X射线荧光光谱分析专用标准物质
X射线荧光光谱分析专用标准物质制造商:美国ARMI公司主要分析方法:X射线荧光法用途:校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制、其他。美国ARMI公司提供的这套重金属检测标准物质,是封装在PE或PVC材料中,用于校准仪器和装置、评价方法、工作标准、质量保证/质量控制等工作。直径31mm, 厚度13mm.PE MaterialsBrHgCrPbCdPE-H-04A-ppm1100110010011200300PE-L-04A- ppm502201400400100PE-02A- ppm00000PACK-High - ppm-100-100-100-100PACK-Low - ppm-30-30-30-60SAC305 & SAC405 Check SetSnPbCuBiAgHgPSAC305- % wt11001100100112003000.00160.004SAC405- % wt5022014004001000.00020.006PVC MaterialsBrHgCrPbCdPVC-H-03A- ppm1101110110011201300PVC-L-04A- ppm500200400400100PVC-01A- ppm00000XRF Glasses*BrHgCrPbCdBR-ROHS 1/3- ppm00000BR-ROHS 2/3- ppm1000010001000100BR ROHS 3/3- ppm50000500050001000*Matrix: SiO2=53%, Na2O=17%, CaO=10%, Al2O3=7%, MgO=6%, B2O3=4%, Sb2O3=1%