介电损耗测试仪

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介电损耗测试仪相关的厂商

  • 山东领创测试仪器有限公司是集试验机、分析仪器等仪器仪表研发、制造、销售、服务于一体的高科技创新型企业。山东创领与山东省科学院强强联合,凭借着强大的技术研发团队,每年都有十几项新产品推出,现产品涵盖电子万能试验机、液压万能试验机、材料分析仪器 、无损检测仪器、生命科学仪器 、计量校验仪器、环境监测仪器 、石油化工检测仪器等八大系列500多个品种。并成为国内外许多知名检测仪器品牌的山东代理。山东领创测试仪器有限公司借助雄厚的技术实力,可以承接实验室整体设计及资质认定咨询。山东领创一流的产品质量、周到的售后服务得到了国内外知名院所和各界企业的信赖与支持,并与山东大学、山东省科学院、中国科学院工程研究所、中国建筑科学研究院等多家科研院所建立了长期的战略合作关系。山东领创以“诚信为本、引领创新”为宗旨,全面贯彻科学的管理体系,并成为国内为数不多的高精度仪器仪表生产及代理企业之一。公司秉承“专业创造品质、服务传递价值”的经营理念,不断对产品进行完善、创新,最大限度满足客户需求。公司谨遵“接到故障信息1小时内回应,2小时提供解决方案,专业工程师24小时内到达现场”的服务承诺,可随时为客户提供全方位的服务。山东领创测试仪器有限公司愿与社会各界朋友精诚合作,共展宏图!
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  • 我公司前身是济南试验机技术研究所, 始建于1952年,期间引进日本岛津试验机制造所技术研制了国内首台液压万能材料试验机(原始度盘指针式),后来又跟德国都利(DoLi)控制器公司及日本岛津、德国紫薇克(ZWICK )公司合作研制了国内首台微机控制电子万能试验机。公司总部位于济南市槐荫区装备制造业基地新沙工业园区内,我公司不仅是济南市政府重点扶持的百家中小企业之一,而且是山东省科技厅批准认定的高新技术企业,同时还被中国仪器仪表行业协会首批授予了“国家仪器仪表行业的500强企业”的荣誉称号。公司被评为济南市高新技术企业,并通过了ISO9001:2000质量管理体系认证。是国内专业研制,开发,生产精密测试仪器的专业骨干企业。广泛满足国防军工;商品检验;质量监督;科研机构;大专院校;钢铁冶金;造船;车辆制造;航空航天;建工建材;石油化工;企事业单位在材料试验,结构试验和成品试验方面的要求,满足各类用户对不同产品的试验要求,可根据GB JIS ASTM DIN ISO等标准定做,使试验更准确,快捷和安全。公司主营:电子拉力试验机;微机控制电子万能试验机;人造板电子万能试验机;环刚度电子万能试验机;扭矩测试仪;汽车摩托车拉索效率试验台;汽车摩托车拉索寿命试验台;微机处理液压万能试验机;微机控制电液伺服液压万能试验机;摩擦磨损试验机;微机控制松弛试验机;扭转试验机;全系列冲击试验机;压力试验机;弹簧试验机;硬度计;电液伺服动静万能试验机;脉动疲劳试验机;塑料型材,管材,门窗检测设备;工艺试验机:杯突试验机;钢筋弯曲试验机;高温蠕变试验机;微机控制胀环试验机;端面淬火试验台;动平衡试验机等十多个系列300多种产品,现有客户3000多家公司网址:http://www.jnhuike.com联系人;孙晶晶 15552550637
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  • 金坛市品杰测试仪器有限公司,主要从事气候环境与可靠性试验设备的科研、生产、销售和服务。公司产品是江苏省星火科技扶持项目,公司地址为位于国家科技产业区-著名数学家华罗庚的故乡:江苏省金坛市金城镇工业园区。距常州火车站以及南京禄口机场约一个小时车程,地理位置极其优越便捷。公司本着以“品质为企业的使命”、“服务是友谊的延续”的目标,为客户提供全方位,高品质的测试用试验设备。 公司主导产品有:高低温(交变)试验箱、高低温湿热(交变)试验箱(也称可程式恒温恒湿试验箱)、盐雾腐蚀试验箱(盐水喷雾试验机)、二氧化硫腐蚀试验箱,霉菌试验箱,温度冲击试验箱,防尘、防水(IP外壳防护等级测试设备),光老化(紫外光耐气候,氙灯耐气候),温度老化试验箱等模拟气候类环境试验设备以及各类步入式试验室,产品广泛应用在军工、航空航天、电工电子、仪器仪表、家用电器、汽摩配件、科研质检等各类领域。 公司拥有先进的生产设备及工艺,如数控冲床、折弯机、剪板机、二氧化碳气体保护焊等设备,令生产出的产品工艺更加精湛,公司外购件均采用国内、外知名品牌,如美国Honeywell,韩国三元,法国TE等,制冷压缩机采用法国泰康,德国谷轮等品牌。公司也自行开发专用试验箱控制器,在设计中融入了计算机技术,采用大面积彩色触摸屏的人机交谈方式,发挥了设备更好的性能以及方便了用户对设备的操作。 “客户满意”是公司永远的追求,公司承袭“以诚为本”的经营宗旨,奉行“质量是企业的生命”为用户提供有效可靠的最佳产品解决方案和售后跟踪“保姆式”服务,公司在2008年已经通过ISO9001:2000质量体系认证,真正做到售前指导、售中培训、售后跟踪的完善体系。
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介电损耗测试仪相关的仪器

  • 产品介绍:DZ5001介质损耗测试仪是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器,采用高频谐振法,测量准确度高,大电容显示,具有操作简单,液晶显示,测试精度高等优势。测试范围:DZ5001介质损耗测试仪可以测各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等绝缘材料,同时广泛用于电子、电力、材料科学等行业中,为产品设计和性能优化提供数据支持。性能优势:仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置,直接读值。技术参数:信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字采样精度12BIT 高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围4位有效数,分辨率0.1nH :1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型,精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF~25nF调谐电容误差±1 pF或1%分辨率0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct,Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有
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  • QS-37介电常数介质损耗测试仪保证绝缘油在规定时间内到达所需温度,并能恒定较长时间,以便通过高压电桥对绝缘油进行介质损耗因素(tgδ)、相对介电常数(er)进行精密测量。本产品温度显示采用内外温同时显示,加热控制采用两片单片机分别对内、外加热器进行加热控制。QS-37介电常数介质损耗测试仪高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能以短路方式高速切断输出。低压保护:误接380V、电源波动或突然断电,启动保护,不会引起过电压。接地保护:仪器接地不良使外壳带危险电压时,启动接地保护。C V T:高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限,不会损坏设备;误选菜单不会输出激磁电压。CVT测量时无10kV高压输出。防误操作:两级电源开关;电压、电流实时监示;多次按键确认;接线端子高/低压分明;缓速升压,可迅速降压,声光报警。防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。抗震性能:仪器采用独特抗震设计,可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。高压电缆:为耐高压绝缘导线,可拖地使用。QS-37介电常数介质损耗测试仪介损和电容量测量准确度: Cx:±(读数×1%+1pF) tgδ: ±(读数×1%+0.00040)抗干扰指标:变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度电容量范围: 内施高压: 3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV 外施高压:3pF~1.0μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV分辨率:最高0.001pF,4位有效数字tgδ范围: 不限,分辨率0.001%,电容、电感、电阻三种试品自动识别。试验电流范围:10μA~5A内施高压: 设定电压范围:0.5~10kV最大输出电流:200mA升降压方式:连续平滑调节电压精度:±(1.5%×读数+10V)电压分辨率:1V试验频率: 45~65Hz整数频率 49/51Hz、45/55Hz自动双变频频率精度:±0.01Hz外施高压: 正接线时最大试验电流1A / 40~70Hz反接线时最大试验电流10kV / 1A / 40~70HzCVT自激法低压输出:输出电压3~50V,输出电流3~30A测量时间: 约30s,与测量方式有关QS-37介电常数介质损耗测试仪输入电源: 180V~270VAC,50Hz/60Hz±1%,市电或发电机供电计算机接口: 标准RS232接口打印机:自带微型热敏打印机环境温度: -10℃~50℃相对湿度: 90%,不结露QS-37介电常数介质损耗测试仪抗干扰异频介损测试仪,适用于测试各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度测试仪器。一体化结构,内置介损测试电桥,可变频调压电源,升压变压器和SF6高稳定度标准电容器。执行标准:DL/T 962-2005,DL/T 474.3-2018采用了变频技术、消除强电场干扰、保证准确测量仪器能够分别使用内高压、内标准、正接法、反接法、自激法等多种方式测试。操作简单,超大全触摸操作界面,轻轻点击一下就能完成整个过程的测量。
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  • 片型材料介电常数介质损耗测量仪(自动介损测试仪)-ZJD-C一、产品概述:片型材料介电常数介质损耗测量仪(自动介损测试仪)-ZJD-C采用数字液晶显示,是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器,测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低值,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果,免去人工计算的繁琐。片型材料介电常数介质损耗测量仪(自动介损测试仪)-ZJD-C经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线,北京中航时代检测仪器是代替进口设备的北京中航时代仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性:DDS数字合成信号:50KHz-160MHz;信号源频率覆盖比:1600:1;信号源频率精度:6位有效数3×10-5 ±1个字;Q测量范围/Q分辨率:1-1000自动/手动量程;4位有效数,分辨率0.1;Q测量工作误差:5%;电感测量范围/分辨率:1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH;电感测量误差:5%;调谐电容:主电容17-240pF;电容直接测量范围:1pF~25nF;调谐电容误差/分辨率:±1pF或1% / 0.1pF;谐振点搜索:自动扫描;Q合格预置范围:5-1000声光提示;Q量程切换:自动/手动;LCD显示参数:F,L,C,Q,Lt,Ct波段等;新增功能:自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能;新增功能:大电容值直接测量显示功能,测量值可达25nF;消耗功率:约25W;净重:约7kg;外型尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280。二、符合标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法;GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法;GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法; 三、产品特点:1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京中航时代检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能:电感测试时,仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值(特别是小电感值)测量时的精度。此技术只有北京中航时代仪器生产的Q表有。9、新增功能:大电容值直接测量显示功能,电容值直接测量值可达25nF(配100uH电感时)。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京中航时代检测仪器生产的Q表有。四、工作环境:1、环境温度:0℃~+40℃;2、相对湿度:80%;3、电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。五、配置清单:主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位:可以用于科研机关,学校,例如一些科研院所,大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试;北京中航时代检测仪器同时也适用于工厂或单位,例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究,另外在电力、电工、化工等领域,如:电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤:1、按照Q表的操作规程调整仪器,选定测量频率,测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中,并调节电容器C,使电路谐振,达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出,调节C或测试电极的距离,使电路重新谐振,记下C、或测试电极的校正电容值与Q值,北京中航时代检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作,北京中航时代检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件:1、试样表面应清洁、平滑,无裂纹、气泡和杂质等,试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时,可按其产品标准规定的进行。九、测试意义:1、介电常数——北京中航时代检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用,即(1)用于固定电学网络部件,同时让其彼此以及与地面绝缘;(2)用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中,通常要求固定的电容尽可能小,同时具有可接受且一致的机械,化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中,要求电容率具有一个高值,以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力,以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合(作为电学绝缘材料和作为电容器电介质),交流损耗通常必须是比较小的,以减小材料的加热,同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合,特别要求损耗指数具有一个低值,因为对于某一给定的损耗指数,电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中,例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质,通常电导增加可获得损耗增大,这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时,这可能有助于考虑耗散因子,功率因子,相位角或损耗角。3、相关性——北京中航时代检测仪器当获得适当的相关性数据时,耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征,例如电介质击穿,湿分含量,固化程度和任何原因导致的破坏。然而,由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子,除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的,耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户:沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品:ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机
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介电损耗测试仪相关的资讯

  • 浅析高分辨率光学链路诊断仪(OCI)测试大插损光纤链路损耗
    武汉东隆科技有限公司自研的高分辨率光学链路诊断仪(OCI)是基于光频域反射技术(OFDR),单次测量可实现从器件到链路的全范围诊断,并且能轻松测试出光纤链路损耗情况。据了解,光频域反射技术(OFDR)测试插损方式是依据事件点两侧瑞利散射信号幅值差异,其高分辨率特性可以定位到厘米级损耗点。通常高分辨率光学链路诊断仪(OCI)插损测量动态范围为18dB,反射式测量方式动态范围为9dB。当待测链路中累积损耗超出9dB时,超出部分瑞利散射信号会被设备底噪淹没,给测试带来误差。针对上诉情况,本文借助光纤环形器测试出大插损光链路单向累积损耗。首先,测试样品为可调光衰减器,借助环形器测试大插损装置如图1,将光纤环行器2端口接到OCI设备DUT口上,1端口和3端口分别与可调衰减器进出口连接。OCI设备输出光从环形器2端口进入,3端口输出,经过待测样品后进入端口1,最后从端口2返回OCI仪器。图1.借助环形器测试大插损装置示意图OCI测试整个光链路结果如图2,距离-回损曲线在2.95719m位置出现最大回损峰值,对应整个光传输链路。由于OCI仪器默认显示为反射式测量,而本链路中借助环形器是透射式测量,所以实际链路长度为显示距离的两倍5.91438m。同时,该位置积分回损为-25.69dB,是环形器和可调光衰减器单向累积损耗总和。图2.OCI测试环形器连接可调光衰减器结果图第二,使用OCI单独测试光纤环形器,损耗测试装置如图3。图3.环形器损耗测试装置示意图图4.OCI测试环形器结果图测试结果如图4,从图中可以看出距离-回损曲线在1.86088m位置出现最大回损峰值(实际光纤环形器光链路长度为3.72176m),回损为-2.55dB,是环形器单向累积损耗总和。可调光衰减器插损为23.14dB (=25.69dB -2.55dB)。第三,使用功率计测试可调光衰减器插耗,测试装置如图5,测得可调光衰减器插耗为23.33dB,OFDR测量结果与功率计测量结果仅相差0.19dB。图5.功率计测试可调光衰减器损耗装置示意图改变可调光衰减器插损,按照上诉方法分别用OCI和功率计测试可调光衰减器插损值,下表为10次测量可调光衰减器插损值对比表。从对比表可以看出OCI和功率计测试可调光衰减器插损对比误差不超过0.3dB,且OCI测试值均比功率计测试值大,这是由于功率计测试链路时,比OCI测试链路多一个FC法兰。因此,借助光纤环形器,高分辨率光学链路诊断仪(OCI)可以透射式测量大插损链路总体损耗,测试结果和功率计测试结果对比准确。不同于OCI反射式测量光纤链路分布式损耗,OCI透射式测量光链路损耗是测试整个光纤链路的累积损耗总和。OCI透射式测量插损准确性依赖OCI测试回损(RL)的动态范围,动态范围高达60dB以上时,可实现超出动态范围的大插损光链路损耗测量,进一步扩展OFDR设备使用场景。
  • 国际光纤微弯损耗测试标准明年有望出台
    在近期举办的“国际光纤微弯损耗测试方法研讨会”上,帝斯曼光纤材料研发总监史蒂夫施密德向记者透露,帝斯曼在2009年提交了光纤微弯损耗测试方法和标准的立项工作,有望在2011年出台初步的测试标准。   随着光纤网络的不断发展,光纤微弯耗损已变得不容忽视。光缆的损耗,是导致网络故障发生的主要原因,网络故障很大程度上提升了运营商网络成本。   Telcordia公司的首席顾问奥斯曼盖比兹利奥卢博士在会上表示,中国通信业经过这么多年的发展,越来越多的光纤网故障证明了由于微弯和其他材料造成的损耗,对整个网络造成非常严重的损失。因此,在采购过程中必须建立一个光纤微弯测试标准,以此来保证所用光纤的性能。   据史蒂夫施密德透露,帝斯曼一直致力于光纤微弯标准制定,在北美,光纤微弯测试标准已提交TIA组织,目前在搜集及提交相关的数据 在欧洲,帝斯曼重新启动了微弯标准测试方法的探讨工作,工作有望与北美地区同步进行 而目前在国内,帝斯曼在2009年已向通信标准化协会提交了相应的测试方法和标准的立项工作,在2011年有望出台初步的测试标准。   另外,据帝斯曼迪索亚太区销售总监、总经理林为斌透露,目前帝斯曼在全球涂料市场的占有率已经达到了80%,抗微弯涂料的市场占有率目前也在50%以上。
  • 极低损耗研究嫦娥五号月壤样品
    如何尽可能降低损耗,测试嫦娥五号月壤样品的粒度和矿物组成?7月4日,记者从中国地质大学(武汉)获悉,该校佘振兵、汪在聪教授科研团队在月壤研究中取得了新进展:该团队开发了一种样品消耗极低的新技术,可同时测定月壤的粒度和矿物组成,对于解释月球深空探测轨道遥感光谱数据、理解月球岩浆活动和空间风化过程具有重要意义。《中国科学:地球科学》杂志中英文版同时在线发表该研究成果,第一作者为该校地球科学学院博士生曹克楠,佘振兵教授为通讯作者,汪在聪教授等为合作作者。去年7月,该校地球科学学院教授汪在聪领衔的团队申请到嫦娥五号首批月球样品,共200毫克。汪在聪介绍,“这批样品非常珍贵,我们获取的样品极为有限,可允许的损耗量仅为50毫克,要出更多研究成果,需要我们尽可能降低损耗。”自1970年代以来, 科学家开始使用各种手段来研究月壤样品,但前人所采用的方法通常需要消耗较多样品,并且难以同时获得矿物组成和粒度、形貌等多方面的信息。该研究团队基于拉曼光谱微颗粒分析技术,开发了以极低的样品损耗量,同时测定颗粒样品粒度和矿物组成的新方法,并成功运用到嫦娥五号月壤样品的研究,这一研究技术在月壤研究中的应用在世界上尚属首次,以往的技术通常只能开展粒度或矿物组成其中一项研究。该研究每次仅需约30微克样品,在获取多维度信息的同时,将样品损耗降到最低,并且样品制备简单,极大地降低了该流程可能带来的样品污染问题。另外,该方法可在短时间内快速建立一个矿物粒度和组成的多元化信息数据库,有助于发现稀有矿物相。该方法的进一步发展,将为未来火星和小行星等其他天体返回的微颗粒样品,进行快速分析提供关键技术支撑。该研究发现嫦娥五号月壤样品平均粒度为3.5微米,且呈单峰式分布,表明其具有较高成熟度,即受到的太空风化强烈。“矿物粒度是指颗粒的直径,最细的面粉平均粒度超过100微米,嫦娥五号月壤样品比面粉还细几十倍”,汪在聪表示,月壤粒度的测定对于研究太空风化过程具有重要作用。此外,研究团队还建成了一个月壤矿物的光谱数据库,并用它所分析的颗粒进行自动识别,获得每一种矿物相的粒度和体积等信息,计算得出不同粒径下矿物的模式丰度。研究人员发现在1-45微米粒度范围内的矿物组成为:辉石、斜长石、橄榄石、铁钛氧化物、玻璃等。该研究还识别出月壤中的一些微量矿物相,例如磷灰石、石英、方石英和斜方辉石等,其中斜方辉石的发现为首次报道,这表明嫦娥五号月壤中可能含有极少量的月球高地物质。上述成果为解译嫦娥五号着陆区的风暴洋北部地区光谱遥感数据,提供了地面实况信息,并为理解该区域深部和表面演化历史提供了新视角。该研究使用的样品由中国国家航天局提供,分析测试由地大生物地质与环境地质国家重点实验室完成,研究得到了国家航天局民用航天技术预研究项目、国家自然科学基金和生物地质与环境地质国家重点实验室的支持。

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  • 【转帖】介质损耗测试仪的特点六则

    介质损耗测试仪突破了传统的测量方式,是一种新颖的测量介质损耗角正切(tanδ)和电容值(Cx)的自动化仪表。它采用单片机和现代化电子技术进行自动数据采集、模/数转换和数据运算。不仅操作简便、测试速度快而且精度高。  介质损耗测试仪的主要特点如下:  1.介质损耗测试仪的内部使用的是45HZ/55HZ异频电源,从根本上解决了现场抗干扰的难题,提高了精确度。  2.测试仪的内部附有高精密SF6标准电容,该电容tgδ不随温度、湿度等变化。  3.介质损耗测试仪有大屏幕(240×128)菜单式操作,全新中文界面,使用非常方便。  4.全电子调压,输出电压连续可调。  5.多重保护,介质损耗测试仪能在高压短路、激穿、过压、过流及电压波动下快速切断高压。  6.含有特殊的自激法测量全密封的CVT,可直接测试C1、C2的介质损耗。

  • 塑胶电介电常数和损耗正切值 测试仪器

    推荐个仪器吧测试条件:塑胶电参数(1GHz下)介电常数为2.92+/-0.1,损耗正切值0.007。下壳密封壳体部分的塑胶电参数(1G/2G/3G下)介电常数为3.05+/-0.1/3.17+/-0.1/3.25+/-0.1,损耗正切值0.0048/0.005/0.0057

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    LTS1500 光损耗测试仪光纤通讯 Loss Test Set-LTSThe FTE-4000 TTI Hand Held Variable Optical Attenuator is available in two models, with 40 dB attenuation level or 80 dB attenuation level to meet single mode testing requirements. Like the rest of the FTE line, the VOA has an onboard help feature. The FTE-4000 has a built in output power monitor to assist in setting the appropriate attenuation levels and a sweep mode which can scan the attenuation across desired levels. It is rugged with a splash proof housing with a highly protective boot. The FTE-4000 can assist in the testing of system budget compliance, balancing transmitter power and adjusting receiver attenuation settings.Features? Integrated Power Meter? Up to 80 dB Attenuation? Typical Insertion Loss 2dB (40dB Model)? Remotely Program Sweep Settings? Adjustable step sizes? USB PC Interface w/Remote Operation? Absolute/Relative Attenuation Settings? Calibrated at 1310/1550? Sealed Rugged Case? Lowest Cost Hand Held VOA? 4” Color DisplayOrdering InformationFTE-4000-4040 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000-8080 dB Variable Optical AttenuatorFTE-4000 SpecificationsAttenuation RangeFTE-4000-4 2 to 40dBFTE-4000-8 4 to 80dBWavelength Range1310, 1550 nmResolution.01 dBUncertainty+/- 0.5 dBRepeatability+/- 0.1 dBInsertion Loss2 dBReturn Loss50 dBMax Input Power27 dBmGraphical Display4 in Color TFTDimensions7.75 x 4.5 x 2.25 inchesWeight2 lbsBatteryRechargeable NiMH - 6 hours operating timePower100-240 universal US, GB, EU, AU MainsEnvironmental Operation-10°C to + 40°CAccessories IncludedUniversal power supply. FC and SC adaptors,CertSof VI Software, USB Cable and Manual
  • 微泄漏无损密封测试仪MLT-V100(T)
    微泄漏无损密封测试仪MLT-V100(T)产品介绍:MLT系列微泄漏无损密封测试仪依据《ASTM F2338-2013 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 标准研发。专业适用于各种空的/预充式 注射器、水针及粉针瓶(玻璃/塑料)、灌装压盖瓶、奶粉罐、其他硬质包装容器、电器元件等试样的无损正、负压的微泄漏测试。本产品采用先 进的设计和严谨、科学的计算方法保证了其快速测试和高准确度及高稳定性。亦可满足用户的非标准(软件或测试夹具)定制。执行标准:《ASTM F2338-13 包装泄漏的标准检测方法-真空衰减法》 《USP1207美国药典标准 》 《药品GMP指南——无菌药品》11.1密封完整性测试 《中国药典》2020年版四部 微生物检查法 《化学药品注射剂包装系统密封性研究技术指南(试行)》《YYT 0681.18-2020 无菌医疗器械包装试验方法第18部分:用真空衰减法无损检验包装泄漏》技术优势:● 内置10吋触摸屏电脑 与外置电脑可选; ● 单样检测过程用时在15S内(管路、腔体的抽真空,保压和样品测试时间); ● 可精确显示泄漏孔径(≥1μm)及泄漏量 ; ● 测试腔与主机为分体布局,一套测试腔适用5种以上规格试样; ● 测试腔为铝合金或不锈钢制造,气动夹持; ● 内置流量计,一键完成流量校准; ● 具备零点、漏孔、流量3种校准方式; ● 测试结果具备压力衰减、泄漏孔径、泄漏流量三种判断模式 ● 测试结果流量误差≤0.1sccm ● 真空分辨率≤1pa/0.01mbar/0.0001psi ● 具备(kpa/mbar/pa/psi)等测试单位转换 ● 可检测西林瓶,输液袋,隐形眼镜、奶粉罐,电子配件等各种软、硬试样的正负压力衰减测试; 微泄漏无损密封测试仪MLT-V100(T) 微泄漏无损密封测试仪MLT-V100(T)
  • TDR阻抗测试仪探头特性阻抗测试仪探头BT-D100
    1.信号稳定,测试误差小。2.可适用高带宽阻抗测试仪阻抗条测试,损耗较小。适用于多种阻抗测试仪
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