晶体管分析仪

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晶体管分析仪相关的厂商

  • 泰兴市和宸晶体科技公司位于长江之滨泰兴市,距无锡常州苏州扬州泰州距离均在150公里以内,交通方便,公司主要产品有:蓝宝石精密光学窗口片保护片、蓝宝石精密部件、蓝宝石光学透镜棱镜等,其中高面型蓝宝石产品享誉市场。拥有技术研发团队和多年浸染光电加工行业的高素质技工团队,并采购了国内和国际顶尖水平的加工和检测设备。和宸晶体的蓝宝石产品已广泛应用于:深海探测、高铁监控监测、油田监测、航空航天等领域。热忱欢迎国内外客商莅临我公司参观指导!
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  • 南京宁博分析仪器有限公司是集科研、生产、销售为一体的高新技术型企业。公司拥有一批多年从事高速分析技术研究的尖端专业人才,并荣获了多项专利发明,开发了国内多元素一体化分析仪的第一代检测软件并获得了国家知识产权保护!公司总工季一渤高级工程师是中国第一代研究、生产高速分析仪器的专家。七十年代他就开始研究元素高速分析仪器,多年来已经为全国众多企业解决了无数难题,获得了企业与社会的一致好评。季一渤高工在黑色金属、有色金属的炉前快速分析、成品分析以及各种矿物分析方面拥有极其丰富的实际经验,可为各类型实验室提供完整的解决方案,并可培训相关技术人员。公司在售后服务方面也开创了国内同行业先例,首家推出了400国内免费电话,完全解决了企业售后服务难题。公司秉承一贯的“和谐、奋进、真诚……”理念,将售后服务工作放在工作的首位,在全国各地区均设立了售后服务部,24小时全天候服务,彻底消除了广大用户的后顾之忧!南京宁博分析仪器有限公司主要生产金相分析仪、直读光谱仪、微机高速分析仪、碳硫分析仪、高频红外碳硫分析仪、电弧红外碳硫分析仪、管状炉碳硫分析仪、三元素分析仪、多元素分析仪、电脑多元素联测分析仪、电脑多元素一体化分析仪、非水定碳仪、定碳仪、定硫仪、可见分光光度计、紫外可见光分光光度计、看谱仪、二用式看谱仪(小光谱仪)、测温枪、炉前铁水碳硅快速分析仪等。
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  • 山东联众分析仪器有限公司是一家专业生产色谱仪的高科技企业。凭借多年的生产经验及人才积累、通过不断研发、创新,已成为专业色谱领域的的行业领跑者,并建立起完善的现场安装及售后服务体系,不断服务于科研院校、环境监测、石油化工、燃气、煤矿、电力、食品等行业。  我们围绕客户的实际需求不断创新,加强校企合作,持续引进高端技术、人才,致力打造成为专业的、提供整体解决方案的分析仪器制造企业。  公司于2015年被《国家食品企业质量安全检测技术示范中心》授予实验室分析检测仪器示范单位荣誉称号,公司的气相色谱仪也同时被该中心确定为标准检测仪器并投入使用。  公司在多年经营过程中以科技为先导,不断引进、吸收、研发、创新、开发了品质优良的分析仪器。形成了以燃气分析仪、微量硫分析仪、在线气体分析仪为主的气相色谱仪三大系列。  公司的质量方针:开拓创新,精益求精,精细管理,优质服务。  公司的品质承诺:时刻关注客户,满足顾客当前和未来对产品品质的要求。  公司的服务宗旨;想客户所想,急客户所急,供客户所需,以更加完美的技术品质和真诚的服务回报用户!  经营理念:在专注的细分市场,实现领跑的差异化优势。  核心价值观:待人以诚,执事以信。凡事要利人,时刻站在用户的角度去考虑产品及服务问题
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晶体管分析仪相关的仪器

  • 泰克Tektronix370A 晶体管测试仪TEK370A 泰克Tektronix 370A 晶体管测试仪名称:泰克Tektronix 370A 晶体管测试仪主要参数:半导体器件高精度测量-上限达2000V或电流到10A的源(370A/B)-上限到3000V(371A)-上限到220W(370A/B)-上限到400A(371A)-1nA的测量分辨率-上限到3000W(371A)-上限到2mV的测量分辨率(370A/B)-波形对比-包络显示-波形平均-点光标(370A)-Kelvin传感测量-全程控-MS-DOS兼容的软盘,方便设置参孝存储和调用交互式程-所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式,调整和存储操作参数,包括370A的非易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。测试夹具-测试夹具是标准附件,它提供被测器件安全防护,以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001,中间通过Kelvin传感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。程控特性曲线图示仪高分辨率特性曲线图示仪,可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。-在研发实验室,用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作。应用-手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量-来料检查-生产测试-过程监视及质量控制-数据报告的生成-元件配对-失效分析-工程测试370A.jpg标签泰克Tektronix 370A 晶体管测试仪,泰克Tektronix 370A 晶体管测试仪价格相关产品半导体测试仪半导体测试仪备注: 本公司十年专业销售、租赁、维修、回收二手仪器,公司货源广阔,绝大部分直接从国外引进,成色新,价格低,资金雄厚,库存充足,售前严格,售后快捷是我们的特点:致力于为客户提供更专业,方便,快捷的人性化服务是我们的宗旨;勇于创新,敢于探索是我们的优势;凡在我司购买的仪器免费送较准服务一年!-鹏庆电子
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  • 产品目录? 晶体管图示仪(曲线追踪仪)? 半导体分立器件测试筛选系统。? 静态测试设备:包括导通、关断、击穿、漏电、增益等直流参数? 动态测试设备:包括 Tr, Trr , Qg , Rg , FRD , UIS , SC , Ci , RBSOA 等? 环境老化测试:包括 HTRB , HTGB , H3TRB , Surge 等? 热特性测试:包括 PC , TC , Rth , Zth , Kcurve 等? 测试范围:Si , SiC , GaN 材料的 IPM , IGBT , MOSFET , DIODE , BJT , SCR等分立器件及功率器件。ST-SP2000_5 (Curve版)晶体管曲线追踪仪可测试 19大类27分类 的大中小功率分立器件及模块的 静态直流参数(测试范围包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件)主极2000V / 50~1250A,分辨率*高至1mV / 10pA支持曲线扫描图示功能?产品应用应用领域军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……主要用途? 测试分析(功率器件研发设计阶段的初始测试)? 失效分析(对失效器件进行测试,查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 )? 选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)? 来料检验(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)? 产线自动化测试(可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备,实现规模化、自动化测试)?产品简述 产品扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键,系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 曲线追踪仪(晶体管图示仪)功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线,可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数,典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET RDSvs. VGS 等曲线数据。此外, 针对多条曲线,设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的 Excel 工作表。系统能够更快,更简洁的创建曲线(单击,双击,选择输入菜单,单击)。就是这么简单。设备支持在单个 DUT 上运行高达 10 条不同曲线的能力,在运行过程中,每个图表都是可视的,每个数据集都被加载到一个被命名的 Excel 工作表中。系统运行速度快,可进行数据记录,提供更高级的数据工具箱,能够运行多条曲线并自动排序,自动将数据存入 Excel 表格,具有缩放功能,光标重新运行功能以及其他许多优点。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。?可供选择的曲线Tel:d173h4295a2894
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  • SWT-6000A微电脑晶体管焊接电源是电阻焊接里面最理想的焊接电源,主机采用高速微处理器控制,控制精度高,时间响应快, 工作模式丰富,它具有电流上升快、输出电流稳定、熔接处于两焊接接触面,被焊接处氧化少、焊接自检等主要特性,主要用于 锂离子电池组焊接、动力电池、电动工具电池焊接之用,是保证高品质焊接必选机型。整机电源全为开关电源控制,电源适应能力强。该电源是我司最新推出高端焊接电源,焊接电流通过晶体管进行高速切换,无需变压器,焊接电流上升速度成倍提高,可极短时间内对工件进行高品质焊接。具有焊机参数自检对比功能,以确保每个焊点质量达标。规格型号:SWT-6000A(4000A/10000A)最*焊接电流:6000A(4000A/10000A)焊接电压:12V焊接能力:0.01-0.20mm(0.01-0.12mm/0.01-0.30mm)焊接模式:定电压/定电流焊接时间:1.0-3.0mS外型尺寸:380*230*320mm输入电源:AC220V±10%/50Hz
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晶体管分析仪相关的资讯

  • STEM-EDS分析化合物半导体晶体管元素分布
    自硅基半导体作为一个规模庞大的产业发展起来后,集成电路单位面积上晶体管的数量增加趋势始终遵循摩尔定律[1]。目前,硅基半导体中的关键尺寸(线宽或特征尺寸)已经降低到到10nm以下[2]。相比于硅基半导体,化合物半导体如SiC和GaN基半导体可以满足更苛刻的工作条件(高击穿电场、高热导率、高电子迁移率、高工作温度等),具有更大的输出功率和更好的频率特性,市场需求方兴未艾。化合物半导体的应用场景面向射频、高电压大功率、光电子等领域,不追求硅基半导体级别的先进制程工艺。如GaN制程的基本线宽在0.25~0.50µ m ,生产线以4英寸为主[3]。图1 电子束和样品的相互作用区域及逸出的信号半导体器件结构的微细化演进对电子显微镜视野下的微区元素分析带来了很大的挑战。在电子显微镜中,电子束照射在观察区域上,形成水滴形的相互作用区域,如图1 所示。从该区域中会逸出多种信号,如观察表面形貌的二次电子(SE)、区分成分衬度的背散射电子(BSE)和分析成分的X射线。电子显微镜会配置不同的探测器来接收这些信号进行成像。能谱仪(EDS, Energγ Dispersive Spectrometer)以X射线为信号源分析微区成分分布。图1也显示,这几种信号源的深度不同,SE最浅,BSE次之,X射线最深。不同信号源的逸出深度可以解释同样条件下SE、BSE和EDS成像的空间分辨率差异。
  • 最小耐高温的等离子体晶体管问世(图)
    美国犹他大学的研究人员研制了迄今为止最小的等离子体晶体管,其可承受核反应堆的高温和离子辐射环境条件,有助于研制在战场上收集医用X射线的智能手机、实时监测空气质量的设备、无需笨重的镜头和X射线光束整形装置的X射线光刻技术。   这种晶体管有潜力开辟适用于核环境工作的新一类电子器件,能用于控制、指引机器人在核反应堆中执行任务,也能在出现问题时控制核反应堆,在核攻击事件中继续工作。   作为当代电子设备的关键组成元件,硅基晶体管通过利用电场控制电荷的流动来实现晶体管的打开或关闭,当温度高于550华氏度时失效,这是核反应堆通常工作的温度。而此次美研究人员将利用传导离子和电子的等离子体空气间隙作为导电沟道,研制了可在极高温度下工作的等离子体晶体管。它的长度为1-6微米,为当前最先进的微型等离子体器件的1/500,工作电压是其六分之一,工作温度高达华氏1450度。核辐射可将气体电离成等离子体,因此这种极端的环境更易于等离子体器件工作。
  • 可在P型与N型间转换的新式晶体管问世
    据美国物理学家组织网12月21日(北京时间)报道,德国科学家研制出一种新式的通用晶体管,其既可当p型晶体管又可当n型晶体管使用,最新晶体管有望让电子设备更紧凑 科学家们也可用其设计出新式电路。相关研究发表在最新一期的《纳米快报》杂志上。   目前,大部分电子设备都包含两类不同的场效应晶体管:使用电子作为载荷子的n型和使用空穴作为载荷子的p型。这两种晶体管一般不会相互转化。而德累斯顿工业大学和德奇梦达公司携手研制的新式晶体管可通过电信号对其编程,让其自我重新装配,游走于n型晶体管和p型晶体管之间。   新晶体管由单条金属—半导体—金属结构组成的纳米线嵌于一个二氧化硅外壳中构成。从纳米线一端流出的电子或空穴通过两个门到达纳米线的另一端。这两个门采用不同方式控制电子或空穴的流动:一个门通过选择使用电子或空穴来控制晶体管的类型 另一个门则通过调谐纳米线的导电性来控制电子或空穴。   传统晶体管通过在制造过程中掺杂不同元素来确定其是p型还是n型,而新式晶体管不需要在制造过程中掺杂任何元素,通过在一个门上施加外部电压即可重新配置晶体管的类型。施加的电压会使门附近的肖特基结阻止电子或空穴流过设备,如果电子被阻止,空穴能流动,那么,晶体管就是p型,反之则是n型。   研究人员解释道,使这种再配置能起作用的关键是调谐分别通过肖特基结(每个门一个)的电子流动情况,模拟显示,纳米线的几何形状在这方面起关键作用。   尽管该研究还处于初期阶段,但新式晶体管展示出了极佳的电学特性。比如,与传统纳米线场效应晶体管相比,其开/闭比更高,且漏电更少。该研究的领导者沃尔特韦伯表示:“除采用人造纳米线外,采用目前先进的硅半导体制造技术也可以制造出这种晶体管,还可以用到自对准技术,大大提高工作频率和速度。”   接下来,科学家们计划通过改变材料的组成来改进新式晶体管的性能,并制造出由其运行的电路。他们表示,最大的挑战是,在将其与其他晶体管结合在一起时,如何将额外的门信号整合进来。

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  • 分析仪器常用电子器件——光电池和光电晶体管

    分析仪器常用电子器件——光电池和光电晶体管

    [align=center][font=宋体]分析仪器[/font][font=宋体]常用[/font][font=宋体]电子器件[/font][font=宋体]——[/font][font=宋体]光电池和光电晶体管[/font][/align][align=center][font=宋体]概述[/font][/align][img=,690,627]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/08/202308012211058106_5057_1604036_3.jpg!w690x627.jpg[/img][font=宋体][font=宋体]光电池和光电晶体管都是基于光生伏特效应的光敏器件,常用于紫外[/font][font=宋体]——可见分光光度计、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/5p][color=#3333ff]液相色谱仪[/color][/url]的紫外检测器和示差检测器等部件中,将仪器传输的光线信号转换成电信号。与光电管(或光电倍增管)相比较,光电池和光电晶体管可以检测光线波长范围较广,可以涵盖近近红外、紫外直至高能区域,电气噪声低、耗能低、可靠性好、线性范围宽。[/font][/font][align=center][font=宋体]简介[/font][/align][font=宋体]光电池[/font][font=宋体][font=宋体]的原理是:某些特殊半导体的[/font][font=宋体]P-N结在光线照射情况下,产生新的电子——空穴对,在P-N结电场的作用下移动从而[/font][/font][font=宋体]产生电动势[/font][font=宋体],一般[/font][font=宋体]用于光电转换、光电探测及光能利用等方面[/font][font=宋体][font=宋体],其结构如图[/font][font=宋体]1所示[/font][/font][font=宋体]。[/font][font=宋体][font=宋体]光电池是一种用途较广的光敏器件,具有体积小、寿命长、可靠性高、光谱响应范围宽、低能耗等特征。紫外[/font][font=宋体]——可见分光光度计、浊度计以及[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/5p][color=#3333ff]液相色谱[/color][/url]紫外和示差检测器等宽波长检测范围的分析仪器中经常会使用光电池器件。[/font][/font][align=center][img=,135,123]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/08/202308012211058106_5057_1604036_3.jpg!w690x627.jpg[/img][font=宋体]。[/font][/align][align=center][font=宋体][font=宋体]图[/font][font=宋体]1 [/font][/font][font=宋体]光电池结构[/font][/align][font=宋体][font=宋体]光电晶体管包括光电二极管和光电三极管。光电二极管内部具有光敏特征的[/font][font=宋体]PN结,工作时一般在P-N结施加反向电压,在无光照的情况下,仅有极低的漏电流流过PN结,即暗电流。当受到光线照射时,漏电流大大增加,称为光电流,光电流随入射光强度的变化而变化,其结构如图2所示。光电二极管的灵敏度较高,频率响应特性较好,与光电池相比更加适合检测高速变化的光信号。[/font][/font][font=宋体]光电三极管的灵敏度比光电二极管更高,常用于光隔离器、光束传感器、光纤等高灵敏度应用场合中。[/font][align=center][img=,280,84]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/08/202308012211176240_6601_1604036_3.jpg!w690x207.jpg[/img][font=Calibri] [/font][/align][align=center][font=宋体][font=宋体]图[/font][font=Calibri]2 [/font][font=宋体]光电二极管结构和电路图[/font][/font][/align][align=center][font=Calibri][font=宋体]二极管阵列检测器[/font][/font][/align][font=宋体]作为一种功能更强的紫外检测器,某些分析应用场合下需要[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/5p][color=#3333ff]液相色谱仪[/color][/url]装备光[/font][font=Calibri][font=宋体]电二极管列阵检测器,[/font][/font][font=宋体]一般[/font][font=Calibri][font=宋体]表示为[/font]PDA[font=宋体]([/font][font=Calibri]photo-diode array[/font][font=宋体])、[/font][font=Calibri]PDAD[/font][font=宋体]([/font][font=Calibri]photo-diode array detector[/font][font=宋体])或([/font][font=Calibri]Diode array detector[/font][font=宋体],[/font][font=Calibri]DAD[/font][font=宋体])[/font][/font][font=宋体][font=宋体],[/font][font=Calibri]PDA[/font][font=宋体]检测器光学结构如图[/font][font=Calibri]3[/font][font=宋体]所示。[/font][/font][align=center][img=,292,204]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/08/202308012211238768_3513_1604036_3.jpg!w690x481.jpg[/img][/align][align=center][font=宋体][font=宋体]图[/font][font=Calibri]3 [/font][font=宋体]二极管阵列检测器的光路结构[/font][/font][/align][font=宋体]来自光源的光线,穿过检测池之后,带有一定吸收的光线被光栅分光后,不同波长的光线照射在二极管阵列器件上。二极管阵列器件由密集排布的数百至上千个微型光电二极管组成,可以同时检测到较宽波长范围下的光谱吸收。[/font][font=宋体]除去获得定量信息之外,二极管阵列检测器还可以快速获得物质光谱信息用以紫外光谱定性,或者色谱峰的三维信息用以进行峰纯度检查。[/font][font=Calibri] [/font][font=宋体] [/font][font=宋体] [/font][font=宋体] [/font]

  • 【原创】晶体管特性图示仪

    晶体管特性图示仪是一种可以检测晶体管的特性参数的电子测量仪器。晶体管特性图示仪操作简便,主要有六个旋钮,每个旋钮代表不同的功能作用。它们分别是用来测试调控电流开关、电压开关、峰值电压开关、功耗限制电阻、零电压、零电流开关。晶体管特性图示仪的工作原理大致是这样的:通过示波管的内刻度可直接读测半导体管的低频直流参数,通过摄影装置可记录所需的特性曲线;根据需要还可以测试隧道二极管、场效应管、VMOS管、达林顿管及可控硅等半导体材料制做的器件。晶体管特性图示仪可同时在示波器管荧光屏上显示两只同类型半导器件的特性曲线。晶体管特性图示仪的具体参数如下:集电极扫描电压0-500V 二端测试电压0-5KV、 集电极电流1μA-500mA/div 、具有脉冲阶梯信号。

晶体管分析仪相关的耗材

  • JKZC-YDZK50M型1000℃高温精密阻抗分析仪
    JKZC-YDZK50M型1000℃高温精密阻抗分析仪 关键词:阻抗,高温,导纳图,扫描,50MHZ JKZC-YDZK50M型1000℃高温精密阻抗分析仪是一款兼容高温功能的精密阻抗分析仪,是一款能够应用于先进材料测试的多功能复合型精密阻抗分析仪,该阻抗分析仪可以兼容多种高温夹具,可以测试粉末,液体,块体等多种不同类型的样品。常温下测试数据丰富,高温下测试数据稳定,无漂移。是一款兼顾中高端频率的精密阻抗分析仪。在陶瓷及先进材料生产中和科研院校广泛使用。一、主要应用:1、先进材料测试:高温及常温介电常数、弹性常数等C-V特性 2、高温及常温无源元件测试:电容器、电感器、磁芯、电阻器、压电器件、变压器、芯片组件和网络元件等的阻抗参数评估和性能分析。3、高温及常温半导体元件:LED驱动集成电路寄生参数测试分析;变容二极管的C-VDC特性;晶体管或集成电路的寄生参数分析4、高温及常温其它元件:印制电路板、继电器、开关、电缆、电池等阻抗评估5高温及常温介质材料:塑料、陶瓷和其它材料的介电常数和损耗角评估6、高温及常温磁性材料:铁氧体、非晶体和其它磁性材料的导磁率和损耗角评估7、高温及常温半导体材料:半导体材料的介电常数、导电率和C-V特性二、主要特点:1、高温及常温进行先进材料测试阻抗各参数测试:谐振频率Fs、反谐振频率Fp、半功率点F1与F2、导纳Gmax、静电容C0、动态电抗R1、动态电容C1、动态电感L1、自由电容CT、自由介电常数、机械品质因素Qm、机电耦合系数Keff、Kp、K31、K33等2、多种探头满足压电陶瓷,液体,及粉末相关电学性能测试3、高温夹具及常温测试装置,设计精巧灵活,测试数据可靠4、50MHZ高频阻抗频率满足高端测试需求 5、1000摄氏度高温条件下测试数据稳定无漂移,曲线与温度对应6、软件功能丰富,数据即读取,方便快捷三、主要技术参数:1、频率范围:20HZ-50MHZ2、温度:室温-1000℃3、阻抗参数:谐振频率Fs、反谐振频率Fp、半功率点F1与F2、导纳Gmax、静电容C0、动态电抗R1、动态电容C1、动态电感L1、自由电容CT、自由介电常数、机械品质因素Qm、机电耦合系数Keff、Kp、K31、K33等4、电极材质:铂铱合金(样品有无电均可以测试)同轴屏蔽层5、上电极 直径1.6mm球头电极,引线带同轴屏蔽层6、下电极: 直径26.8mm平面电极,引线带同轴屏蔽层7、保护电极: 消除寄生电容、边界电容对测试的影响8、电极干扰屏蔽: 电极引线带同轴屏蔽,样品平台带屏蔽罩9、夹具升降控制: 带程序和手动控制,可更换夹具的电动升降装置10、热电偶: 双探头11、无电极样品尺寸 : 直径小于40mm,厚度小于8mm12、带电极样品尺寸: 直径小于26mm,厚度小于8mm13、软件功能:自动分析数据,可以分类保存,样品和测量方案结合在一起,生成系统所需的实验方案,输出TXT、XLS、BMP等格式文件14、测量方案 提供灵活、丰富的测试设置功能,包括频率谱、阻抗谱、介电谱及其组合15、接口方式:包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多种LCR接口,16、外形尺寸: L360mm*W370mm*H510mm17、净 重: 22KG
  • 硒化镓晶体 GaSe晶体 太赫兹晶体
    产品简介 GaSe硒化镓晶体是一种暗棕色闪光的片状晶体。相对密度5.03,熔点(960±10)℃。GaSe和GaS一样是层状结构半导体,随着温度的降低,GaSe光电效应最大值向短波方向移动。硒化镓作为一种非线性晶体和光电导体,通常被应用于这些方面:于CO2激光器的二次谐波的产生,CO2激光器频率上转换至近红外或可见光,中红外波段的光学混频,以及5.5um-18.0um中红外波段的的不同频率的产生。同时GaSe晶体也可以被用来产生太赫兹辐射。 GaSe(硒化镓晶体)的太赫兹振荡能达到有非常宽的频域,至41THz。GaSe硒化钾晶体是负单轴层状半导体晶体,拥有六边形结构的62m空间点群,300K时禁带宽度为2.2eV。GaSe硒化钾晶体抗损伤阈值高,非线性系数大(54pm/V),非常合适的透明范围,以及超低的吸收系数,这使其成为中红外宽带电磁波振荡的非常重要的解决方案。因宽带太赫兹振荡和探测使用的是低于20飞秒的激光光源,GaSe发射-探测系统能获得与ZnTe可比的甚至更好的结果。通过对GaSe硒化钾晶体厚度的选取,我们可以实现对THz波的频率可选择性控制。注:GaSe硒化钾晶体的解理面为(001),因此对该晶体使用的一个很大限制在于质软,易碎。GaSe 硒化钾晶体参数Structure62m a = 3.74 c = 15.89Density5.03 g/cm3Mohs hardness2Eg, eV2.02Refractive indices at 5.3 μmno = 2.8340 ne = 2.4599Refractive indices at 10.6 μmno = 2.8136 ne = 2.4389Refractive index at 0.633 μmno= 2.9365 GaSe 硒化钾晶体透射谱GaSe硒化钾晶体产品Diameter/Width5-30 mm (can be elliptical)Thickness/Length0.1-40 mmOrientationX, Y, ZSurface qualityCleaved更多晶体相关产品 碲化锌晶体 ZnTe晶体 铌酸锂晶体 LiNbO3晶体 硒化锌晶体 ZnSe晶体 硒化镓晶体 GaSe晶体 硫化锌晶体 ZnS晶体 磷化镓晶体 GaP晶体 有机晶体 DAST晶体 有机晶体 DSTMS晶体 有机晶体 OH1晶体
  • Quest 红外单反ATR快速测定配件 +金刚石晶体
    Quest 红外单反ATR快速测定配件 成立于1971年的英国SPECAC公司至今已经拥有45年的制造历史了,是世界上最领先的红外紫外以及XRF等样品制备配件的生产厂家。Specac 公司也是最早上市并成功应用衰减全反射ATR配件的厂家,我们为全世界各个知名的红外分析仪厂家提供配件和技术支持和服务。产品涵盖了从固体,液体到气体,粉末等所有红外分析样品的专业配件,欧洲品质,经久耐用。特点:适用于固体,粉末以及液体坚固耐用的单晶片金刚石晶体极宽的分析范围从10,000到40波数杰出的光谱质量高光通量可更换的金刚石、ZnSe 及Ge 晶体选项可应用于不同品牌和型号的光谱仪,多种颜色可选,为实验环境提供更多色彩元素Quest ATR 红外附件是一款Specac最新设计的单反射ATR附件,适合于实验室红外光谱仪的中红外、远红外波段的固体,粉末,液体样品的直接分析。杰出的光路设计和耐久的单片金刚石,可以获得质量优异的红外谱图。您可直接放置固体样品以及粉末或者微量的液体进行直接的分析。快速,准确,方便。全方位测试标准配置的Quest ATR附件拥有一块坚固耐用的单晶片金刚石晶体,是坚硬样品的理想之选,可有效避免样品刮伤晶体。这种设计还使得Quest ATR附件适用于最宽的样品范围。直径1.8mm的金刚石样品区带来样品与晶体的有效接触,即使是最微量的样品量,分析也可以完成。Specac的Synopti-Focal Array高精度半球面镜子加工技术可以使得Quest ATR附件有极高的光通量,波段可以扩展到中红外和远红外。这些特征与在ATR晶体上的最佳入射角度一起保证了杰出的光谱品质。 宽范围多应用Quest ATR附件可选择四款易更换的晶体:高光通量的金刚石晶体用于中红外分析 (7800cm- 1 -400cm- 1 );扩展到远红外(10000cm- 1 - 40cm-1)的金刚石晶体;适合于一般油剂化合物的硒化锌ZnSe晶体及适合于高吸收的锗Ge晶体。我们设计了耐用的不锈钢工具箱用于存放这些ATR晶体以保证它们的稳定性。亲密接触功能强大的压力塔保证了样品载入的良好重复性。通过预设压力上限,样品载入操作变得更简单。当压力达到上限时,您可以听到提示音,保证样品与晶体的充分接触。我们为您提供平面及圆形的压头以满足不同形状的样品。两种不同的压头可以简单方便地切换及保存。针对不同厂家型号的光度计 Specac公司相信您实验室的所有仪器配件都应该能够快速、简单的切换。为了实现这个目的,我们开发了Benchmark™ 底座系统作为附件与仪器之间的载体,仅用手指就可以完成切换与安装。您可以将Benchmark™ 底座系统保存在样品室以满足其他适配的附件。为什么单晶片金刚石晶体如此重要?目前市面上的金刚石ATR附件主要分为两类:一种是固体单晶片金刚石,另外一种是由光学元素(如ZnSe)支撑的薄金刚石晶圆。单晶片金刚石ATR附件更加坚固耐用,特别适用于点样品载入及坚硬样品;并且可以适配宽透射金刚石窗片。相反,另一种金刚石ATR附件不适用于点样品载入,支撑的光学元素可能造成信号延迟,限制透射范围。在2000cm-1 - 2500cm-1范围更薄的晶体会导致信号吸收下降。订购信息Quest ATR 附件订购时请指明适配红外光谱仪厂家及型号GS10800-X Quest® ATR 金刚石GS10801-X Quest® ATR 高通量金刚石GS10802-X Quest® ATR ZnSe硒化锌GS10803-X Quest® ATR Ge锗X = 表盘颜色请选择适合您实验室的表盘颜色B = 黑色O = 橙色Y = 黄色P = 紫色 G = 绿色R = 红色A = 蓝色Quest® ATR 晶体单独购买GS10810 Quest® ATR 金刚石晶体 ,GS10811 Quest® ATR 高通量金刚石晶体GS10812 Quest® ATR ZnSe晶体 ,GS10813 Quest® ATR Ge晶体相关附件GS10820 Quest® ATR 不锈钢平压头,GS10821 Quest® ATR 不锈钢圆压头GS10825 Quest® ATR 外罩,GS10707 清洗波纹管(1副)
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