缺陷测量仪

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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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  • ◆PLMapping测量◆多种激光器可选◆Mapping扫描速度:优于20点/秒◆空间分辨率:10um(物镜),50um(透镜)◆光谱分辨率:0.1nm@1200g/mm◆Mapping结果以3D方式显示◆最大8吋的样品测量◆晶片精确定位◆样品真空吸附◆可做低温测量◆膜厚测量测试原理:PL是一种辐射复合效应。在一定波长光源的激发下,电子吸收激发光子的能量,向高能级跃迁而处于激发态。激发态是不稳定的状态,会以辐射复合的形式发射光子向低能级跃迁,这种被发射的光称为荧光。荧光光谱代表了半导体材料内部,一定的电子能级跃迁的机制,也反映了材料的性能及其缺陷。操作简便、全电脑控制PMEye-3000系列PL Mapping测量仪,是一款适合于半导体晶片和LED外延片科研、生产和质量控制环节的仪器;采用整机设计,用户只需要根据需要放置合适的检测样品,无需进行复杂的光路调整,操作简便;所有控制操作均通过计算机来控制实现。全新的样品台设计,采用真空吸附方式对样品进行固定,防止对样品的损伤;可对常规尺寸的晶圆样品进行精确定位,提高测量重复性。系统采用直流和交流两种测量模式,直流模式用于常规检测,交流模式用于微弱荧光检测。荧光测量一般的PL测量仪只是测量荧光的波长和强度。PMEye-3000系列增加对激光强度的监控,并根据监控结果来对荧光测量进行校正。这样就可以消除激发光源的不稳定带来的测量误差,也使测量结果有可比性。Mapping功能PMEye-3000系列配置200X200mm的X-Y电控位移台,最大可测量8英寸的晶圆样品。用户可以根据不同的样品规格来设置扫描区域及空间分辨率,扫描速度优于每秒20个点,空间分辨率可达10um(物镜),50um(透镜)。扫描结果以3D方式显示,以不同的颜色来表示不同的荧光强度。激光器PMEye-3000系列有多种高稳定性的激光器可选,系统最多可内置2个激光器和一个外接激光器,标配为1个激光器。用户可以根据测量对象来配置不同的激光器,使PL检测更加灵活。PMEye-3000系列可内置的激光器波长有:266nm,405nm,442nm,532nm、785nm等,外置激光器波长有:325nm,632.8nm等。功能强大的软件我们具有多年的测量仪器操作软件的开发经验,熟悉用户的操作习惯,这使我们开发的这套PMEye-3000系列操作软件功能强大且操作简便。PMEye-3000系列操作软件提供单点PL光谱测量及显示,单波长的X-Y Mapping测量及显示,mapping结果以3D方式显示。同时具有多种数据处理方式来对所测量的数据进行处理。低温样品室附件该附件可实现样品在低温状态下的荧光检测。有些样品在不同的温度条件下,将呈现不同的荧光效果,这时就需要对样品进行低温制冷。如图所示,从图中我们可以发现在室温时,GaN薄膜的发光波长几乎含盖整个可见光范围,且强度的最高峰出现在580nm附近,但整体而言其强度并不强;随着温度的降低,发光强度开始慢慢的增加,直到110K时,我们可以发现在350nm附近似乎有一个小峰开始出现,且当温度越降越低,这个小峰强度的增加也越显著,一直到最低温25K时,基本上就只有一个荧光峰。GaN薄膜的禁带宽度在室温时为3.40Ev,换算成波长为365nm,而我们利用PL系统所测的GaN薄膜在25K时在356.6nm附近有一个峰值,因此如果我们将GaN薄膜的禁带宽度随温度变化情况也考虑进去,则可以发现在理论上25K时GaN的禁带宽度为3.48eV,即特征波长为357.1nm,非常靠近实验所得的356.6nm,因此我们可以推断这个发光现象应该就是GaN薄膜的自发辐射。性能及功能扫描模式单波长mapping摄谱模式峰值波长mapping;给定波长范围的积分光源405nm激光(标配)150W溴钨灯(可选,用于膜厚测量)光源调制斩波器光谱仪三光栅DSP扫描光谱仪光谱仪焦距500mm(标配)波长准确度± 0.2nm(1200g/mm,300nm)± 0.6nm(600g/mm,500nm)± 0.8nm(300g/mm,1250nm)探测器Si探测器,波长范围:200~1100nm (标配)数据采集设备带前置放大器的数字采集器DCS300PA锁相放大器SR830二维位移平台行程200*200mm,重复定位精度3&mu m样品台具有真空吸附功能,对主流的3&rsquo &rsquo ,4&rsquo &rsquo ,5&rsquo &rsquo ,6&rsquo &rsquo ,8&rsquo &rsquo 的晶片可进行精确定位Mapping扫描速度优于20点/秒Mapping位移步长最小可到1um空间分辨率10um(物镜方式),50um(透镜方式)重复定位精度3&mu m探测器选择探测器类型光谱响应范围R1527光电倍增管200~680nmCR131光电倍增管200~900nmDSi300硅光电探测器200~1100nmDInGaAs1700常温型铟镓砷探测器800~1700nmDInGaAs1900制冷型铟镓砷探测器800~1900nmDinGaAs2200制冷型铟镓砷探测器800~2200nmDinGaAs2600制冷型铟镓砷探测器800~2600nm
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  • 4D InSpec 便携式表面缺陷测量仪是世界上第一款手持式、非接触、瞬时测量表面特征和缺陷的精密仪器。特点瞬时3D表面形貌测量量化测量5微米至2.5微米深的缺陷和特征轻松测量复杂的几何形状手持式,工作站或配合机器人
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  • 精确、快速、便携应用领域:金属,复合材料,织物等材质表面的划痕,裂纹,磨损,刮擦、凹坑、凿击、腐蚀等表面缺陷的现场检测和分析;铆接,焊接,接缝等阶差和凹凸量的三维检测;三维面粗糙度测量分析;划窝孔,槽深,圆弧,倒角等几何尺寸测量; 测量原理:德国GFM公司基于激光条纹相位投影技术和DSP高速图像处理芯片研制的便携式三维光学表面划痕测量仪,用于现场表面质量特性的检测,具有测量速度快,测量准确,便携性等优点。 仪器特点:便携式现场检测大型零件表面划痕缺陷,阶差等表面几何特性参数;三维测量表面划痕缺陷,通过拓扑色差图直观检测出划痕缺陷最深的部位;专业的划痕测量分析软件,多种滤波方式:包含了多项式滤波,高斯滤波,均值滤波等,有效消除曲面轮廓,倾斜,噪音信号,毛刺,灰尘等因素对测量结果的影响;大倾角光路设计,以及蓝光LED光源,测量不受高反光曲面的影响;SDK软件包,开放仪器接口,可二次开发;仪器附件 测量范围X/Y/Z:13X8X5 mm测量示值误差: (2+L/1000)μm L单位μm深度方向分辨力:1um聚焦距离: 107mm测量扫描时间: 3秒;扫描点云:36万点/幅使用环境温度:5-40°C符合国标校准规范的计量校准溯源
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  • 精密测量仪器产业现状与未来技术趋势剖析——访西安交通大学杨树明教授
    近日,第3届高端测量仪器国际论坛暨第13届精密工程测量与仪器国际会议(IFMI & ISPEMI 2024)在山东青岛成功举办。会议邀请各国精密工程测量与仪器领域的科学家、专家与业界领袖,就国际精密工程测量与仪器领域面临的重大机遇、重大科学问题和关键技术问题展开深入研讨,展望其未来发展方向和技术路线等。会议期间,仪器信息网特别策划了专访环节,荣幸地邀请到了西安交通大学杨树明教授,就其研究方向、精密测量技术发展趋势以及我国精密测量仪器产业发展现状等话题展开分享。西安交通大学 杨树明教授仪器信息网:请简单介绍下您的研究方向。杨树明教授:我一直聚焦于微纳测量领域,包括在该领域开展基础和应用研究,以及关键技术和装备开发等。近些年来,我们把微纳测量技术应用于芯片检测领域,特别是晶圆缺陷检测设备的研发。在长期技术储备的基础上,我们与企业紧密合作,争取在该领域实现重大突破,推动我国半导体芯片检测技术的自主化进程,解决晶圆缺陷检测的国产化难题。仪器信息网:您如何看待国内外精密测量仪器产业的发展现状?杨树明教授:精密和超精密测量的重要性越来越受到重视,也迎来前所未有的发展机遇,将在制造业转型升级中发挥重要作用,为制造业的提质增效提供有力支撑。然而,我们也应清醒地看到,对于精密测量仪器,国内与国际先进水平之间仍存在显著差距。而缩小这一差距,需要长期的坚持与不懈努力。仪器信息网:国内精密测量仪器产业应如何补齐这一差距?杨树明教授:我觉得人才是核心要素。一方面,该领域专业人才短缺,当前亟需通过提升高校培养规模、鼓励更多高校开设相关专业来加强人才供给;另一方面,构建有效的激励机制与制度保障,从而吸引并留住优秀人才在该领域长期耕耘。这两方面对于补齐我国与国际精密测量技术先进水平之间的差距具有关键作用。另外,要推动我国精密测量技术的蓬勃发展,逐步缩小与国际前沿的差距,并实现超越,我们还需要从多个维度上坚持不懈地努力。仪器信息网:我国在精密测量技术及仪器领域面临哪些挑战?特别是关键核心零部件及供应链方面是否存在瓶颈?杨树明教授:当前,从关键零部件至整机,我们仍面临诸多挑战。例如光源,尽管国内光源性能正逐步提升,但是短波长光源尚且没有完全达到应用要求,市场上尚缺乏适用于晶圆缺陷检测的成熟光源产品。同时,探测器、光学元件等关键零部件与国际先进水平相比,仍存在一定的差距。不过,我们在人工智能领域表现亮眼,相关技术在精密测量技术领域的应用,展现了一定的优势。仪器信息网:您如何看待人工智能对精密测量技术的影响?杨树明教授:"智能"已成为众多领域关注焦点之一。在测量领域,人工智能影响着测量的标定方法、管理方式和应用领域等,同时人工智能发展又需要测量作为支撑,包括数据如何精确获取、数据处理算法和模型的准确性等。可见,人工智能与精密测量必然相互融合发展。仪器信息网:您认为未来精密测量技术及仪器将沿着哪些方向发展?有哪些新兴技术或应用值得关注?杨树明教授:过去的测量工作主要聚焦于单一物理量,采用单一方法和设备完成。然而,随着测量需求日益多样化与复杂化,测量向着多物理量同步测量的方向迈进,要求测量仪器和设备集成多测头,具有多功能。随着加工精度和尺度从微米级到纳米级再到原子级,精度与尺度的极致追求对测量技术提出了更高要求,而且极端化的工作环境使得传统方法与技术难以胜任。此外,极致精度和极端尺度方面,缺乏标准和测量规范,需要探索新的计量与溯源方法。仪器信息网:您认为大规模设备更新将对国产仪器带来哪些机遇?杨树明教授:这是国产仪器发展的好机会和机遇。国产设备因性能与进口设备存在一定差距,导致市场在选择时往往倾向于进口产品。在当前国际形势下,加上政策支持与国产仪器前期的基础和积累,国产仪器有望加速融入市场,在实际应用中不断迭代升级,逐步提升其性能。这必将促进国产仪器行业的加速发展,并逐步实现国产替代。仪器信息网:在国产替代的大背景下,您认为国产精密测量仪器企业应加强哪些方面的能力建设以提升竞争力?杨树明教授:首先,应加强企业与高校的紧密合作。企业应主动寻求与高校的深度合作,而高校也应积极与企业对接。双方应基于各自的需求与优势,构建协同发展的合作模式。企业应充分利用高校的科研平台与资源优势,在制定未来发展规划时,特别是涉及新技术、新方法时,与高校紧密合作,让高校进行前瞻性研究。实际上,高校也要积极与企业开展紧密合作,与企业携手并进,才能使其成果落地。借此机会,我们诚挚希望与更多企业及高校研究院所携手,共同研发高端测量仪器,为国家解决“卡脖子”技术和产业升级提供技术支撑。
  • 国仪计测发布计量型量子微波电场测量仪QuEM-I
    5月21日,2024量子精密测量赋能产业发展大会暨第三届量子科仪节在合肥高新区举行。国仪计测(深圳)量子科技有限公司重磅首发了自主研发的微波量子精密测量仪器——QuEM-I计量型微波量子场强测量仪(Metrology-grade Quantum Microwave E-field Meter),这是一款基于高激发态里德堡原子的全新微波量子精密测量仪器,在测量灵敏度、频率范围、不确定度以及计量溯源性方面具有独特的优势,可广泛应用于微波计量测试、电磁兼容、电磁环境监测、频谱分析及无线通信等领域。发布会现场仪器介绍QuEM-I 计量型微波电场测量仪(Metrology-grade Quantum Microwave E-field Meter)是一款基于高激发态里德堡原子的微波量子精密测量仪器。基于量子相干效应将微波电场直接溯源至基本物理常数普朗克常数(h = 6.62607015×10-34Js)和国际单位制(SI)基本单位频率。这种全新的量子测量仪器在测量灵敏度、频率范围、不确定度及溯源性方面具有独特的优势。技术优势01 碱金属原子固有能级频率标尺实现仪器自校准02 支持基于本地时钟或GNSS远程高精度频率溯源03 低电磁扰动光纤耦合原子探头 / 微波腔增强型原子探头(选件)04 支持国标GB/T 43735-2024多模式里德堡原子制备泵浦激光组合05 内置减隔振机构,光机电一体化高度集成,支持定制硬件调试接口06 友好操控界面,底层软件开放,提供不确定度分析模块应用场景&bull 无线电计量&bull 电磁兼容&bull 电磁环境检测&bull 频谱分析&bull 电磁成像&bull 无线通信&bull 雷达导航关于国仪计测(深圳)量子科技有限公司国仪计测(深圳)量子科技有限公司是中国计量科学研究院系列专利技术通过科技成果转化,与国仪量子技术(合肥)股份有限公司合作设立的科技型公司,成立于2022年,注册地位于国际科创中心城市深圳,公司专注量子计量测试科学仪器研发与推广,当前重点研发基于里德堡原子的量子微波测量科学仪器及其配套设备。
  • 家用PM2.5测量仪校准规范有望今年出台
    “室外的PM2.5浓度530μ g/m3,家里只有15μ g/m3,空气净化器效果很好。”北京的蔡女士一手拿着手机,上面显示的是北京市环境质量发布平台发布的北京空气中PM2.5浓度的最新数据 另一手拿着一台家用手持PM2.5测量仪,上面显示蔡女士家中PM2.5浓度的实时测量数值。“我们在购买空气净化器的同时,也在网上买了这款家用PM2.5测量仪,打开开关,显示屏上就能显示出家里空气中PM2.5的浓度,很方便。”  2016年冬天,雾霾侵袭了包括北京在内的中国多座北方城市,使用方便、价格适中的各种家用PM2.5测量仪也成了很多消费者追捧的对象。那么,家用PM2.5测量仪测得到底准不准?我国目前PM2.5测量仪是否拥有统一的国家校准规范?  测量仪进入寻常百姓家  在淘宝网上输入“PM2.5测量仪”,可搜索出检查官、阿格瑞斯、汉王等品牌共100多件商品,价格从90多元到上千元不等。在各产品的网页上,“超高精度专业仪器”“实时精准检测”等各种宣传广告语很是吸引眼球。商家都将PM2.5测量作为卖点,有的还称自己的产品能同时测量PM2.5、PM10、甲醛、苯等各种空气污染物。中国质量报记者看到,“激光检测法”是多数测量仪采用的测量方法。例如,汉王霾表N1的网页介绍说,“采用PM2.5激光检测设备,精确度可以达到0.01μ g/m3”。阿格瑞斯的一款测量仪网页上写着:“激光传感器是新一代技术,检测更快,更精准,媲美气象局发布的数据。”但也有商家宣称产品采用的是“半导体技术,测量准确率达99.5%。”这些产品由于体积小、便于操作,数据实时显示、可视性强,得到不少网友的肯定。  专业测量仪不用光散射法  青岛众瑞智能仪器有限公司是一家专业研发生产高端环境监测仪器及安全检测仪器的高新技术企业。该公司生产的专业PM2.5测量仪运用在我国环保监测领域。公司高级工程师何春雷告诉记者,测量PM2.5的方法主要有3种:β 射线吸收法、微量振荡天平法和光散射法。“无论是国内还是国外的环保和气象部门,都只采用前两种方法的测量仪器,光散射法并未得到相关部门的权威认可。”据介绍,目前我国环保、气象监测部门都制定了各自的关于PM2.5测量仪的行业标准,对仪器的精度指标、技术参数、测试方法都做出了规定。何春雷透露,一台专业的PM2.5测量仪售价至少十几万元,甚至上百万元。  2016年1月1日开始实施的《环境空气质量标准》,明确规定PM2.5测定的手工分析方法为重量法,自动分析方法为微量振荡天平法和β 射线法,而没有光散射法,也就是说,对专业的环保、气象测量来说,采用光散射法制造的仪器并不被认可。  中国计量科学研究院纳米新材料研究所高级工程师张文阁解释,对PM2.5测量来说,不同的测量方法、不同的测量环境都会影响测量准确度。采用光散射法制成的家用PM2.5测量仪在测量准确度上肯定无法与专业的测量仪相比较。“由于光散射法本身的缺陷,导致这些仪器的测量精度很难保证。”张文阁认为,网上销售的家用PM2.5测量仪不属于专业测试仪器,只能大概测一个数据,对空气质量做一个暂定量测试或者作出一个趋势性判断,离PM2.5的概念相差太远。“只能将其作为衡量空气是干净还是被污染的一个大致参考。”  专业校准规范有望今年出台  早在几年前,中国计量科学研究院就开始进行PM2.5测量溯源性及计量标准装置研究。因为要想获得准确可靠的PM2.5数值,必须保障测量仪本身计量性能的可靠。张文阁说,“PM2.5测量方法与仪器型号很多,但不同原理不同厂家仪器测量结果相差很大,需要准确校准与溯源。”几年以来,张文阁带领的团队以国际通用的重量法为基础,建立了PM2.5质量浓度测量仪国家计量标准。该计量标准与代表欧盟PM2.5最高环保计量水平进行了国际比对,比对结果证明我国的PM2.5测量各项技术指标均达到了等效一致。  “我们已经完成了《PM2.5质量浓度测量仪国家校准规范》的终审并已报批,规范有望2017年正式发布。”张文阁介绍,“我们正在进行PM2.5测量仪器在线校准方法和计量标准装置的研究,为提高国家PM2.5监测水平提供计量技术保障。”  不过,张文阁解释,他们的研究都是为环保、气象部门专业的测量仪服务,而网上售卖的家用测量仪并不在他们的研究范围之内。

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  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 【分享】测量仪器的准确度

    定义 指“测量仪器给出接近于真值的响应的能力”(见JJF1001-1998《通用计量术语及定义》7.18条,以下简称条款)。也就是指测量仪器给出的示值接近于真值的能力,即测量仪器由于仪器本身所造成的其输出的被测量值接近被测量真值的能力。由于各种测量误差的存在,通常任何测量是不可能完善的,所以实际上真值是不可知的,当然接近于真值的能力也是不确定的,因此测量仪器准确度是反映了测量仪器示值接近真值的一种程度,所以在该定义的注中说明准确度是一个定性的概念。 测量仪器准确度是表征测量仪器品质和特性的最主要的性能,因为任何测量仪器的目的就是为了得到准确可靠的测量结果,实质就是要求示值更接近于真值。为此虽然测量仪器准确度是一种定性的概念,但从实际应用上人们需要以定量的概念来进行表述,以确定其测量仪器的示值接近于其真值能力的大小。在实际应用中这一表述是用其他的术语来定义的,如准确度等级、测量仪器的示值误差、测量仪器的最大允许误差或测量仪器的引用误差等。准确度等级是指“符合一定的计量要求,使误差保持在规定极限以内的测量仪器的等别、级别”(7.19条)。即就是按测量仪器准确度高低而划分的等别或级别,如电工测量指示仪表按仪表准确度等级分类可分为0.1、0.2、0.5、1.0、1.5、2.5、5.0等七级,具体说就是该测量仪器满量程的引用误差,如1.0级指示仪表,则其满量程误差为±1.0%FS。如百分表准确度等级分为0、1、2级,则主要是以示值最大允许误差来确定。如准确度代号为B级的称重传感器,当载荷m处于0≤m≤5000v时(v为传感器的检定分度值),则其最大允许误差为0.35v。又如一等、二等标准水银温度计,就是以其示值的最大允许误差来划分的。所以准确度等级实质上是以测量仪器的误差来定量表述测量仪器准确度的大小。有的测量仪器没有准确度等级指标,则测量仪器示值接近于真值的响应能力就是用测量仪器允许的示值误差来表述,因为测量仪器的示值误差就是指在规定条件下测量仪器示值与对应输入量的真值之差,这和测量仪器准确度定义概念是完全相对应的,如长度用半径样板,它就是以名义半径尺寸来规定其允许的工作尺寸偏差值来确定其准确度。因为真值是不可知的,实际上测量仪器可以用约定真值或实际值来计算其误差的大小,通过示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级来定量进行表述。实际上准确度等级也只是一种表述形式,这些等级的划分仍是以最大允许误差、引用误差等一系列的特性来定量表达的。 这里要注意,从名词术语的名称和定义来看,测量仪器准确度和准确度等级、测量仪器的示值误差、最大允许误差、引用误差等其概念是不同的,测量仪器准确度术语是定性的概念,严格讲要定量地给出测量仪器接近于真值的响应能力,则应该指明给出量值是什么量,是示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级,不能笼统地称为准确度。我们可以认为测量仪器准确度是它们这些特性概念的总称,测量仪器准确度可以用其它相应的术语来定量表述,这二者是有区别的。准确度1级应称为准确度等级为1级,准确度为0.1%称为其引用误差为0.1%FS。但有时为了制定表格或方便表述,表头则也可写“准确度”,表内填写准确度等级或规定的允许误差。要说明一点,测量仪器准确度是测量仪器最最主要的计量性能,人们关心的就是是否准确可靠,如何来确定这一计量性能大小?通常它是用其它的术语来定量表述而已。

  • 各种光谱测量仪要如何区别

    目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

缺陷测量仪相关的耗材

  • 测量仪性能指标
    产品特点:测量仪性能指标主要行业/应用测量详细信息* 制药行业 * 食品安全 * 生物农业 * 环境 * 水质* 酸碱水平 * 相关离子的电极电位值(mV) * G4383A 是只包括 3200P 测量仪的套装 * G4391A 的基本套装包括电极、电极支 架和缓冲剂 * G4392A 的组件包括三复合电极、电极 支架和缓冲剂* 环境 * 石油化工 * 食品安全 * 生物学 * 电导率 * 电阻率 * 总溶解固体(TDS) * 盐度 * 当前溶液温度值* G4384A 是只包括 3200C 测量仪的套装 * G4393A 的套装包括 3200C 测量仪、电 极和电极支架 * 环境 * 污水处理 * 自来水水源监测 * 食品安全 * 水产养殖 * 饮料生产 * 生物农业 * 科学研究* 溶解氧浓度 * 水溶液氧的饱和度 * G4385A 是只包括 3200D 测量仪的套装 * G4395A 的套装包括 3200D 测量仪、电 极和电极支架 * 食品安全 * 生物农业 * 石油化工 * 环境保护 * 科学研究 * 疾病控制*电极电位值(mV) * pX 值和离子浓度 * G4396A 是只包括 3200I测量仪的套装 * 为 G4396A 的套装包括 3200I 测量仪、 pH 电极、电极支架和缓冲剂 * 为 G4397A 的 氟 离 子 测 定 套 装 包 括 3200I 测量仪、氟离子电极、电极支架 和缓冲剂* 水质 * 疾病控制 * 环境保护 * 生物农业 * 科学研究* 可同时测量 pH/pX、离子浓度、离子 电极电位(mV)、电导率、总溶解固 体量、盐度、溶解氧量和温度 * G4378A 是只包括 3200M 测量仪的套装 * G4398A 的套装包括 3200M 测量仪、电 极、电极支架和缓冲剂 测量仪性能指标安捷伦提供了不同测量仪以满足您最具挑战性的应用。测量仪性能指标优势3200P3200C3200D3200I3200M 温度:-5.0-110.0 °C 可在很宽的温度范围内使用 测量模式:连续/定时读取/自动锁定采用一台测量仪即可进行多种方式测量点阵式液晶显示屏 快速获得实验结果 易于初学者使用数字操作键简便的操作适合于各种熟练程度的实验操作人员3200P3200I3200M 缓冲液可自动识别 可选用 NIST 和 GB 标准缓冲液 高阻抗:3 x 1012?可从众多类型电极中选择适合测定您样品的电极溶解氧 测定的准确度:±0.10 mg/L 精确测量和优异的温度补偿功能实现了卓越的溶解氧测定准 确度3200I3200M 为 H+、Ag+、Na+ 和 K+ 提供离子测量模式 NH 、 2 4+ Cl-、F-、NO 、 3- BF 、 4- CN-、Cu +、Pb2+ 和 Ca2+易于更换电极(或离子选择电极),实现多种离子灵活地分析 不同单位之间可以自由转换自动优化测量并保证结果准确离子浓度测量模式:直接读取模式、“标准”添加模式、样品 添加模式和 GRAN 作图添加模式操作方便
  • 熔融指数测量仪配件
    熔融指数测量仪配件和欧洲的进口熔融指数测量仪,测量热塑性塑料原料的熔体质量流率MFR和流量率MVR的良好仪器,对于热塑性材料的质量控制非常有用。熔融指数测量仪配件特点:对于热塑性材料的质量控制非常有用高精度的内置微处理器进行温度控制控制精度高达+/-0.5摄氏度具有快速达到设定温度的能力远远超过各种熔体流量率测量标准的要求,如ISO1133, ASTM D1238& GBIT 2682.采用高精度的内置微处理器进行温度控制,控制精度高达+/-0.5摄氏度,具有快速达到设定温度的能力内置破碎机能够定时对挤压材料自动切断,非常容易操作,而价格非常优惠!熔融指数测量仪配件参数:工作温度: 120-450摄氏度 温度控制精度: =0.5摄氏度温度显示分辨率:0.1摄氏度温度上升时间:30分钟电源要求:220V/50Hz 或110V60Hz孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商,产品技术和性能保持全球领先,拥有包括熔融指数测量仪,进口熔融指数测量仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类,世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系,确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库,可在下单后12小时内从国外直接空运发货,我们位于天津保税区的进口公司众邦企业(天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。关于熔融指数测量仪参数,进口熔融指数测量仪特点的更多消息,孚光精仪将在第一时间更新并呈现,想了解更多内容,关注孚光精仪等你来体验!
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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