质深度数据;浅注入和超薄膜的超高分辨率深度分析;芯片结构及杂质元素定性定量分析;薄膜的组成和杂质的测量等,这种技术本身具有“破坏性”的物质溅射,可以应用在包括但不仅限于金属及合金、半导体、绝缘体、有机物、生物膜分析对象上。质量分析器可采用单聚焦、双聚焦,飞行时间、四极杆、离子阱、离子回旋共振等,其中飞行时间离子质谱TOF-SIMS是通过将二次离子质谱分析技术(SIMS)与飞行时间质量分析器(TOF)结合起来,由于其一次脉冲就可得到一个全谱,离子利用率最高,能最好地实现对样品几乎无损的静态分析,分析速度快和样品的消耗极少,分析质量范围宽,对有机、无机材料都有很好的分析能力。
  • 复旦大学430.00万元采购二次离子质谱
    详细信息 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(第二次) 上海市-杨浦区 状态:公告 更新时间: 2023-12-11 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(第二次) 2023年12月11日 17:58 公告信息: 采购项目名称 复旦大学二次离子质谱仪设备 品目 货物/设备/仪器仪表/教学仪器 采购单位 复旦大学 行政区域 上海市 公告时间 2023年12月11日 17:58 获取招标文件时间 2023年12月12日至2023年12月19日每日上午:8:00 至 12:00 下午:12:00 至 17:00(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥0 获取招标文件的地点 复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn) 开标时间 2024年01月03日 09:30 开标地点 1)投标人应在投标截止时间之前,按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交(上传)至电子采购平台。 2)开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行,所有投标人应登录到系统内参加开标,并在规定时间内进行投标文件解密。 预算金额 ¥430.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 邢楠、黄梦如、陈豪 项目联系电话 021-52555810 采购单位 复旦大学 采购单位地址 中国上海邯郸路220号 采购单位联系方式 何老师 ,021-65645530 代理机构名称 上海中世建设咨询有限公司 代理机构地址 中国上海市曹杨路528弄35号 代理机构联系方式 邢楠、黄梦如、陈豪,021-52555810 附件: 附件1 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(2)-招标采购详情--____(第二次).pdf 项目概况 复旦大学二次离子质谱仪设备 招标项目的潜在投标人应在复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn)获取招标文件,并于2024年01月03日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:1069-234Z20234470(HW2023111401) 项目名称:复旦大学二次离子质谱仪设备 预算金额:430.000000 万元(人民币) 最高限价(如有):421.000000 万元(人民币) 采购需求: 包件号 名称 数量 简要技术规格 备注 1 二次离子质谱仪设备 1套 应用于材料化学结构解析和组分分析。实现对金属元素的测定、氧化态和电子结构等信息表征,支持原位实时动态分析。 预算金额:人民币430万元 最高限价:人民币421万元 合同履行期限:交货期:2024年12月30日前交付。 合同履行期限:交货期:2024年12月30日前交付。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: / 3.本项目的特定资格要求:1) 投标人应为符合《中华人民共和国招标投标法》规定的独立法人或其他组织;2) 投标人应为投标产品的制造商或其合法代理商,代理商投标应提供投标产品的制造商针对本项目的正式授权;3) 投标人须在投标截止期之前在国家商务部认可的机电产品招标投标电子交易平台(以下简称机电产品交易平台,网址为:http://www.chinabidding.com)上完成有效注册;4) 本项目不允许联合体投标;5) 本项目不接受分包和转包。 三、获取招标文件 时间:2023年12月12日 至 2023年12月19日,每天上午8:00至12:00,下午12:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外) 地点:复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn) 方式:通过复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn)点击“校外用户登录”在线获取招标文件,逾期不再办理。潜在投标人进入系统后可在“正在进行的项目”版块中查看项目并在线领购招标文件。未按规定在系统内合法获取招标文件的潜在投标人将不得参加投标。获取招标文件所需上传的材料:有效授权委托书及被授权人身份证。 售价:¥0.0 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2024年01月03日 09点30分(北京时间) 开标时间:2024年01月03日 09点30分(北京时间) 地点:1)投标人应在投标截止时间之前,按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交(上传)至电子采购平台。2)开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行,所有投标人应登录到系统内参加开标,并在规定时间内进行投标文件解密。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1)投标人在投标前应在____(https://____)或机电产品招标投标电子交易平台(https://www.chinabidding.com)完成注册及信息核验。评标结果将在____和中国国际招标网公示。 2)本项目采用电子化采购线上方式进行。系统登录方法:进入https://czzx.fudan.edu.cn网站,点击校外用户登录。 3)投标文件需使用到CA加密和解密,操作步骤需严格按照复旦大学采购与招标管理系统的要求进行。 4)有兴趣的潜在投标人可从招标人得到进一步的信息和查阅招标文件。 复旦大学采购与招标管理系统使用技术咨询:400-808-5975转2 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:复旦大学 地址:中国上海邯郸路220号 联系方式:何老师 ,021-65645530 2.采购代理机构信息 名 称:上海中世建设咨询有限公司 地 址:中国上海市曹杨路528弄35号 联系方式:邢楠、黄梦如、陈豪,021-52555810 3.项目联系方式 项目联系人:邢楠、黄梦如、陈豪 电 话: 021-52555810 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 基本信息 关键内容:二次离子质谱 开标时间:2024-01-03 09:30 预算金额:430.00万元 采购单位:复旦大学 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:上海中世建设咨询有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(第二次) 上海市-杨浦区 状态:公告 更新时间: 2023-12-11 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(第二次) 2023年12月11日 17:58 公告信息: 采购项目名称 复旦大学二次离子质谱仪设备 品目 货物/设备/仪器仪表/教学仪器 采购单位 复旦大学 行政区域 上海市 公告时间 2023年12月11日 17:58 获取招标文件时间 2023年12月12日至2023年12月19日每日上午:8:00 至 12:00 下午:12:00 至 17:00(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥0 获取招标文件的地点 复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn) 开标时间 2024年01月03日 09:30 开标地点 1)投标人应在投标截止时间之前,按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交(上传)至电子采购平台。 2)开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行,所有投标人应登录到系统内参加开标,并在规定时间内进行投标文件解密。 预算金额 ¥430.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 邢楠、黄梦如、陈豪 项目联系电话 021-52555810 采购单位 复旦大学 采购单位地址 中国上海邯郸路220号 采购单位联系方式 何老师 ,021-65645530 代理机构名称 上海中世建设咨询有限公司 代理机构地址 中国上海市曹杨路528弄35号 代理机构联系方式 邢楠、黄梦如、陈豪,021-52555810 附件: 附件1 复旦大学二次离子质谱仪设备国际招标公告(2)-招标采购详情--____(第二次).pdf 项目概况 复旦大学二次离子质谱仪设备 招标项目的潜在投标人应在复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn)获取招标文件,并于2024年01月03日 09点30分(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:1069-234Z20234470(HW2023111401) 项目名称:复旦大学二次离子质谱仪设备 预算金额:430.000000 万元(人民币) 最高限价(如有):421.000000 万元(人民币) 采购需求: 包件号 名称 数量 简要技术规格 备注 1 二次离子质谱仪设备 1套 应用于材料化学结构解析和组分分析。实现对金属元素的测定、氧化态和电子结构等信息表征,支持原位实时动态分析。 预算金额:人民币430万元 最高限价:人民币421万元 合同履行期限:交货期:2024年12月30日前交付。 合同履行期限:交货期:2024年12月30日前交付。 本项目( 不接受 )联合体投标。 二、申请人的资格要求: 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定; 2.落实政府采购政策需满足的资格要求: / 3.本项目的特定资格要求:1) 投标人应为符合《中华人民共和国招标投标法》规定的独立法人或其他组织;2) 投标人应为投标产品的制造商或其合法代理商,代理商投标应提供投标产品的制造商针对本项目的正式授权;3) 投标人须在投标截止期之前在国家商务部认可的机电产品招标投标电子交易平台(以下简称机电产品交易平台,网址为:http://www.chinabidding.com)上完成有效注册;4) 本项目不允许联合体投标;5) 本项目不接受分包和转包。 三、获取招标文件 时间:2023年12月12日 至 2023年12月19日,每天上午8:00至12:00,下午12:00至17:00。(北京时间,法定节假日除外) 地点:复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn) 方式:通过复旦大学采购与招标管理系统(网址为:https://czzx.fudan.edu.cn)点击“校外用户登录”在线获取招标文件,逾期不再办理。潜在投标人进入系统后可在“正在进行的项目”版块中查看项目并在线领购招标文件。未按规定在系统内合法获取招标文件的潜在投标人将不得参加投标。获取招标文件所需上传的材料:有效授权委托书及被授权人身份证。 售价:¥0.0 元,本公告包含的招标文件售价总和 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 提交投标文件截止时间:2024年01月03日 09点30分(北京时间) 开标时间:2024年01月03日 09点30分(北京时间) 地点:1)投标人应在投标截止时间之前,按复旦大学采购与招标管理系统的操作步骤对其投标文件进行加密后递交(上传)至电子采购平台。2)开标程序在复旦大学采购与招标管理系统上进行,所有投标人应登录到系统内参加开标,并在规定时间内进行投标文件解密。 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 1)投标人在投标前应在____(https://____)或机电产品招标投标电子交易平台(https://www.chinabidding.com)完成注册及信息核验。评标结果将在____和中国国际招标网公示。 2)本项目采用电子化采购线上方式进行。系统登录方法:进入https://czzx.fudan.edu.cn网站,点击校外用户登录。 3)投标文件需使用到CA加密和解密,操作步骤需严格按照复旦大学采购与招标管理系统的要求进行。 4)有兴趣的潜在投标人可从招标人得到进一步的信息和查阅招标文件。 复旦大学采购与招标管理系统使用技术咨询:400-808-5975转2 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系。 1.采购人信息 名 称:复旦大学 地址:中国上海邯郸路220号 联系方式:何老师 ,021-65645530 2.采购代理机构信息 名 称:上海中世建设咨询有限公司 地 址:中国上海市曹杨路528弄35号 联系方式:邢楠、黄梦如、陈豪,021-52555810 3.项目联系方式 项目联系人:邢楠、黄梦如、陈豪 电 话: 021-52555810

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  • FIB二次离子成像

    各位朋友好,最近在学习FIB的时候遇到一个疑问:当使用离子束的时候,离子束和样品相互作用,产生了许多信号,收集其中的二次电子和二次离子的信号可以用于成像。对于其中的二次离子成像不是很理解,为什么二次离子可以用来成像呢?二次离子反映的也是形貌信息吗?

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    二次离子质谱(SIMS)是一种用于分析固体材料表面组分和杂质的分析手段。通过一次离子溅射,SIMS可以对样品进行质谱分析、深度剖析或成二次离子像。SIMS具有很高的元素检测灵敏度以及在表面和纵深两个方向上的高空间分辨本领,所以其应用范围也相当广泛。涉及化学、生物学和物理学等基础研究领域及微电子、催化、新材料开发等各个领域。 二次离子质谱法对于大部分元素都有很高的探测灵敏度,其检测下限可达百亿分之几的数量级。对痕量组分能进行深度剖析,可在微观(µ m级)上观察表面的特征,也可以对同位索进行分析和对低原子序数的元素(如氢、锂、铍等)进行分析。 ①痕量分析二次离子质谱法有极高的分辨率,可以达到十亿分之几的数量级。因此,可以对痕量的物质做出定性分析以确定其在表面的存在。当然进行这种分析要求排除所有可能影响结果的干扰。防止表面吸附物污染被测试表面,测试要在高真空和高纯度的离子束条件下进行。 ②定量分析定量分析采用的是以标样为基础的分析方法。一次离子的种类、能量和电流密度、样品环境、探测器效率以及二次离子分析器的能带通道确定之后,就能使用元素的相对灵敏度系数对样品进行确切的分析。只要二次离子质谱仪的灵敏度足以探测到基体的所有主要成分,所得结果就是这种基体材料成分的原子百分比。 ③深度分析深度分析的一般方法是监控样品中某元素的二次离子信号随溅射时间的变化。对于均匀基体材料,通过适当的标定试验(已知镀层厚度、陷口深度等)就能把时间转换为深度。元素的定量可以由二次离子强度的变化及二次离子强度定量分析方法得到。

  • 【原创】二次离子质谱分类

    [size=5][b] [/b][/size]  采用脉冲一次离子源(LMIG, Cs, C60,Au,O2+,Ar+)等轰击样品,然后收集从样品表面激发出来的二次离子,采用质谱检测器(飞行时间、四极杆、扇形磁过滤、离子阱等),来收集这些二次离子,并且根据他们的质荷比(m/z)将它们分离,据此来判断分析材料的成分。     二次离子质谱仪分为静态- 二次离子质谱仪(S-SIMS) 和动态二次离子质谱仪(D-SIMS) ,其区分的标准就是根据入射的一次离子的剂量一般10^12atoms/cm2,成为静态二次离子质谱仪,一般采用飞行时间检测器,主要用于生物医药的有机物分析,半导体材料的污染物分析,存储材料分析,可以坚定有机的分子碎片。在分析过程中,材料表面的吸附物质及化学状态,对谱峰影响巨大。这也就是二次离子质谱中的“基体效应”。静态-二次离子质谱是一种无破坏的表面分析方法。最常见的静态- 二次离子质谱仪是飞行时间二次离子质谱仪。飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)利用一次脉冲离子轰击样品,通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量(m/z 100,000),以分析样品的表面组成。  动态-二次离子质谱仪,入射的一次离子的剂量一般10^15atoms/cm2,对表面形成大量的溅射作用,是一种破坏性分析,主要用于地质研究,同位素定年分析,半导体掺杂的深度分析。主要采用的一次离子源为气体等离子源(Ar/O2)或Cs离子源,一般要求样品导电性要好。

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