表面综合分析测试探针台产品简介整体集成度高,且测试方便简单,底座行程大,弥补了基础型的缺陷,可以满足多种测试应用,且可以升级射频探针台;优点:高性价比,应用面广,稳定性高;应用:一般用在高校/研究所科研实验是居多,以及科研型单位研发部;表面综合分析测试探针台产品优势两边半圆形探针架,可以放置最多6个探针座,且方便放置探针卡集成4路吸附开关,方便吸附;可用于12寸以内样品测试XY行程115mmX115mm,Z轴调节10mm,360°旋转粗调+士5°精调;1微米以上电极/PAD使用;可用于硅封装的内部观测和光谱特性分析,需要红外光源和红外摄像机; 有效像素2000万,有效像素1600 (H)*1200 (V) 可以拍照录像,也可以连接电脑;HDMI输出支持: 1280*1024 (默认)、1680X1050、1440*900;选用2X,5X,10X,20X,50X四种物镜,工作距离分别是: 34.6mm,45mm,34mm 30.8mm,20.5mm,鼻轮支架带五孔鼻轮集成高精度高稳定性手动位移台,XYZ行程50mm,精度1um;整体交叉滚珠导轨,超高精度,超高稳定性;最大电压 1400V,阻抗 50 欧姆XYZ 轴行程分别是 13mm行程;位移放置:XYZR四轴调节XY行程115X115mm,Z轴调节10mm,360°旋转粗调+士5°精调;整体位移精度1um; 表面综合分析测试探针台模块介绍表面综合分析测试探针台通用参数样品台尺寸8英寸样品台行程XY行程115X115mm,Z轴调节10mm,360°旋转粗调+士5°精调 整体位移精度1μm(可定制)光学放大倍数270倍高清(体式显微镜)漏电精度 100fA针座精度3μm(可升级1μm/0.5μm)接口形式BNC/三同轴接口背电极可引出背电极针座数量标配2个(可升级到6个)产品应用多被用于晶圆测试、LED测试、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、太阳能电池片测试、材料表面电阻率测试等产品示意图谱量光电可根据客户实际应用需求,定制配套探针台系统,以达更好的测试效果及更高的性价比,具体信息可联系详询。
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