膨胀检测仪

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膨胀检测仪相关的厂商

  • 深圳衡冠检测技术有限公司是中国领先的材料分析和材料测试解决方案的服务商,公司集研发、生产、销售和服务四位一体,专业提供一流的材料理化分析仪器和全面的材料物理力学测试解决方案.产品包括:导热系数仪、热膨胀仪、多元素化学成份快速分析仪、陶瓷专用检测设备、玻璃/耐火材料/炭素(石墨)试验设备、实验室研磨机、制样设备、实验电炉/工业烧结及烘烤设备等二百多种产品,其中多种产品填补了国内空白。 产品包括:一、日用/建筑/卫生/工程陶瓷检测仪器: 数显式陶瓷砖抗折仪(试验机),多元素快速分析仪,日用陶瓷热稳定性测定仪;陶瓷砖抗热震性测定仪;陶瓷砖釉面抗龟裂试验仪(蒸压釜);数显式陶瓷吸水率仪;陶瓷砖釉面耐磨性仪;陶瓷砖抗冻性测定仪;陶瓷无釉砖耐磨性能测定仪;陶瓷砖冲击试验仪;色差仪, 白度仪,陶瓷砖磨擦系数测定仪;陶瓷平整度、直角度、边直度综合测定仪;陶瓷砖厚度测量仪;致密度仪;数显式可塑性仪;电动坯料抗折仪;瓷胎透光度仪,多孔陶瓷显气率、容重试验仪;全套工程、多孔陶瓷试验仪器等。二、热分析仪器 系列热膨胀仪,系列导热系数测定仪,差热分析仪,蓄热系数仪等。三、玻璃、炭素、耐火材料试验仪器,高温铸造仪器,无机非金属材料理化实验仪器: 硅酸盐化学成份快速分析仪,;材料高温抗折仪;材料高温强度试验仪;影像式烧结点试验仪;材料荷重软化温度测定仪等;阻温特性仪,动态(静态)弹性摸量仪,玻璃析晶电炉, 玻璃软化点测定仪, 水份快速测定仪,高温型壳变形仪,全套炭素材料试验仪器。四、实验室、工业用电炉: 快速升温电阻炉;箱式梯度炉;坩锅炉(熔块炉);恒温干燥箱, 箱式炉,工业烧结炉等。五、实验室制样、研磨设备: 快速研磨机、卧式真空炼泥机;手动、电动制样机, 行星研磨机,破碎机等。
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  • 400-860-5168转3814
    洛阳海纳检测仪器有限公司多年来致力于从事高温实验室设备,试剂生产,公司主要产品有HNJC系列X荧光专用全自动熔样机、ATW系列全自动称量仪、黄金首饰检测专用灰吹炉、高温材料检测设备及XRF分析用无水四硼酸锂、无水偏硼酸锂试剂。公司通过了ISO9001:2015质量管理体系认证、被认定为河南省科技型中小企业、洛阳市企业研发中心,HNJC系列熔样机设备运行稳定,受到国内外X荧光厂家一致好评,并成为了热电、布鲁克、理学、帕纳科、岛津、钢研纳克等X荧光用户的可信赖配套产品,并先后与宝武集团、中检集团等建立合作关系。黄金首饰检测专用灰吹炉是火试金分析专用产品,大大提高了试验效率,环保系数更高,性能更稳定,是火试金分析法的理想选择。 我们时刻关注用户需求,技术不断升级,产品品质不断提升,不断推进企业转型,增强核心竟增力,以更优质的品质和更优质的服务赢得客户的信赖和支持! 真诚欢迎社会各界宾朋莅临海纳公司共谋发展、共创辉煌!
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  • 东莞市勋威检测仪器有限公司是一家致力于“为对广大企业的原材料和产品的各项性能指标进行检测评估”之质量检测仪器、材料物性实验仪器的生产、研发、销售、服务为一体的专业生产商。产品涵盖制鞋、皮革、橡胶、塑胶、化工等众多产业所有可能的品检范畴。为材料开发、物性试验、教学研究、品保管制、进料检验提供可靠保证。 公司严把质量关,产品皆采用进口元器件,本着“质量第一、信誉至上”的宗旨,以产品过硬的质量,合理的价格,齐全的品种和真诚守信赢得客户。坚持科技创新,致力于开发新品,吸收改进先进的工艺流程,建立完善的质量保障体系。公司产品均严格采用ISO、ASTM、BS、DIN、EN、GB、JIS、……等世界规范,并提供相关的测试标准和完善的服务,以满足不同行业应用的需求,其产品在广泛运用各类大中小企业生产实验使用外,也为广大大中专院校、科研单位在实验教学、技术研发提供了数据支持和硬件保障。专业的生产制造技术,最优质的售后服务。我们用心经营每一个日子,兢兢业业、精益求精。我们期盼自己不断壮大的同时也推动行业的技术进步,提升客户产品的质量竞争力,为振兴民族检测仪器和试验机产业做出自己的贡献。勋威全体同仁随时欢迎关联企业和个人来电、来函或莅临参观指
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膨胀检测仪相关的仪器

  • 物体由于温度改变而有胀缩现象。其变化能力以等压下,单位温度变化所导致的体积变化,即热膨胀系数表示。C0007线性热膨胀系数仪用于检测固体无机材料、金属材料的高温膨胀性能,特别是刚玉、耐火材料、精铸用型壳及型芯材料、陶瓷、陶瓷原料、瓷泥、釉料、玻璃、石墨等无机材料。 应用:多种材料 功能:上下限标记、易于阅读的千分表、台式操作 标准:ASTM D696 选配件:数显表 电气连接:220/240 VAC @ 50 HZ or110 VAC @ 60 HZ (可根据客户要求定制) 外形尺寸:H: 750mm W: 125mm D: 125mm重量: 5kg
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  • 立式砂浆收缩膨胀仪水泥限制膨胀率测定仪SP-175是砂浆检测仪器,使用前务必仔细阅读说明书。并由实验人员操作,以避免操作不当引起的伤害。如需了解更多资料请与我公司客服人员联系。立式砂浆收缩膨胀仪是我公司依据行业标准JGJ70-90《建筑砂浆基本性能试验方法》而设计,是实验室检测砂浆物流性能的仪器。采用百分表显示,精度0.01mm。操作简单方便。用来测定砂浆的收缩和膨胀变形量,以确定其收缩系数和膨胀参数。立式砂浆收缩膨胀仪由上海荣计达仪器科技有限公司提供,设备质保期一年,一年内产品如有质量问题,供方负责免费维修。如果因操作不当或者人为损坏,我公司亦应提供维修、更换服务,由此产生的费用我公司会酌情收取。立式砂浆收缩膨胀仪水泥限制膨胀率测定仪SP-175技术参数:标准棒长度 175mm标准棒膨胀系数 15×10-6/℃位移计精度 0.01mm位移计量程 ±5mm百分表最小刻度值:0.01mm百分表最大量程:10mm测量范围:170~180mm测头球面孔半径:R=3mm标准杆基长:175mm外形尺寸 220×220×510立式砂浆收缩膨胀仪水泥限制膨胀率测定仪SP-175使用方法1、先将标准棒置于工作台上,拧动调整螺丝使之近似垂直。2、将测量框架置于标准棒的顶头,调整螺杆和螺母,使百分表对准零位(或记下百分表之刻度)。3、将制作养护好的试件两端擦拭净,然后放置在工作台上,然后把测量框架套在试件上,并左右移动表框,使试件与测量框架的测量头准确地接触,此时即可开始读数,并记录下表盘上的刻度值。4、如果实验不是连续进行或实验历时较久后,则在测试前须先在标准棒上校准测量框架。使用注意事项:1、使用时,忌用手直接与标准棒接触,应持外外套部分,以防止标准棒受人体手温的影响。2、仪器用毕后,应将测量框架的测量头和百分表探拭净,并涂以钟表油;测试过程中,应使百分表的测头缓慢而平稳地与试件接触,不允许冲击和碰撞,严禁将百分表测杆顶过最大量程范围,以免影响表的灵敏度和使用寿命。
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  • 低温膨胀仪 400-860-5168转1037
    仪器简介:经特殊改装的对开(蛤壳状)管式炉包围烧结石英样品架和顶杆,样品架可以放置长50mm(2”)和直径10mm(3/8”)的样品,N型样品/控制热电偶可以监测样品的温度,可调节接触压力、高精度的LVDT(±2.54mm的线性范围)监测样品长度的变化。对于低温操作,不锈钢的低温部件放置在样品架上方,然后合上蛤壳状炉子。低温储存池,有一个从池子底部出来的垂直传输管;低温储存池则坐落在炉子的上方。小的杜瓦瓶(包括在标准配置中)用来手动向低温储存池传输和发送液氮,液氮会充满低温管并冷却样品(样品不浸泡在冷却液中,如液氮)直到达到设定的样品温度,Orton控制仪开始以设定的升温速率加热样品,至最高温度500℃。在低温测试时,有机玻璃罩子将测试头(LVDT系统)盖住,向罩子内通干燥的惰性气体,防止测试头结冰、结霜。技术参数:Orton低温膨胀仪是专门为测量从低温(-170℃)至500℃之间陶瓷、玻璃、金属、复合材料、水泥、矿物质以及聚合物随温度变化发生的体积变化而设计的。 在移除特殊设计的低温部件后,这个膨胀仪可以测定室温至1000℃之间的膨胀系数,就是一台Orton的DIL 2010 STD膨胀仪,Orton的低温膨胀仪实际上就是在一台台式仪器上有两个膨胀仪的功能。技术指标:温度范围:-170~500℃或室温~1000℃最大样品体积:长50mm,直径10mm样品架和顶杆:石英升温速率:1~30℃/分钟LVDT的移动范围:0.1"(2.54mm)LVDT的移动分辨率:0.0000009”( 0.00002 mm 或 0.02um)主要特点:1. Orton玻璃膨胀计,操作简单,只需把样品放置在相应的样品槽中即可。只需对操作者进行简单的培训即可; 2. 采用LVDT跟踪,数据的重复性好,重复性为±0.004 PLC; 3. 样品尺寸大小可调; 4. 软件界面直观,友好。软件功能包括:温度或时间区域内比较、线性增长百分数的比较、膨胀系数的差值或平均值、玻璃化转变温度的计算、玻璃膨胀软化点的计算、a-b石英转变温度的计算、任何温度范围内的膨胀系数的计算
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膨胀检测仪相关的资讯

  • 电池膨胀行为研究:圆柱电芯膨胀特性的表征方法
    圆柱电芯的膨胀力主要源于电池内部的化学反应和充放电过程中的物理变化。在充电过程中,正极上的活性物质释放电子并嵌入负极,导致正极体积减小,负极体积增大。同时,电解液在充电过程中发生相变及产气副反应,也会造成一定的体积变化。这些因素共同作用,使得圆柱电芯在充放电过程中也会产生膨胀力。随着充放电次数的增加,这种膨胀力逐渐累积,导致电芯的尺寸发生变化。这种尺寸变化不仅会影响电池的外观和使用寿命,还可能对电池的安全性产生影响。因此,准确表征圆柱电芯的膨胀力对于优化电池设计、提高电池性能和安全性具有重要意义。表征圆柱电芯膨胀行为的方法电池的膨胀行为分为尺寸上的膨胀量和力学上的膨胀力测量。目前,对于软包电池、方壳电池膨胀行为的测量表征,已有较多研究和相应的测试手段及设备,在此不再赘述。但对于圆柱型电池的膨胀行为研究相对较少,也没有较好的商业化膨胀力评估手段。目前在文献资料中,常见的圆柱电芯膨胀行为的表征手段主要有以下几种:1、估算法如图1和图2所示,有研究表明圆柱型电池的膨胀变化与电池的SOC和SOH状态具有一定的相关性。但该方法建立在圆柱型电池的膨胀在整个圆周上是均匀的。图 1 单次充放电过程中,圆柱型电池的可逆膨胀变化图 2 电池老化过程中,圆柱型电池的SOH变化与不可逆膨胀之间的关系直接测量法通过在圆柱电芯外部施加压力,通过贴附应变片测量应变,该方式计算复杂,无法直观体现膨胀力。2、影像分析法影像分析法是一种无损检测方法,如利用CT断层扫描、中子成像、X射线、超声波等影像技术观察电芯内部的形变情况,通过分析影像的变化来测算电芯尺寸变化。这种方法适用于多种类型的圆柱电芯,且对电芯无损伤。然而,影像分析法需要使用昂贵的专业设备,且测量精度易受到设备性能和操作人员经验的影响。3、薄膜压力法一般需解剖圆柱电池,在电芯内部嵌入薄膜压力传感器或压敏纸的方式,从而获得圆柱电芯在不同方位上的膨胀力分布情况。但薄膜压力传感器精度一般较低,成本高;而压敏纸分析,具有滞后性。该测试均为破坏性测试。表征圆柱电芯膨胀行为存在的问题有研究表明,圆柱型电池电池实际的膨胀是明显偏离预期的均匀膨胀,在周长上会形成膨胀和收缩的区域,这取决于圆柱型电池的卷芯卷绕方向。因此,使用体积变化来研究老化或预测SOC需要特别谨慎,因为膨胀会因测量位置而显著不同,测量结果可能因测量方法而有偏差。电弛膨胀测试解决方案电弛自主研发的电池膨胀测试系统,高度集成了温控、充放电、伺服控制、高精度传感器等模块,并提供企业级系统组网功能。该系统可对多种电池种类和电池形态的电池进行膨胀行为测试,包括碱金属离子电池(Li/Na/K)、多价离子电池(Zn/Ca/Mg/Al)、其他二次金属离子电池(金属-空气、金属-硫)、固态电池,以及单层极片、模型扣式电池(全电池、半电池、对称电池、扣电三电极)、软包电池、方壳电池、圆柱电池、电芯模组。同时,可为不同形态电池提供定制化夹具,开展手动加压、自动加压、恒压力、脉冲恒压、恒间距、压缩模量等不同测试模式的研究。本产品还可方便扩展与电池产气测试、内压测试、成分分析的定制集成。为锂电池材料研发、工艺优化、充放电策略的分析研究提供了良好的技术支持。参考文献Jessica Hemmerling, 2021. Non-Uniform Circumferential Expansion of Cylindrical Li-Ion Cells—The Potato Effect. Batteries, 7, 61.
  • Cell:细胞如何避免过度膨胀?
    所有细胞都有一个最为基础的功能,即控制自己的体积避免过度膨胀。数十年来,人们一直在寻找实现这一功能的蛋白,现在来自斯克里普斯研究所(Scripps Research Institute)的科学家们终于找到了它。这个称为 SWELL1 的蛋白解决了一个重要的细胞生物学谜题,并且与健康和疾病有着密切的关联。例如,该蛋白的功能出现异常,会造成一种严重的免疫缺陷。 论文资深作者、斯克里普斯研究所教授 Ardem Patapoutian 表示:&ldquo 认识这种蛋白及其编码基因,为人们开辟了新的研究方向。&rdquo 相关研究作为封面文章发表在近期的《细胞》(Cell)杂志上。 揭晓谜底 水分子能够轻松穿过绝大多数细胞的膜,而水分子的流动倾向于平衡膜内外的溶质浓度。&ldquo 实际上水是跟着溶质走的,&rdquo 文章的第一作者 Zhaozhu Qiu 说。&ldquo 细胞外溶质浓度减少或者细胞内溶质浓度增加,都会使细胞被水充满。&rdquo 几十年前人们通过实验发现,细胞膜上存在着某种离子通道,能够作为细胞膨胀的关键安全阀,他们将这种未知离子通道称为 VRAC (体积调控的阴离子通道)。当细胞膨胀时 VRAC 就会开启,允许氯离子和其他一些带负电的分子流出。这时水分子也会跟着流出,从而减轻细胞的膨胀。 &ldquo 在过去三十年中,科学家们已经知道 VRAC 通道的存在,但对它并不了解,&rdquo Patapoutian 说。 由于技术限制,人们一直未能找到组成 VRAC 的蛋白及其编码基因。现在,Qiu及其同事在这项新研究中进行了快速的高通量荧光筛选。他们改造人类细胞使其产生一种特殊的荧光蛋白,当细胞膨胀 VRAC 通道打开时,这种蛋白发出的光会淬灭。 在诺华制药研究基金会基因组学研究所(Genomics Institute of the Novartis Research Foundation)的自动化筛选专家的帮助下,研究人员培养了大量供筛选的细胞,并通过RNA干扰分别在这些细胞中阻断不同基因的活性。他们主要寻找能持续发光的细胞,持续发光表明基因失活破坏了细胞的 VRAC 。 研究团队经过几轮测试,最终找到了一个基因。2003年科学家曾发现过这个基因,并将其称为LRRC8,不过当时人们只知道它可能编码一个跨膜蛋白。现在,研究人员将它重新命名为 SWELL1 。 涉及的疾病 研究人员通过进一步实验发现, SWELL1 的确位于细胞膜上,而且该蛋白的特定突变能改变 VRAC 通道的性能。&ldquo 它至少是 VRAC 通道的一个主要部件,是细胞生物学家长期追寻的蛋白,&rdquo Patapoutian 说。 下一步,研究团队将进一步研究 SWELL1 的功能。例如,在小鼠模型中观察不同细胞类型缺乏 SWELL1 所造成的影响。 2003 年人们最初发现这个基因,是因为该基因突变会导致一种非常罕见的无丙种球蛋白血症(agammaglobulinemia)。这种疾病的患者缺乏生产抗体的B细胞,因此很容易受到感染。这也说明, SWELL1 是B细胞正常发育所需的蛋白。 &ldquo 此前有研究指出,因为中风会导致脑组织肿胀,所以这种体积敏感性的离子通道与中风有关。另外,这种蛋白可能还涉及了胰腺细胞的胰岛素分泌。&rdquo Patapoutian 说。&ldquo 这样的线索有待我们一一解析。&rdquo
  • TA 仪器推出三条全新热膨胀仪产品线
    美国特拉华州纽卡斯尔市。 2017 年 3 月 1 日 - TA 仪器隆重推出三条全新热膨胀仪产品线,性能卓越的 800 平台喜迎新成员:DIL 820、DIL 830 和 ODP 860。这三款系列仪器均采用 TA 的专属真实差分技术,与强劲的竞争对手的系统相比,测量精确度超出十倍,进一步巩固了 TA 作为全球热分析技术领导者的杰出地位。 这三条新热膨胀仪产品线均基于获得专利的光学传感器,能够以高达 1nm 的分辨率分析样品。每款系统均配备新型高速、无温度梯度加热炉,确保温度控制达到最佳状态,缩短不同测试之间的停机时间。 TA 热膨胀仪属于高精度系统,设计用于测量动态热力变化引发的样本尺寸变化。这些热膨胀仪广泛应用于材料科学、陶瓷制造以及金属加工等领域的众多应用。它们在研究环境和生产控制过程中表现出众。 谈及本次发布的这款新产品,TA 仪器的高温产品经理 Piero Scotto先生 表示:“这是行业领先的热膨胀仪产品。通过将崭新系统设计与差分技术(每款仪器的核心)完美相融,TA 已经成为这一产品领域的新晋市场领导者。TA 仪器提供品类齐全的热膨胀仪,其优异性能和优惠价格符合所有用户的不同需求。 这款新平台由以下部件组成:精确测量尺寸变化的 DIL 830 系列高分辨率卧式推杆热膨胀仪、适用于精密烧结研究的 DIL 820 系列创新型立式推杆热膨胀仪以及执行非接触式样品测试的 ODP 860 多模光学膨胀测量平台。TA 仪器是沃特世公司(纽约证交所:WAT)的子公司,是热分析、流变测量和微量热测量领域分析仪器的领先制造商。公司总部位于美国特拉华州纽卡斯尔市,于 24 个国家/地区设立了办事机构。联系人:-全球营销总监 Ed Moriarty电话:302-427-1033 emoriarty@tainstruments.com TA仪器中国市场主管 Vivian Wang 电话 021-34182128vwang@tainstruments.com

膨胀检测仪相关的方案

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膨胀检测仪相关的论坛

  • 请教,有没有可以检定DMA和热膨胀议的地方?

    不知道有没有可以检定DMA和热膨胀仪的地方?我们单位是个检测中心,所有的仪器都要进行计量检定,找了中国计量院,可他们只能检TGA和DSC,DMA和热膨胀仪都检不了,请教大家,有没有可以检这两台仪器的地方?谢谢了!

  • 求组:哪个单位的线膨胀系数测定仪质量可靠?

    实验室要按照《GB/T 1036-2008 塑料 -30℃~30℃线膨胀系数的测定 石英膨胀计法》检测玻璃钢产品-30~50℃的膨胀系数,本人菜鸟,请高手指导哪家的仪器比较可靠?仪器选型和测试中有没有特别注意的问题。

膨胀检测仪相关的耗材

  • 奥斯恩 便携式环境监测仪 其他环境监测仪配件
    就我国目前的产业地区分布来说,由于地域辽阔,地形复杂,导致工业园区分布很广,这给相关环境监测人员的监测工作带来很多的不便,环境监测人员不可能将大型的实验室检测设备运送至各处。尤其相当数量的乡镇企业已经蓬勃兴起,但许多乡镇还没有具备检测的能力,在预防和治理的过程中有着很大的不便和隐患。便携式检测仪器的使用不仅可以减少环境试样在传输过程中的污染问题,减少样品固定和保存的繁杂手续,而且可以大大减少检测人员的工作量,实时掌握环境等动态变化趋势,从而尽可能地将潜在的风险降至最低。在现实的环境事故应急处理中,便携式检测仪器是采用综合检测的方式对突发性环境污染问题进行监测,为应对突发性重大环境事件提供了有力的保障。 奥斯恩便携式环境检测仪产品被广泛运用于各个领域,主打产品有便携式粉尘检测仪、便携式空气质量检测仪、便携式VOCs检测仪、便携式恶臭检测仪、便携式噪声检测仪等,产品功能接受个性化定制。 便携式环境监测仪具有操作方便、体积小巧等特点,可方便携带至不同的地方检测。自带大容量锂电池供电,开机就可以使用,能快速、准确地进行检测,并通过触摸屏显示实时监测的数据,方便现场操作人员及时查看,适用于各种应急监测、巡逻监测等场景。
  • 热膨胀芯(TEC)光纤跳线
    热膨胀芯(TEC)光纤跳线特性热膨胀芯增大了模场直径(MFD),便于耦合不仅更容易进行自由空间耦合,还能保持单模光纤的光学性能工作波长范围:980 - 1250 nm或1420 - 1620 nm光纤的TEC端镀有增透膜,以减少耦合损耗库存的光纤跳线:2.0 mm窄键FC/PC(TEC)到FC/PC接头2.0 mm窄键FC/PC(TEC)到FC/APC接头具有带槽法兰的?2.5 mm插芯到可以剪切的裸纤如需定制配置,请联系技术支持Thorlabs的热膨胀芯(TEC)光纤跳线进行自由空间耦合时,对位置的偏移没有单模光纤那样敏感。利用我们的Vytran® 光纤熔接技术,通过将传统单模光纤的一端加热,使超过2.5 mm长的纤芯膨胀,就可制成这种光纤。在自由空间耦合应用中,光纤经过这样处理的一端可以接受模场直径较大的光束,同时还能保持光纤的单模和光学性能(有关测试信息,请看耦合性能标签)。TEC光纤经常应用于构建基于光纤的光隔离器、可调谐波长的滤光片和可变光学衰减器。我们库存有带TEC端的多种光纤跳线可选。我们提供两种波长范围:980 nm - 1250 nm 和1460 nm - 1620 nm。光纤的TEC端镀有增透膜,在指定波长范围内平均反射率小于0.5%,可以减少进行自由空间耦合时的损耗。光纤的这一端具有热缩包装标签,上面列出了关键的规格。接头选项有2.0 mm窄键FC/PC或FC/APC接头、?2.5 mm插芯且可以剪切熔接的裸光纤。?2.5 mm插芯且可以剪切的光纤跳线具有?900 μm的护套,而FC/PC与FC/APC光纤跳线具有?3 mm的护套(请看右上表,了解可选的组合)。我们也提供定制光纤跳线。更多信息,请联系技术支持。 自由空间耦合到P1-1550TEC-2光纤跳线光纤跳线镀有增透膜的一端适合自由空间应用(比如,耦合),如果与其他接头端接触,会造成损伤。此外,由于镀有增透膜,TEC光纤跳线不适合高功率应用。清洁镀增透膜的接头端且不损坏镀膜的方法有好几种。将压缩空气轻轻喷在接头端是比较理想的做法。其他方法包括使用浸有异丙醇或甲醇的无绒光学擦拭纸或FCC-7020光纤接头清洁器轻轻擦拭。但是请不要使用干的擦拭纸,因为可能会损坏增透膜涂层。Item #PrefixTECEnd(AR Coated)UncoatedEndP1FC/PC (Black Boot)FC/PCP5FC/PC (Black Boot)FC/APCP6?2.5 mm Ferrule with Slotted FlangeScissor CutCoated Patch Cables Selection GuideSingle Mode AR-Coated Patch CablesTEC Single Mode AR-Coated Patch CablesPolarization-Maintaining AR-Coated Patch CablesMultimode AR-Coated Patch CablesHR-Coated Patch CablesStock Single Mode Patch Cables Selection GuideStandard CablesFC/PC to FC/PCFC/APC to FC/APCHybridAR-Coated Patch CablesThermally-Expanded-Core (TEC) Patch CablesHR-Coated Patch CablesBeamsplitter-Coated Patch CablesLow-Insertion-Loss Patch CablesMIR Fluoride Fiber Patch Cables耦合性能由于TEC光纤一端的纤芯直径膨胀,进行自由空间耦合时,它们对位置的偏移没有标准的单模光纤那样敏感。为了进行比较,我们改变x轴和z轴上的偏移,并测量自由空间光束耦合到TEC光纤跳线和标准光纤跳线时的耦合损耗(如右图所示)。使用C151TMD-C非球面透镜,将光耦合到标准光纤和TEC光纤。在980 nm 和1064 nm下,测试使用1060XP光纤的跳线和P1-1060TEC-2光纤跳线,同时,在1550 nm下,测试使用1550BHP光纤的跳线和P1-1550TEC-2光纤跳线。通过MBT616D 3轴位移台,让光纤跳线相对于入射光移动。 下面的曲线图展示了所测光纤跳线的光纤耦合性能。一般而言,对于相同的x轴或z轴偏移,TEC光纤跳线比标准跳线的耦合损耗低。而在x轴或z轴偏移为0 μm 时,标准跳线与TEC跳线的性能相似。总而言之,这些测试结果表明,TEC光纤对光纤位置的偏移远远没有标准光纤那样敏感,同时还能在zui佳光纤位置保持相同的耦合损耗。请注意,这些测量为典型值,由于制造公差的存在,不同批次跳线的性能可能有所差异。测量耦合性能装置的示意图。上图显示了用于测量耦合性能的测试装置。1060XP标准光纤和P1-1060TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。1060XP标准光纤和P1-1060TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。11550BHP标准光纤和P1-1550TEC-2热膨胀芯光纤之间的耦合性能比较图。 损伤阀值激光诱导的光纤损伤以下教程详述了无终端(裸露的)、有终端光纤以及其他基于激光光源的光纤元件的损伤机制,包括空气-玻璃界面(自由空间耦合或使用接头时)的损伤机制和光纤玻璃内的损伤机制。诸如裸纤、光纤跳线或熔接耦合器等光纤元件可能受到多种潜在的损伤(比如,接头、光纤端面和装置本身)。光纤适用的zui大功率始终受到这些损伤机制的zui小值的限制。虽然可以使用比例关系和一般规则估算损伤阈值,但是,光纤的jue对损伤阈值在很大程度上取决于应用和特定用户。用户可以以此教程为指南,估算zui大程度降低损伤风险的安全功率水平。如果遵守了所有恰当的制备和适用性指导,用户应该能够在指定的zui大功率水平以下操作光纤元件;如果有元件并未指定zui大功率,用户应该遵守下面描述的"实际安全水平"该,以安全操作相关元件。可能降低功率适用能力并给光纤元件造成损伤的因素包括,但不限于,光纤耦合时未对准、光纤端面受到污染或光纤本身有瑕疵。关于特定应用中光纤功率适用能力的深入讨论,请联系技术支持。Quick LinksDamage at the Air / Glass InterfaceIntrinsic Damage ThresholdPreparation and Handling of Optical Fibers空气-玻璃界面的损伤空气/玻璃界面有几种潜在的损伤机制。自由空间耦合或使用光学接头匹配两根光纤时,光会入射到这个界面。如果光的强度很高,就会降低功率的适用性,并给光纤造成yong久性损伤。而对于使用环氧树脂将接头与光纤固定的终端光纤而言,高强度的光产生的热量会使环氧树脂熔化,进而在光路中的光纤表面留下残留物。损伤的光纤端面未损伤的光纤端面裸纤端面的损伤机制光纤端面的损伤机制可以建模为大光学元件,紫外熔融石英基底的工业标准损伤阈值适用于基于石英的光纤(参考右表)。但是与大光学元件不同,与光纤空气/璃界面相关的表面积和光束直径都非常小,耦合单模(SM)光纤时尤其如此,因此,对于给定的功率密度,入射到光束直径较小的光纤的功率需要比较低。右表列出了两种光功率密度阈值:一种理论损伤阈值,一种"实际安全水平"。一般而言,理论损伤阈值代表在光纤端面和耦合条件非常好的情况下,可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。而"实际安全水平"功率密度代表光纤损伤的zui低风险。超过实际安全水平操作光纤或元件也是有可以的,但用户必须遵守恰当的适用性说明,并在使用前在低功率下验证性能。计算单模光纤和多模光纤的有效面积单模光纤的有效面积是通过模场直径(MFD)定义的,它是光通过光纤的横截面积,包括纤芯以及部分包层。耦合到单模光纤时,入射光束的直径必须匹配光纤的MFD,才能达到良好的耦合效率。例如,SM400单模光纤在400 nm下工作的模场直径(MFD)大约是?3 μm,而SMF-28 Ultra单模光纤在1550 nm下工作的MFD为?10.5 μm。则两种光纤的有效面积可以根据下面来计算:SM400 Fiber:Area= Pi x (MFD/2)2 = Pi x (1.5μm)2 = 7.07 μm2= 7.07 x 10-8cm2 SMF-28 Ultra Fiber: Area = Pi x (MFD/2)2 = Pi x (5.25 μm)2= 86.6 μm2= 8.66 x 10-7cm2为了估算光纤端面适用的功率水平,将功率密度乘以有效面积。请注意,该计算假设的是光束具有均匀的强度分布,但其实,单模光纤中的大多数激光束都是高斯形状,使得光束中心的密度比边缘处更高,因此,这些计算值将略高于损伤阈值或实际安全水平对应的功率。假设使用连续光源,通过估算的功率密度,就可以确定对应的功率水平:SM400 Fiber: 7.07 x 10-8cm2x 1MW/cm2= 7.1 x10-8MW =71 mW (理论损伤阈值) 7.07 x 10-8cm2x 250 kW/cm2= 1.8 x10-5kW = 18 mW (实际安全水平)SMF-28 UltraFiber: 8.66 x 10-7cm2x 1MW/cm2= 8.7 x10-7MW =870mW (理论损伤阈值)8.66 x 10-7cm2x 250 kW/cm2= 2.1 x10-4kW =210 mW (实际安全水平)多模(MM)光纤的有效面积由纤芯直径确定,一般要远大于SM光纤的MFD值。如要获得zui佳耦合效果,Thorlabs建议光束的光斑大小聚焦到纤芯直径的70 - 80%。由于多模光纤的有效面积较大,降低了光纤端面的功率密度,因此,较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到多模光纤中。 Estimated Optical Power Densities on Air / Glass InterfaceaTypeTheoretical Damage ThresholdbPractical Safe LevelcCW(Average Power)~1 MW/cm2~250 kW/cm210 ns Pulsed(Peak Power)~5 GW/cm2~1 GW/cm2a. 所有值针对无终端(裸露)的石英光纤,适用于自由空间耦合到洁净的光纤端面。b. 这是可以入射到光纤端面且没有损伤风险的zui大功率密度估算值。用户在高功率下工作前,必须验证系统中光纤元件的性能与可靠性,因其与系统有着紧密的关系。c. 这是在大多数工作条件下,入射到光纤端面且不会损伤光纤的安全功率密度估算值。插芯/接头终端相关的损伤机制有终端接头的光纤要考虑更多的功率适用条件。光纤一般通过环氧树脂粘合到陶瓷或不锈钢插芯中。光通过接头耦合到光纤时,没有进入纤芯并在光纤中传播的光会散射到光纤的外层,再进入插芯中,而环氧树脂用来将光纤固定在插芯中。如果光足够强,就可以熔化环氧树脂,使其气化,并在接头表面留下残渣。这样,光纤端面就出现了局部吸收点,造成耦合效率降低,散射增加,进而出现损伤。与环氧树脂相关的损伤取决于波长,出于以下几个原因。一般而言,短波长的光比长波长的光散射更强。由于短波长单模光纤的MFD较小,且产生更多的散射光,则耦合时的偏移也更大。为了zui大程度地减小熔化环氧树脂的风险,可以在光纤端面附近的光纤与插芯之间构建无环氧树脂的气隙光纤接头。我们的高功率多模光纤跳线就使用了这种设计特点的接头。曲线图展现了带终端的单模石英光纤的大概功率适用水平。每条线展示了考虑具体损伤机制估算的功率水平。zui大功率适用性受到所有相关损伤机制的zui低功率水平限制(由实线表示)。确定具有多种损伤机制的功率适用性光纤跳线或组件可能受到多种途径的损伤(比如,光纤跳线),而光纤适用的zui大功率始终受到与该光纤组件相关的zui低损伤阈值的限制。例如,右边曲线图展现了由于光纤端面损伤和光学接头造成的损伤而导致单模光纤跳线功率适用性受到限制的估算值。有终端的光纤在给定波长下适用的总功率受到在任一给定波长下,两种限制之中的较小值限制(由实线表示)。在488 nm左右工作的单模光纤主要受到光纤端面损伤的限制(蓝色实线),而在1550 nm下工作的光纤受到接头造成的损伤的限制(红色实线)。对于多模光纤,有效模场由纤芯直径确定,一般要远大于SM光纤的有效模场。因此,其光纤端面上的功率密度更低,较高的光功率(一般上千瓦的数量级)可以无损伤地耦合到光纤中(图中未显示)。而插芯/接头终端的损伤限制保持不变,这样,多模光纤的zui大适用功率就会受到插芯和接头终端的限制。请注意,曲线上的值只是在合理的操作和对准步骤几乎不可能造成损伤的情况下粗略估算的功率水平值。值得注意的是,光纤经常在超过上述功率水平的条件下使用。不过,这样的应用一般需要专业用户,并在使用之前以较低的功率进行测试,尽量降低损伤风险。但即使如此,如果在较高的功率水平下使用,则这些光纤元件应该被看作实验室消耗品。光纤内的损伤阈值除了空气玻璃界面的损伤机制外,光纤本身的损伤机制也会限制光纤使用的功率水平。这些限制会影响所有的光纤组件,因为它们存在于光纤本身。光纤内的两种损伤包括弯曲损耗和光暗化损伤。弯曲损耗光在纤芯内传播入射到纤芯包层界面的角度大于临界角会使其无法全反射,光在某个区域就会射出光纤,这时候就会产生弯曲损耗。射出光纤的光一般功率密度较高,会烧坏光纤涂覆层和周围的松套管。有一种叫做双包层的特种光纤,允许光纤包层(第二层)也和纤芯一样用作波导,从而降低弯折损伤的风险。通过使包层/涂覆层界面的临界角高于纤芯/包层界面的临界角,射出纤芯的光就会被限制在包层内。这些光会在几厘米或者几米的距离而不是光纤内的某个局部点漏出,从而zui大限度地降低损伤。Thorlabs生产并销售0.22 NA双包层多模光纤,它们能将适用功率提升百万瓦的范围。光暗化光纤内的第二种损伤机制称为光暗化或负感现象,一般发生在紫外或短波长可见光,尤其是掺锗纤芯的光纤。在这些波长下工作的光纤随着曝光时间增加,衰减也会增加。引起光暗化的原因大部分未可知,但可以采取一些列措施来缓解。例如,研究发现,羟基离子(OH)含量非常低的光纤可以抵抗光暗化,其它掺杂物比如氟,也能减少光暗化。即使采取了上述措施,所有光纤在用于紫外光或短波长光时还是会有光暗化产生,因此用于这些波长下的光纤应该被看成消耗品。制备和处理光纤通用清洁和操作指南建议将这些通用清洁和操作指南用于所有的光纤产品。而对于具体的产品,用户还是应该根据辅助文献或手册中给出的具体指南操作。只有遵守了所有恰当的清洁和操作步骤,损伤阈值的计算才会适用。安装或集成光纤(有终端的光纤或裸纤)前应该关掉所有光源,以避免聚焦的光束入射在接头或光纤的脆弱部分而造成损伤。光纤适用的功率直接与光纤/接头端面的质量相关。将光纤连接到光学系统前,一定要检查光纤的末端。端面应该是干净的,没有污垢和其它可能导致耦合光散射的污染物。另外,如果是裸纤,使用前应该剪切,用户应该检查光纤末端,确保切面质量良好。如果将光纤熔接到光学系统,用户首先应该在低功率下验证熔接的质量良好,然后在高功率下使用。熔接质量差,会增加光在熔接界面的散射,从而成为光纤损伤的来源。对准系统和优化耦合时,用户应该使用低功率;这样可以zui大程度地减少光纤其他部分(非纤芯)的曝光。如果高功率光束聚焦在包层、涂覆层或接头,有可能产生散射光造成的损伤。高功率下使用光纤的注意事项一般而言,光纤和光纤元件应该要在安全功率水平限制之内工作,但在理想的条件下(ji佳的光学对准和非常干净的光纤端面),光纤元件适用的功率可能会增大。用户首先必须在他们的系统内验证光纤的性能和稳定性,然后再提高输入或输出功率,遵守所有所需的安全和操作指导。以下事项是一些有用的建议,有助于考虑在光纤或组件中增大光学功率。要防止光纤损伤光耦合进光纤的对准步骤也是重要的。在对准过程中,在取得zui佳耦合前,光很容易就聚焦到光纤某部位而不是纤芯。如果高功率光束聚焦在包层或光纤其它部位时,会发生散射引起损伤使用光纤熔接机将光纤组件熔接到系统中,可以增大适用的功率,因为它可以zui大程度地减少空气/光纤界面损伤的可能性。用户应该遵守所有恰当的指导来制备,并进行高质量的光纤熔接。熔接质量差可能导致散射,或在熔接界面局部形成高热区域,从而损伤光纤。连接光纤或组件之后,应该在低功率下使用光源测试并对准系统。然后将系统功率缓慢增加到所希望的输出功率,同时周期性地验证所有组件对准良好,耦合效率相对光学耦合功率没有变化。由于剧烈弯曲光纤造成的弯曲损耗可能使光从受到应力的区域漏出。在高功率下工作时,大量的光从很小的区域(受到应力的区域)逃出,从而在局部形成产生高热量,进而损伤光纤。请在操作过程中不要破坏或突然弯曲光纤,以尽可能地减少弯曲损耗。用户应该针对给定的应用选择合适的光纤。例如,大模场光纤可以良好地代替标准的单模光纤在高功率应用中使用,因为前者可以提供更佳的光束质量,更大的MFD,且可以降低空气/光纤界面的功率密度。阶跃折射率石英单模光纤一般不用于紫外光或高峰值功率脉冲应用,因为这些应用与高空间功率密度相关。MFD定义模场直径的定义模场直径(MFD)是对在单模光纤中传播的光的光束尺寸的一种量度。它与波长、纤芯半径以及纤芯和包层的折射率具有函数关系。虽然光纤中的大部分光被限制在纤芯内传播,但仍有极小部分的光在包层中传播。对于高斯功率分布,MFD是指光功率从峰值水平降到1/e2时的直径。MFD的测量通过在远场使用变孔径法来完成MFD的测量。在光纤输出的远场处放置一个通光孔径,然后测量强度。在光路中放置连续变小的通光孔径,测量每个通光孔径下的强度水平;然后以功率和孔径半角(或数值孔径)的正弦为坐标作图得到数据。使用彼得曼第二定义确定MFD,该数学模型没有假设功率分布的特定形状。使用汉克尔变换可以从远场测量值确定近场处的MFD大小TEC光纤跳线,980 nm - 1250 nmItem #Fiber TypeOperating WavelengthMode Field DiameteraAR CoatingbMax AttenuationcNAdCladding/Coating DiameterConnectorsJacketTECStandardTECStandardP1-1060TEC-21060XP980 - 1250 nm12.4 ± 1.0 μm6.2 ± 0.5 μm850 - 1250 nm≤2.1 dB/km @980 nm≤1.5 dB/km @ 1060 nm0.070.14125 ± 0.5 μm /245 ± 10 μmFC/PC (TEC) to FC/PC?3 mmFT030-YP5-1060TEC-2TEC光纤跳线,1460 - 1620 nm,镀增透膜,FC/PC(TEC)到FC/APC,2 mP6-1550TEC-2TEC光纤跳线,1460 - 1620 nm,镀增透膜,?2.5 mm插芯(TEC)到裸纤,2 m
  • 美国华瑞VOC检测仪PGM-7320,PGM7320VOC检测仪
    美国华瑞VOC检测仪PGM-7320,PGM7320VOC检测仪,办事处,售后,服务,试剂耗材,说明书,主要特点:销售热线 15300030867 010-82752485-815 张经理 欢迎您的来电咨询华瑞的光离子技术的卓越表现响应时间短、检测范围宽、分辨率高,检测误差小超宽的检测范围可以实时检测0.1~15000ppm的VOC气体自清洗专利技术紫外灯的自清洁技术保持灯的能量在一个稳定状态 无线技术在气体检测中的完美应用内置蓝牙或无线模块,实现实时数据传输内置强力采样泵可外接长达30m的采样管路,检测数据一样准确无误智能的温度和零点补偿算法内置温度湿度压力传感器,自动进行补偿,保证检测的准确性友好的人机操作界面大屏幕图文液晶显示,多国语言,支持中文 可检测数千种气体广谱性检测,内置气体数据库,方便使用者选择美国华瑞VOC检测仪PGM-7320,PGM7320VOC检测仪,办事处,售后,服务,试剂耗材,说明书,主要特点,技术参数:美国华瑞VOC检测仪PGM-7320,PGM7320VOC检测仪,办事处,售后,服务,试剂耗材,说明书,主要特点:销售热线 15300030867 010-82752485-815 张经理 欢迎您的来电咨询
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