剪切散斑干涉仪

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剪切散斑干涉仪相关的厂商

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  • 联合光科技(北京)有限公司创立于2016年, 由国内多家知名光学企业联手创办, 致力于为用户提供优质激光光学元件、工业成像镜头、进口高精度光学检测系统和快捷、专业的解决方案。我们的产品涵盖了大多数光学领域,包括元件类,机械类,光学检测服务,光学冷加工及镀膜,并提供光学产品的定制服务,在高功率激光和特殊镀膜应用尤为突出。总部位于北京,在深圳和香港设有分公司,在济南、上海设有办事处,并且在长春,锦州,昆明和重庆设有工厂。为了将更好的产品提供给用户,我们在北京建立了先进的检测实验室和较完善的检测体系,并且采用国际知名品牌检测仪器。 主要产品:l 光学元件(标准光学镜片、高功率激光窗口镜片、定制光学元件、偏振元件)l 英国ULO CO2红外光学材料、镜片、光学器件l 光机械部件(压电电控平台,光学防震桌,光学调整架,手动位移台,光机组件,光桥系统)l 全系列高品质工业成像镜头(定焦/远心/线扫/变焦变倍/特殊定制镜头)、照明光源l 光学测量仪器? 德国MarOpto- 轮廓仪、干涉仪(倾斜波干涉仪、斐索干涉仪、动态干涉仪、干涉测量软件、断面检测、表面检测)? 德国Dioptic- ARGOS 表面疵病检测仪、光纤端面缺陷检测? 日本壶坂Tsubosaka-镜头/相机鬼影、杂散光测试系统;可调色温、亮度光源;镜头焦点偏差、光圈、闪光灯、快门测量、手机防抖测试系统;太阳灯? 美国 Bristol- 非接触式测厚仪? 美国Optometrics- 衍射光栅、分光器件、线栅偏振片、Minichrom? 单色仪等? 德国Artifex-光功率计、跨阻抗放大器、门控积分放大器、LIV激光二极管和LED特性测试系统、积分球、激光二极管驱动器? 波兰inframet-可见光电视相机测试系统(TVT)、红外热像仪测试系统(DT、LAFT、SAFT)、夜视仪测试系统(NVT、NVS、NVB)、激光测距机测试系统(LT、LTF、LTE)、二代像管像增强器测试系统(ITS-I、ITS-P、ITS-R)、条纹管测试系统(SPT、STT)、多传感器测试系统(JT、MS)、被动式THz成像仪测试系统(THP)、短波成像仪测试系统(ST)、紫外成像仪测试系统(UT)以及红外热像仪计算机模拟器(Simterm)等? 美国Headwall -高光谱成像、拉曼光谱仪、衍射光学元件? 其他-SPF防晒指数测试仪;大气测量辐射计/光度计;Mini-Chrom单色仪;激光二极管测试分析系统;积分球;激光功率探测器;光伏测试太阳模拟器;固态光电倍增管等等
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  • 武汉三工精密制造有限公司是由武汉三工光电设备制造有限公司投资成立的高新技术企业,是集技术研究、开发、生产和销售为一体的高科技企业。公司专业研发、生产具有专业技术水平的激光调阻机、激光切割机等精密激光设备,并全部拥有自主知识产权。严格的IS09001质量认证管理体系,现代化的管理模式造就了“三工”品牌的知名度。  三工精密定位于高端激光设备的制造及全面的解决方案,设立专门的研发实验室,具有为客户专门订制专用激光设备的实力。成功应用新技术、新工艺,同美国、德国等国外激光技术公司合作,拥有高素质的专业团队,高水平的技术开发人员,拥有各种品牌检测仪器,包括Agilent仪表,包括高低阻测量表、Zygo干涉仪、Tektronix示波器、Coherent脉宽测试仪、Spiricon光束质量分析仪、Newport功率计等共计数十台。公司生产的设备已经成功应用在厚膜电路、传感器、汽车电子、消费电子、军工研究所等行业,在一些特殊行业应用打破国外技术垄断,得到了广大用户的信赖和称赞。
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剪切散斑干涉仪相关的仪器

  • 准直测试剪切干涉仪 400-860-5168转2255
    剪切干涉仪 特性定性的光束准直测试,适用于直径为Ø 1-Ø 50毫米的光束磁性耦合可调设计,允许快速更换剪切板英制和公制螺纹安装孔SI系列剪切干涉仪可用于确定相干光束是否准直。该设计包括一个45度安装的楔形光学平板,和一块位于中间的带刻度参考线的散射屏。散射屏用于观察由光学平板的前后表面的菲涅尔反射产生的干涉条纹。如果光束已经准直,干涉条纹会平行于带刻度的参考线。除了准直度以外,干涉条纹还对球差、慧差和像散敏感。楔形光学平板是由未镀膜的紫外熔融硅。每个板尺寸的楔角优化到可接受光束尺寸的范围;详情请看规格标签。由于光在板上的入射角为45度,条纹图案的强度取决于极化光。当偏振垂直于入射面时会产生最大强度。为了观察到的干涉条纹,入射的光的相干长度必须长于由剪切板引起的光程长度的变化。规格标签的更多信息,请参阅下表脚注。构造剪切干涉仪由三部分组成一套:一个底座,一个带有楔形光学平板的板,和一个带有扩散屏幕的板。建立该干涉仪用4-40螺丝和六角键连接观察屏幕板与底座。楔形光学平板通过磁力夹持就位,使它能够很容易地换成带有不同楔形光学平板的板。该底座是由经阳极氧化处理的铝和带有安装Ø 1/2英寸接杆的螺纹孔组成。在楔形光学平板后面的底座上有一个孔,这样光可以毫无阻碍地穿过光学平板。右边的横截面图的说明剪切干涉仪的构造和光束传播。附件对与小直径光束,相应的干涉条纹图样也小,这样就不利于观测。对于这种情形,可以购买SIVS放大观察屏配件,它可以代替标准的散射观察屏,从而增大散射屏上条纹的尺寸。SIVS包括一个已安装的发散透镜和散射屏,这种屏适合观察直径为1至10毫米的光束。该板含有可以单独提供的楔形光学平板,使各种光束的尺寸可以用一个单一的底座单元测试。点击放大上图是UVFS在光正入射时的透过率曲线。其中UVFS样品未镀膜,厚度为1毫米,数据也包含表面反射。剪切干涉仪Zoom Click to Enlarge楔形光学平板通过三个磁块夹持就位。提供5种型号,用于光束直径从1到50毫米范围定性的确定光的准直性磁铁球将平板固定在底座上可用的光束直径刻在板上根据剪切板的不同,剪切干涉仪可用于直径小到1毫米,大到50毫米的入射光。剪切干涉仪产生的干涉图样对光束发散很敏感,因此可以用来定性的确定光是否准直。如右图所示,剪切板有三个钢球,以磁性吸附的方式固定在板的底面上。当采用不同直径的光束时,这种磁性保留机制易于更换不同的平板。兼容的平板和底座型号请查看规格标签。此外,底板的背面钻有通孔,因此可以使得透射光通过楔形光学平板继续毫无阻碍地传播。底板,散射屏和剪切板包装在一个铝制手提箱内。替换剪切板Zoom 提供5种型号,光束直径从1毫米到50毫米 剪切板兼容多种剪切干涉仪主体 磁性钢球将板固定在底座上 可用的光束直径刻在板上Thorlabs提供五种可交换的剪切板,这些剪切板设计用于1毫米到50毫米的入射光束直径。这些板的磁性耦合可调设计,使得剪切板能够准确的固定在剪切干涉仪上。同一底座兼容多种剪切板(关于兼容性的详情请看规格标签),因此如果用于特殊实验的光束直径变化时,剪切板很容易进行替换。带有不同楔形角的不同板可以提供不同大小的光束。配件Zoom 用于光束直径从1毫米到10毫米 增大散射板上的条纹尺寸用于光束直径从1毫米到10毫米增大散射板上的条纹尺寸SIVS配件有助于观察由小光束直径产生的条纹图样。通过用该配件替换SI035,SI050,SI100或SI254*上的标准散射板观察屏,干涉条纹的尺寸会增大,从而使得确定光是否准直变得更容易。SIVS带有两个1/16英寸的螺丝,因此可以固定在剪切干涉仪上。如果需要,SIVS的安装板可以单独购买(SITST)。SITST具有标准的Thorlabs的SM1 (1.035英寸-40)螺纹,与任意SM1螺纹组件兼容。
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  • Thorlabs剪切干涉仪,SI500光学仪器剪切干涉仪提供5种型号,光束直径范围从1到50 mm定性地确定光的准直性磁铁球将板固定在底座上适用的光束直径刻在板上根据所用剪切板的不同,剪切干涉仪可用于直径小到1 mm、大到50 mm的入射光。剪切干涉仪产生的干涉条纹对光束发散很敏感,因此可以用来定性地确定光是否准直。如右图所示,剪切板有三个钢球,以磁性吸附的方式固定在板的底部。当采用不同直径的光束时,这种磁性固位机制易于更换不同的平板。兼容的平板和底座型号请查看规格标签。楔形光学平板通过三个磁块夹持住此外,底板的背面钻有通孔,因此可以使得透射光通过楔形光学平板继续毫无阻碍地传播。除了SI500,所有型号的通孔均为SM1螺纹(1.035"-40)。SI500的通孔为Ø 2.95英寸(Ø 75 mm)滑孔。底板、散射屏和剪切板包装在一个手提箱内。请注意由于SI100、SI254和SI500剪切板的厚度原因,剪切板的后表面会超出安装板(如右图所示)。因此,当插入或者移除这些板的时候要格外小心,尤其是安装了SICP或者SICPSM1笼式转接板的情况下。
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  • Thorlabs SI035剪切干涉仪 光学测量仪特性用于相干光束的定性准直测试仪适合1 mm到50 mm光束直径的各种选项分出 10%光束磁性耦合可调设计,可快速更换剪切板英制和公制螺纹安装孔输出端兼容30 mm笼式系统(除了SI500)下面提供更换的剪切板下面单独提供配件(不兼容SI500)SIVS放大观察屏,用于Ø 1 mm - Ø 10 mm光束SITST安装板,带SM1 (1.035"-40)内螺纹SICP和SICPSM1转接件,用于兼容30 mm笼式系统 Thorlabs剪切干涉仪设计用于定性检测相干光束的准直。它们为辅助准直透镜的对准提供一种快速的方法。剪切干涉仪包含一块楔形光学平板,相对入射光束以45°安装。光学平板前后表面的反射重叠在设备顶部的散射板上。散射板上刻的参考线指示入射光束是否准直。楔形光学平板由未镀膜的紫外熔融石英制成,透射范围从185 nm到2.1 µ m。如果用于红外光,需要红外观察仪才能看到散射板上的条纹。每个平板的楔角针对可接受光束的直径范围(刻在剪切板上)经过优化;详情请看规格标签。由于光45°角入射在平板上,条纹图案的强度取决于光的偏振。偏振垂直于入射平面时产生最大强度。构造每个剪切干涉仪包含三个部分:一个底座、一个带楔形光学平板的剪切板和一个带散射观察屏的板。为了搭建干涉仪,可用包含的带帽螺丝和六角扳手将观察屏板安装再底座上。剪切板通过磁力固定位置,方便更换带有不同楔形光学平板的剪切板。
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剪切散斑干涉仪相关的资讯

  • 3分钟了解激光干涉仪——最精密的尺子
    本文作者:清华大学张书练教授1. 激光干涉仪的发展史做衣量身、体检量高都由尺子完成,这些日常的尺子的刻度是毫米。机械零件加工和检验都要用尺子,在机械制造企业,卡尺、千分尺随处可见,其精确度是0.1 μm,1 μm。1887年迈克尔逊(Michelson)和莫雷(Morley)研究以太[1]是否存在,使用了光。他们以光波长作尺子刻度测量了水平面和垂直面的光速之差,第一次否定了以太的存在。他们利用的是光的干涉现象,这就是光学干涉仪的诞生。注[1]:根据古代和中世纪科学,以太被称为第五元素,是填充地球球体上方宇宙区域的物质。以太的概念在一些理论中被用来解释一些自然现象,例如光和重力的传播。19世纪末,物理学家假设以太渗透到整个空间,以太是光在真空中传播的介质,但是在迈克尔逊-莫利实验中没有发现这种介质存在的证据,这个结果被解释为没有光以太存在。1961年研究人员发明了氦氖激光器,开始用氦氖激光器作为迈克尔逊干涉仪的光源,从而诞生了激光干涉仪。图1是迈克尔逊干涉仪简图。迈克尔逊干涉仪是普通物理的基本实验之一。但今天在科学研究和工业中应用的激光干涉仪出于迈克尔逊,但性能远远胜于迈克尔逊。图1 迈克尔逊干涉仪简图基本上,激光干涉仪都使用氦氖激光器的632.8 nm波长的光,橙红灿烂的光束射向远方,发散角可以小到0.1 mrad,光束截面的光斑均匀。氦氖激光器还可输出绿光、黄光、红外光,但只有632.8 nm波长的光适合作激光干涉仪的光源。其它类型的激光器,如半导体(LD)、固体激光器等的相干等性能都远不及氦氖激光器,研究人员多有尝试,但都没有成功。激光干涉仪有很多应用,但本质都是测量中学课本讲的“位移”,诸多应用都是“位移”的延伸和转化。激光干涉仪有两个主流类型:单频激光干涉仪和双频激光干涉仪。单频干涉仪能做的双频激光干涉仪都能做,但双频干涉仪能做的单频干涉仪不见得能做。由于历史、技术和商业原因,两种干涉仪都有着广泛应用。但在光刻机上,双频激光干涉仪独占市场。单频干涉仪不需要对市场上的氦氖激光器进行改造,直接可用。但双频激光干涉仪用的激光器需要附加技术使其产生双频(两个频率)。历史上,双频激光干涉仪测量位移的速度不及单频激光干涉仪,自发明了双折射-塞曼双频激光器,双频激光干涉仪的测量速度也达到每秒几米,与单频激光器看齐了。按产生双频的方法,双频激光干涉仪分为塞曼双频激光(国外)干涉仪和双折射-塞曼双频激光(国内)干涉仪。现在干涉仪的指标:最小可感知1 nm(十亿分之1 m),可以测量百米长的零件,且测量70 m长的导轨误差仅为几微米。2. 测量位移的干涉仪和测量表面的干涉仪?有几个概念的定义比较混乱(特别是有些研究发展趋势的报告),需要注意。一是“激光测距”和“激光测位移”没有界定,资料往往鹿马不分。二是不少资料所说“激光干涉仪”实际上包含两种不同的仪器,一种是测量面型(元件表面)的激光干涉仪,一种是测量位移(长度)的激光干涉仪。如海关的统计和一些年度报告往往混在一起。激光测距机发出的激光束是一个持续时间纳秒的光脉冲,利用光脉冲达到目标和返回的时间之半乘以光速得到距离,完全和光的干涉无关。尽管激光波面干涉仪和测量位移(长度)的干涉仪都是利用光干涉现象,但仪器的设计、光路结构、探测方式、应用场合几乎没有共同之处。激光波面干涉仪能够测量光学元件表面的形貌,光束直径要覆盖被测零件,在整个零件表面形成系列干涉条纹,根据测量条纹的亮度(也即相位)算出表面的形貌,其光束口径、零件直径可达百毫米;另一种则是测量位移(长度)干涉仪,光干涉发生在直径几毫米光路上,表现为只有光电探测器(眼睛)正对着射来的光线才能“看”到光强度的波动,由波动的整次数和(不足半波长的)小数算出被测件的位移。 3. 双频激光干涉仪的原理和构成当图1的可动反射镜有位移时,光电探测器光敏面会感受到的光强度正弦变化,动镜移动半个波长,光强变化一个周期。光电探测器将光强变化转化为电信号。如探测到电信号变化了一个周期,我们就知道动镜移动了半个波长。计出总周期数测得动镜的位移。 (1)式中:λ为激光波长,N 为电脉冲总数。今天的激光干涉仪使用632.8 nm波长的激光束,半波长即316.4 nm。动镜安装在被测目标上与目标一起位移,如光刻机的机台,机床的动板上。为了提高分辨力,半波长的正弦信号被细分,变成1 nm甚至0.1 nm的电脉冲,可逆计数器计算出总脉冲数,再由计算机计算出位移量S。也常用下式表示动镜的位移, (2)其中∆f为目标运动速度为V时的多普勒频移。式(1)和(2)是等价的,可以互相推导推出来,仅是表方式的不同。图2是今天的双频激光干涉仪框图。它由7个部分构成。图2双频激光干涉仪原理框图(1) 双频氦氖激光器氦氖激光器上有磁体。磁体为筒形,激光器上加的是纵向磁场,称为纵向塞曼双频激光器。四分之一波长(λ/4)片把激光器输出的左旋和右旋光变成偏振态互相垂直的线偏振光。前文所说的双折射-塞曼双频激光器则是在激光器内置入双折射元件(图内未画出),并加图2所示的磁条。双折射元件使激光器形成双频,横向磁场消除两个频率之间的耦合。双折射-塞曼双频激光干涉仪不需使用四分之一波长片。双频激光器是双频激光干涉仪的核心,很大程度上,它的性能决定激光干涉仪的性能,要求波长(频率)精度高,功率大,寿命长,双频间隔(频差)大且稳定,偏振状态稳定,两频率之间不偏振耦合。这一问题的解决是作者较突出的贡献之一。(2) 频率稳定单元它的作用是保证波长(频率)这把尺子的精确性,达到10-8甚至10-9,即4.74×1014的激光频率长期的变化仅1 MHz左右。(3) 扩束准直器实际上是一个倒装的望远镜,防止光束发散。要求激光出射80 m,光束光斑直径仍然在10 mm之内。(4) 测量干涉光路测量干涉光路包括:从分光镜向右直到可动反射镜(实际是个角锥棱镜),向下到光电探测器2。可动反射镜装在被测目标上(如光刻机工作台上的反射镜),目标的移动产生激光束的频移Δf,Δf和目标速度成正比,积分就是目标走过的距离(位移或长度)。积分由信号处理单元完成。(5) 参考光路参考光路由分光镜-偏振片-光电探测器1实现,参考光路中没有任何元件移动,它测得的位移是“假位移”真噪声。噪声来自环境的扰动。信号处理单元从干涉光路的位移中扣除这一噪声。(6) 温度和空气折射率补偿单元干涉仪测量的目标位移可能长达百米,空气折射率(及改变)和长度的乘积成为激光干涉仪的最主要误差来源之一。用传感器测出温度、气压、湿度,信号处理单元计算出空气折射率引入的假位移,并从结果中扣除。(7)信号处理单元光电探测器1和2,分别把信号f1-(f2±∆f)和f1-f2的光束转化为电信号,±∆f是可动反射镜位移时因多普勒效应产生的附加频率,正负号表示位移的方向。电信号经放大器、整形器后进入减法器相减,输出成为仅含有±Δf的电脉冲信号。经可逆计数器计数后,由电子计算机进行当量换算即可得出可动反射镜的位移量。环境温度,气压,湿度引入的折射率变化(假位移)送入计算机计算,扣除他们的影响。最后显示。相当多的应用要求计算机和应用系统通讯,实现对加工过程的闭环控制。4. 激光干涉仪的应用一般说来,激光干涉仪的主要用途是测量目标的运动状态,即目标的线性位移大小、旋转角度(滚转、俯仰和偏摆)、直线度、垂直度、两个目标在运动的平行性(度)、平面度等。无论光刻机的机台,还是数控机床的导轨(包括激光加工机床),不论是飞行物,还是静止物的热膨胀、变形,一旦需要高精度,都要用激光干涉仪测量,得到目标的运动状态。运动状态用由多个参数给出。以光刻机两维运动中的一个方向运动时为例,位移(走过的长度)、机台位移过程中的偏 转( 角 )、俯仰 ( 角 )和滚转(角)都需要测出。很多类型的设备需要测量,如各类机床、三坐标测量机、机器人、3D打印设备、自动化设备、线性位移平台、精密机械设备、精密检测仪器等领域的线性测量。图3(a)(b)(c)(d)(e)是几个应用的例子。美国LIGO激光干涉仪实验室宣称首次直接测量到了引力波(2016),使用的仪器是激光干涉仪,单程臂长4 km。见图4。图3 激光干涉仪几个应用的例子来源:(a)(b)(c)由北京镭测科技有限公司提供,(d)(e)来自深圳市中图仪器股份有限公司网页图4 LIGO激光干涉仪来源:https://www.ligo.caltech.edu/image/ligo20150731c 5. 双频激光干涉仪发展存在的问题(1)国内外单频和双频激光干涉仪的进展及问题多年来,国内外在单频和双频激光干涉仪方面进步不大,特例是双折射-塞曼双频激光器的发明。由于从国外购买的激光器不能产生大间隔的双频光,原有国内双频激光干涉仪的供应商基本停产。以前作为基础研究的双折射-塞曼双频激光器被推到前台。双频激光器是干涉仪的核心技术,走在了世界前端,也解决了国内无源的重大难题。北京镭测科技有限公司的开发、纠错,终于使双折射-塞曼双频激光干涉仪实现产品化,进入先进制造全行业,特别是光刻机。北京镭测科技有限公司双折射-塞曼双频激光器达到指标:频率间隔可在1~ 30 MHz之间选择,功率可达1 mW。 频率差与激光功率之间没有相互影响,没有塞曼效应的双频激光器高功率和大频率差不能兼得的缺点。尽管取得进展,但氦氖激光器的制造工艺等是个系统性技术问题,需要全面改善。特别是,国外双频激光干涉仪的几家企业的激光器都是自产自用,不对外销售,因此,我们必须自己解决问题。(2)业界往往忽略干涉仪的非线性误差很长时期以来,业界认为单频干涉仪没有非线性误差。德国联邦物理技术研究院(PTB) 经严格测试发现,单频干涉仪也存在几纳米的非线性误差,甚至大于10 nm。塞曼效应的双频干涉仪也有非线性误差,也是无法消除。对此干涉仪测量误差,大多使用者是不知情的。到目前,中国计量科学院的测试得出,北京镭测科技生产的双频激光干涉仪的非线性误差在1 nm以下。建议把中国计量科学院的仪器批准为国家标准,并和德国、美国计量院作比对。非线性误差发生在半个波长的位移内,即使量程很小也照样存在。图5 中国计量科学研究院:镭测LH3000双频激光干涉仪在进行测长比对6. 双频激光干涉仪的未来挑战本文作者从事研究双折射-塞曼双频激光器起步到成批生产双折射-塞曼双频激光干涉仪,历经近40年,建议加强以下研究。(1)高测速制造业的发展很快,精密数控机床运动速度已达几m/s,有特殊应用提出达到10 m/s的要求。目前单频激光的测量速度还没有超过5 m/s。双折射-塞曼双频激光干涉仪的测速也处于这一水平,但其频率差的实验已经达到几十MHz,有待信号处理技术的跟进发展,实现10 m/s以上的测量速度。(2)皮米干涉仪市场上的干涉仪基本都标称分辨力1 nm,也有0.1 nm的广告。需要发展皮米分辨力的激光干涉仪以满足对原子、病毒尺度上的观测要求。(3)溯源前文已经提到,小于半波长的位移是把正弦波动信号电子细分得到标称的1 nm,和真实的1 nm相差多少?没有人知道,所以需要建立纳米、皮米的标准。作者曾做过初步努力,达到10 nm的纯光学信号,还需做长期艰苦的研究。(4)提高氦氖激光器寿命在未来很长一段时间,氦氖激光器仍然是激光干涉仪最好的光源,但其漏气的特点导致其使用寿命有限,替换寿命终结的氦氖激光器导致光刻机停机,会带来巨大经济损失。因此,延长氦氖激光器寿命十分有必要。没有测量就没有科学技术,没有精密测量就没有当今的先进制造,为此作者最近出版了题名《不创新我何用,不应用我何为:你所没有见过的激光精密测量仪器》的书籍,书的主标题似是铭志抒怀,而实际内容是一本地道的学术专著,书籍内容为作者的课题组近40年做出的创新成果总结。作者简介张书练,清华大学教授,博导。曾任清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室主任,清华大学光学工程研究所所长,主要研究方向为激光技术与精密测量,致力于激光器特性的研究和把这些特性应用于精密测量,是国内外正交偏振激光精密测量领域的的主要创始人。
  • “全息干涉仪”让宇宙探测跨进量子级
    引力波模拟图   据近日美国《基督教科学箴言报》在线版文章称,德国引力波探测器GEO 600的一项奇怪发现,不但可能冲击现有宇宙理论,还引发美国费米国家实验室的科学家们开始建造一个“全息干涉仪”,将探测深入到“普朗克长度”,以便更进一步观察宇宙的时空结构及这一结构中的波动――引力波。   引力波被称为“爱因斯坦广义相对论中最后一个尚未被证明是对的组成部分”,新探测仪器的出现有可能使人们直接观测到时间的不连续性,亦将带领人们发掘宇宙起源最深处的奥秘。   激光干涉追寻时空波纹   引力波其实是爱因斯坦对于万有引力本质的理解。他认为引力场有一种跟电磁波一样的波动,是为引力波。而引力波表现为时空曲率的扰动,以行进波的形式向外传递,其传播速度等于光速。   按道理,引力波存在且无处不在,深空中的突变性事件,如超新星爆发、黑洞形成、大型天体相撞这些过程,都能辐射出较强引力波。但事实上,以往在地球上进行的引力波直接搜寻的所有努力都以失败告终。其原因在于,波动虽能造成地球上各处相对距离的变动,但当它们到达地球的时候已经变得非常弱了,对于地球上最先进的引力波探测器来说,其变动的数量级小于一颗质子直径的千分之一。因而尽管引力波毫不模糊且被公认,却一直只能是广义相对论的预言。   但科学家们可不满足于这一点。于是,基于激光干涉原理的引力波探测器被建造出来。这一类型的探测器通过测量两条激光束相遇时所形成的干涉图像的变化来探测引力波,干涉图像依赖于激光束的传播距离,当引力波穿过时激光束的传播距离会相应变化。   因为目标是非常微弱的信号,引力波探测器的敏感度需达到几乎难以想象的程度。以德国引力波探测器GEO 600来讲,其对距离上极微小的变化都非常敏锐,甚至可探测到日地距离所发生的原子半径级别的变化。不过,这种激光干涉计的探测器灵敏度要与激光传播的距离成比例的话,一般来讲其尺寸都非常可观。   “奇怪波动”挑战现有认知   德国的GEO 600并不是新产物了,其已默默工作有些时日。然而,在近期利用其搜寻引力波的过程中,物理学家偶然发现了令人迷惑的现象――这一高科技设备虽然还没有找到引力波存在的证据,但却发现了大量的噪音。   这就有必要简单描述一下这类探测器的工作过程。以GEO 600为例,其要实现功能,需要发射一束激光穿过600米的隧道,再将激光分裂成两束,经过反射的一束以及未经反射的一束均进入干涉仪。当引力波经过这部分空间的时候,两束激光之间的微小位移将会由干涉仪进行探测。即便这种距离的变化非常之微妙,但如果引力波探测器有结果,那就很可能是引力波通过时引起的。   而今GEO 600的“噪音”让研究人员无从解释,在剔除了所有人为因素的影响之后仍不得要领,他们于是向费米实验室的科学家克雷格・ 霍根寻求帮助,希望他利用量子力学上的专业知识帮助阐明这一不规则的噪音。   霍根反馈的意见让人震撼又迷惑。他说:“看上去GEO 600受到了时空微观量子级别的冲击。”换句话说,GEO 600探测到的并不是来自什么噪音源,而是时空本身发生的量子级别波动。   这一看法的深层意义在于:根据爱因斯坦对宇宙的认知,时空应该是连续平滑的,而照霍根的结论推测时空实际上是不连续的,是由一系列量子点组成。其直指爱因斯坦的理论需要修正。   全新探测器进入量子尺度   量子力学的测不准原理意味着一些基本量度如长度和时间具有测不准性。而测不准的程度由普朗克常数确定,该常数可以定出最小长度量子――“普朗克长度”,比其更短的长度是没有意义的。   现在,要证明“奇怪波动”的来源,研究人员就需要深入到“普朗克长度”――10-35米进行探测,而GEO 600实验中探测到的噪音尺度不到10-15米。因此需要提升引力波探测仪的分辨率,这导致了“全息干涉仪”的产生。   “全息干涉仪”是利用全息照相的方法来进行干涉计量,其与一般光学干涉检测方法很相似,但获得相干光的方式不同。光学干涉检测方法获得相干光的方式如前所述,一般是将同一束光的振幅分为两个部分,但全息干涉计量术则是将同一束光在不同时间的波前来进行干涉,可以看作是一种波前的时间分割法。这就使相干光束由同一光学系统所产生,可以消除系统误差。   霍根认为,GEO 600在其尺度上发现的噪音是由于宇宙“视界”(天文学中黑洞的边界,在此边界以内的光无法逃离)的全息投射造成的。霍根比喻说,这就像一张图片越放大就会越模糊甚至像素化,宇宙“视界”投射其实发生在普朗克尺度中,所以在我们所身处的时空尺度上,这一投射发生了模糊。   而要验证霍根的结论,目前最值得依赖的就是这台“全息干涉仪”。其现正由费米实验室全力打造,它必将比GEO 600探测到更小的尺度,从而进入到量子尺度。如果霍根的看法是正确的,探测器将能探测到时空结构中的量子噪声,给我们现有对宇宙的认知带来巨大的冲击。
  • 丹麦可在室温下工作的量子干涉仪问世
    日前,丹麦哥本哈根大学研究人员日前制造出一种可在室温下工作的量子干涉仪,能广泛应用于医疗、勘测、考古等多个领域。相关研究发表在最新一期的《物理评论快报》(PRL)杂志上。   量子干涉仪是应用量子力学原理制成的超高灵敏度磁传感器,可检测出非常微弱的磁场。负责该研究的哥本哈根大学尼尔斯波尔研究所的物理学家尤金波尔齐克称,与原先的超导量子干涉仪(squids)相比,新的干涉仪在室温下就能工作,并且结构更简单,造价也更为低廉。   自旋是原子的一个基本特性,这使得一个原子就像一个小磁体很容易受到外部磁场的影响。根据这一特性,科学家提出了以原子作为磁传感器的设想,但由于每个原子自旋都存在一定的不确定性,这决定了以这种方法检测外部磁场在灵敏度上存在着极限。由于作为一个整体时数十亿原子能达到的敏感度比单个原子要大得多,传统的原子磁力计一般由极为大量的原子制成。但这样一来要达到理论上最大的灵敏度就困难了很多。为了进一步提高灵敏度,研究人员在新的磁力计中只使用了一个单原子。   尤金波尔齐克举例说,为了达到这个目的,研究人员不但要避免一切可能导致仪器出现失误的因素,如广播、手机等公共通讯系统所产生的磁场波动,还要消除现有量子力学理论中可能存在的错误。最终,该仪器可测量到比地球磁场弱一千亿倍的磁通量。   由于有电流的地方就有磁场存在,该磁力计在微磁场测量、重力波测量、核磁共振、古地磁测量以及非破坏性磁检测等多个领域都有着广泛的应用前景。

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  • 白光干涉仪是什么?有哪些作用?

    白光干涉仪目前在3D检测领域是精度最高的测量仪器之一,在同等系统放大倍率下检测精度和重复精度都高于共聚焦显微镜和聚焦成像显微镜,在一些纳米级和亚纳米级的超精密加工领域,除了[url=http://www.chotest.com/detail.aspx?cid=686][b][color=#333333]白光干涉仪[/color][/b][/url],其它的仪器无法达到其测量精度要求。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/3/201803076710554.jpg[/img][/align][align=center]中图仪器SuperView W1白光干涉仪[/align]白光干涉仪测量原理:  白光干涉仪是利用光学干涉原理研制开发的超精密表面轮廓测量仪器。照明光束经半反半透分光镜分威两束光,分别投射到样品表面和参考镜表面。从两个表面反射的两束光再次通过分光镜后合成一束光,并由成像系统在CCD相机感光面形成两个叠加的像。由于两束光相互干涉,在CCD相机感光面会观察到明暗相间的干涉条纹。干涉条纹的亮度取决于两束光的光程差,根据白光干涉条纹明暗度以及干涉条纹出现的位置解析出被测样品的相对高度。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/5/201905302500097.jpg[/img][/align]白光干涉仪的测量应用:  以测量单刻线台阶为倒,在检查仪器的各线路接头都准确插到对应插孔后,开启仪器电源开关,启动计算机,将单刻线台阶工件放置在载物台中间位置,先手动调整载物台大概位置,对准白光干涉仪目镜的下方。  在计算机上打开白光干涉仪测量软件,在软件界面上设置好目镜下行的最低点,再微调镜头与被测单刻线台阶表面的距离,调整到计算机屏幕上可以看到两到三条干涉条纹为佳,此时设置好要扫描的距离。按开始按钮,白光干涉仪可自动进行扫描测量,测量完成后,转件自动生成3D图像,测量人员可以对3D图像进行数据分析,获得被测器件表面线、面粗糙度和轮廓的2D、3D参数。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/5/201905303281565.png[/img][/align]  白光干涉仪具有测量精度高、操作便捷、功能全面、测量参数涵盖面广的优点,测量单个精密器件的过程用时2分钟以内,确保了高款率检测。白光干涉仪独有的特殊光源模式,可以广泛适用于从光滑到粗糙等各种精密器件表面的测量。

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    激光干涉仪是以激光波长为已知长度,利用迈克耳逊干涉系统测量位移的通用长度测量,具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点。测量长度的激光干涉仪,主要是以迈克尔逊干涉仪为主,并以稳频氦氖激光为光源,构成一个具有干涉作用的测量系统。 激光干涉仪采用一个双光束激光头和一个双通道的处理器,采用飞行采样方式,在测量过程中无须停机采样检测,节约了测量时间和编程时间;利用RENISHAW动态特性测量与评估软件,可进行机床振动测试与分析,滚珠丝杠的动态特性分析,伺服驱动系统的响应特性分析。激光干涉仪的激光头和靶标反射镜二件之间只要发生相对位移就能进行测量,测量系统中无须分光镜、所以对光极其方便。 激光干涉仪可配合各种折射镜、反射镜等来作线性位置、速度、角度、真平度、真直度、平行度和垂直度等测量工作,并可作为精密工具机或测量仪器的校正工作。激光干涉仪可用来精确测量和校准机床、三座标测量机和X-Y平台的机械精度,也测量轴的定位精度、重复定位精度及反向间隙,测量轴的角偏、直线度,测量平台的平面度。

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    全光纤迈克逊干涉仪-MFI Michelson Fiber Interferometer产品介绍:量青光电提供的美国Optiphase公司全光纤迈克逊干涉仪(Fiber Michelson Interferometer)不但可以用来作为精密的测试测量仪器,还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器(参见 PZ1光纤拉伸器产品资料),内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。全 光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计,用于方便用户根据不同的测试应用来改变 光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米,我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪,请联系我们的销售人员.产品参数:参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度(无延迟)m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060(或指定)SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APC FC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7可定制的延迟范围m0.5m ~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC产品应用:激光器相位噪声测试激光器频率噪声测试干涉型光纤传感系统模拟科研实验室应用应用列举:1. 激光器相位/频率噪声测试(1)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。OPD-4000解调输 出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上,作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出, 数字信号输出通过PC进行后续处理,模拟信号通过信号分析仪进行分析。2. 激光器相位/频率噪声测试(2)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。通过为PZ1型光纤拉伸 器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置(Quadrature Bias)。输出光信号由光接收机接收处理,输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟(3)输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈,延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息:MFI-10-50: 1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50: 1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50: 1550nm光纤迈克逊干涉仪
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    852±1/ ±10 nm single-mode VCSEL850nmVCSEL激光器适用于干涉仪检测,VSEL激光器拥有价格低廉,线宽很窄以及可调波长范围宽的优势。在各类激光器中出类拔萃深受全球客户的青睐
  • 中红外法布里-珀罗F-P干涉仪( F-P标准具/多光束干涉仪 2.5-14um)
    总览法布里-珀罗干涉仪(英文:Fabry–Pérot interferometer),是一种由两块平行的玻璃板组成的多光束干涉仪。其中两块玻璃板相对的内表面都具有高反射率。当两块玻璃板间用固定长度的空心间隔物来间隔固定时,它也被称作法布里-珀罗标准具或直接简称为标准具。F-P(法布里-珀罗)标准具因为平板反射率高,多光束等倾斜干涉条纹极窄,所以是一种高分辨率的光谱仪器。可用于高分辨光谱学,和研究波长非常靠近的谱线,诸如元素的同位素光谱、光谱的超精细结构、光散射时微小的频移,原子移动引起的谱线多普勒位移,和谱线内部的结构形状;也可用作高分辨光学滤波器、构造精密波长计;在激光系统中它经常用于腔内压窄谱线或使激光系统单模运行,可作为宽带皮秒激光器中带宽控制以及调谐器件,分析、检测激光中的光谱(纵模、横模)成分. 技术参数产品特点 适用于中红外平行度好端面平整度高表面质量好产品应用波长锁定器 波分复用电信网 手持光谱分析仪 光纤光栅传感系统 可调谐滤波器激光器 可调谐滤光片技术参数 技术参数技术指标工作波段近红外1.3-2.0um,中红外2.5-14um直径25.4mm+/-0.05mm通光孔径22.9mm长度100mm+/-0.2mm平行度5-10 arc sec端面平整度中红外 1/4 lambda;近红外 1/10 lambda表面质量中红外80-50;近红外60-40管壳铜 精细度(FSR)0.012cm-1实验测试: 测试步骤:1,安装1532nm激光器,连接电源,USB线2,激光器输出连接到光纤准直器 3,用BNC转BNC线连接信号发生器到激光器驱动的低频调制端口4,用BNC转BNC线连接探测器到示波器的通道2端口5,打开激光器,打开信号发生器(三角波调制,频率1KHZ,电压幅值500mW)6,激光器发出的光通过标准具,打在探测器光敏面上,通过调整标准具的角度,在示波器上查看调制波形测试结果:
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