铝土矿投资分析

EDX8800M MAX能量色散荧光光谱仪-铝土矿分析专家作为一款高性能的立式高性能X射线荧光（EDXRF）材料分析仪，EDX8800M MAX配置了高功率X射线激发系统，同时搭配了高计数率和高分辨率的FSDD探测器，它提供了出色的线性动态范围，可在金属、水泥、矿物、采矿、玻璃和陶瓷中实现更高精度的过程和质量控制。ESI英飞思EDX8800M MAX光谱仪主要应用于在第三方实验室及各种需要进行高精度材料成分分析的场所。EDX8800M MAX专注于对各种材料的主量，微量和痕量元素或化合物进行定性和定量分析，广泛应用于：合金材料，贵金属，铁矿粉，有色金属及粉末，冶金，金属及非金属矿物矿产，耐火材料、耐火原料、钛白粉、石膏、催化剂、陶瓷、水泥、石灰、玻璃行业、石英、长石、方解石、粘土、岩棉、土壤、固废、除尘灰、赤坭、粉煤灰、稀土永磁、石油油品、炉渣等生产原料及成品化学成分定性定量快速分析，快速准确无损高效环保，无需酸碱化学药剂。产品特点&bull 配备Peltier电制冷的FSDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率&bull 能同时进行元素和氧化物成分分析&bull 特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性。可同时选配氦气系统，实现液体和粉末样品的直接测试&bull 八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差&bull 高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位&bull 可搭载样品自旋平台，增加样品检测面积，提高测试准确度和精密度。搭载自旋平台EDX8800 MAX结构图英飞思专用光谱仪成分分析软件英飞思软件内核-软件核心算法包括FP基本参数法，Sherman方程EC经验系数法，阿尔法α理论参数法。依托于英飞思强大而稳定的硬件系统，加载FP法核心后可以实现元素间增强吸收效应的校正。能够使用非类似标样标定测试；减少分析需要的标样数，可以用一个或几个标样来分析宽范围浓度变化的未知成分能量校准，波谱稳定，自动谱峰元素鉴别，死时间修正，和峰修正，逃逸峰修正，重叠修正，背景扣除可实时刷新测量结果光谱显示：谱峰重叠比较，可同时显示多个光谱图多种光谱强度计算方法，高斯拟合，纯元素拟合，FP拟合，净面积，全面积仪器参数仪器外观尺寸: 650mm*600mm*900mm仪器重量: 105Kg元素分析范围：Na11-U92钠到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：原装进口高分辨率电制冷FSDD硅漂移检测器高通量计数率线性动态范围：1000-1000000cps ，包括信号增强处理模块SNE多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器，峰飘小于0.5道（24小时）X光管：原装进口高功率铍窗光管（可选配高功率复合靶材光管）高压发生装置：电压最大输出100kV样品观察系统：1000万像素高清CCD摄像头，包括样品光斑图像定位功能数据处理系统MCA：控制响应时间小于100毫秒，可同时采集9路反馈信号，实时监测包括管压，管流，基线，死时间，温度，计数率，真空度，准直器，滤光片状态信号样品腔：空气，真空，充氦气（选配）。内置高功率真空泵 ，全自动软件控制调节真空系统，双真空抽速机构，标配真空度自动稳定系统电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C可增选配置：1样品自旋系统，最大可放入样品直径90mm。2可充氦气微型样品腔。仪器配置标准配置可选配置-样品前处理系统纯Ag初始化标样磨样机真空泵（内置）手动压片机：ESI30T粉末样品杯，液体样品杯自动压片机：ESI30SUSB数据线油品专用样品杯电源线烘干箱XRF测试薄膜（粉末，液体，油品）ESI-900型光谱分析专用全自动熔样机仪器出厂和标定报告电子秤保修卡标准样品高精度交流净化稳压电源150目筛子

能量色散X荧光光谱仪-矿石土壤分析仪EDX9000B PLUSSimply the Best 先进制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限可同时分析40种元素可分析固体，液体，粉末和泥浆原装进口X光管管芯提供可靠卓越样品激发性能无损检测，快速分析（1-2分钟出结果）无需化学试剂，无耗材，更环保，更高效EDX9000B Plus能量色散X荧光光谱仪-矿产/矿石分析专家ESI英飞思EDX9000B plus光谱仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物，生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。EDX9000B plus优异的线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。具有全新真空光路系统和超高分辨率技术的新一代Fast SDD检测器，对轻、中、重元素和常见氧化物（Na2O、MgO、Al2O₃ 、SiO₂ 、P2O5、SO₃ 、K2O、CaO、TiO₂ 、Cr2O₃ 、MnO、Fe2O₃ 、ZnO和SrO等）都可达到最佳分析效果。EDX9000B plus卓越的分析性能，使其可以轻松完成对以下矿种的测试：铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等)铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)铝土矿其它矿类产品特点1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、高精度分析2.可同时分析40种元素3.采用多准直器多滤光片和扣背景专利技术4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作7.专利薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限矿产元素检测专家EDX9000B Plus仪器参数仪器外观尺寸: 565mm*385mm*415mm超大样品腔：465mm*330mm*110mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm 仪器重量: 48Kg元素分析范围：Na11-U92钠到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 超高分辨率电制冷Fast SDD硅漂移检测器探测器分辨率：122 eV FWHM at 5.9 keV处理器类型：全数字化DP-5分析器谱总通道数：4096道X光管：高功率50瓦光管（原装进口管芯），冷却方式：硅脂冷却光管窗口材料：铍窗准直器：多达8种选择，最小0.2mm滤光片：7种滤光片的自由选择和切换高压发生装置：原装美国高压，电压输出：0-50kV；输出电流：0-1mA高压参数：最小5kv可控调节，自带电压过载保护，输出精度：0.01%样品观察系统：500万像素高清CCD摄像头电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线ESI-900型XRF专用全自动熔样机电源线电子秤测试薄膜矿石标准物质仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子全新设计的XTEST分析软件软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。*光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即基体效应，增强和吸收的校正。*谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。*可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。*基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品*提供多种数据访问接口，可兼容LIMS实验室管理系统铝土矿样品10次连续测试稳定性报告测量次数MgO Al2O3SiO2P2O5K2OCaOTiO2MnOFe2O3Pb铝土矿-10.105475.25539.96330.1890.17090.20833.55350.040110.3110.006铝土矿-20.104975.200110.06060.19270.16620.20353.56570.042110.32590.0058铝土矿-30.103175.212610.03010.1880.16170.20493.5360.040410.2570.0062铝土矿-40.099875.212310.04810.19370.16510.20713.55730.044410.33380.0061铝土矿-50.107575.265710.06290.19490.16540.21933.54810.041510.28850.0062铝土矿-60.105875.165710.06270.19880.17240.22063.55420.040410.3210.0062铝土矿-70.100775.196610.08110.19280.17250.21993.56940.043810.3340.0062铝土矿-80.100875.276910.01040.19470.16630.21853.52890.040610.29420.0059铝土矿-90.105775.252410.09680.19290.1610.2143.54830.041210.33950.006铝土矿-100.104975.234410.08280.19180.16350.22123.56480.042310.34110.0062平均值0.104 75.227 10.050 0.193 0.167 0.214 3.553 0.042 10.315 0.006 标准偏差0.0026 0.0355 0.0397 0.0030 0.0042 0.0071 0.0129 0.0015 0.0272 0.0001 相对标准偏差2.51%0.05%0.39%1.58%2.50%3.31%0.36%3.55%0.26%2.43%

英飞思矿石矿产分析光谱仪EDX 9000B PLUS能量色散X射线荧光光谱仪---矿物矿石矿产成分、品味分析专家美国AmpTek-SDD探测器，高分辨率和高计数率元素分析范围高达42个元素• 高性能和最低检测水平定制您的测试解决方案 高级勘探和土壤分析• 泥浆记录• 石油/天然气领域的特殊应用• 矿床建模/绘图 增强轻元素分析煤和铁矿石中的铝土矿和惩罚元素• 工业矿物，包括用于水泥生产的石灰石可选的样品架/颗粒用于减少样品异质性问题EDX9000B能量色散荧光光谱仪-矿物分析专家EDX9000B 在所有浓度水平下都提供卓越的准确度。它还提供快速（通常 2 到 3 分钟）回转。为现场带来前所未有的精度和速度，使 EDX9000B 成为应用的理想选择例如分析岩心 - 例如，检测页岩气边界层 - 能够快速改变方向，最大限度地提高钻井生产率EDX9000Banalyzer 的购买价格与同类其他仪器相比具有很强的竞争力。在很多情况下，它也是大型实验室仪器价格的一半。此外，随着采矿或勘探的直接改进由于准确信息的快速可用性，EDX9000B 提供了出色的回报投资生产和矿物加工快速、实验室级的样品分析变得简单：用很少或没有样品在现场测试您的样品准备。实现为过程控制、质量保证和其他运营决策提供可靠数据所需的准确性。• 坡度控制• 划定矿石和废物边界• 矿石交易• 浓度测量工业矿产EDX9000B XRF 分析仪是一种新兴的采石场勘探和评估仪器工业用磷酸盐、钾肥、石膏、石灰石等原料的组成。• 非常适合确定石灰石中的惩罚元素，铁矿石和铝土矿• 原材料的混合和分类• 即时标记品位、次品位和废料，并防止将矿石带入废料堆EDXRF简介EDXRF 仪器将不同元素的特征 X 射线分离成完整的荧光能谱，然后进行处理以进行定性或定量分析。EDXRF 技术是筛选各种材料的便捷方法，可快速识别和定量从钠 (Na) 到铀 (U) 的元素。EDXRF 仪器可以是手持式或便携式，具体取决于用户的喜好，使其成为现场分析的完美工具，无需长途跋涉到实验室即可为用户提供即时反馈。低拥有成本和任何样品类型的快速元素分析使 EDXRF 成为有吸引力的前端分析工具。X 射线荧光 (XRF) 分析（或光谱法）：一种仪器、比较分析方法基于外部X辐射的材料原子或适当能量（波长）的伽马辐射，特征能量量子的近瞬时发射（荧光）现象放射性同位素或 X 射线管用作外部辐射源以激发样品仪器规格光谱仪尺寸：560mm*380mm*410mm样品室尺寸：460mm*310mm*95mm真空样品室尺寸：Φ150mm×高75mm重量：45Kg元素范围：Na11-U92分析含量范围：1ppm- 99.99%检测器：AmpTek高分辨率SDDDPP分析仪：4096通道DPP分析仪激发源：50W X射线管高压机组：0-50kV电源：220ACV 50/60HZ环境：-10 °C 到35 °C全新设计的XTEST分析软件软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。*光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即所有基质效应，增强和吸收。*谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。*可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。*基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品。铝土矿样品10次连续测试稳定性报告样品氧化镁MgO三氧化二铝Al2O3 二氧化硅SiO2氧化钾K2O氧化钙CaO二氧化钛TiO2氧化锰MnO三氧化二铁Fe2O3Sample-10.43884.5778.7540.1960.5023.7530.0491.966Sample-20.44284.8538.880.1970.5223.7990.0521.962Sample-30.42484.5088.810.1970.5093.8520.0511.983Sample-40.42784.5378.6360.1960.5133.7770.0511.963Sample-50.42484.5018.7090.1970.5033.7910.051.973Sample-60.41584.4968.7370.20.5133.8610.0512.013Sample-70.4584.8188.9170.1970.5113.8540.0511.966Sample-80.42384.5778.6890.2010.5013.8380.051.971Sample-90.44784.3818.740.1990.4953.8530.051.971Sample-100.45384.7538.8930.2010.5173.7930.0521.981Average 平均值0.43484.68.7760.1980.5093.8170.0511.975Standard Deviation 标准偏差0.0130.1550.0940.0020.0080.0390.0010.015RSD相对标准偏差3.10%0.18%1.08%0.97%1.63%1.02%1.91%0.76%配件标准 可选Ag-校准标准磨机真空泵压样机样品杯干燥箱USB线 熔珠机电源线平衡测试麦拉矿物标准样品校准报告 功率稳定器保修卡速度：我们的 XRF 分析仪提供实时分析功能，可以快速做出决策，包括是否钻孔、设备搬迁注意事项、网格的重点以及何时采集适当的样本进行实验室分析。实时报告：现场分析可以更快地描绘钻探目标，以便及时向管理层和/或投资者报告运营和财务报告。增加样品密度：在现场运行更多的检测可以实现更精细的网格分辨率，并能够将预认证的样品发送到场外实验室。 借助改进的统计数据，这种高密度分析可以比仅使用传统的袋子和实验室方法更全面地了解目标。我们的使命宣言ESI 将为全世界设计、制造、销售和服务高质量的创新分析仪器。我们将通过—— 为客户创造价值并提供卓越的客户服务和支持。 持续改进，对新技术持开放态度。 通过争取市场领先地位。 我们所做的一切都以质量为关键。EDX-9000B XRF SpectrometerEnergy Dispersive X-RayFluorescence Spectrometer---Mineral Analysis ExpertAmerican AmpTek -SDD detector, high resolution and high count rateElement analysis range up to 42 elements • Highest performance and lowest levels of detectionCustomize your testing solutions Advanced exploration and soil analysis• Mud logging• Specialty applications in oil/gas• Ore deposit modeling/mapping Enhanced light element analysisBauxite and penalty elements in coal and Fe ore • Industrial minerals including limestone for cement productionOptional sample holder/pellet for reducing sample heterogeneity issuesEDX9000B Energy Dispersive Fluorescence Spectrometer-Mineral Analysis ExpertEDX9000B provides exceptional accuracy at all concentration levels. It also offers rapid (typically 2to 3minutes) turnaround. Bringing unprecedented precision and speed to the field makes EDX9000B ideal for applications such as analyzing cores - e.g., to detect shale gas boundary layers - enabling fast direction changes that maximize drilling productivityEDX9000Banalyzer’s purchase price is highly competitive with other instruments in its class. In many cases, it is also half the price of larger laboratory instruments. Furthermore, with direct improvements in mining or exploration productivity due to rapid availability of accurate information, EDX9000Bdelivers an outstanding return on investmentProduction and Mineral ProcessingFast, laboratory-grade sample analysis is made simple: test your samples on site with little or no sample preparation. Achieve the accuracy needed to provide defensible data for process control, quality assurance, and other operational decisions.• Grade control• Delineate ore and waste boundaries• Ore trading• Concentrate measurementIndustrial MineralsEDX9000BXRF analyzer isan emerging instrument of choice for in-quarry exploration and evaluating the composition of raw materials such as phosphate, potash, gypsum, and limestone for industrial use.• Ideal for determining penalty elements in limestone, Fe ore, and bauxite• Blending and sorting of raw materials• Instantly flag grade, sub-grade, and waste, and prevent taking ore to the waste heapEDXRF Introduction EDXRF instrumentation separates the characteristic x-rays of different elements into a complete fluorescence energy spectrum which is then processed for qualitative or quantitative analysis.EDXRF technology is a convenient way to screen all kinds of materials for quick identification and quantification of elements from Sodium(Na) to Uranium (U).EDXRF instruments may be either handheld or portable depending on user preference, making them the perfect tool for in-field analysis, and providing instant feedback to the user without the long trip to the laboratory. Low cost of ownership and rapid elemental analysis of any sample type make EDXRF an attractive front-end analysis tool.X-Ray Fluorescence (XRF) Analysis (or Spectrometry): an instrumental, comparative analytical methodBased on phenomenon of near-instantaneous emission (fluorescence) of quanta of characteristic energy by atoms of material irradiated by external X, or gamma radiation of appropriate energy (wavelength)Radioisotopes or X-ray tubes are used as sources of external radiation to excite sample