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X-射线荧光光谱仪(XRF)是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(即X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。 波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF),是用晶体分光而后由探测器接收经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器作同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行定性和定量分析。该仪器产生于50年代,由于可以对复杂体系进行多组分同时测定,受到观注,特别在地质部门,先后配置了这种仪器,分析速度显著提高,起了重要作用。 随着科学技术的进步,在60年代初发明了半导体探测器以后,对X-荧光进行能谱分析成了可能。能谱色散型X荧光光谱仪(ED-XRF),用X射线管产生原级X射线照射到样品上,所产生的特征X射线(荧光)直接进入半导体探测器,便可以据此进行定性分析和定量分析。 由于普通能量色散X荧光采用低功率X射线管,又采用滤光片扣除背景和干扰,其背景偏高,分辨率偏小,使得应用范围受到限制,特别是在轻元素的分析受到限制。随之X射线偏振器的诞生,产生了一款新型的能量色散X荧光光谱仪,既偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF,再加上SDD探测器的使用,不仅提高了(相对使用正比计数管和Si(PIN)探测器的仪器)的分辨率,免去Si(Li)探测器使用液氮冷却的繁琐和危险,原来普通能量色散X荧光的轻元素检出限高,分辨率差的缺陷,又使得(相对波长色散X荧光用户)购买和使用X荧光仪器的成本大大减低,这使得偏振式能量色散X荧光光谱仪ED(P)-XRF在分析领域的迅猛发展,越来越受到广泛关注。
β射线在线测厚仪是非接触式仪器,在使用过程中不用担心它会损坏产品,对人体也是无辐射的,应用范围也很广泛,近年来在市场上很受各大厂家的欢迎。大成精密公司以高起点、高标准、高水平为追求目标,以打造世界一流装备制造企业为使命,视研发为生命,。 测量原理:单位面积上极片的质量,称为极片的面密度。极片的面密度是决定电池的一致性的最重要的因素。由Kr85(氪85)衰变产生的β射线,穿透电池极片时,一部分射线被极片吸收。导致穿透极片后的射线强度相对于入射射线强度有一定的衰减。衰减比例与被穿透极片的面密度呈负指数关系。通过填充有特殊气体电离室检测射线穿透极片前后的射线强度,即可推算出极片的面密度。如下图所示: file:///E:/360downloads/360se6/User%20Data/temp/56a1a12849ca8.jpghttp://www.dcprecision.cn/Uploads/201601/56a1a12849ca8.jpg 在线测厚仪机器在正常扫描测量中,会打开β射线进行测量,为避免操作员暴露在β射线辐射中,机器硬件自带辐射屏蔽功能出色屏蔽效果用于防电离辐射保护员工安全。距离机壳外表5cm处任何测量,辐射剂量≤1uSv/h(国标是2.5uSv/h)。 当机器需要标定或者维护保养时,需要打开侧门此时需要先在操作面板上关闭β射线,在进行维护保养,避免出现辐射危害。对于辐射防护大成精密特有的多重屏蔽措施,设备正常运行中侧门门控传感器感应到侧门打开,设备会立即停止运行。侧门门控传感器设置更大的程度保护员工进行设备操作的安全性。
[table][tr][td][url=https://std.samr.gov.cn/gb/search/gbDetailed?id=91890A0DA65580C6E05397BE0A0A065D][color=#0a5ca8]GB/T 3323.1-2019[/color] 焊缝无损检测 射线检测 第1部分:X和伽玛射线的胶片技术[/url][/td][/tr][/table]资料中心的GB/ 3323.1实际为.2部分。[table][tr][td][url=https://std.samr.gov.cn/gb/search/gbDetailed?id=91890A0DA65580C6E05397BE0A0A065D][color=#0a5ca8]GB/T 3323.1-2019[/color] 焊缝无损检测 射线检测 第1部分:X和伽玛射线的胶片技术[/url][/td][/tr][/table]