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样品: ITO 氧化铟锡, 标记为 ITO1, ITO2, ITO3样品薄膜厚度: 60 - 100 nm样品尺寸: 10 * 10 mm实验内容: 载流子浓度, 类型, 霍尔迁移率, 方块电阻 实验仪器: 上海伯东英国 NanoMagnetics ezHEMS [url=http://www.hakuto-vacuum.cn/product-list.php?sid=131][color=#0000ff]霍尔效应测试仪[/color][/url]测试温度和磁场温度: 300K RT 1 Tesla[color=#ff0000]* 在测试开始前, 仪器均经过标准样品校验. 所有样品根据 ASTM 标准.[/color][b][color=#000000]样品 ITO1 测试结果:[/color][color=#000000]I-V 测量结果[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-nano.jpg[/img][/color][/b][color=#000000][b]VdP 测量结果[/b][/color][color=#000000] 测量头类型: RT Head 磁场: 9677G 厚度: 80nm[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-vdp.jpg[/img][/color][b]部分测试结论:[/b]1. 得到的电阻值彼此相容.2. 所有的IV 曲线都是线性的3. 所有样本都是欧姆的,统一的,均匀的.4. Van der Pauw 测试为了保证准确性, 测试了2次, 测试结果是相同的. ...[color=#ff0000]* 鉴于信息保密, 更详细的霍尔效应测试案例欢迎联络上海伯东[/color]
大伙知道哪里有生产可以测试铝箔弯曲回弹性能的试验仪器吗?铝箔厚度在10um以下,由于客户对铝箔进行冲压,生产成波形翅片,因此需要评价材料在此冲压条件下成形性能。我们需要在一定的压力下(仪器可以调节施加压力),将铝箔片冲压成V形,卸载施加压力后,可以测得铝箔回弹距离。试验仪器有点类似GB/T 15825.5-1995 金属薄板成形性能与试验方法 弯曲试验 国标中图1所示仪器。
我们的产品是木塑地板,在使用过程主要是发生中间开裂,因此我们对产品进行测试也是模拟现实的开裂情况,进行三点弯曲测试。我们测试样品是从产品中截取75mm,宽度为162mm,厚度为30mm的样品,我们测试的跨距为130mm。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/09/201209121516_390446_1962295_3.jpg现在我们的测试方法是与ASTM D790的方法不同的,因为我们样品厚度为30mm,按美标规定跨距为厚度的16倍即480mm,我们产品宽度仅为162mm,那是无法实现的,故我们只能取130mm为跨距。另外我们的应变应该是超过D790规定的使用范围5%。因此我们现在测试的数据主要关注最大力量值和最大力位移,同时确保测试样品的尺寸一致,来判断产品的弯曲性能。问题:1.这样测试对实验结果有什么影响?我知道假如跨距不够的话,会产生较大的剪切应力,因此测出来的弯曲强度是不准确的。请问还有其他影响吗?2.我想尽量接近D790的测试方法,请问有什么方法吗?总的来说我不想改变样品的厚度。。。3.本来这个产品应该是用四点弯曲来测试的,但实际上三点弯曲的跨距都无法实现,就不要说四点弯曲了。4.D790说明应变超过5%要采用四点弯曲来测试,但四点弯曲测试的应变假如也超过5%那应该怎么办呢?5.ASTM方法里面有很多规定的条件,比如跨距,应变率等等,请问他们是怎样确定这些数值的?有相关的文献吗?