固体光谱分析

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固体光谱分析相关的厂商

  • 镭宝光电技术有限公司(Beamtech Optronics Co., Ltd.)是一家专业从事固体激光技术研发、生产、销售和服务于一体的高科技公司,公司成立至今,积累了丰富的灯泵浦二极管泵浦固体激光器的生产经验,2006年通过了德国TüV莱茵的ISO9001质量体系认证。2014年,公司的标准产品顺利通过了CE认证。北京镭宝光电的产品种类可分为:基础科学研究应用,科学分析仪器,以及医美应用的OEM激光器三大类,产品应用于中国、美国、德国、韩国、日本、印度等国家的众多科研机构、大学及公司,产品以稳定可靠的性能,优异的光束质量和操作灵活方便等特点赢得众多客户的认可。镭宝光电作为商用固体激光器的专业生产商,在固体激光器产品的工程化、标准化及人性化设计上,申请并予批准的专利共有几十余项,涉及激光器光路设计、新型谐振腔、激光机械与电气设计诸多方面。
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  • 400-860-5168转4301
    纳谱分析技术(苏州)有限公司是一家色谱耗材产品设计、研发、生产及销售的高新科技企业。公司产品线广泛,涵盖:生物大分子、小分子分离以及手性拆分色谱柱(如分析型色谱柱、UHPLC超高压液相色谱柱和制备柱),样品前处理产品(如固相萃取柱、QuEChERS产品等)以及气相色谱柱等色谱耗材产品5000多种,服务于全球上万家客户,为科研和工业领域色谱工作者提供优质的色谱耗材解决方案。公司主营产品:
  • 企业简介武汉上谱分析成立于2013年1月,拥有CMA资质认证,GeoPT、G-Probe国际盲样分析检验水平全球领先,是专业的地球化学分析综合测试平台,提供微区原位分析(U-Pb同位素定年、原位Rb-Sr等时线定年、主微量元素分析、S-Sr-Nd-Pb-Hf-B同位素分析)、全岩主微量元素分析、Sr-Nd-Pb-Hf-Ca-Fe-Cu-Zn-Li-Mg同位素分析、电子探针分析、样品前处理等测试服务。累计服务国际SCl论文超2800篇,包括NC、PNAS、EPSL、GCA等。发展历程2013年,上谱成立,初建50平米千级超净实验室,引进第一套质谱分析设备,可完成锆石制靶、微量元素检测,初步形成地化分析能力。2014年,取得CMA认证,参加GeoPT国际盲样比拼,测试结果处于国际一流水平。2015年,引进第一台激光分析设备,可提供U-Pb同位素定年和微区主微量元素分析。2016年,建成形貌分析实验室,引进IT100扫描电镜和第二套质谱,检测效率进一步提升。2017年,主量实验室成立,引进X荧光光谱仪和第二套激光、第三套质谱,正式开展全岩Sr、Nd、Pb、Hf同位素前处理,形成微区原位、全岩主微量两大分析板块。2018年,乔迁2000平实验楼,建成220平米千级超净实验室,引入第一套MC(NeptunePlus)和第三套激光,开启同位素分析时代,开展微区Sr、Nd、Pb、Hf、S同位素分析。2019年,建成电子探针实验室,引进JAX-8230探针和IT300电镜,丰富地学测试项目。2020年,建立前沿同位素方法,第二套MC(NeptuneXT),建立Ca、Fe、Cu、Zn等前沿方法。2021年,成立上谱地质开展制片、岩矿鉴定、矿物分选、无污染碎样等,引进第四套激光和质谱,打造一站式地学综合分析平台。2022年,地学分析综合测试平台,新建200平超净仪器房,300平实验室,进一步提升测试能力,健全地学分析项目服务国际SCI文章超过1500篇。2023年 走向世界 服务全球测试项目上谱分析测试项目包括激光微区原位分析、电子探针分析、全岩主微量元素分析、同位素分析以及地质样品前处理等,样品类型涵盖岩石、矿物、土壤、水、珠宝、材料、生物样品以及高纯物质等。全心服务上谱分析始终坚持“专业、快速、贴心”的服务理念,依托标准化的实验硬件设施、规范化的样品管理制度、精细化的优质服务体系,为广大科研工作者提供地学样品一站式服务,实现“上门取样→样品前处理→分析测试→数据处理”全流程一站解决!
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固体光谱分析相关的仪器

  • 仪器简介:仪器名称:Zeta电位分析仪 研究对象:纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途:测量材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,研究材料表面性能。 主要应用:材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性,设计新型、特定性质的材料,如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压(电势),SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性,这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位: 范围:所用测量原理决定没有限制再现性:+/-0.5 mV 等电点: 再现性:+/-0.1 pH 平板固体: 最小 35 mm x 15 mm,厚度20 mm, 20 mm x 10 mm,厚度2 mm, 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维: 最少重量 100 mg 粉末: 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量: Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析: 适用于实际样品,无需使用示踪颗粒 主要特点:测量原理 : 在电化学双电流层的模型中,电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离,由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势,相应的流动电势系数为dU/dP, Zeta 电位表示为: 固体表面特性,粘性,介电常数,电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时,需要说明电解质溶液的类型,浓度,pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池,由此产生一个压差,其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压,这个流动电压/ 流动电流(可选择)由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率,温度及pH值。
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  • 仪器简介:典型应用: 饮用水和地表水的控制。 废水处理厂:可用来控制进水流量、微生物量、污泥处理过程以及控制出水流量。 工业废水:纸浆和造纸行业以及乳品加工业。 工业应用:啤酒的生产工艺。技术参数:浊度: 双通道 90度散射光测量,符合 DIN/EN 27027/ISO7027,波长为860nm。其余测量值的验证可以通过 8通道多角度测量完成。悬浮固体: 经过改善的吸光度测量:八通道多角度测量,波长为 860nm。传感器清洗: COSMOS-25有自定位的机械清洗器。浊度量程: 0.001~10000NTU分辨率: 优于 DIN/EN27027/ISO70270~0.999FNU: 0.001NTU1~9.99FNU: 0.01NTU10~99.9FNU:0.1NTU100FNU 以上:1NTU准确度: 通常小于测量值的 3%再现性: 通常小于测量值的 4%悬浮固体量程:0.001g/L以上(上限取决于介质),例如:生物污泥200g/L消解污泥: 100g/L二氧化硅: 400g/L分辨率: 优于 DIN38414第二部分0~0.999g/L: 0.001g/L1~9.99g/L: 0.01g/L10~99.9g/L: 0.1g/L100g/L以上: 1g/L准确度: 取决与介质和校准的质量。再现性: 取决于介质的同质性主要特点: 具有国际专利,可在水的介质中测量浊度和固态悬浮物。 能够分析8种不同的测量信号,测量量程宽,在整个测量范围只用一个探头就可以既测量浊度又能够测量固态悬浮物 ! 测量结果稳定可靠 可以对多种干扰物进行补偿,稳定性很高。 可选配自清洗。 信号传输距离长,无需中间变送器。 使用模块单元,结构灵活 可以使用其它部件扩展系统
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  • 仪器简介BTDS-52 全自动溶解性总固体分析仪是北京宝德仪器有限公司研制的一款基于恒温恒湿恒重的密闭箱体内的条件下称量水样、食品、固废、降尘等各类样品及坩埚、蒸发皿等各种载具的全自动蒸发-恒重分析系统,是用于水样溶解性总固体、悬浮物等项目分析、降尘浓度、食品及固体废弃物中水分含量测定过程中保证称重、分析及质控等环节精准性的重要装备。仪器特点该系统消除了实验室环境内温湿度变化的不稳定所引起的称重结果的波动影响,提高了坩埚等称量结果的稳定性与准确性,提升了样品浓度测定结果的可靠性。该系统可实现对各类样品及其容器进行自动化大批量地自动蒸发烘干、恒重称量,无需实验人员频繁穿梭天平室与高温室,大大提升了工作效率,系统并设有高温高压过载保护等功能,无需人员值守,保障实验室安全运行管理。适用项目样品及容器的自动蒸发-恒重自动分析◆ 生活饮用水、水源水、地下水、地表水、生活污水、工业废水等水质样品中溶解性总固体、悬浮物、总α/总β放射性活度等项目的测定◆ 食品中的含水量\含水率测定◆ 固体废物中水分和干物质含量的重量法测定◆ 环境空气的降尘及坩埚恒重测定应用领域◆ 环保领域/第三方检测行业:水质监测、固废检测等样品及其过滤介质的自动称重◆ 疾控行业:水质分析◆ 食品行业:食品检测◆ 地质行业:地下水放射性物质检测◆ 科研、高校教育 :大气颗粒物源解析等
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固体光谱分析相关的资讯

  • 必达泰克公司半导体泵浦固体激光器获美国专利
    必达泰克公司的半导体泵浦固体激光器近日获得了美国专利 (专利号: US 7,218,655 B2), 为环境温度变化较大时的激光器应用提供了新的选择。 该激光器采用了必达泰克公司自主研发的先进技术,使其在没有致冷/加热控制器的情况下也能在环境温度变化较大的情况下获得稳定的输出,从而避免了带有温度控制系统的激光器所常有尺寸大、功耗高的弊病,使其更适用于如搜索营救时的信号指示、现场检测设备以及激光指示器等应用。该专利可应用于蓝光、绿光等固体激光器上,在拓宽激光器的适用温度范围和延长其使用寿命方面有显著的效果。 美国必达泰克公司一直致力于激光器和微型光纤光谱仪的研发生产,在激光器和光谱仪的研发生产上有着丰富的经验。目前必达泰克公司在激光器和光谱仪方面已获得两项美国专利,并且还有十几项专利正在审核中。美国必达泰克公司,竭诚为您的激光应用服务!
  • 分析仪器的“眼睛”:半导体光探测器——访日本滨松光子学株式会社专务取缔役兼固体事业部部长山本晃永先生
    一般而言,分析仪器的发展可分为两种:一是分析仪器本身、内部的发展,二是分析仪器相关器件的发展所带动的分析仪器的发展。光探测器是光谱类科学仪器的“眼睛”,是搜集信号、进行信号转换的核心、关键部件,其发展对分析仪器产业的发展起着巨大的推动作用。   光电倍增管是大家熟知的光探测器,广泛应用于各类光谱仪器中。但近年来,一些国际仪器生产厂家已开始将ICP、光电直读光谱仪等仪器中采用的光电倍增管逐渐换成了半导体光探测器,其中使用较多的是CCD(Charge-Coupled Devices,电荷耦合检测器)。那么,半导体光探测器能否取代光电倍增管?半导体光探测器技术发展现状与趋势如何?日本滨松公司未来将如何发展半导体光探测技术?该公司是如何看待中国仪器行业?未来将如何拓展中国市场?本文将逐一为大家解答。   日本滨松光子学株式会社(以下简称“日本滨松公司”)是光子技术和光电探测器的世界知名企业,其主要产品有光电倍增管、光电二极管、图像传感器、各种光源、大功率半导体激光器等光器件。该公司固体事业部主要研发、生产各种半导体光电器件及其模块化产品。   2010年9月1日,日本滨松公司固体事业部在北京举办“2010 HAMAMATSU光半导体技术交流会之专家交流会”。日本滨松公司专务取缔役兼固体事业部部长山本晃永先生亲临现场。以此为契机,仪器信息网编辑在专家交流会现场就半导体光探测器的技术发展现状和趋势、日本滨松固体事业部未来的发展方向采访了山本晃永先生。 日本滨松公司专务取缔役兼固体事业部部长山本晃永先生 半导体光探测器的发展现状与趋势   “Photon is Our Business”,日本滨松公司最初是靠光电倍增管起家,主要用该产品来探测肉眼看不见的光子。该公司致力于了解光子以及光子与其他物质的相互作用,将相关技术转化为产品并使其产业化。经过几十年的发展,日本滨松公司不仅不断改良真空管探测器,同时也大力发展了半导体光探测器。   该公司固体事业部多年来一直从事半导体光探测器相关技术的研究。近几年,固体事业部非常重视图像传感器的研发,并在半导体光探测器的集成化、模块化上取得了较大进展。山本晃永先生详细地阐述了滨松的研究成果以及他对半导体光探测器技术发展的看法。 日本滨松公司固体事业部的主要产品   (1)在光探测器领域,从真空管技术到半导体技术是大势所趋   山本晃永先生认为,从真空管技术到半导体技术是大势所趋,日本滨松公司不能逆流而上。光电倍增管虽然是高性能的探测器,公司也对真空管探测器进行了一些改进,如增强其量子效率、使其小型化等,但仍残留一些难以解决的问题,比如操作上玻璃材料的繁难性、高电压的必须性等,这些难题限制了光电倍增管的使用。   但光电倍增管拥有光子探测灵敏度高的固有优势,半导体光探测器不可能完全取而代之,但后者的市场主导优势将日益明显。目前在日本滨松内部,固体事业部的销售额已超过了生产光电倍增管的电子管事业部,占据滨松所有产品总销售额的半壁江山。   日本滨松公司在继续研究真空管技术和半导体技术的基础上,将专心致力于相关模块和系统的开发。总之,所有与光子相关的技术,日本滨松公司都将采取积极的态度。   (2)CCD已发展得比较成熟   随着技术的进步,用于分光光度计、近红外光谱、拉曼光谱等光谱仪器的CCD已发展得比较成熟,其性能已有了很大改进。   日本滨松公司研发出的背面入射(Back-illuminated)CCD图像传感器,能减少CCD的Etaloning Effect(注:Etaloning Effect是存在于非常薄的CCD芯片中,入射光线因为在芯片前、后表面发生光反射而产生干涉,导致CCD分光灵敏度曲线在900nm附近凹凸不平的现象),从而能显著提高图像传感器的灵敏度、量子效率、响应时间以及信噪比。通过拼接技术,滨松将许多CCD加以拼接,使其面积增大。目前最大的CCD平板图像传感器大小可达2mX2m,量子效率非常高,同时对近红外长波的探测能力也大幅提高,可用于天文和宇宙探测领域。目前,全世界大部分的天文望远镜、人造卫星都在使用日本滨松的半导体光探测器产品。 各类CCD图像传感器   (3)CMOS发展前景看好,日本滨松公司力求让其取代CCD   山本晃永先生说到,CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体)图像传感器与CCD在生产工艺上有许多相似之处,因其在集成化、生产成本、响应时间、使用方便、耗电量等方面的优势,发展尤为迅速,甚至可能比CCD图像传感器发展更为快速。目前,CMOS和CCD各有所长,CMOS还不能完全取代CCD,但是未来在很多领域CCD会被CMOS所取代。   日本滨松非常看好CMOS的发展前景,在CMOS上倾注很大精力,不断加大该产品的研发力度,力求让CMOS取代CCD。公司针对CMOS的缺点进行了一些改进,引入背面入射技术(back-illuminated)的同时,采用碘化铯作为转化晶体,提高探测器的灵敏度与效率。经过改造之后,APS(Active Pixel Sensor,有源像素传感器,是CMOS的一种)的性能几乎可以做得与CCD一样好。   近期日本滨松推出了多款大小不一、功能各异的CMOS新产品。例如用于牙科检查的CMOS,形状小巧、适合人的嘴型,且可以一次成像 而用于乳腺癌检测的CMOS平板检测器具有面积大、探测速度快、解析度高、低剂量的特点,能避免X射线对人体的伤害。 日本滨松生产的各类CMOS图像传感器   (4)MOEMS、MEMS促成了半导体光探测器的模块化、小型化   MOEMS(Micro-Opto-Electro-Mechanical System,微光机电系统)是在MEMS(Micro-Electro-Mechanical Systems,微机电系统)基础上发展起来的新技术,该系统把微光学元件、微电子和微机械装置有机地集成在一起,能够充分发挥三者的综合性能,可实现光学元件间的自对准,可用于光学器件和装置的制造。   日本滨松公司不仅生产各类半导体探测器,还生产与各种探测器相关的信号处理电路、数据采集卡以及模块产品。固体事业部充分利用MOEMS与MEMS技术,在光电二极管、雪崩二极管、图像传感器等产品的基础上,生产出了光电二极管电路及模块、硅雪崩二极管模块、图像传感器模块等模块化产品。以CMOS图像传感器为例,采用MOEMS技术可将图像传感器、光栅、后续电路加工在同一块硅片上,这样实现了元器件的集成化、小型化,同时也方便用户的使用。 小型分光计系列产品 拇指大小的超小型分光计   近期研发出来的超小型分光计,采用了MEMS的纳米压印(NanoTechnology)技术,只有拇指大小,敏感波长范围为340-750nm。从产品到产品模块、系统,这将是日本滨松公司固体事业部以后所要坚持的方向。   随着时代的发展,人们对于小型、可携带的东西的需求将增加。在日本,一些测试化妆品美白效果的小仪器很流行,类似的小型仪器在美国也很受欢迎。分析仪器、医疗仪器要走进寻常百姓家,就必然要求其小型化,而仪器小型化必然要求其器件也小型化。半导体技术就是满足这种需求的有效手段,其目前发展的重要主题是MEMS,而NanoTechnology(纳米技术)应该是关键。   从真空管技术到半导体技术、MEMS、纳米技术,这是滨松技术的变迁。未来几年,日本滨松公司仍要彻底地钻研这些技术,这是不变的方针。而唯一要改变的是各项技术的开发速度。技术开发得越早,日本滨松的产品在技术上就越有竞争力,这是很重要的。 与会滨松高层   (日本滨松光子学株式会社专务取缔役兼固体事业部部长山本晃永先生(右二)、北京滨松光子技术股份有限公司总经理席与霖先生(左二)、北京滨松光子股份有限公司总经理助理兼第一事业部部长段鸿滨先生(左一)、日本滨松光子学株式会固体事业部伊藤伸治先生(右一)) 与会专家   (从左到右依次为:中国仪器仪表行业协会朱明凯副理事长、国家地质测试实验中心杨啸涛研究员、中科科仪原董事长金鹤鸣先生、中国分析测试协会汪正范研究员) 滨松将加大半导体光探测器在中国市场的推广力度   采访中,山本晃永先生表达了对中国科学仪器行业发展情况的看法:中国科学仪器行业正蓬勃发展,虽然目前日本滨松的半导体光探测器在中国的用户并不是很多,但公司更重视中国市场,将把最新的产品和技术推广到中国来。   (1)中国科学仪器行业必将崛起,其市场容量巨大   回顾过往,手机、计算机在中国发展都很快,下一步中国的仪器仪表行业一定也会快速发展。医疗仪器、分析仪器都与人们的健康密切相关。中国人口是日本的十倍,这意味着如果中国仪器行业发展起来,那么其市场容量可能会是日本的10倍。而跟科学仪器发展密切相关的就是仪器探测器件的发展。   满足用户的需求始终是日本滨松公司努力的方向。作为仪器元器件的供应商,日本滨松公司一定要领先市场一步,这样才能提供市场需要的产品。虽然中国科学仪器行业可能还需要十年、二十年才能发展起来,但日本滨松对此非常有耐心,会非常关注中国市场需要什么样的技术和产品,也会不断地研发新产品去满足这些需求。   (2)加大半导体光探测器在中国分析仪器行业的推广力度   山本晃永先生介绍了日本滨松中国用户的一些情况。滨松固体事业部生产的各式各样的半导体探测器有50%销往国外,其余在日本国内销售。许多国际知名的仪器生产商都在使用滨松的探测器。但在中国,虽有仪器企业也使用滨松的半导体探测器,但是数量较少。   日本滨松公司固体事业部的约50%的产品都应用于医疗仪器,这个领域仍然是其非常重视的领域。同时,因为医疗仪器与分析仪器存在许多相似之处,所以日本滨松公司打算将在医疗仪器领域的优势发展到分析仪器等领域。   同时,该公司将加强与中国用户的沟通与交流,加大市场推广力度,把固体事业部的半导体光电器件的新技术、新产品介绍给中国用户,同时也要告诉他们如何选择、使用和应用滨松的产品,希望能为中国仪器行业的发展尽一份力。 采访现场  后记   在采访过程中,笔者仔细聆听山本晃永先生对仪器企业发展的一些看法,他提到:“小规模的科学仪器企业若没有特色,就没有发展潜力与市场竞争力。岛津、贝克曼等国际知名企业都是由有特色的小企业发展起来的。企业规模小并不可怕,可怕的是小企业没有自己的特色、随波逐流,只知模仿重复,不知发明创造,最终导致价格竞争,互相残杀。日本滨松公司虽然是一家小公司,但一直很努力地研发光子相关的各种技术与产品,希望能够通过公司的产品来促进科学仪器行业的发展。”   也许,日本滨松公司能够发展壮大就在于它五十余年来一直坚持自己的特色,将主要精力集中在自己优势的光探测器领域,因而能在仪器光电元器件市场上占有其他公司不可替代的一席之地。然而相比之下,目前国内科学仪器企业总体“大不够大,小不够专”,仪器元器件企业发展更是缓慢,这些客观因素决定中国仪器行业短时间内或不会有较大改观。同时, 中国仪器生产企业不仅只盯着整机仪器的研发,也不能忽视仪器元器件的开发。   采访编辑:杨丹丹   附录1:山本晃永先生简介   1970年3月毕业于静冈大学研究生院工学部应用化学专业   1970年3月入职日本滨松公司   1985年1月就任日本滨松公司固体事业部部长至今   1985年12月就任取缔役   1987年12月就任常务取缔役   2004年12月就任专务取缔役   2005年7月就任代表取缔役专务取缔役   附录2:日本滨松光子学株式会社   http://www.hamamatsu.com/   附录3:北京滨松光子技术股份有限公司   http://www.bhphoton.com/
  • Aliben发布等离子体固样分析发射光谱仪-PJ10新品
    粮食土壤元素分析仪(等离子体固样分析发射光谱仪-PJ10)本产品是基于射流等离子体技术的固体样品元素直接分析的光谱仪器。该仪器无需对固体样品进行湿法消解等复杂的化学前处理,即可快速对固体样品中的元素进行定性和定量分析,为固体样品的直接快速分析提供了新的检测技术和方法,有效地提升了对固体样品的分析效率。 1、仪器特点: △ 直接对固体样品中的多种元素进行快速定性和定量分析,无需化学消解;△ 装载高能激发源,灵敏度高,检出限可达ppb级 ,RSD尺寸:400*410*662 mm重量:32kg功率:200W进样方式:固体直接进样样品前处理:简单混样压片、用时2-3分钟(无需消解)分析时间:光谱范围:190nm-1100 nm (可 根据用户需求选配)光谱分辨率:0.10~0.25nm软件:全自动检测,直接给出测试结果存储:128 GB SSD数据接口:4XUSB,1X网口,1XVGA创新点:粮食土壤元素分析仪(等离子体固样分析发射光谱仪-PJ10) 本产品是基于射流等离子体技术的固体样品元素直接分析的光谱仪器。该仪器无需对固体样品进行湿法消解等复杂的化学前处理,即可快速对固体样品中的元素进行定性和定量分析,为固体样品的直接快速分析提供了新的检测技术和方法,有效地提升了对固体样品的分析效率: 1.直接对固体样品中的多种元素进行快速定性和定量分析,无需化学消解; 2.装载高能激发源,灵敏度高,检出限可达ppb级 ,RSD9%; 3.分析速度快,60秒内可以同时获得190nm-1100 nm波段的全谱信号,覆盖Cd,Cr,Cu,Pb,Zn,Ca,Fe等多种元素; 4.配备自动样品仓和智能软件,可实现多个待测样品自动检测并输出结果。 等离子体固样分析发射光谱仪-PJ10

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  • 【新技术分享】“直接固体进样”石墨炉原子吸收光谱分析应用技术

    “在[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱[/color][/url]分析中,样品的引入技术在很大程度上决定了方法的检出限和精度。随着[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分析技术的发展,进样技术也经历了不断地创新、改革和完善”。液体进样仍然是绝大多数原子光谱分析中使用最多的进样技术,因此多数测定的第一步都需要进行消化分解。样品消解一直是[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱[/color][/url]分析中十分重要的一项工作,与此同时“分析样品处理和试样制备一直是整个分析过程中最费力、费时的一个环节”。许多特殊样品,特别是痕量分析时,挥发性元素或形成挥发化合物的元素,在样品预处理过程中的损失会导致测定结果偏低;待测元素被试剂、器皿等沾污将导致测定结果偏高;与样品溶液接触的材料将样品吸附可能导致测定结果明显损失;样品量少、或难以消解等原因造成消化分解定容困难等。因此,许多分析工作者进行了大量的实验工作,将固体样品直接引入火焰或石墨炉原子化器进行测定,以避免因样品处理过程中可能造成的被测元素的损失或引起的污染。[b]著名专家威尔茨先生在其专著中指出:“[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]中的系统误差,绝大多数发生在样品预处理时而很少由于分析本身所致,因此,痕量分析最好用直接法以避免样品预处理。一.固体样品可用石墨炉技术直接测定[/b]“固体样品可用石墨炉技术直接测定,因为这种样品可以在石墨管中就地加热分解”。Dlckford和Rossi首次开始应用这种方法,他们分析了NBS的标准物质――牛肝。用标准加入技术,直接将标准水溶液加到石墨管内的样品上进行校准,所得结果与铜、铅、锰、银的检验合格值相符,误差在10%以内。Chakrabhrti等后来分析了相同样中的六个元素并发现用固体直接进样的方法,很少有因污染而引起的问题。Langmyhr等对鱼、肝和植物性样品中的直接固体进样作了详细的研究,并测定了镉、铬、钴、铜、铅、锰、镍和磷。他们用标准加入技术,并直接与标准水溶液比较测定,所得结果与消化法及检验合格值相符。Grobenski等直接固体进样,在热预处理时,将氧气短暂地通入炉中就地灰化。由此破坏有机组分。他们发现与分析消化液相比,用这种技术几乎没有光谱和非光谱干扰。Norval和Gries用石墨炉直接固体进样法测定了金属镉中的铊。他们发现本方法比溶液测定更为灵敏,不需要费时的萃取步骤,受占污的危险性很小,并且耗样量极小。Kerber将样品直接加到石墨炉中测定了聚酯纤维中的金、聚丙烯中的铝和铁,及聚氟烃中的铜和铁所得结果与火焰法、比色法和发射光谱法很一致。

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