粒度大小测量仪

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粒度大小测量仪相关的厂商

  • 深圳市达宏美拓密度测量仪器有限公司是一家为全行业提供密度测量解决方案的专业公司;其主营品牌Daho Meter『达宏美拓』,专业生产制造电子密度仪。Daho Meter『达宏美拓』是行业中成立时间较早,专业的密度测试仪品牌,自成立以来,始终专注于密度测试领域的研究与创新;其范围涵盖:固体、多孔性固体、粉末、液体、液体浓度等与密度相关的测试领域。达宏美拓从成立至今,一直强调以专业、技术、品质、服务的核心竞争力;要赢得市场,就要服务好客户,要服务好客户就要有专业的技术,过硬的产品品质,与及时专业周到的服务。至目前,达宏美拓在国内设立了东莞、北京、深圳、杭州等4处客户服务中心与售后服务中心;于2013年8月在东莞成立了密度检测实验室,皆在进一步提升服务客户的质量与检测水准;于2016年通过ISO9001:2015质量管理体系认证。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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粒度大小测量仪相关的仪器

  • 仪器简介:BI-DCP/BI-XDC是基于经典的离心/沉降原理,通过高精度的数字式电机控制,是迄今为止具有统计意义的粒度仪中分辨率、准确率优越的测量仪器。广泛应用于胶乳、碳黑、陶瓷和金属粉末等行业的质量控制方面。1.工作原理:重力或者离心力使得悬浮在样品转盘腔内的颗粒可以产生沉降或离心运动。大颗粒运动较快,小颗粒运动较慢,随着时间的增加,大小颗粒自然分级并依次通过靠近转盘腔底内部的检测器,因而具有极高的分辩率。2.应用价值:1)精确分辨复杂体系的粒度分布从而提高流变性能和结构特性的分析;2)通过测量对原料进行监控,避免由原料带来的生产问题;3)通过简化步骤和减少测量时间来提高效率;4)最优化材料特性从而提高产品性能;5)研究体系粒度的基本构成从而帮助新产品和生产工艺的开发。3.乳胶涂层的应用实例: 在未使用BI-DCP进行工艺条件优化和品质监控以前,用乳胶生产出来的涂层的性能差异都很大,而且跟设想的规格都不吻合,因此这些涂层都只能报废或作为常规产品使用,这极大地影响了产品品质和工厂利率。在使用BI-DCP对生产中的每个环节进行监控之后,发现问题出在一个生产胶乳的大反应釜中,每一批乳胶的粒度分布都存在着较大差异。该工厂及时对工艺进行优化并对中间环节和最终产品严格监控,最终生产出来的成品完全符合标准,不仅提高了产品品质,也为工厂带来了很高的利润。4.炭黑行业的应用: 在炭黑行业中,BI-DCP是作为一台标准仪器来使用的,这是由于炭黑的粒径对它的性能有着较大的影响,并进而影响到使用炭黑所生产的轮胎的硬度等性能。因此,目前世界上几乎所有知名的轮胎及炭黑生产商在他们的研发和生产过程中都使用BI-DCP进行的粒度分析,如:BRIDGESTONE、CARBOT、MICHELIN、DEGUSSA、PIRELLI等等。5.应用领域1)PS、PVC及其它聚合物2)炭黑、3)金属氧化物、金属粉末4)油墨、氧化铝、氧化钛5)制药、化妆品、食品、粘合剂6)涂料、无机染料7)陶瓷、粘土、矿物技术参数:1.机型 BI-DCP1)进样方式:辅层进样(LIST模式)与均相进样(HOST模式)2)检测光源:可见光3)操作模式:离心沉降模式4)粒度范围:0.01~45um(与粘度、密度有关)5)数据库:存储各种物质的消光曲线6)精度:2%7)重复性:1%8)旋转盘材料:标准PMMA或特殊抗腐蚀盘9)电机转速:500~15000rpm10)转速精度:0.01%2.机型 BI-XDC1)进样方式:均相进样(HOST模式)探头扫描速度:0.05~10mm/min2)检测光源:X射线3)操作模式:重力沉降模式与离心沉降模式4)粒度范围:0.01~100um(与粘度、密度有关)5)数据库:无需消光校正6)精度:2%7)重复性:1%8)旋转盘材料:标准PMMA或特殊抗腐蚀盘9)电机转速:500~6000rpm,10000rpm可选10)转速精度:0.01%主要特点:1.高分辨率的测量方法,长期测量实践证明,基于Stokes公式的离心沉降理论仍然是分辨率、精度、准确度最高的测量方法。2.实用方便的分段监测功能3.功能完善的软件
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  • 一、仪器名称:晶圆表面颗粒度测量仪二、品牌型号:荷兰Fastmicro公司FM-PS-PRS-V01型三、产品简介荷兰Fastmicro公司的晶圆表面颗粒度测量仪采用专利的米氏散射原理可直接检测晶圆表面的颗粒污染程度,测量速度快,操作简单,可测量大于500nm的颗粒并进行分析统计。主要应用于半导体行业(晶圆裸片颗粒度检测,掩膜版表面颗粒度检测,CMP及清洗后晶圆表面颗粒度检测)与显示行业(玻璃面板)。由于其模块化和可扩展的设计,该测量仪具有无限的扫描区域。该系统可以根据需要测试产品的表面形状和位置进行定制。四、原理简介 采用专利技术米氏散射原理检测表面微观颗粒,光源发出的平行光照射待测表面,遇到表面的突起颗粒发生米氏散射,摄像头传感器以一定角度接收到散射信号,根据散射信号可获取关于待测表面颗粒尺寸信息。五、主要参数测量速度任何尺寸产品表面秒级成像;整个流程1分钟内完成(取样+测试);数据输出颗粒数量;颗粒位置;颗粒尺寸;带有粒子标记的图像;可导出KLARF和Excel文件;数据通过USB或以太网输出;操作操作简单;可升级全自动设备;测量范围最小可检测0.5μm大小PSL颗粒;可重复性更换采样器后, 90%的颗粒被统计,PSL颗粒大于500nm;尺寸和定位精度PSL颗粒的尺寸精度<20%;位置精度80μm,位置重复性30μm;无接触、无污染与检测区域不接触;待测产品粗糙度要求粗糙度Ra<50nm;六、应用案例
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  • 产品信息  粒度分布在粉体物理性质中是最基本的特性之一,它不仅左右着粉体本身的性质和活动,而且也影响着以粉体为原料的制品的质量,是一个重要的物理性质。因此,在处理粉体时,粒度分布的测量就变得极其重要。   尤其是在前沿科学领域,诸如纳米技术、生命科学以及环境科学领域,粒径多在纳米数量级,对于仪器的检测下限要求很高。岛津激光衍射式粒度分布测量仪SALD-7101,可以在短时间内,通过简单的操作完成粒度分布的测定,并且分辨率高、精度高、重复性好。   另外,通过安装在Windows操作系统下的软件,可以实现统计处理、时间系统处理、实时监控、三维显示等多种的数据处理功能。  测定范围:0.010~300um。目前世界上所有激光粒度仪厂家产品中检测下限最低! 特点:主机(测量部)使用单一光学系统无断点覆盖0.010-300&mu m 粒径范围符合JIS规格的单一光源覆盖了0.010-300&mu m的宽广的粒子径范围。因此在全程测量范围内,不存在粒度分布数据的不连贯和不匹配,实现完全无断点的宽广范围。 采用紫色半导体激光由于采用了的紫色半导体激光,可测量的粒子范围可达数十纳米领域。另外,以往使用红色激光作为光源的粒度分布测量装置,由于光吸收导致的蓝色系粒子很难正确测量的问题,也迎刃而解。采用适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素光传感器应用最高水准的半导体制造技术制成。除76元素的前方散射光传感器(Wing传感器)外,附加1元素的侧方散射光传感器和4元素的后方散射光传感器。通过这81元素的光传感器可以准确地捕捉光强度分布模式,从而对范围宽广的粒子径实现高分辨率高精度地粒度分布测量。全部这些元素,均采用了最新工艺制造的、适应蓝紫色激光的高灵敏度受光元素。采用SLIT光学系统,用单一检出面可连续捕捉最大达60度宽角度前方散射光采用了SLIT(Scattered Light Intensity Trace,散射光强度追踪)光学系统。以往的SALD系列或其他公司的制品,可连续检出前方散射光的范围最大只可到35度左右。SALD-7101采用了基于高度散射光强度追踪技术的SLIT光学系统,打破了一般常识,可用单一检出面连续捕捉最大达60度宽角度的前方散射光,实现了微粒子领域的高分辨率。能够连续测定反应过程中粒子的粒度大小和分布的变化,时间间隔最短可以做到1s市场上其他的产品都需要至少10s以上。适用于超微粒子的湿法测量专用机是适合于涂料、颜料,食品,饮料,医药品,化妆品,乳剂,精制陶瓷等微粒子、超微粒子测量的湿法专用机。力求光学系统的稳定性采用全方位冲击吸收装置:OSAF(Omnidirectional Shock Absorption Frame)完全隔离光学系统,使其各个部件免受外来冲击和震动的干扰。因此几乎不需要对光轴进行调整。样品池摘取简单采用推拉式样品池座,方便样品池的更换和清洗。使用寿命长且输出功率稳定的半导体激光源光源采用形状小寿命长的半导体激光。并且附加稳定输出回路,实现激光输出功率的稳定化。配备激光光束安全系统双重激光保护对策:测量室打开时,快门自动关闭及手动关闭激光光束。多功能进样器内置供水泵多功能进样器内置供水泵,因此可使用市场上销售的塑料桶等直接供水。解决了供水繁琐的问题。 装载CPU多功能进样器配置了超音波分散机、搅拌器、水位传感器和控制这些装置的CPU。因此,通过电脑连接控制,可进行半自动测量。软件具有多种功能测量/数据处理的软件名为WingSALD的操作软件适用于Windows所有操作系统,并具有统计处理,时间系统处理,三维显示等多种数据处理功能,操作简便。多种统计方法:数目、体积、表面积和长度。 应用AI自动范围判断功能对粒度分布进行计算所谓AI自动范围判断功能是指,应用检测出的衍射光/散射光的光强度分布数据,先进行大致的粒度分布范围判断,再根据所得范围选择最适合的计算条件,进行精密的粒度分布计算。这样,即使事前无任何样品相关信息,也可准确地捕捉到从窄到宽的粒度分布形态。附加自我诊断功能、保养容易编入了强大的自我诊断功能。可以检查装置的动作状况,使维护变得容易。装备操作日志(Operation Log)功能操作日志(Operation Log)功能,使所有的测量数据中包含了装置的使用状况、样品池的污染状况等细节信息,因此可以向前追溯,验证以往测量数据的正确性。通常状态下不显示,但电源打开时刻、空白测量完成时刻、空白测量数据及该时间下光轴的位置等这些与装置的操作和使用状态有关的数据都将被作为文本数据添加到所有的测量数据中。
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粒度大小测量仪相关的资讯

  • 日本开发出袖珍辐射测量仪 仅硬币大小
    日本产业技术综合研究所宣布开发出仅为500日元硬币大小的袖珍辐射测量仪   中新网2月14日电 据共同社报道,日本产业技术综合研究所(茨城县筑波市)13日宣布,开发出一种仅为500日元硬币大小的轻便型辐射测量仪,1颗电池最多可记录6个月的辐射量。   据介绍,该种测量仪重10~20克,可每小时或每天一次进行辐射测定,1颗钮扣电池可使用2~6个月。该仪器将零部件数量控制在最小范围,仪器本身无法显示辐射量,但可连接电脑读取数据。   该仪器还可设置成当辐射量超过一定数值时,测量仪的显示灯闪烁并响铃。目前市场上的测量仪大多为数万日元,但该研究所开发的这款产品将把价格控制在1万日元以下,争取2~3个月后上市。
  • 新型冰雪粒径测量仪和硬度测量仪助力“科技冬奥”
    高山滑雪最高时速达248km/h,滑雪赛道也需要“塑胶跑道”“更快,更高,更强”是奥林匹克的口号,充分反映了奥林匹克运动所倡导的不断进取、永不满足的奋斗精神。奥运会纪录的频频打破,不但有运动员的刻苦训练,教练员的辛勤指导,科技尤其是对于运动场地的科技提升也扮演了重要的角色。就拿大家熟悉的田径运动场而言,最初的跑道是煤渣跑道(相信很多70后、80后的老伙伴们都跑过吧),后来改成了人工合成的塑胶跑道,与煤渣跑道相比,其弹性好,吸震能力好,为运动员的发挥和成绩的提高提供了物质基础。在1968年的墨西哥奥运会上,在首次使用的塑胶跑道赛场上创造了诸多的奥林匹克纪录。2022年中国北京即将举行冬季奥林匹克运动会,中国提出了“科技冬奥”的概念,中国冰雪运动必须走科技创新之路。高山滑雪比赛是冬季奥运会的重要组成部分,被誉为“冬奥会皇冠上的明珠“。高山滑雪的观赏性强,危险性大,比赛时运动员最高时速可达到248km/h。高山滑雪比赛均采用冰状雪赛道。什么是冰状雪?所谓冰状雪,是指滑雪场的雪质形态,其表面有一层薄的硬冰壳,用于减小赛道表面对于滑雪板的摩擦力。可以说冰状雪赛道就是高山滑雪项目的塑胶跑道,其制作的质量对提高运动员的成绩及滑雪的舒适感,保护运动员的身体,延长运动寿命有着十分重要的作用。看似简单的冰状雪赛道,制作起来却大有讲究。冰状雪的制作过程十分复杂,目前采用的是向雪地内部注水的方案。但是注水的强度和注水的时间把握需要根据不同的赛道地点以及当时注水时的气温进行相应的调节,以保证冰状雪赛道既有一定的强度,又有足够的弹性,使得运动员能够在高速的高山滑雪比赛中舒畅的进行滑降、回转等比赛项目。与田径场塑胶跑道不同的是,每次比赛每一个运动员在进行高山滑雪比赛时,由于技术动作的需要,都或多或少的会对冰状雪的赛道产生一定损伤,为了保证比赛的公平性,前后出发的滑雪运动员的赛道雪质状态需要保证一致,因此冰状雪赛道还需要有一定的厚度以及均匀性。研制新型冰状雪测量仪器,保障赛道质量既然冰状雪赛道有如此多的要求,那么过去是如何判断冰状雪赛道的雪质的呢?主要是采用人工判断的方法,即找一些有经验的裁判员用探针安装在电钻上进行触探工作,通过触探工作反馈的手感判断冰状雪赛道的建造质量。这种带有一定“盲盒”性质的判断工作往往会显得很不透明,也不利于这项运动的推广。助力2022北京冬奥会,依托科技部国家重点研发计划“科技冬奥”重点专项2020的“不同气候条件下冰状雪赛道制作关键技术”项目,中国科学院南京天文光学技术研究所南极团队和中国气象科学研究院共同合作研发了用于判断冰状雪赛道质量的冰雪粒径测量仪和冰雪硬度测量仪,其目的在于将冰状雪质量的人工主观判断,变成清晰可见的客观物理数据,通过对这些物理数据的科学分析,结合有经验的运动员的滑雪体验,掌握不同地点,不同天气条件下冰状雪赛道的制作方法。主要有如下两种仪器:冰雪粒径自动测量仪和冰雪硬度自动测量仪。积雪颗粒的形状及大小是影响雪的力学性质的主要因素,不同大小雪粒之间在自然状态下空隙不断变小,雪中含有的空气降低,使得雪粒间的化学键合力增强,从而影响雪的硬度。那么如何测量积雪的颗粒呢,科研人员采用漫散射原理:近红外光经过粗糙的表面会被无规律的向各个方向反射,会造成光强度减弱,光减弱的大小跟表面的粗糙相关,而积雪表面的粗糙程度是由粒径决定的。通过测量光减弱的比例间接的测量出冰雪的颗粒大小。冰雪粒径自动测量仪测量注水雪样雪的硬度测试是反映冰雪强度的重要指标之一,冰雪硬度测量仪的原理是通过电机带动滑轨驱动探头打入冰状雪赛道内部,并读取探头受到的反作用力的大小来判断冰雪的硬度条件。该方法的好处是可以做到基本无损的对赛道进行冰雪硬度的测量,不影响赛道的后续使用,并且可以通过读取力和冰状雪深度的曲线了解冰状雪赛道的均匀性。针对高山滑雪的赛场坡度较陡,人工攀爬十分困难,科研人员在仪器的便携性上做了特殊的设计,设计了一款折叠式的硬度测量仪,方便携带,可以从坡顶沿雪道一直测量到坡底,实现了仪器的“就地展开”和“指哪测哪”的功能。冰雪硬度测量仪现场工作照片2020年11月-2021年3月,抓住冬奥会举办前的最后一个冬季的机遇,在冬奥会举办地北京延庆、河北张家口以及黑龙江哈尔滨亚布力冬季体育训练基地对不同气候条件、不同注水强度的冰状雪赛道,使用研制的冰雪粒径自动测量仪和冰雪硬度自动测量仪进行了粒径及冰雪硬度测试,获得了不同深度冰雪粒径的变化图以及不同深度的冰雪硬度的曲线图。冰状雪赛道压强-深度关系图该项目的首席科学家,中科院西北研究院冰冻圈科学国家重点实验室副主任王飞腾研究员认为“雪粒径及硬度计等新型冰雪仪器的研究,将过去以人工经验为主的冰状雪赛道状态判断变为了客观、清晰的科学指标,为冰状雪赛道制作标准的透明化提供了参考依据”。项目攻关团队的带头人,国际冰冻圈科学协会副主席,中国气象科学研究院丁明虎研究员认为“雪粒径和硬度计的设计充分考虑了不同于自然雪的人工造雪的特殊情况,仪器在项目工作中表现优异,性能稳定,可靠性高。”未来将在南极天文台发挥作用冰雪强度、硬度的测量不仅可以应用于滑雪相关的体育运动中,在未来的极地工程建设上也能发挥作用。遥远的南极虽然不是适合人类居住的地方,但是却有着良好的天文观测条件。根据2020年在 Nature 上发表的一篇文章,证明昆仑站所在的冰穹A地区的光学天文观测条件优于已知的其他任何地面台址。这项研究成果确认了昆仑站有珍贵的天文观测台址资源,为我国进一步开展南极天文研究奠定了科学的基础。但是如何在南极地区安装大型望远镜又有很多实际的困难,其中之一就是普通的大型望远镜的基墩都是直接安装在地球的基岩上,这样基墩比较扎实稳固,能保证望远镜在观测时不会因为地基不稳产生晃动,但是冰穹A地区的冰大约有4000m那么厚,相当于1500层楼房那么高,如果再想将望远镜基墩打入基岩显然难以做到。那么大型望远镜如何能够平稳的伫立在南极浮动的冰盖上呢?这就需要科学家们对冰穹A地区的冰雪进行特殊的加固处理,使其能够满足基墩的设计要求。在加固处理完后,我们的雪粒径和硬度测量仪就可以对加固后的冰雪强度进行测量,通过科学的数据检验其是否能够满足南极大型望远镜的需求。
  • 安东帕在颗粒度测量领域的完美解决方案
    安东帕在颗粒度领域不断提高市场知名度,即去年的Litesizer 500系列上市到今年PSA系列激光粒度仪的上市,原子力显微镜的上市,在颗粒测量领域更具有竞争度。近期第十一届全国颗粒测试学术会议暨2017全国粉体测试技术应用研讨会在广州举办,安东帕的展台也获得关注,并在大会上做了专题报告。报告题目:安东帕Litesizer TM系列和90系列激光粒度仪的介绍 安东帕应用工程师在颗粒测试学术会议上做报告,主要介绍了安东帕LitesizerTM系列和90系列两个激光粒度仪产品,其中LitesizerTM系列包含Litesizer TM500和Litesizer TM100,该系列采用了专利的cmPALS技术,可实现更短测量时间,更低施加电场降低样品和电极的影响、污染。90系列即990/1090/1190系列,于2017年上市,源于法国Cilas公司,具有湿法条件下粒度大小和形态可同时测定等特点。 安东帕MCR模块化智能型高级流变仪和litesizer 500纳米粒度分析仪形成互相补充的测试技术,最完美得匹配。使用Litezizer粒度仪获得有价值的颗粒度和胶体稳定性观察,现在你可以改进你的流变性能测试。了解颗粒度可以帮助你选择正确的测试系统,zeta电位表征你样品在更高剪切速率的稳定性。-更加专业的流变性能测试-对结果的更进步评估-对样品的更全面理解为进一步扩大公司颗粒表征的产品线,安东帕收购法国CILAS公司PSA业务。PSA系列激光粒度仪是在今年9月份推出的新品。 该系列产品包括PAS 990、PSA 1090和PSA 1190这三个型号。 PSA系列仪器扩展了基于动态光散射的当前粒度测量仪器组合,是LitesizerTM系列仪器的极佳补充。 PSA系列激光粒度仪最大的特点在于可一键切换干湿法,用户无需进行硬件的切换,只需一键点击鼠标便可轻松切换,无需重新验证或重新调准灵敏的光学器件。本次讲座将对PSA990/1090/1190基本应用情况,特点进行阐述。 化繁为简,为真正的工业AFM开辟道路安东帕进入原子力显微镜市场,推出一款专为工业用户设计、满足各种需求的 AFM 产品 Tosca™ 400。它独一无二地将先进技术与简单易用的操作完美结合,使得这款 AFM 既适合工业用户,也适合科学工作者。自动化和工作流导向的控制分析软件植入到机器的每个操作层级,进一步提高了效率并简化AFM测量操作。

粒度大小测量仪相关的方案

粒度大小测量仪相关的资料

粒度大小测量仪相关的论坛

  • 【原创】常见粒度测量仪器的原理和性能特点(包括颗粒图像处理仪、电阻法颗粒计数器)

    本文简介:[B]颗粒图像处理仪[/B]是用显微镜放大颗粒,然后通过数字摄像机和计算机数字图像处理技术分析颗粒大小和形貌的仪器,能给出不同等效原理(如等面积圆、等效短径等)的粒度分布,能直接观察颗粒分散状况、粉体样品的大致粒度范围、是否存在低含量的大颗粒或小颗粒情况等等,并增加了详细的圆度分析功能,是其他粒度测试方法的非常有用的辅助工具,是我国现行金刚石微粉粒度测量标准的推荐仪器。适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、填料等各种末颗粒的粒度测量、形貌观察粉和分析。 [B]电阻法(库尔特)颗粒计数器[/B]是根据小孔电阻原理,又称库尔特原理,测量颗粒大小的。由于原理上它是先逐个测量每个颗粒的大小,然后再统计出粒度分布的,因而分辨率很高,并能给出颗粒的绝对数目。其最高分辨率(通道数)取决于仪器的电子系统对脉冲高度的测量精度。此文为专业普及文档,PDF文档,请用Acrobat Reader浏览相关链接:http://www.omec-tech.com/products-01-gs.html[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=66309]其他常见粒度测量仪器的原理和性能特点[/url]

  • 【分享】测量仪器的准确度

    定义 指“测量仪器给出接近于真值的响应的能力”(见JJF1001-1998《通用计量术语及定义》7.18条,以下简称条款)。也就是指测量仪器给出的示值接近于真值的能力,即测量仪器由于仪器本身所造成的其输出的被测量值接近被测量真值的能力。由于各种测量误差的存在,通常任何测量是不可能完善的,所以实际上真值是不可知的,当然接近于真值的能力也是不确定的,因此测量仪器准确度是反映了测量仪器示值接近真值的一种程度,所以在该定义的注中说明准确度是一个定性的概念。 测量仪器准确度是表征测量仪器品质和特性的最主要的性能,因为任何测量仪器的目的就是为了得到准确可靠的测量结果,实质就是要求示值更接近于真值。为此虽然测量仪器准确度是一种定性的概念,但从实际应用上人们需要以定量的概念来进行表述,以确定其测量仪器的示值接近于其真值能力的大小。在实际应用中这一表述是用其他的术语来定义的,如准确度等级、测量仪器的示值误差、测量仪器的最大允许误差或测量仪器的引用误差等。准确度等级是指“符合一定的计量要求,使误差保持在规定极限以内的测量仪器的等别、级别”(7.19条)。即就是按测量仪器准确度高低而划分的等别或级别,如电工测量指示仪表按仪表准确度等级分类可分为0.1、0.2、0.5、1.0、1.5、2.5、5.0等七级,具体说就是该测量仪器满量程的引用误差,如1.0级指示仪表,则其满量程误差为±1.0%FS。如百分表准确度等级分为0、1、2级,则主要是以示值最大允许误差来确定。如准确度代号为B级的称重传感器,当载荷m处于0≤m≤5000v时(v为传感器的检定分度值),则其最大允许误差为0.35v。又如一等、二等标准水银温度计,就是以其示值的最大允许误差来划分的。所以准确度等级实质上是以测量仪器的误差来定量表述测量仪器准确度的大小。有的测量仪器没有准确度等级指标,则测量仪器示值接近于真值的响应能力就是用测量仪器允许的示值误差来表述,因为测量仪器的示值误差就是指在规定条件下测量仪器示值与对应输入量的真值之差,这和测量仪器准确度定义概念是完全相对应的,如长度用半径样板,它就是以名义半径尺寸来规定其允许的工作尺寸偏差值来确定其准确度。因为真值是不可知的,实际上测量仪器可以用约定真值或实际值来计算其误差的大小,通过示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级来定量进行表述。实际上准确度等级也只是一种表述形式,这些等级的划分仍是以最大允许误差、引用误差等一系列的特性来定量表达的。 这里要注意,从名词术语的名称和定义来看,测量仪器准确度和准确度等级、测量仪器的示值误差、最大允许误差、引用误差等其概念是不同的,测量仪器准确度术语是定性的概念,严格讲要定量地给出测量仪器接近于真值的响应能力,则应该指明给出量值是什么量,是示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级,不能笼统地称为准确度。我们可以认为测量仪器准确度是它们这些特性概念的总称,测量仪器准确度可以用其它相应的术语来定量表述,这二者是有区别的。准确度1级应称为准确度等级为1级,准确度为0.1%称为其引用误差为0.1%FS。但有时为了制定表格或方便表述,表头则也可写“准确度”,表内填写准确度等级或规定的允许误差。要说明一点,测量仪器准确度是测量仪器最最主要的计量性能,人们关心的就是是否准确可靠,如何来确定这一计量性能大小?通常它是用其它的术语来定量表述而已。

粒度大小测量仪相关的耗材

  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪
    唐海红 13120400643 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 准确、坚固、耐用、防水 人体工学设计: 手提式操作,亦可肩挂或腰悬;内置探头存储室,方便携带 系统完整:已预接电导和温度探头,备有多种电缆长度可供选择 四纯镍电极探头:准确度高、维护量小,无需镀铂黑 无需校准:仪器出厂前已经预校妥当,开机即可读数 自动量程选择:确保任何高低读数均一致准确,省却了往返调拨之苦 自动温度补偿:可选择显示电导系数,参考温度和温度补偿系数可按需调整 特大液晶显示屏:另有背景加光功能,即使在昏暗的环境下仍能清晰读数 应力舒缓电缆接头:减少接线处的物料疲劳,有效延长电缆的使用寿命 坚固防水外壳:适用于野外的严峻环境,仪器即使掉入水中亦可自动浮起;探头外置不锈钢套,坚固耐用更易于沉入水中 全电池操作:工作寿命长达100小时(碱性电池);另有低电量显示 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 不带内存 备有3米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 YSI 30M型 盐度、电导、温度测量仪 带内存,可储存50组数据 使用非散失性存储器,读数不会因断电而丢失 备有3米、7.5米、15米和30米四种电缆长度可供选择 YSI 30/30M 系统规格 测量参数技术指标 参 数 测量范围 分辨率 准确度* 电导率 0至499.9微西门子/厘米 0至4999微西门子/厘米 0至49.99毫西门子/厘米 0至200.0毫西门子/厘米 0.1微西门子/厘米 1.0微西门子/厘米 0.0毫西门子/厘米 0.1毫西门子/厘米 量程之± 0.5%*+ 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 盐 度 0至80ppt 0至80 ± 2%或± 0.1ppt* 温 度 -5℃至+95℃ 0.1℃ ± 0.1℃(± 1 lsd)* 注:* 仪器规格包括仪表和探头的总误差 + 若电缆长度超过15米,样本的比电导度需大于0.1毫西门子/厘米 其它技术指标 导管常数 5.0/厘米± 4% 参考温度 +15℃至+25℃(可调节) 温度补偿系数 0至4%(可调节) 适用水体 淡水、海水、污水或绝大部分其它溶液 工作温度 -5℃至+95℃ 防水性能 超过IP65标准 电 源 9伏 直流 (6节5号碱性电池) 尺 寸 24.1厘米(长)× 8.9厘米(宽)× 5.6厘米(厚) 重 量 0.77公斤 选购指南 仪 器 30-10 30-25 30-50 30M-10 30M-25 30M-50 30M-100 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆 YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,3米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,7.5米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,15米电缆(带内存) YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪,30米电缆(带内存) 配 件 5050 5520 携带箱,硬体 塑料便携箱(能容纳7.5米电缆) 电导标准液 3167-1 3168-1 3169-1 电导标准液,1毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,10毫西门子/厘米(475毫升) 电导标准液,50毫西门子/厘米(475毫升)
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