变角度光谱仪

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变角度光谱仪相关的厂商

  • 上海楚光仪器技术有限公司是美国Gamma Scientific,德国Opsira的总代理,其公司主要的产品有AR/VR近眼显示测量仪器、多角度光谱照度计、光谱成像亮度色度计以及照明及材料光学的测量检测仪器、逆反射测试仪器等。
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    孚光精仪是中国领先的进口精密仪器供应商,拥有中国最为齐全的进口光学产品种类,庞大而可靠的国外生产商群体,和快捷高效的国际贸易体系,是用户信赖的尖端技术产品的旗舰型供服务商。独特的经营特色公司专注于提供美国和欧洲(尤其是德国和东欧原苏联国家)原产的基于光学、光谱和激光技术的精密仪器。公司多数员工来自激光技术,应用物理,半导体和生物光子学专业,具有光学技术的应用和技术背景。 可靠的产品质量得益于我公司人员的技术背景和专业知识,我们在选择国外生产商时能够从专业的角度进行遴选,严格控制产品质量和技术的先进性,凭借公司强大的全球化集约采购能力,为国内用户提供“放心产品”。丰富的产品种类公司以“光学”为高技术平台,提供的产品包括:激光材料和器件,激光微细加工系统,X射线衍射和X射线荧光光谱以及X射线成像,精密材料检测,光伏检测仪,光谱仪器。它们涵盖了激光技术,应用物理,半导体和微电子技术,太阳能光伏技术,激光微纳加工,生物光子学等诸多尖端领域。 公司存在价值孚光精仪提供的进口产品质量可靠,技术先进,同等产品价格最低。经验丰富的工程师帮助用户挑选真正适合的产品,为用户提供“舒心,省心”的购物体验。孚光精仪为中国客户提供具有全球竞争力的超低价格的进口仪器!这是因为公司具有强大的全球联络和采购能力,以丰富的国际贸易经验和电子商务管理体系在全球的供应商中取得超低价格,从而为国内用户提供最高性价比的进口仪器! 高效的服务体系 孚光精仪在我国经济中心天津和上海设立运营中心,在香港设立国际贸易公司,另外拥有深圳,昆明区域性办事处和遍布全国的代理商,供应商遍布美国、德国、英国、法国、意大利、奥地利、瑞典、捷克、立陶宛、爱沙尼亚等全球精密仪器领先国家和地区。公司受益于香港便捷的国际贸易条件以及上海和天津的辐射能力,形成覆盖全国的快速贸易和客户服务体系。 周到的客服渠道 公司拥有先进的在线客服系统和google公司的邮箱系统以及全国统一的400客服电话系统,多渠道为用户提供服务。公司在网络化服务客户方面具有独特的优势,所有电子邮件均可以实时查收并快速回复。公司具有专业的国际贸易人员和技术人员配合,快速与国外生产机构沟通,快速回答用户的询问和问题。 用户的青睐和信任 我们高效的服务和质优价廉的产品赢得了广大的青睐和信赖,成为声誉卓著的尖端产品和服务供应商。国内知名的科研单位多次从我公司订购各种产品。如:中国科学院上海光机所中国科学院物理研究所 中国科学院福建物质结构研究所|中国工程物理研究院核工业理化研究院华中光电技术研究所|中国电子集团公司53所|哈尔滨工业大学 山东大学武汉大学南开大学**********辉煌的发展历程---高科技产品国家贸易的典范孚光精仪品牌起源于香港,由东欧资本注册成立,源于早期的高科技禁运产品对华贸易。孚光精仪公司成立之初就沿袭这一传统,专注于提供东欧和德国进口科学仪器及其技术服务。公司创始股东凭借东欧的优势,足迹遍布捷克,爱沙尼亚,罗马尼亚,白俄罗斯,立陶宛,法国,英国,意大利,奥地利,丹麦,比利时,以及德国汉堡,法兰克福,柏林,慕尼黑,纽伦堡,德累斯顿等科技强国和强市,对整个欧洲特别是东欧和德国的尖端技术产品和精密仪器的质量有可靠的把握。长期以来,德国在科学研究、技术创新和仪器研发领域具有独特的优势。德国的科学仪器以技术先进,质量可靠而著称。孚光精仪早期专注于选择德国和东欧国家可靠的供应商,为用户提供了第一道质量保障。公司派送员工前往原厂进行技术培训,从而具备为远东地区用户提供快速高效的技术服务能力,这一举措深得用户和原厂的高度赞誉。因此,孚光精仪公司的事业在服务客户的同时获得超常发展,快速成长为先进仪器的规模型供应商和技术服务商。目前,孚光精仪公司已经把产品原产地扩展到整个欧洲和美国,形成了以欧洲和美国为供货来源地的良好局面。提供的进口产品包括:半导体和太阳能制造设备生命科学仪器和生物仪器化学仪器和化工设备实验室仪器和装备工业检测仪器等覆盖了生命科学,生物,化学,太阳能,半导体等诸多领域。
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    大连创锐光谱科技有限公司 依托自主知识产权的核心超快时间分辨光谱技术,专注于开发和生产应用于科学研究和教学领域的高科技时间分辨光谱仪器和设备。公司主营业务包括稳态、瞬态荧光(寿命)光谱仪、超快到纳秒瞬态吸收光谱系统、超快显微镜、时间分辨荧光成像系统等高端科研级仪器设备的研发、生产销售以及时间分辨光谱系统集成、技术开发和检测服务。客户覆盖国内外各大高校、科研院所及知名企业。我们精准把握科学研究发展的需求,与国内外著名高校研究机构建立广泛的技术合作,结合自身的技术优势,积极开发国产化的世界一流光谱科技产品,为我国光电材料、纳米材料、光谱学、动力学等领域科学事业的发展贡献一份力量。我们期待与您携手并进,通过光谱技术,助力您的科研事业不断创新。系列产品:超快瞬态光谱系统、纳秒瞬态吸收光谱系统、闪光光解系统、超快瞬态显微镜系统、时间分辨荧光系统、TCSPC、模块化稳态/瞬态荧光光谱系统、时间分辨显微镜荧光光谱系统。技术服务:客户定制化时间分辨光谱技术解决方案、样品检测服务、技术培训。
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变角度光谱仪相关的仪器

  • 系统主要功能指标:宽光谱测量范围:UV-VIS-NIR, 200-900nm 高系统时间分辨率: =5ps寿命衰减测量时间范围:=50ps—100us 高系统光谱分辨率: 0.1nm宽单次成谱范围: =200nm静态(稳态)光谱采集,瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线系统集成整体控制及数据处理软件超快时间分辨光谱系统 是由光谱仪、超快探测器、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光,分光光谱耦合到超快探测器,入射光由透镜聚焦在阴极上,激发出的光电子通过阳极加速,入射到偏转场中的电极间,此时电压加在偏转电极上,光电子被电场偏转,激射荧光屏,以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大,并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比,因此,通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来,也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等,图像工作站用于采集数据处理分析主要应用方向超快化学发光超快物理发光超快放电过程超快闪烁体发光时间分辨荧光光谱,荧光寿命,半导体材料时间分辨PL谱钙钛矿材料时间分辨PL谱瞬态吸收谱,时间分辨拉曼光谱测量光通讯,量子器件的响应测量自由电子激光,超短激光技术各种等离子体发光 汤姆逊散射,激光雷达。。。。。。 光谱仪建议选型参数列表光谱仪型号Omni-λ2002iOmni-λ3004iOmni-λ5004iOmni-λ7504i光谱仪焦距200mm320mm500mm750mm相对孔径F/3.5F/4.2F/6.5F/9.7光谱分辨率(1200l/mm)0.3nm0.1nm0.08nm0.05nm波长准确度+/-0.2nm+/-0.2nm+/-0.15nm+/-0.1nm倒线色散(1200l/mm)3.6nm/mm2.3nm/mm1.7nm/mm1.1nm/mm光栅尺寸50*50mm68*68mm68*68mm68*68mm光栅台双光栅三光栅三光栅三光栅与探测器耦合中继光路1:1耦合,配合二维焦面精密调节一体化底板系统光谱分辨率(1200l/mm)=0.3nm=0.2nm=0.1nm0.08nm一次摄谱范围(150 l/mm)230nm150nm90nm60nm光谱仪入口选项光纤及光纤接口,标准荧光样品室,镜头收集耦合,共聚焦显微收集耦合等多系统灵活组合超快时间分辨光谱测试系统既可以与飞秒超快光源配合完成独立的光谱测试,也可以与卓立汉光的其他系统比如 TCSPC, RTS&FLIM显微荧光寿命成像系统,TAM900宽场瞬态吸收成像系统,以及低温制冷室,飞秒&皮秒激光器等配合完成更为复杂全面的超快测试。Zolix其他可配合超快测量系统lRTS2& FLIM 显微荧光寿命成像系统光谱扫描范围:200-900nm(可拓展)最小时间分辨率:16ps荧光寿命测量范围:500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器激发源: 375nm- 670nm 皮秒脉冲激光器可选,或使用飞秒光源科研级正置显微镜及电动位移台空间分辨率:≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件Omni-TAM900 宽场飞秒瞬态吸收成像系统测量模式:1:点泵浦-宽场探测:测量载流子迁移和热导率等;2:宽场泵浦-宽场探测:测量载流子分布和物理态的空间异质性等。探测器:sCMOS相机成像空间分辨率:优于500nm载流子迁移定位精度 优于30nm时间延时范围:0-4ns或0-8ns可选搭配倒置显微镜,可兼容低温,探针台,电学调控等模块20ps 的钙钛矿薄膜ASE 发光寿命曲线
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  • ES01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度全自动光谱椭偏仪,系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见到红外。ES01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚度)和物理参数(如,折射率n、消光系数k),也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。ES01系列光谱椭偏仪适合于对样品进行实时和非实时检测。特点:原子层量级的检测灵敏度 国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的设计和制造工艺实现并保证了能够测量原子层量级的纳米薄膜,膜厚精度达到0.05nm。秒级的快速测量 快速椭偏采样方法、高信噪比的信号探测、自动化的测量软件,在保证高精度和准确度的同时,10秒内快速完成一次全光谱椭偏测量。一键式仪器操作 对于常规操作,只需鼠标点击一个按钮即可完成复杂的测量、建模、拟合和分析过程,丰富的模型库和材料库也同时方便了用户的高级操作需求。应用:ES01系列尤其适合于科研和工业产品环境中的新品研发。ES01系列多种光谱范围可满足不同应用场合。比如:ES01V适合于测量电介质材料、无定形半导体、聚合物等的实时和非实时检测。ES01U适合于很大范围的材料种类,包括对介质材料、聚合物、半导体、金属等的实时和非实时检测,光谱范围覆盖半导体的临界点,这对于测量和控制合成的半导体合金成分非常有用。并且适合于较大的膜厚范围(从次纳米量级到10微米左右)。 ES01系列可用于测量光面基底上的单层和多层纳米薄膜的厚度、折射率n及消光系数k。应用领域包括:微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁介质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等。典型应用如:半导体:如:介电薄膜、金属薄膜、高分子、光刻胶、硅、PZT膜,激光二极管GaN和AlGaN、透明的电子器件等);平板显示:TFT、OLED、等离子显示板、柔性显示板等;功能性涂料:增透型、自清洁型、电致变色型、镜面性光学涂层,以及高分子、油类、Al2O3表面镀层和处理等;生物和化学工程:有机薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子层、薄膜吸附、表面改性处理、液体等。ES01系列也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。应用领域包括:固体(金属、半导体、介质等),或液体(纯净物或混合物)。典型应用包括:玻璃新品研发和质量控制等。技术指标:项目技术指标光谱范围ES01V:370-1000nmES01U:245-1000nm光谱分辨率1.5nm单次测量时间典型10s,取决于测量模式准确度&delta (Psi): 0.02 ° ,&delta (Delta): 0.04° (透射模式测空气时)膜厚测量重复性(1)0.05nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)折射率精度(1)1x10-3 (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)入射角度40° -90° 自动调节,重复性0.02° 光学结构PSCA(&Delta 在0° 或180° 附近时也具有极高的准确度)样品台尺寸可放置样品尺寸:直径170 mm样品方位调整高度调节范围:0-10mm二维俯仰调节:± 4° 样品对准光学自准直显微和望远对准系统软件&bull 多语言界面切换&bull 预设项目供快捷操作使用&bull 安全的权限管理模式(管理员、操作员)&bull 方便的材料数据库以及多种色散模型库&bull 丰富的模型数据库选配件自动扫描样品台聚焦透镜注:(1)测量重复性:是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。可选配件: NFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片 NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 样品池
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  • ESS01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的波长扫描式、高精度自动变入射角度光谱椭偏仪,此系列仪器波长范围覆盖紫外、可见、近红外到远红外。ESS01采用宽光谱光源结合单色仪的方式实现高光谱分辨的椭偏测量。ESS01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数(如,厚层厚度、表面为粗糙度等)和光学参数(如,折射率n、消光系数k、复介电常数&epsilon 等),也可用于测量块状材料的光学参数。ESS01适合多入射角光谱椭偏仪尤其适合科研中的新品研发。技术特点:极宽的光谱范围 采用宽光谱光源、宽光谱扫描的系统光学设计,保证了仪器在极宽的光谱范围下都具有高准确度,非常适合于对光谱范围要求极其严格的场合。灵活的测量设置仪器的多个关键参数可根据要求而设定(包括:波长范围、扫描步距、入射角度等),极大地提高了测量的灵活性,可以胜任要求苛刻的样品。原子层量级的检测灵敏度国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的设计和制造工艺实现并保证了能够测量原子层量级地纳米薄膜,膜厚精度达到0.05nm。非常经济的技术方案 采用较经济的宽光谱光源结合扫描单色仪的方式实现高光谱分辨的椭偏测量,仪器整体成本得到有效降低。 应用领域:ESS01系列多入射角光谱椭偏仪尤其适合科研中的新品研发。ESS01适合很大范围的材料种类,包括对介质材料、聚合物、半导体、金属等的实时和非实时检测,光谱范围覆盖半导体地临界点,这对于测量和控制合成的半导体合金成分非常有用。并且适合于较大的膜厚范围(从次纳米量级到10微米左右)。ESS01可用于测量光面基底上的单层和多层纳米薄膜的厚度、折射率n及消光系数k。应用领域包括:微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁介质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等。薄膜相关应用涉及物理、化学、信息、环保等,典型应用包括:半导体:如:介电薄膜、金属薄膜、高分子、光刻胶、硅、PZT膜,激光二极管GaN和AlGaN、透明的电子器件等);平板显示:TFT、OLED、等离子显示板、柔性显示板等;功能性涂料:增透型、自清洁型、电致变色型、镜面性光学涂层,以及高分子、油类、Al2O3表面镀层和处理等;生物和化学工程:有机薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子层、薄膜吸附、表面改性处理、液体等。节能环保领域:LOW-E玻璃等。ESS01系列也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。应用领域包括:固体(金属、半导体、介质等),或液体(纯净物或混合物)。典型应用包括:玻璃新品研发和质量控制等。技术指标:项目技术指标光谱范围ESS01VI:370-1700nmESS01UI:245-1700nm光谱分辨率(nm)可设置入射角度40° -90° 自动调节准确度&delta (Psi): 0.02 ° ,&delta (Delta): 0.04° (透射模式测空气时)膜厚测量重复性(1)0.05nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)折射率n测量重复性(1)0.001(对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)单次测量时间典型0.6s / Wavelength / Point(取决于测量模式)光学结构PSCA(&Delta 在0° 或180° 附近时也具有极高的准确度)可测量样品最大尺寸直径&Phi 200 mm样品方位调整高度调节范围:10mm二维俯仰调节:± 4° 样品对准光学自准直显微和望远对准系统软件&bull 多语言界面切换&bull 预设项目供快捷操作使用&bull 安全的权限管理模式(管理员、操作员)&bull 方便的材料数据库以及多种色散模型库&bull 丰富的模型数据库选配件自动扫描样品台聚焦透镜 注:(1)测量重复性:是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。
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变角度光谱仪相关的资讯

  • 300万!华东师范大学时间-空间-角度分辨综合光谱检测仪项目
    项目编号:招案2022-3863项目名称:华东师范大学时间-空间-角度分辨综合光谱检测仪项目预算金额:300.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):300.0000000 万元(人民币)采购需求:采购一套时间-空间-角度分辨综合光谱检测仪,主要用于全面研究微纳米材料的性质,包括材料形貌、结构、成分、电子能级、缺陷、光学响应等综合信息。同时可控的光学调控则需要获得样品全面的发光信息,包括发光位置、发光方向、发光时刻、发光波长、发光偏振等多维度信息。系统性能指标需满足共焦显微拉曼光谱,荧光光谱,角分辨光谱,以及时间分辨瞬态吸收光谱的单独和联合检测,具有多维度,多功能的精密光谱检测能力。(具体内容及要求详见招标文件第三部分-采购需求)合同履行期限:项目完成时间为合同签订后260天。本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 光伏材料的角度分辨反射/透射分析
    光学镀膜材料在太阳能行业应用广泛:由化学气相沉降法生成的氧化锌涂层,自然形成金字塔形表面质地,在薄膜太阳能电池领域被用于散射太阳光。将不同折射系数的高分子材料排列组成的全息滤光镜,将太阳光在空间上分成不同颜色的色带(棱镜一样),将不同响应波长的光伏电池调到每个波长的焦距处,从而形成一种新型的多结太阳能电池。位于硅太阳能电池前部的纳米圆柱形硅涂层起米氏散射的作用,因此增加了在更宽入射角范围和偏振情况下的光被太阳能电池的吸收。曲面型光电模块的渲染和原理图。3M可见镜膜能够使模块在可见光区表现为镜像,而在近红外光区变为黑色。对于所有的光学涂层——特别是那些非垂直角度接收阳光或者阳光入射的涂层,表征波长、角度和偏振测定的反射和入射就尤为关键。PerkinElmer公司的自动化反射/透射附件ARTA,可以测定任何入射角度、检测角度、S和P偏振光在250-2500nm的范围内的谱图,从而告诉我们:所有的入射光都去哪儿啦?装备了ARTA的LAMBDA紫外/可见/近红外分光光度计样品3M可见光镜膜:吸收紫外光,反射可见光,透过红外光。仪器PerkinElmer公司的LAMBDA 1050+紫外/可见/近红外分光光度计。150mm积分球,Spectralon涂层积分球包含硅和InGaAs检测器,检测样品200-2500nm的范围内的总透射谱和总反射谱。装备了150mm积分球的LAMBDA紫外/可见/近红外分光光度计ARTA,配备PMT和InGaAs检测器的积分球(60mm),能在水平面上围绕样品旋转340°,进行角度分辨测量。3M薄膜固定在ARTA样品支架上的照片实验结果用150mm积分球附件测量的3M薄膜的总反射和总透射谱图。薄膜在750nm附近具有预期的突变,在此处有将近100%的可见光反射率和约90%的红外光透射率。3M薄膜对于s(左图)和p(右图)偏振光的角度分辨反射谱图。对于所有的偏振情况,直至50˚的范围内反射到透射的转变都很急剧,但是有轻微的蓝移。对于入射角在约50˚以上的情况,s偏振光的转换终止,并且薄膜开始失去对光谱的分光功能。这种情况的一个明显后果就是在冬天或者纬度高于30˚的区域的夏季月份,曲面型光电镜片的工作效率都很低。更多详情,请扫描二维码下载完整应用报告。
  • 175nm-50000nm变角度透射反射光学性能检测方法进展
    随着智能穿戴设备、消费电子设备应用兴起,生物识别、物联网、自动驾驶、国防/安防等领域对光电镀膜材料的需求日益旺盛。不同行业根据使用场景,对光学镀膜的性能提出了更加多样化的需求,越来越多需要测试镀膜样品的变角度透射、变角度反射信号。传统变角度反射测试一般为相对反射率测试,需要通过参比镜进行数据传递,往往参比镜在不同角度下的绝对反射率曲线很难获取,给测试带来很大困难,同时在数据传递中也会增加误差的来源。本文主要介绍采用珀金埃尔默紫外/可见/近红外光谱仪和Spectrum 3红外傅里叶变换红外光谱仪,配置TAMS等可变角度测试附件,测试样品不同角度下绝对反射率、透射率数据,实现175nm-50000nm透射率、反射率等光学性能的精确表征。TAMS附件为变角度绝对反射、变角度透射测试附件,如下图所示,检测器和样品台均可以360度旋转,通过样品台和检测器配合旋转,测试不同角度下透射和反射信号。 Lambda系列分光光度计 TAMS变角度透射反射附件光路图图1 仪器外观图以下分别选取不同应用场景下的典型样品,对测试数据进行简要介绍。01样品变角度透射测试采用TAMS附件可以方便快捷的测试样品不同角度下透射数据,自动测试样品不同角度下P光和S光下透射率曲线,一次设置即可完成所有角度在不同偏振态下透射率曲线测试,测试曲线如下图所示。 图2 样品不同角度和偏振态下透射率测试数据(点击查看大图)TAMS附件配套不同的偏振组件,可以自动测试样品不同波长下偏振信号,如下图测试石英样品在45度下偏振P光和S光反射数据: 图3 样品紫外波段P光和S光偏振测试(点击查看大图)02样品变角度透射/反射曲线测试通过软件设置,可一次性测试得到样品透射和反射率曲线,如下图,该样品在可见波长下反射率大于99.5%,透射率低于0.5%,可同时表征高透和减反性能。 图4 样品45度透射和反射曲线测试(点击查看大图)03NIST标准铝镜10度反射率曲线测试测试NIST标准铝镜10度下反射率数据,如下图所示,黑色曲线为TAMS测试曲线,红色为NIST标准值曲线,两条测试曲线完全重合,进一步证明测试系统的可靠性,可以准确测试样品的光学数据。 图5 NIST标准铝镜10度反射率曲线测试(红色为NIST标准曲线)04样品变角度全波长反射曲线测试(200-2500nm)软件设置不同的测试角度和偏振方向,自动测试样品不同角度下P光和S光偏振态下反射率曲线,如下图所示,200-2500nm整个波段下测试曲线均有优异信噪比,尤其是在紫外区(200-400nm),可以完成各波长范围的反射性能测试。 图6 样品全波段(200-2500nm)变角度反射率测试(点击查看大图)05不同膜系设计的镀膜样品性能验证测试样品600-1400nm下45度反射率曲线,该样品在1200nm以上属于高反射率,反射率大于99.5%,同时需要关注600-1200nm范围各个吸收峰情况,该波段下吸收峰非常尖锐,同时吸收峰较多,需要仪器具备高分辨率,从而准确测试出每一个尖锐吸收峰信号。 图7 膜系设计验证样品45度反射率测试(点击查看大图)06双向散射分布函数(BSDF)测试除了测试常规变角度透射和反射曲线外,TAMS附件可以自动测试样品不同角度下透射和反射率信号,可以得出样品不同角度下的透射分布函数(BTDF)和反射分布函数(BRDF)信号,最终得到双向散射分布函数(BSDF)。采用该附件可方便测试样品双向散射分布函数(BSDF)、双向反射分布函数(BRDF)、双向透射分布函数(BTDF)等光学参数测试,测试结果如下图所示: 图8 BRDF和BTDF测试(点击查看大图)如下图所示,测试样品不同波长下BSDF分布函数曲线(BRDF + BTDF),从而可以得出样品随不同角度下透射和反射信号变化情况。 图9 样品不同波长下BSDF(BRDF+BTDF)测试(点击查看大图)07窄带滤光片测试Lambda系列光谱仪为双样品仓设计,TAMS附件可与标准检测器、积分球检测器自由更换。对于窄带滤光片样品,即需要准确测设带通区域的透过率、半峰宽,也需要准确测试截止区吸光度值(OD值),可直接切换标准检测器进行检测。 图10 用于激光雷达的镀膜镜片透射和OD值测试数据(点击查看大图)08红外波段区变角透射反射测试珀金埃尔默傅里叶变换红外光谱仪,可广泛应用于上述红外材料光学性能测试,可测试样品在不同波段下红外透光率以及反射率,搭配变角透射及变角反射附件,可以实现不同角度下透射率及反射率测试,如下图为红外波段透射和反射测试曲线: 图11 用于Spectrum 3傅里叶红外的TAMS附件 图12 红外TAMS附件测试样品红外波段不同角度透射数据Summary综上,采用Lambda系列紫外/可见/近红外分光光度计以及傅里叶红外光谱仪,搭配TAMS、标准检测器、积分球等多种采样附件,可以组合出完备的材料光学性能测试平台,满足光学镀膜测试的多样化需求,更加准确便捷的得到样品的光学检测数据。 关注我们

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变角度光谱仪相关的耗材

  • AngleMeter激光角度仪
    AngleMeter激光角度仪筱晓光子供应AngleMeter激光角度仪,用于测量激光光束的角度偏差和功率波动,光谱范围350-1100nm、角偏差精度0.5%、功率精度±5%。该系列激光角度仪应用广泛,包括:激光光束准直、移动光学设备监控、光学扫描仪角度测量、旋转物摆动测量、光学反射镜远程监控、光机械及光学平台准直。ModelDescriptionsCMOS USB2-LensA P&P camera with USB2.0 interfacePSD4 USB-LensA sensor head based on a 4mm×4mm PSDPSD4 USB-HR-LensA sensor head based on a 4mm×4mm PSD and preset central work are of 1mm×1mmPSD9 USB-LensA sensor head based on a 9mm×9mm PSDPSD4 Analog-LensA sensor head based on a 4mm×4mm PSDPSD4 Analog-HR-LensA sensor head based on a 4mm×4mm PSD and preset central work are of 1mm×1mmPSD9 Analog-LensA sensor head based on a 9mm×9mm PSDLens list50mm f#1.885mm f#1.8100mm f#4200mm f#5.6
  • 变角镜面反射附件
    变角镜面反射附件是一款适合各种镜面反射分析的变角镜面反射附件,变角镜面反射附件是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜,透明薄膜常常发出微弱的光谱。变角镜面反射附件功能特点主要应用是反射衬底上的表面镀膜,薄膜厚度测量,反射系数测量。实际应用决定入射角的选择,30度的入射角用于测量比较常见的样品,而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜,80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知,那么比较适合选用变角镜面反射附件VEEMAXII,它的可变角度范围为30-85度,适合全部镜面反射的分析。配有自动化附件,这些自动化的附件可以协助用户同时或单独编程控制地高精度选择入射角,并配有控制软件采集数据。具有30-85度的可变角度范围, 30度和80度固定角度的附件可以一起订购。变角镜面反射附件可选项变角镜面反射附件反射组件 (PartNo. #9000 )该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.变角镜面反射附件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单反射附件提供了一个1.6mm的样品接口,配备了专门设计的组合秘诀珠,冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.
  • 变角垂直ATR附件
    可变角垂直ATR附件用于腔内使用,具有非常可靠的质量。变角ATR附件具有精密的角度准直功能,使得角度调节非常简单而具有可重复性,适合30-60度的入射角调整。变角ATR附件VATR适合测量分析固体、薄膜等样品,垂直ATR附件系统配备可拆卸的不锈钢夹具(50x10x3mm和25x10x3mm),可以非常方便地引入或去除样品。变角垂直ATR附件可配备的附件有:标准型50x10x3mm大小的45度KRS-5平行四边形配件,25x10x3mm ATR晶体。 包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件。 变角垂直ATR附件组成如下: 货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片. 货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等. 货号7200 30度镜面反射系统. 组合型HATR Part No #9110 变角ATR附件,垂直ATR附件 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具. 我们推出的MIRacle 变角ATR附件,垂直ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 单反射附件提供了一个1.6mm的样品接口,配备了专门设计的组合秘诀珠,冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.
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