红外吸收光谱仪

仪器简介：■ 红外吸收光谱测量范围：2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率：50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源，波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜，增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源，又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收)，也可测量时间分辨红外光谱技术参数：■ 红外吸收光谱测量范围：2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率：50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源，波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜，增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源，又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收)，也可测量时间分辨红外光谱主要特点：■ 红外吸收光谱测量范围：2-10µ m(MCT)/1-5.5µ m(InSb)■ 时间分辨率：50ns(MCT)/25ns(InSb)■ 碳化硅红外辐射源，波长范围1-16µ m■ 镀金反射镜，增加红外光收集效率■ 红外辐射源既可做为加热源，又可做为光谱透射测量的辐射源■ 既可测量通过样品的连续光谱透射(吸收)，也可测量时间分辨红外光谱

飞秒瞬态吸收光谱仪超快pump-probe 瞬态吸收系统TA100：该系统设计和飞秒激光相结合，用于检测 样品中的超快激发态或光生载流子电荷的动力学过程。TA100为“一站式”检测系 统，包括完整的pump-probe光学系统、光学和电子配件系统、光学延迟线和数据 采集计算机及相应软件系统。 检测模式：透射、反射模式可切换 光谱检测系统：光谱仪配高速CMOS线阵传感器 探测白光检测范围： 采用800nm飞秒激光：可见光：400-800nm；紫外拓展：350-700nm；近红外：850-1500nm采用1030nm飞秒激光：可见光：480-950nm；紫外拓展：380-750nm；近红外：1100-1650nm 延迟线时间窗口：8ns 光学延迟线最快速度:400mm/s,步进精度0.1微米 仪器响应函数（IRF）时间：典型值50fs-200fs（1.5倍激光脉宽） 检测灵敏度:0.1 mOD 数据采集软件系统：2D/3D数据采集模式，实现采集数据实时观测分析。 专业数据分析软件：动力学曲线拟合、时间零点矫正、均一化处理等多种强大功能。（可根据用户 需求添加自定义功能） 配备瞬态样品池2套，样品夹具（固体薄膜和溶液样品均可）1套 瞬态样品池专用微型磁搅拌器（选配） 全自动防样品光损伤二维电动移动台和配套软件（选配） 终身免费升级维护（不含硬件部件的更替）和专业技术支持 提供长期专业培训地点 可拓展微区检测模块（选配）： 配备超消色差长焦物镜（480 - 1800 nm）、精密样品移动台和明场观测相机 可现实空间分辨率 1μm微区瞬态光谱检测

产品关键词：电吸收谱、电场诱导吸收光谱、电荷注入吸收光谱、EIEAS、CIEAS、电荷调制吸收谱、斯塔克效应、带隙测定、激子态、量子阱子带跃迁、电场诱导效应、注入电荷诱导效应▌ 产品简介电吸收光谱仪（EAS）是一种通过测量样品在施加电场时对光的吸收变化来研究半导体和其他材料属性的技术。通过电吸收光谱，可以得到吸收系数与电场的一阶、二阶等高阶效应的样品信息。其中，斯塔克效应（Box1）是典型导致电吸收信号产生的物理效应，此外还可以用来研究电荷调制吸收谱等。Excion 包括电场诱导吸收光谱（EIEAS）和电荷注入吸收光谱（CIEAS）两大模块功能，方便用户灵活研究电场诱导效应和注入电荷诱导效应。 Excion 是全球范围内首套电吸收光谱商业化设备，由东谱科技的科研人员和工程师携手来自剑桥大学、香港城市大学、中山大学、华南理工大学的专家成员联合研发而成。 从应用方向上，EAS 具有广泛的应用范围，特别是在半导体物理和光电子学领域。以下是一些EAS应用的关键领域和方向： （1）带隙测定：EAS可用于测量半导体的带隙。在外加电场作用下，靠近带边的吸收起始点会发生移动，从而允许精确确定带隙能量。 （2）激子态：在半导体中，激子——电子和空穴的束缚态——可以使用 EAS 进行研究。外加电场可以改变这些激子存在所需的能量，这表现为吸收光谱的变化。（3）量子阱子带跃迁(intersubband transition)：对于像量子阱、线和点这样的量子限制结构，EAS 可以用来观察子带间的跃迁，这对于理解材料的尺寸对电子性质的影响非常重要。 （4）材料质量评估：EAS可以帮助检测半导体样品中的杂质和缺陷。吸收光谱的变化可能表明存在影响电子结构的缺陷或杂质。（5）光电子器件特性表征：在开发LED、光电探测器和太阳能电池等器件时，EAS可以提供有关材料在工作状态下的行为的理解。这包括研究电场对光发射或吸收过程效率的影响。 （6）调制器和开关：基于半导体的光调制器和开关依赖于斯塔克效应，这可以通过EA光谱学来表征和优化。（7）非线性光学特性：具有非线性光学特性的材料可以使用EAS进行研究，以了解它们如何与强电场相互作用，这对于光信号处理和通信应用至关重要。 （8）量子信息处理：在新兴的量子计算领域，EAS可以协助设计和分析可能作为量子比特（qubits）或其他量子光学组件的半导体结构。 总之，EA光谱学的应用使研究人员和工程师能够深入了解材料的电子属性，有助于推进材料科学的发展，并优化光电子器件，服务于包括半导体、电信、能源、照明及显示和量子计算等在内的各个行业。Excion电吸收光谱仪的一般使用流程如下：（1）样品准备： 将半导体或其他材料的薄膜样品准备好，并附上电接触点，以便在其上施加电场。常见的方式是把样品制备成三明治结构。（2）施加电场： 向样品施加直流或低频电场，可以在软件灵活设置电场的大小、频率、偏置值等。（3）光吸收测量： 在EIEAS 或CIEAS的模式下，设置扫描波长、扫描电场频率、扫描电场大小等测试变量，进行变量依赖的光吸收测量。（4）数据分析： 通过比较有无电场时的吸收光谱，可以观察到对应于材料中不同电子态之间转换的吸收变化。施加电场可能会导致吸收峰的位移，表明电子在能级间转换所需能量的变化。Excion 提供了数据平滑、分峰、一阶导、二阶导、指数拟合、多项式拟合等丰富的数据分析功能。（5）数据导出：Excion提供便捷的数据导出功能，可以导出TXT/CSV等文本格式的数据。（6）数据解释：用户从Excion获得的数据可以用来研究半导体材料的各种性质，包括带隙（价带和导带之间的能量差）、带边缘附近的态密度、内建电场以及可能影响电子结构的缺陷或杂质的存在等等。Excion凭借其高灵敏度与精确度、多功能性、易用性、高通量检测、耐用性、完善的技术支持与售后服务等优点，成为工业和科研领域的理想选择。▌ 产品特点□ 多功能性：Excion 开发借鉴了最前沿的电吸收科研与工业应用研究成果，集成了EIEAS和CIEAS两种原理模式，集成了透射与反射两种光路检测模式，还可以进行多达8种以上的物理变量扫描与单点检测测试；□ 高灵敏度与精确度：Excion 采用了最新的调制、传感与检测技术，能够捕捉到极其微小的变化，其测量结果具有高度的可靠性和重复性，确保了数据的准确性；□ 宽光谱范围：这款光谱仪覆盖了从紫外到近红外（200-2500nm）的广泛波段，适用于多种不同的电吸收光谱分析需求；□ 高通量检测：人工智能的设计理念，极高程度的自动化设计，高速数据采集系统使得 Excion 能够迅速完成光谱扫描，大大提高了工作效率和实验通量；□ 易于操作：Excion的用户界面设计直观易懂，即使是非专业人员也能轻松上手，具有典型的“Plug & Play”和“Turn-key”特征。；□ 稳定性与可靠性：Excion采用高质量的零部件和精密的制造工艺，引入了完善的错误处理与设计，确保了仪器长期稳定运行，减少了维护成本；□ 完善的技术支持与售后服务：我们为 Excion 提供全面的技术支持和保修服务，确保用户在使用过程中无后顾之忧。▌ 测量模式测量模式□ 单点测量；□ 扫描测量；波长扫描频率扫描相位扫描光源强度扫描电场强度扫描注入电流扫描温度扫描：变温测试原理模式 电场诱导吸收光谱（EIEAS）电荷注入吸收光谱（CIEAS）电荷调制吸收谱等电吸收谱▌ 功能参数Excion电吸收光谱仪功能原理功能EIEASCIEAS 光路功能模块透射式反射式 泵浦光模块有/无（405/450/520/980nm可选） 检测波长功能模块200-300 nm 300-1100 nm1100-1800 nm 1800-2500 nm 变温功能模块常温变温4 K-300 K78 K-300 K 室温-500 K 可视化模块有/无 电学信号模块1频率10 mHz~105 KHz电压AC,0-20V DC,0-10V.电场制样决定电流 制样决定模块2频率45 Hz-999.9Hz电压AC,0-350V DC,0-±500V 电场制样决定电流 制样决定波长范围 200-2500nm(选配) 最小步进波长 ±0.1 nm (典型值) 波长调节方式 自动检测深度6阶 检测灵敏度 10&minus 4 OD 软件 功能1. Excion软件包2. 测试与分析功能▌ 产品应用□ 带隙测定；□ 激子态研究；□ 量子阱子带跃迁；□ 材料质量评估；□ 光电子器件特性表征；□ 调制器和开关；□ 非线性光学特性；□ 量子信息处理等。