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timstoicpms版友写的:http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/11/201211240658_406725_2166779_3.jpg最近从书中看到的:冷等离子体分析条件(Rf功率600~900w)下,采样深度要大一些(约13mm),这是因为此时炬管能量较小,样品需要在等离子体内驻留更长的时间,以实现完全离子化。而且多本书中也写到冷等离子体的工作参数:Rf 600~900w,采样深度10~20mm。timstoicpms写到采样深度减小(即炬管口更靠近样品锥),灵敏度增高,二价离子的产率也增大。如果与书上写的对应起来,样品在等离子体内驻留的时间应该更短,离子化更不完全,怎么会灵敏度更高呢?可是http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/11/201211240713_406726_2166779_3.jpg与安捷伦推荐的Rf功率1550w,Smpl Depth 5.0 mm对应起来是有这样的关系:Rf大,采样深度也大;另我也有做过增大采样深度,CeO/Ce氧化物产率的确会减小,也即离子化更完全了。timstoicpms写的与书中写的怎么我都对应不起来啊,感觉有点矛盾了?到底有如何理解这个采样深度与灵敏度,氧化物产率,二价离子的产率的关系啊,谢谢
在一篇文献中看到有一段话——“在常规等离子分析条件下,采样深度代表的是工作线圈到采样锥的距离,一定范围的采样深度能够使得样品完全离子化,同时保证减少其他离子(氧化物及二价离子)的形成和影响”。 请问各位,其中的“一定范围的采样深度能够使得样品完全离子化”这句话是否正确? 个人觉得元素在等离子火焰中离子化程度跟本身的电离能和工作线圈上加的功率有关,和采样深度貌似没有什么关系吧?
在操作仪器时,有个参数是,采样深度。我到现在还没有明白这个到底是指的什么,调节它会起到什么作用,希望大家能给个说法啊?