金属箔片摩定仪

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金属箔片摩定仪相关的厂商

  • 苏州原位芯片科技有限责任公司成立于2015年,由清华大学和中科院微电子专业人士共同创立,并获得国内顶尖VC机构千万级投资。公司专注于新型MEMS芯片与模组的研发、生产和销售。掌握40多项领先MEMS技术,拥有芯片设计、工艺开发、流片生产和测试的全流程自主研发、自主生产能力。 MEMS芯片凭借高精度、低成本、体积小的特点,拥有千亿级的广阔市场空间,公司已推出多款打破国外垄断产品,其中自主研发的氮化硅薄膜窗口产品凭借优异的薄膜洁净度和高强度,获得广大TEM和同步辐射研究人员的高度好评。公司已申请十余项发明、实用新型专利。未来还将推出多款新型MEMS芯片。 公司已与多家研究所、大学、医疗、工业、智能装备等行业的企事业单位建立了良好的合作伙伴关系。凭借国内领先的核心技术,公司成员齐心协力,致力于成为世界领先的生物MEMS技术公司。为更好的世界,提供更好的芯片!
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  • 苏州汶颢芯片科技有限公司是一家留学人员回国创业的高新科技企业,集研发、生产、销售为一体,技术力量雄厚,生产设备先进,检测手段齐全,产品质量过硬。公司建立了完备的微流控芯片研发与生产中心,配置了三条微流控芯片生产线,包括数控CNC微加工仪器,软刻蚀有机芯片加工系统,光刻-掩模无机芯片加工系统,可以加工生产所有材质的芯片,如玻璃、石英、硅、PDMS和PMMA等。产品涵盖集成式通用医疗诊断芯片、集成式通用环境保护分析监测芯片、集成式通用食品安全分析检测芯片和基于微流控芯片的新能源体系四大系列数十个品种,以及各类科研类芯片,并在生物芯片和化学芯片领域一直保持技术和研发的领先地位,拥有81项知识产权,其中:已申请发明**65件、实用新型**7件,注册商标2件,登记软件著作权7件。
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  • 浙江扬清芯片技术有限公司(YoungChip)是一家专注于微流控芯片实验室整体解决方案的企业,技术力量雄厚,生产设备先进,检测手段齐全,产品质量过硬。公司可提供整套微流控芯片生产线, 包括CNC 数控微加工仪器、精密激光加工系统、光刻加工系统、塑料芯片注塑系统和微流控芯片热压键合系统, 可以加工生产所有材质的芯片, 如玻璃、石英、硅、PDMS 和PMMA 等。主营产品包括: ① 微流控芯片的设计、开发与加工服务; ②微流控芯片实验室组建及芯片技术培训; ③ 微流控芯片的耗材、配件及相关设备; ④ 模块化的芯片温度控制系统、流体操控系统和检测系统; ⑤ 基于微流控技术平台的POCT 快速检测系统。产品涵盖医疗生化诊断、环境监测、食品安全分析检测、化学合成等几大应用领域。目前,扬清芯片(YoungChip)已和中科院大连化学物理研究所、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、生物芯片北京国家工程研究中心(博奥生物有限公司)、中国石油勘探开发研究院、浙江省检验检疫局、广东产品质量监督检验研究院、深圳出入境检验检疫局、广州迪澳生物科技有限公司等多家单位建立了长期紧密的项目合作。
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金属箔片摩定仪相关的仪器

  • C0045倾斜式摩擦系数测试仪,此仪器用于测试大多数包装材料的静态摩擦系 数。测试时,样品台以一定速率(1.5°±0.5°/S)升高,当升高到一定角度后,样品台上的滑块开始下滑,此时仪器感应到下滑动作,样品台停止升高,并显示下滑角度,根据此角度可计算出样品的静态摩擦系数。 应用:制作、塑料、薄膜、金属薄片、含涂层的材料 产品特点:高精度电机倾斜角度: 0 – 60°角度精度: 0.1° 参考标准:ASTM D202、TAPPI T815、TAPPI T548 选配件:滑块: 90mm x 100mm, 1300g滑块: 63.1mm x 63.1mm, 200g样品模具(针对塑料): 130 x 140mm样品模具(配合1300g滑块): 93 x 160mm样品模具(配合200g滑块): 66.5 x 100mm 电气连接:220/240 VAC @ 50 HZ or110 VAC @ 60 HZ (可根据客户要求定制) 外形尺寸: H: 130mm W: 260mm D: 210mm 重量: 5kg
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  • 薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪无纺布材料厚度检测仪是一种专业设备,用于精确测量无纺布以及其他薄型材料的厚度。这类仪器设计精密,确保在生产、质量控制和研究中提供准确的厚度数据。以下是基于通用参数和功能的详细介绍:薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪基本参数与特点:测量范围:0~2 mm(标准量程)(0-6mm,0-12mm可选,其它行程可订制)。分辨率:高精度仪器的分辨率可达到1微米(um),确保测量的细微差异也能被捕捉。测量原理:采用接触式测量技术,接触式通常通过压头轻触材料表面。重复性:高质量的检测仪重复性误差小于0.5%,保证每次测量的一致性。显示与操作:配备清晰的LCD显示屏,显示即时测量结果,操作界面简单直观,便于快速读取和操作。兼容标准:设计符合GB/T 3820等国家标准,确保测试结果的标准化和可比性。适用材料:不仅限于无纺布,还适用于薄膜、纸张、金属箔、纺织品等薄型材料。稳定性与耐用性:具有良好的稳定性和耐用性,适合在实验室和生产线上长期使用。数据处理:部分高级型号可能支持数据存储、输出至电脑,便于数据分析和记录管理。校准功能:内置校准机制,确保长期使用的准确性,用户可定期进行校准以维持测量精度。薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪操作流程:准备样品:确保无纺布样品平整无皱。放置样品:将样品置于测量区域,保持稳定。启动测量:按下测量按钮,仪器自动进行厚度读取。读取结果:显示屏上显示即时的厚度数据。记录与分析:根据需要记录数据,进行进一步的质量评估或分析。
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  • MXD-02金属箔片摩擦系数测定仪 材料表面爽滑性试验仪 摩擦系数测量仪适用于测量塑料薄膜和薄片、橡胶、纸张、纸板、编织袋、织物风格、通信电缆光缆用金属材料复合带、输送带、木材、涂层、刹车片、雨刷、鞋材、轮胎等材料滑动时的静摩擦系数和动摩擦系数。通过测量材料的滑爽性,可以控制调节材料生产质量工艺指标,满足产品使用要求。另外还可用于化妆品、滴眼液等日化用品的滑爽性能测定。技术特征:一次试验便可同时测定试样的动、静摩擦系数试验速度可设、可调;支持任意滑块质量该仪器满足GB、ISO、ASTM多种测试标准,测试方法可按客户需求任意选择仪器试验台面和测试滑块均经过消磁处理和剩磁检测,有效地降低了系统测试误差设备由微电脑控制,搭配菜单式操作界面,PVC控制面板和液晶显示屏,方便用户进行试验操作及数据查看系统配件均采用世界知名进口元器件,性能稳定可靠专业软件可以自动进行单件、成组试验的结果统计分析和原始数据再分析、成组曲线叠加比较,以及多种报告模式直观快速地将测试结果展示给客户配备微型打印机和标准的RS232接口,方便系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告执行标准:ISO 8295、GB 10006、ASTM D1894、TAPPI T816MXD-02金属箔片摩擦系数测定仪 材料表面爽滑性试验仪 摩擦系数测量仪技术指标:负荷范围:0~5 N精度:0.5级 行程:70 mm、150 mm 滑块质量:200g (标准);注:其他质量滑块可定制试验速度:100 mm/min、150 mm/min;注:其他速度可调环境要求:温度:23±2℃;湿度:20%RH~70%RH 电源:220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸:630mm(L)×360mm(W)×230mm(H) 净重:33kg仪器配置:标准配置:主机、微型打印机、200g滑块选购件:专业软件、通信电缆、500g非标滑块
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金属箔片摩定仪相关的资讯

  • 2025《中国药典》4003 公示稿 药典金属箔片耐破度测定仪解读
    2025《中国药典》4003 公示稿 药典金属箔片耐破度测定仪解读2024年4月,国家药典委发布了“4055金属耐破度测定法”,此标准预计将在2025版中国药典的药包材部分得到体现。金属耐破度在2015版药包材标准中并未单独列出,仅在YBB00152002-2015药用铝箔标准中提及,“破裂强度取40mm*40mm铝箔片,分别置破裂强度测定仪上测定,均不得低于98KPa”,但未给出具体测试装置要求和过程。为了完善药典中药包材标准体系,国家药典委委托山东医疗器械所,参考GB/T 3198-2020《铝及铝合金箔》、GB/T 454-2020《纸耐破度的测定》、ISO2758:2014《Paper—Determination of bursting strength》等相关标准,制定了一套较为完善的金属耐破度测定方法。产品介绍:三泉中石作为药品包装金属检测仪器的行业供应商,紧跟国家标准的要求,参与了部分国家药包材标准的制定工作。公司研发的全自动耐破强度测试仪,是铝箔物理强度性能检测的基本仪器,广泛应用于药包材生产厂家、制药企业、药检中心等单位。测试原理:全自动耐破强度测试仪的测试原理是将试样装夹在破裂强度仪两个夹头之间的弹性胶膜上,上下夹头紧紧夹住试样周边,使试样与胶膜一起自由凸起。随着液压流体以稳定速率泵入,胶膜凸起直至试样破裂,此时所施加的最大压力即为铝箔的耐破强度。仪器装置:耐破度测试仪包括夹持系统、胶膜、液压系统和压力测量系统等。夹持系统上下两夹盘应是两个彼此平行的环形平面,其环面应平整并带有沟纹。夹盘表面应平整且彼此平行,能够提供1200kPa的夹持压力,且具有可重复性。液压系统的工作原理是由马达驱动活塞挤压适宜的液体,产生持续增加的液压压力直至试样破裂。压力测量系统精度应相当于或高于±10kPa或示值的±3%。且标准规定耐破度测定仪应符合 GB/T454-2020《纸 耐破度的测定》中仪器装置的要求,上夹盘测试孔直径应为 30.5mm±0.1mm,下夹盘孔径为3.1mm±0.1mm。液压系统的泵送量应为(95±5)mL/min。全自动耐破强度测试仪,则按照标准要求采用自动夹样的方式,将铝箔夹持在上下夹盘中间。自带的液压系统将液压油输送至弹性胶膜,从而将试样顶破,测试得出耐破度值。整个过程一键化完成,自动冲压测试并打印结果,减少了人为影响。测定法:试样面积必须大于耐破度测定仪的夹盘尺寸(不小于70mm×70mm),试样不得有折痕、皱纹、可见裂痕或其他明显损伤。升起上夹盘,将试样平整放置于下夹盘且应覆盖整个夹盘面积,使试样黏合层作为测试面与弹性胶膜相接触。调整夹持系统,夹持压力应能够有效防止试样在试验过程中发生滑动,但不应超过1200kPa。开启耐破度测试仪施加液压压力直至试样破裂,读取所施加的最大压力值即为试样的耐破度。需要注意的问题是:与YBB00152002-2015药用铝箔标准要求不同,4055 金属耐破度测定法取样为70mm*70mm。而且三泉中石发现其起草说明中也提到“由于铝箔的耐破度和材料力学性能不同于纸张,因此在测量面积周边处断裂的试样测试数据仍作保留”。这一点在以前的测试中可能就作为无效结果处理。结果表示:耐破度结果以试样破裂时的最大压力值表示,单位以kPa表示。以上文章由济南三泉中石实验仪器有限公司提供
  • 顶刊速递,北航研究团队制备并表征高性能MXene纳米片薄膜!
    【科学背景】随着纳米科技的迅猛发展,二维纳米材料作为一类重要的新兴材料,因其独特的电子、光学和机械性能,引起了广泛的关注。其中,钛碳化物(Ti3C2Tx)MXene纳米片由于其优异的机械性能和电导率,显示出在航空航天和电子器件等领域的巨大应用潜力。然而,将MXene纳米片从单层的优异性能扩展到宏观尺度的应用中却面临着诸多挑战。目前报道的组装方法如真空过滤、刮刀涂布和空间限制蒸发等,虽然在一定程度上可以制备MXene薄膜,但仍然存在诸如取向度不高、孔隙率较大以及界面相互作用弱等问题。例如,通过真空过滤制备的MXene薄膜取向度仅为0.64,其机械性能显著低于单层MXene的理论值。有鉴于此,北京航空航天大学的程群峰教授团队在“Science”期刊上发表了题为“Ultrastrong MXene film induced by sequential bridging with liquid metal”的研究论文。一种新的制备策略——利用液态金属(LM)和细菌纤维素(BC)依次桥接MXene纳米片,被提出并成功实施。这种方法不仅通过LM纳米粒子有效减少了MXene薄膜的孔隙,还通过BC提供的氢键和LM提供的配位键显著增强了MXene纳米片之间的界面相互作用。研究结果表明,这种LBM薄膜不仅具有极高的拉伸强度,还表现出优异的电磁屏蔽效率,为MXene纳米片在宏观尺度应用中的进一步开发提供了新的思路和方法。【科学图文】图1:LBM薄膜的制备原理及表征。图2. LBM薄膜的界面相互作用表征。图3. LBM薄膜的力学性能和断裂机理。图4. 电磁干扰屏蔽效能的表现。【科学结论】本文克服钛碳化物(Ti3C2Tx)MXene纳米片组装过程中的关键挑战,提出了一种创新的策略,即利用液态金属(LM)和细菌纤维素(BC)依次桥接MXene纳米片,成功制备了超强的宏观LBM薄膜。通过LM纳米粒子的引入,有效减少了薄膜的空隙,同时利用BC提供的氢键和LM提供的配位键显著增强了MXene纳米片之间的界面相互作用。这些改进不仅显著提高了MXene纳米片在薄膜中的应力传递效率,还赋予了LBM薄膜优异的电磁屏蔽性能。这一研究不仅为MXene纳米片及其他二维纳米材料在高性能材料领域的应用提供了新的设计思路和解决方案,还展示了多层次、多材料协同作用的重要性和潜力。未来的研究可以进一步探索和优化这种组装策略,以扩展其在能源存储、传感器技术和柔性电子设备等领域的应用,从而推动纳米材料设计和制备技术的发展,实现更广泛的实际应用和产业化转化。文献信息:https://www.science.org/doi/10.1126/science.ado4257
  • 一探前沿|环境研究顶ji期刊,哪些技术备受青睐?重金属分析篇(下)
    一探前沿|环境研究顶ji期刊,哪些技术备受青睐?重金属分析篇(下)关注我们,更多干货和惊喜好礼上一期,我们介绍了环境研究中元素形态变化、环境治理中的营养元素,有毒有害元素的变化等多个重金属分析方向的进展与前沿技术,本期我们同样以环境研究类顶ji期刊Environmental Science & Technology近3年的文章为例,一探环境研究重点方向之一:颗粒物研究。其中,纳米颗粒(Nanoparticle)和微米大气颗粒物(PM)又为两大热点。Nanoparticle随着纳米科技的快速发展以及纳米产品的大量普及,纳米颗粒的环境行为、生态毒性、与人类健康的关系等都逐渐成为国内外研究学者关注的焦点之一。1 创新技术,突破环境中nanoparticle 分析极限【前沿方向:水质】【前沿方向:nanoparticle】【创新技术:ICP-OES / HR-ICPMS】前沿概览分析技术的局限性导致测量到的纳米颗粒(NPs)浓度比环境中预期NPs浓度高几个数量级。为了突破该局限性,来自法国的研究团队提出了将非传统的稳定同位素示踪与HRICP-MS结合的方法,进行NP分析,并在量子点条件下对该方法进行了评价:通过合成多同位素标记的111Cd77Se/68ZnS量子点,并以极低的浓度(0.1至5000 ppt)模拟了它们在天然地表水基质(河流,河口和海水)中的迁移。其结果验证了不同浓度下稳定同位素标记的ENPs在大多数地表水环境中的行为和毒性。22 ICP-MS 助力探索纳米硫化锌在有机固废中的变化【前沿方向:固废】【前沿方向:nanoparticle】【创新技术:ICP-MS】前沿概览锌(Zn)是一种潜在的有毒微量元素,以化肥形式广泛存在于农用地的有机废弃物(OWs)中。OW中锌的形态是了解其在土壤中迁移转化、评估OW农业循环相关风险的关键参数。法国研究团队研究了OW处理对Zn形态的影响,以及在厌氧条件下OW中形成的纳米ZnS的化学不稳定性。3 ICP-OES 助力纳米零价铁颗粒吸附研究【前沿方向:nanoparticle】【创新技术:ICP-OES】前沿概览在厌氧条件下,研究者对全氟烷基酸(PFAAs),特别是全氟辛烷磺酸(PFOS)在新合成的纳米级零价铁(nZVI)以及老化(氧化)的nZVI的吸附进行了研究。结果表明,nZVI的注入可以降低地下水中PFAA的浓度,其表面化学随老化而变化。4 ICP-OES,助力零价铁纳米颗粒转化机制研究【前沿方向:nanoparticle】【创新技术:ICP-OES】前沿概览研究人员探究了在水培和土壤条件下,黄瓜中的纳米级零价铁(nZVI)的转化。数据结果为黄瓜中两个潜在的nZVI转化机制奠定了研究基础:(1)与低分子量有机酸配体的相互作用以及(2)矿物质的溶解-沉淀。5 ICPMS-探索大气PM与健康潜在关系【前沿方向:大气】【前沿方向:环境与健康】【关键技术:ICPMS】前沿概览颗粒物(PM)的源解析研究将化学成分与排放源联系起来,而健康风险分析则将健康结果与化学成分联系起来。然而将排放源与环境测量中的健康风险联系起来的研究很少。研究者对微粒痕量元素进行了深入研究。在北京冬季测量PM2.5中的元素,严重污染天的14种微量元素的总含量比低污染天高1.3-7.3倍。Fe,Zn和Pb是最丰富的元素,与PM污染水平无关。Pb,Mn,Cd,As,Sr,Co,V,Cu和Ni主要以生物可利用形态存在。微粒痕量元素的来源可以分为粉尘,燃油燃烧,燃煤和交通相关排放等因素。在低污染天,与交通有关的排放占被测元素总质量的65%。但是,在严重污染天中,煤炭燃烧占主导地位(58%)。通过结合特定元素的健康风险分析的研究发现,与交通有关的排放在低污染天主要是由微粒痕量元素引起的健康风险,而在中度和重度污染天燃煤同样重要,甚至更为重要。总结赛默飞成熟的Nanoparticle分析软件、超高的分析灵敏度和分辨率,以及从光谱到四极杆质谱再到磁质谱,全线无机产品全面支持Nanoparticle环境研究不断深入。IC-ICPMS/IC-ICPMSMS“码”上下载填写表单即刻获取【赛默飞iCAP PRO系列电感耦合等离子体发射光谱仪手册】延伸阅读● 一探前沿|环境研究顶ji期刊,哪些技术备受青睐?重金属分析篇(上)► 点击阅读参考文献:1. Environ. Sci. Technol. 2019, 53, 5, 2586–25942. Environ. Sci. Technol. 2018, 52, 22, 12987–129963. Environ. Sci. Technol. 2018, 52, 11, 6300–63084. Environ. Sci. Technol. 2018, 52, 17, 10057–100665. Environ. Sci. Technol. 2018, 52, 19, 10967–10974如需合作转载本文,请文末留言。扫描下方二维码即可获取赛默飞全行业解决方案,或关注“赛默飞色谱与质谱中国”公众号,了解更多资讯+了解更多的产品及应用资讯,可至赛默飞色谱与质谱展台。https://www.instrument.com.cn/netshow/sh100244/

金属箔片摩定仪相关的方案

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  • 【原创】塑料薄膜和金属箔材料对试验机的需求

    塑料薄膜和金属箔材料对试验机的需求:A.金属箔分:铜箔、铝箔、金箔等,变形量不是很大,一般在10%—60%左右,负荷较小,拉伸行程不需要太大。可以选择200N以内的试验机;B.塑料薄膜:延伸率比较大,有的超过800%以上,要求行程不能太短,力值一般在2kN以内;C.塑料薄膜需要做拉伸和剥离试验;D.塑料薄膜、箔材料的试验标距(直条状)一般为100mm;E.塑料薄膜、箔材料在做拉伸试验时如果测试量大最好选用气动拉伸夹具,用手动夹具操作很不方便,效率低,而且标距不好控制;F.塑料薄膜、箔材料在做拉伸试验的试样为直条状时,测量延伸率一般用位移法来测量。有些塑料薄膜按照GB标准制成哑铃状时,测量延伸率只能选用非接触式测量装置(如红外线测试、激光测试、数码成像等等);G.薄膜、箔材料在制取试样样条时需要有专用的裁刀。H.薄膜的常用试验标准:GB13022-91(薄膜拉伸试验)GB/T13541-92(塑料薄膜试验方法)QB/T2358(塑料薄膜包装袋热合强度试验方法)ZBY28004-86(塑料薄膜包装袋热合强度测定方法)GB/T16276-1996(塑料薄膜粘连性试验方法)GB/T16578-1996(塑料薄膜和薄片耐撕裂性能试验方法)

  • 【原创】薄膜片材透湿仪

    【原创】薄膜片材透湿仪

    透气仪透气性测试仪产品概述适用于塑料薄膜、复合膜、高阻隔材料、片材、金属箔片、橡胶等材料的O2、CO2、N2及空气等多种气体透过率的检测。利用压差法的原理设计,将预先处理好的试样放置在上下测试腔之间,下腔抽真空,这样气体会在压差梯度的作用下,由高压侧向低压侧渗透。精确测量通过低压侧的压力变化,计算试样的各项阻隔性参数 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/07/201207041703_375757_2557742_3.jpg

  • 四探针测试金属银膜不稳定的情况

    四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时,出现一个现象,随着探头压力的增加,电阻率发生相应的变化,应该是压力越大,电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定,不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢

金属箔片摩定仪相关的耗材

  • 带保护膜的金属线栅偏振片
    &bull 反射 S 偏振光,透射 P 偏振光&bull 具有保护膜,可轻松进行处理与清洁&bull 较传统金属线栅偏振片的设计更轻更薄&bull 镀膜温度稳定性范围可达 200°C通用规格入射角 (°):0 ±20涂层:BBAR (400-700nm)消光比:348:1 @ 450nm 885:1 @ 550nm 1229:1 @ 650nm基底:Corning Eagle XG工作温度 (°C):-40 to +200表面质量:80-50厚度 (mm):0.70厚度容差 (mm):±0.07透射率 (%) :87传输容差 (%): ±2.5 @ 420 - 700nm尺寸容差 (mm):±0.2构造 :Wire Grid热膨胀:31.7 x 10-7/°C对准公差 (°) :±1.0注意 :When the Reference Mark is orientated to the 3 or 9 o'clock position, the transmission axis runs left to right.涂层规格:Ravg 1% @ 400 - 700nm (Back of Substrate)波长范围 (nm):420 - 700产品描述保护膜金属线栅偏振片用于反射可见光谱中的 S 偏振光,同时透射 P 偏振光。这些偏振片包含很薄的铝质金属线栅,线栅附着在涂有硬质保护性镀膜的玻璃基片上。镀膜可以保护金属线栅结构免受刮擦或因机械应力而产生的其他伤害,同时能实现比使用盖玻片的传统 金属线栅偏振片 更轻、更薄的设计。这些偏振片具有保护性镀膜,因此可以轻松进行处理与清洁,这一点不同于不建议进行处理与清洁的 裸金属线栅偏振片。 保护膜金属线栅偏振片可在温度高达 200°C 的环境中使用超过 小时,该环境对性能的影响很小。注意: 参考标记将指明偏振轴。 订购信息涂层规格对准公差 (°) 工作温度 (°C)基底厚度 (mm) 尺寸 (mm)产品编码Ravg 1% @ 400 - 700nm (Back of Substrate) ±1.0 -40 to +200 Corning Eagle XG 0.70 -12-648Ravg 1% @ 400 - 700nm (Back of Substrate) ±1.0 -40 to +200 Corning Eagle XG 0.70 12.5 x 12.5 12-645Ravg 1% @ 400 - 700nm (Back of Substrate) ±1.0 -40 to +200 Corning Eagle XG 0.70 -12-649Ravg 1% @ 400 - 700nm (Back of Substrate) ±1.0 -40 to +200 Corning Eagle XG 0.70 25.0 x 25.0 12-646Ravg 1% @ 400 - 700nm (Back of Substrate)±1.0 -40 to +200 Corning Eagle XG 0.70 -12-650Ravg 1% @ 400 - 700nm (Back of Substrate) ±1.0 -40 to +200 Corning Eagle XG 0.70 50.0 x 50.0 12-647
  • 薄膜纸张非金属薄片网格布拉伸试验夹具
    适用范围:薄膜/纸张/铜箔/铝箔/等非金属材料试样的拉伸测试 可选A或B型接头:A接头 轴外径20mm长度30mm(配锁 紧母)B接头 内孔20mm深30mm 插销孔径10mm,插销孔中心到接头 端面距离14.5mm。 不配接头时夹具体M12内牙夹片规格:宽65*高25mm贴胶面夹持试样厚度5MM 单个夹具重量700g
  • 固相萃取薄膜片 螯合物
    【固相萃取薄膜片 螯合物】固相萃取薄膜片螯合物是导入了亚氨基二乙酸基的聚合物基薄膜滤片。如使用螯合物薄膜片,可以高效率地将水中的多价金属阳离子萃取出来。由于其在碱金属基体中,也同样有着对于迁移金属的高选择性,因此,其对于海水中的重金属前处理,以及对于酸分解处理液实施淡化浓缩方面都有着非常优异的效果 特 长◆有着对于重金属的高选择性。迁移金属>碱土类金属>>>碱金属Pb>Cu>Cd>Co>Fe>Ca>Sr>>>K、 Na◆不使用有害的有机溶剂。较之于以往的液/液萃取,可迅速且简单地萃取出重金属。 ◆可高效率地浓缩重金属。只需通过简单的过滤操作,即可对重金属实施浓缩。与加热板浓缩相比,可以大大缩短作业时间。◆薄膜片内无偏差不稳定问题。由于薄膜片内无偏差不稳定问题,因此可在薄膜片表面均一地浓缩重金属类。为此,作为对荧光X线之类固体试样实施非破坏分析之类装置的前辅助处理,是最为适用的。 使用领域◆可作为环境水中的重金属测定之前处理 ◆可用于海水中重金属的脱盐处理及浓缩◆可用于提升水的荧光X线的灵敏度 ◆实现水试样搬运时的轻量化目的(搬运所捕集的薄膜片) ◆在节省空间的前提下实现对金属用水试样的中期保管之目的◆作为食品中重金属测定的前处理【薄膜片型(适合于大容量样品)】 品  名直 径包装单位(枚)Cat.No. 固相萃取薄膜片 螯合物47mm205010-3005590mm105010-30056
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