四探针方定仪

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四探针方定仪相关的厂商

  • 公司简介:    深圳市森东宝科技有限公司(Cindbest)是香港森东宝国际有限公司在大陆的全资子公司,自主研发CINDBEST品牌探针台、激光修复仪、集代理半导体测试仪表的综合型厂家。    激光修复仪类型 32寸半自动、32寸手动、70寸半自动、70寸手动激光修复仪    CINDBEST探针台类型   普通晶圆测试探针台、太阳能电池测试探针台、积分球探针台、高压探针台、磁场探针台、高低温探针台、气敏分析探针台、低温真空探针台    探针台配件   长工作距离体式显微镜、金相显微镜、三丰、motic显微镜、微光显微镜、样品加热变温台、防震桌、屏蔽箱、三轴调节探针座、RF四维探针座、高频探针夹具、管状同轴夹具、管状三轴夹具、弹簧同轴夹具、弹簧三轴夹具、钨探针(硬探针、软探针)、GGB高频探针等各类探针台配件 欢迎各位前来咨询,我们将竭诚为您服务!公司官方网址:www.cindbest.com
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  • 深圳市奥德赛创精密仪器有限公司是集研发,生产,销售为一体的检测设备制造企业,主要产品:灼热丝试验仪、针焰试验仪、水平垂直试验仪、UL94水平垂直试验仪、漏电起痕试验仪、测试角、砂尘箱、热丝点燃试验仪、45燃烧测试仪、酒精喷灯试验箱、纺织品燃烧性能试验仪、SPT试验仪ISO9150/EN348、TPP型织物防火性能测试仪-EN 367、HBP型织物热防护(辐射)性能测试仪-DIN EN 366 和ISO 6942、CHD热传导测试设备-EN702、汽车内饰材料燃烧试验仪-ISO 6940/ISO 3795、熔融指数仪、熔融滴落试验仪、建材可燃性试验机-DIN EN ISO 11925-2、不燃性测试仪-EN ISO 1182、建材燃烧烟密度试验仪-DIN 4102、地板材料燃烧性能试验机-ISO 9239、弹簧冲击器、球压装置、爬电距离卡、试验指、试验弯指、UL试验指、试验钢球、试验探针、试验钩、插头插座量规、VDE0620量规、BS插头插座量规、GB插头插座量规、可焊性试验仪、焊球试验仪、划痕试验仪、热稳定试验仪、热延伸试验仪、低温冲击试验仪、低温拉伸试验仪、低温卷绕试验仪、高温压力试验仪、抗开裂试验仪、ME-284库仑计........
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  • 四方光电(武汉)仪器有限公司为四方光电股份有限公司(股票代码688665)的全资子公司,简称:四方仪器,前身为成立于2010年的四方仪器自控系统有限公司,是一家专业提供气体成分及流量测量方案的高新技术企业,服务于工业过程监测、环境监测、汽车/发动机排放检测、智慧计量等领域。基于四方光电核心气体传感技术平台的优势,四方仪器开发了系列非分光红外(NDIR)、非分光紫外(NDUV)、紫外差分吸收光谱(UV-DOAS)、激光拉曼(LRD)、超声波(Ultrasonic)、热导(TCD)、光散射探测(LSD)等技术原理的气体成分流量仪器仪表,产品广泛应用于环境监测、冶金、煤化工、生物质能源等各个行业,在节能减排中发挥重要作用。四方仪器自主研发生产的便携式红外沼气分析仪、微流红外烟气分析仪、红外煤气分析仪曾相继获得国家重点新产品证书,红外煤气分析仪获得中国仪器仪表学会优秀产品奖荣誉,其核心技术获得湖北省发明专利金奖。四方仪器“微流红外烟气传感器研究及产业化”获得工信部2019年工业强基工程重点“产品、工艺”一条龙应用计划示范项目,公司获得“一条龙”应用计划示范企业。四方仪器凭借长期的技术沉淀、严格的质量体系及国际化视野,产品已出口多个国家和地区,正在朝着气体分析仪器仪表高端增值应用领域的国际品牌迈进。
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四探针方定仪相关的仪器

  • FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪参数资料1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-6~2×106Ω-cm 3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针
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  • 四探针方阻测试仪,四探针电导率测试仪,双电测四探针测试仪FT-334普通四探针电阻率方阻测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机结合采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.参数资料1.方块电阻范围:10-3~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-4~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.3%读数5.电阻精度:≤0.5%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 普通单电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针
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  • 1.双电测四探针法测试薄层样品方阻计算和测试原理如下:直线四探针测试布局如图8,相邻针距分别为S1、S2、S3,根据物理基础和电学原理:当电流通过1、4探针,2、3探针测试电压时计算如下:四探针测试结构当电流通过1、2探针,4、3探针测试电压时计算如下:从以上计算公式可以看出:方阻RS只取决于R1和R2,与探针间距无关.针距相等与否对RS的结果无任何影响,本公司所生产之探针头全部采用等距,偏差微小,对测试结果更加精准。操作流程和测试步骤1.使用前期准备--测试前准备工作:1.1.开机预热:将220V电源插头插入电源插座,打开电源开关,让仪器预热15分钟,保证测试数据稳定。若测试仪无法正常启动,请按以下步骤检查:①检查电源线是否接触良好;②检查后面板上的电源开关是否已经打开③检查保险丝是否熔断,如有必要,请更换保险丝④ 如经上述检查无误后,测试仪仍未正常启动,请联系本公司进行解决。1.2.准备好被测物,链接好测试探头,把测试探头接口与主机接口相连接,并锁定,防止松动或接触不良而对测试结果造成影响.1.3.接通电源,开启电源开关,待仪器液晶显示屏上显示出厂家和产品信息后,如图3,按“显示”键进入,1.4.进入测试功能界面如图4、图5;如测试方阻时,请选择液晶显示屏又侧对应 的功能按键“方阻”,则进入方阻测试界面;如测试其他材料时,请选择“材料”则进入材料电阻,电阻率,电导率测试仪界面。1.5.设置好被测物所需之参数,把被测物放于测试治具平台上操作,测试完毕直接显示测试数据。如配置软件,软件操作说明书同安装软件在一起,请注意查看操作步骤.以下分别讲解方阻和材料测试的设置四探针双电方阻测试步骤上述步骤中1项,使用前期准备把被测物测试所需要之参数数据设定:依据不同之测试样品,选择被测试电流,电流设置:按方向键移动光标至“电流”功能,按“设置”键进入;再按“左右”方向键选择电流数据,选择完毕后按“确定”键进行确认。按照以上步骤和方法选择电压、长度单位、探针形状设定、温度.探针间距数据的输入,探针间距出厂时已经标定,无需再次测量,探针头上有详细的探针数据资料,探针间距的设置:将光标移动至“探针间距”按“设置”键进入,通过面板上面的“数字”按键输入数据按“确定”键进行确认;按照以上方法和步骤设定”厚度“,注意厚度和探针间距修正系数表已经设置在仪器程序中,自动修正,无需再次输入和查询表格。2.3.测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上,调节探头探针与样品良好接触,探头有二种,一种是探针是弹簧针型,一种是硬针而探头内腔有弹簧;探头有方型和直线型两种结构;调节测试平台上的水平定位角,保证水平仪水准在中心位置;放置好被测物品,后压下探头至被测物,带数据稳定后读取方阻测试时,在测试时电流的选择也不同根据国标GB/T1552-1995和根据ASTM F374-84标准方法测量方块电阻所需要的电流值
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四探针方定仪相关的资讯

  • 瑞柯发布瑞柯全自动四探针测试仪新品
    FT-3110系列全自动四探针测试仪一.功能描述:四点探针法,全自动化运行测量系统,PC软件采集和数据处理;参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻;可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择;真空环境,可显示:方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件. 报表输出数据统计分析.FT-3110系列全自动四探针测试仪二.适用范围晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等;半导体材料分析,铁电材料,纳米材料,太阳能电池,LCD,OLED,触摸屏等. FT-3110系列全自动四探针测试仪三.技术参数: 规格型号FT-3110AFT-3110B1.电阻10^-5~2×10^5Ω10^-6~2×10^5Ω2.方块电阻 10^-5~2×10^5Ω/□10^-6~2×10^5Ω/□3.电阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm10-7~2×106Ω-cm4.测试电流 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA, 10mA,100mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA5.电流精度 ±0.1% 6.电阻精度 ≤0.3%7.PC软件操作PC软件界面:电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、2D、3D图谱、压力、报表生成等8.压力范围:探针压力可调范围:软件控制,100-500g可调9.探针针间绝缘电阻:≥1000MΩ;机械游移率:≤0.3%圆头铜镀金材质,探针间距1mm;2mm;3mm选配,其他规格可定制10.可测晶片尺寸选购 晶圆尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm);方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm11.分析模式单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试12.加压方式测量重复性:重复性≤3% 13.安全防护具有限位量程和压力保护 误操作和急停防护 异常警报14.测试环境真空15.电源输入: AC220V±10%.50Hz 功 耗:瑞柯全自动四探针测试仪
  • “100家实验室”专题:访北京离子探针中心
    为广泛征求用户的意见和需求,了解中国科学仪器的市场情况和应用情况,仪器信息网自2008年6月1日开始,对不同行业有代表性的“100家实验室”进行走访参观。近日,仪器信息网工作人员参观访问了本次活动的第五十四站:北京离子探针中心,该中心学术秘书王晨女士热情地接待了仪器信息网到访人员。   北京离子探针中心(以下简称“中心”)成立于2001年12月18日,是由科技部、国土资源部和中科院共同出资1800万元,以共建共享方式建立的国家大型科学仪器中心,现依托于中国地质科学院地质研究所。该中心成立九年以来,坚定不移地走大型仪器共建共享的道路,仪器运行效率和科研成果产出率都进入了国际先进行列。   中心副主任张玉海高级工程师(左三)、杨之青工程师(右二)、王晨女士(左二)与仪器信息网工作人员合影   王晨女士首先为我们介绍了中心的主要仪器及其在实验室相关测试、研究业务中发挥的重要作用。“中心的核心仪器是高分辨二次离子探针质谱((Sensitive High Resolution Ion Microprobe II ,SHRIMPⅡ)。相应的配套仪器包括扫描电镜及阴极发光探头、水冷系统、超净台、显微照相、空气压缩机以及用于制样的镀金仪、抛光机等。”   北京离子探针中心的主要仪器情况   拥有国内唯一两台高分辨二次离子探针质谱,测试业务专门面向地质学相关领域开放   “中心于2001年5月引进的SHRIMPⅡ是世界上第九台、国内第一台SHRIMPⅡ,它是专门针对同位素地质年代学、宇宙年代学、地球化学和宇宙地球化学等地质学相关研究中的重同位素分析而设计,特别是锆石微区定年。该仪器是磁质谱,配备单接收器,当时购买价格为1800万元。”   “多年来,SHRIMPⅡ运行情况一直良好,坚持每天24小时,每周7天不间断运行,年分析机时(指仪器进行样品或标准样品分析的时间)保持在7200小时左右,达到科技部有关大型仪器运行效率规定的优秀标准(1600小时/年)四倍之多,成为世界上运行效率最高的一台SHRIMP。”   “鉴于SHRIMPⅡ的超高使用效率以及仪器维护保养方面的考虑,财政部2005年出资3000万元为北京离子探针中心添置了第二台二次离子探针质谱——SHRIMPⅡe-MC,该仪器相比于SHRIMPⅡ,离子源添加了铯源,在分析重同位素的同时又能分析轻同位素,且配备了多个接收器。鉴于北京离子探针中心的新基地还未建好,所以该仪器暂且还停放在澳大利亚,预计2011年会移至新基地。”   高分辨二次离子探针质谱(SHRIMPⅡ)   样品前处理:精“挑”细“选”、细致“打磨”   “矿物样品在进入SHRIMPⅡ分析之前,要经过一系列的前处理,大约需要一周的时间。首先是选矿,将采来的岩石标本粉碎成粉末,经过筛选、磁选、手工挑选等步骤后,挑选出其中的锆石颗粒,一般一个样品会挑选出几十颗至上千颗锆石颗粒。”   “其次是样品制靶,将选出的锆石颗粒,固定在双面胶上,将标样与样品排列在指定位置,随后用模具注入环氧树脂,抽真空,烘干,使树脂固化后对其进行打磨、抛光,使靶表面光滑。”   样品靶   (图注:靶上面的“线”即是锆石颗粒阵列。)   “第三是用显微镜给靶照相,该步骤的目的有二:一是给锆石样品定位,二是通过显微镜的透、反射光对样品的照射,分析锆石颗粒的内部结构以及检查其表面是否有裂隙、瑕疵,为SHRIMPⅡ分析时选点提供依据。”   “最后是阴极发光照相,将显微镜照相后的靶进行超声波清洗,在靶的检测光面上镀上金膜,随后放在扫描电子显微镜下做阴极发光照相,以确定锆石颗粒内部同位素的分布情况。经过这些步骤后,靶才可以放入SHRIMPⅡ内进行分析了。”   日立S-3000N扫描电子显微镜   (图注:该仪器配备GATAN公司Chroma阴极发光探头,可提供彩色及黑白阴极发光照片。)   S-3000N拍摄的锆石照片   奉行“开放、共享、高效”的运行原则,仪器使用率与开放程度堪称典范   “中心自成立之日起就奉行‘开放、共享、高效’的运行原则,面向国内外地学界全方位开放共享。2005年12月,中心项目组研发出了离子探针远程共享控制系统(SROS,SHRIMP Remote Operation System),该系统实现了在Internet公共网络环境下,实时远程控制SHRIMPⅡ,观测样品图像实时变化,在线获取试验数据、远程协同信息交流等远程实验功能,达到了亲临北京离子探针中心进行实验的效果,更好地实现了SHRIMPⅡ的开放、共享。”   “开放、共享的运行机制给中心带来了巨大的工作量和众多的访问者。中心成立九年以来,共有来自国土资源部、中科院、大专院校以及港台地区的30多个相关单位的数百名科研工作者使用中心的SHRIMPⅡ对自己的样品进行了分析研究。另外,一批来自美国、英国、法国、意大利、德国、澳大利亚、韩国、巴西、古巴、蒙古国、波兰和土耳其等国的学者也来中心完成锆石定年工作和短期访问,其中不乏国际一流的地质学家。正是因为如此,北京离子探针中心的仪器利用率和开放程度均居国际同类实验室的前列。”   打造“测试、技术、研究”三位一体的实验室,从事质谱仪器研发   在谈到中心的总体发展情况时,王晨女士转述了中心主任刘敦一研究员的看法:“北京离子探针中心如果仅作为一个测试平台,其功能是有限的,要发挥它的巨大作用,我们就应当坚持测试、技术、研究这三方面并行发展的策略。通过测试业务,我们了解到科学家们对SHRIMPⅡ的性能有哪些方面要求,进而中心的技术人员对仪器进行改进,然后仪器使用者再使用,并给予反馈。如此反复,我们仪器相关技术水平越来越高,而这方面水平的提高也促进了中心的研究工作。所以测试、技术、研究这三方面是相互促进的,三者的融合让我们有可能实现各种革新与突破。”   “中心现在主要从事的研究有:从事地质年代学和宇宙年代学研究 进行必要的矿物微区稀土地球化学研究 解决重大地球科学研究课题中的时序问题,特别是太阳系和地球的形成及早期历史研究 主要造山带的构造演化研究 地质年代表研究 大型和特殊矿床成矿时代研究 发展定年新技术新方法等。”   “除此之外,中心还从事科学仪器研发。中心主任刘敦一研究员认为:科学仪器自主研发能力的重要性再明显不过。一个国家如果没有独立自主的科学仪器研发能力,其科学技术的发展不可能领先,其工业、农业创新体系不可能形成,独立自主的国防体系不可能建立,因而科学仪器自主研发能力是关系到国家安全和民族发展的大事。目前北京离子探针中心承担了《二次离子质谱仪器核心技术及关键部件的研究与开发》项目,正从事二次离子质谱(SIMS)及飞行时间(TOF)串联质谱的若干关键技术和关键部件的研究。”   王晨女士(中)向仪器信息网工作人员介绍SHRIMPⅡ   附录:北京离子探针中心   http://www.bjshrimp.cn/
  • 黄伟国团队开发基于菲啶的多功能荧光探针分子
    利用荧光探针监测微环境在细胞成像、疾病诊断、材料缺陷跟踪和高分辨传感中起着至关重要的作用。然而大多数荧光分子只能检测微环境中的一种或几种分析物或物理参数,极大地限制了它们在动态复杂微环境中的应用。开发可检测多种分析物或物理参数的荧光探针不但可用于监测多种微环境,还能提供更全面的微环境信息,实现实时监测微环境的动态变化。中国科学院福建物质结构研究所研究员黄伟国团队设计开发了基于菲啶的荧光探针分子:B1,F1,和T1。B1由菲啶和吡咯单元融合,表现出一维线性的分子构型。F1含有三个B1单元,中间以苯环为核进行连接,呈现出二维的刚性平面共轭分子构型。T1含有四个B1单元,中间以1,3,5,7-环辛四烯(COT)为核进行连接,从而形成三维的动态共轭分子构型。基于COT的特性,T1可发生由马鞍形三维分子构型和平面二维分子构型的动态转变。由于三个分子均含有菲啶单元,因而可和多种分子形成Polar-π相互作用,展现出反刚致变色行为。菲啶单元上的 “N” 杂原子可对微环境中质子和离子进行响应。在极端高压下,三者均展现出荧光发射红移,其中以F1荧光红移程度最为明显(高达163nm),并实现了有机荧光分子鲜有的全彩“压致变色现”象。在细胞成像方面,F1和T1选择性地对细胞核进行染色,而B1主要对细胞质进行染色。该研究为具多重响应的荧光探针提供了新的设计方法,并在信息安全、细胞内传感、早期诊断及“靶向选择性” 治疗方面具潜在的应用前景。近期,相关研究成果发表在《德国应用化学》(Angewandte Chemie International Edition)上。研究工作得到国家海外高层次人才计划、国家自然科学基金、福建省自然科学基金杰出青年项目、中国福建光电信息科学与技术创新实验室等的支持。多功能荧光探针在微环境检测方面的应用

四探针方定仪相关的方案

  • 岛津电子探针EPMA快速判定钴产品成分
    钴的生产工艺流程复杂,存在大量的产品业态及应用场景,对各类钴产品进行准确、快速的成分判定具有重要的意义。本文利用岛津电子探针,对某钴粉颗粒进行了定量,并利用岛津XRD物相鉴定对定量结果进行了验证,结果表明岛津EPMA可实现对包括超轻元素在内的各元素进行准确定量。
  • 贵金属合金的电子探针测试方法
    贵金属除了在国际金融活动、首饰和奢侈品中广为人知,在科研领域及工业应用也具有非常重要的价值,是一种重要的基础材料。贵金属合金的电子探针微区表征和测试中,由于其特征X射线之间可能存在的相互重叠和干扰,常常给测试带来一定的困难。本文选择了两类金系合金和一种铂系合金试样进行了电子探针测试,对测试方法进行了总结和说明,排除干扰因素后可获得较为理想的测试结果,为贵金属行业中相关的测试提供经验参考。岛津电子探针通过配置52.5°高取出角,以及统一4英寸罗兰圆的全聚焦分光晶体兼顾了高灵敏度和高分辨率,保证了获得理想的分析结果。
  • SPM探针的针尖曲率半径对表面形貌扫描的影响
    扫描探针显微镜是利用探针针尖尖端原子与样品表面原子或分子存在极微弱的引力或斥力,使得探针微悬臂发生不同程度的弯曲,最终会导致激光在检测器上的位置发生变化,从而得到样品的表面形貌信息。由于探针针尖直接作用于样品表面,因此其针尖的尺寸对于样品的表面形貌测试非常重要。本文采用扫描探针显微镜,使用不同曲率半径的探针,对相同样品的表面形貌进行了对比测试,希望能够帮助大家对SPM测试时的探针选型提供一定的指导参考。

四探针方定仪相关的资料

四探针方定仪相关的试剂

四探针方定仪相关的论坛

  • 四探针测试金属银膜不稳定的情况

    四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时,出现一个现象,随着探头压力的增加,电阻率发生相应的变化,应该是压力越大,电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定,不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:1、 配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV输入阻抗:1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。

  • 【分享】关于布鲁克台阶仪探针、原子力显微镜AFM/SPM探针

    提供实验室整体解决方案......BRUKER探针 -AFM探针原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作常见的探针类型:(1)、导电探针(电学):金刚石镀层针尖,性能比较稳定(2)、压痕探针:金刚石探针针尖(分为套装和非套装的)(3)、氮化硅探针:接触式 (分为普通的和锐化的)(4)、磁性探针:应用于MFM,通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe[/siz

四探针方定仪相关的耗材

  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP) AFM探针
    NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。 2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP; 2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP 2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • 布鲁克台阶仪探针
    Bruker台阶仪探针布鲁克台阶仪(探针式表面轮廓仪)探针,是布鲁克台阶仪(探针式表面轮廓仪)探针。 品 名 台阶仪探针 2µ m 台阶仪探针 12.5µ m台阶仪探针 25µ m型 号838-031-5838-031-3838-031-4品 名台阶仪探针 10µ m台阶仪探针 100nm台阶仪探针 5µ m型 号838-031-6838-030-938-030-1品 名台阶仪探针 2.5µ m型 号838-031-2
  • 四探针方阻测试探头 4PP光伏硅片4点探头 KLA、CDE、NAPSON 原厂;晶圆 ITO薄膜电阻探头
    四点探针头是用于方阻测试设备上的精密零件,我公司生产的探头能适配到国内外所有的方阻测试设备上,稳定性和一致性十分优秀;无缝替代由国外生产的探头JANDEL、CDE等国外品牌,打破国外技术垄断和封锁。探针的针尖材料一般是用碳化钨。每一种探头的主要选择配置参数: A,探头主体材料及外形尺寸 B,针尖半径 C,针头的间隔 D,针头的负载 E,针头排列,线型,或者正方形。 F,连接方式: 连接器,或导线联接及长度主要的应用领域: 硅片电阻率的测量。 晶圆的电阻率的4点测量。 外延、离子注入层的4点电阻测量。 金属薄膜和其他薄膜的4点电阻测量。
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