纤维细度测量仪

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纤维细度测量仪相关的厂商

  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 深圳市达宏美拓密度测量仪器有限公司是一家为全行业提供密度测量解决方案的专业公司;其主营品牌Daho Meter『达宏美拓』,专业生产制造电子密度仪。Daho Meter『达宏美拓』是行业中成立时间较早,专业的密度测试仪品牌,自成立以来,始终专注于密度测试领域的研究与创新;其范围涵盖:固体、多孔性固体、粉末、液体、液体浓度等与密度相关的测试领域。达宏美拓从成立至今,一直强调以专业、技术、品质、服务的核心竞争力;要赢得市场,就要服务好客户,要服务好客户就要有专业的技术,过硬的产品品质,与及时专业周到的服务。至目前,达宏美拓在国内设立了东莞、北京、深圳、杭州等4处客户服务中心与售后服务中心;于2013年8月在东莞成立了密度检测实验室,皆在进一步提升服务客户的质量与检测水准;于2016年通过ISO9001:2015质量管理体系认证。
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  • 佛山市布洛维测量仪器有限公司是专业从事硬度计等测量仪器研发、生产、销售及技术服务于一身的企业。公司自主研发和生产的洛氏、维氏、里氏、布氏硬度计系列产品已广泛应用于全国各地区的金属热处理、金属加工等行业,用于测试不锈钢、马口铁、铝型材、锻件,铸件,焊管,无缝钢管,塑料模具等产品硬度。 公司秉承“专业、专注、诚信、创新“的经营理念,用创新的思维专注于新型硬度计的研发,用诚信的态度服务于客户,通过合作实现自身与客户的共同发展。详情请登陆本公司网站:http://www.techbrv.com。
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纤维细度测量仪相关的仪器

  • T0022高蓬松度无纺织纤维厚度测量仪,此仪器用于测量高蓬松度无纺织纤维厚度并以数字显示读数。测试方法:在一定压力下,可动平行面板在垂直方向上的直线运动距离即为测定的厚度。厚度是无纺布的一个基本物理性质。在某些工业应用中,厚度需要控制在一个限度内。 应用:高蓬松度无纺织纤维、纺织品、无纺布 产品特点:压板: 300mm x 300mm量程::200mm可*到:0.01mm基座: 400mm x 400mm数字显示负荷精度: 0.1mm样品大小: 300mm x 300mm样品质量不*过: 288g垂直高度可调 参考标准:ASTM D5736-95 (2001) 电气连接:220/240 VAC @ 50 HZ or 110 VAC @ 60 HZ (可根据客户需求定制) 外形尺寸: H: 500mm W: 450mm D: 450mm重量: 40kg
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  • 显微镜双目平行差测量仪具体按GB/T19863-2005(体视显微镜试验方法)中4.5操作,注:完成GB/T19863-2005操作需按照该标准另配十字分化板,10倍十字分化目镜等1.用途及主要特点显微镜双目平行差测量仪主要用于检测双目显微镜左右光学系统出射光束方向偏差。2.主要技术指标1左右光轴不平行,当左右光轴夹角微调鼓轮处于中间零位时,夹角为12°2左分划板:十字分划板3右分划板:十字刻度分划板,格值3′4左右光轴夹角微调鼓轮调整范围:12°±4°鼓轮格值:1′5分划倾斜测微鼓轮测量范围:±4°鼓轮格值:1′6物镜焦距:f′=120mm7物镜有效口径:d=φ30mm8目镜焦距:f′=20mm
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  • UGT土壤孔隙度测量仪用途:土壤孔隙是容纳水分和空气的空间,是土壤中水分与溶质、根系与微生物等储存、交换、生长及呼吸的空间,与土壤水平衡、土壤呼吸、水分与养分运移等密切相关。UGT土壤孔隙度测量仪根据玻意耳马里奥特定律(在一定温度下,理想气体的体积与压强的乘积保持不变)而设计,可测量计算出土壤空隙度、pF等于1.8时的土壤空隙或田间持水量、土壤饱和持水量等,并可根据公式计算得出土壤三相比。 测量原理:仪器由外置样品室、与样品室相联通的内置压力室及数字气压计等组成。测量前需要先对压力室的体积和样品室的体积(盛放土壤样品的容器如取样环等必须放入样品室内)进行校准:先测量压力室与样品室联通平衡前后的压力变化,再将已知体积的校准块(可用已知体积的砝码等)放人样品室重新测量压力室与样品室联通平衡前后的压力变化,即可完成对压力室和样品室体积的校准。土壤样品经干燥称重后(如此可以得出土壤含水量)放入样品室,打开压力室与样品室联通阀,测量气体平衡前后的压力变化。最终通过所附的Excell文档,即可得出土壤空隙度、pF等于1.8时的土壤空隙或田间持水量、土壤饱和持水量等,而且可以根据下面公式得出土壤三相比: Vs=VL+VF+Vsw其中Vs为土壤样品体积(等于土壤样品环的容积),VL为土壤空隙体积,VF为土壤样品中的固体体积(不包括液体土壤水分及土壤空袭体积),Vsw为土壤水分体积(可通过土壤样品烘干前后的重量差得出)。特点:&bull 由于测量室较大,可对大样本进行调查&bull 无需土壤样品环&bull 无需其他设备&bull 测量计算参数:土壤空隙度、pF等于1.8时的土壤空隙或田间持水量、土壤饱和持水量等&bull 根据公式计算得出土壤三相比应用:用于径流场收集径流样品、径流流速与流量的测量用于小范围山体滑坡径流监测用于地质灾害研究用于水利学试验研究用于生态学野外监测用于林业生态系统恢复研究用于山体小流域水利变化研究等。技术规格:压力范围-1~3bar压力测量分辨率1mbar压力测量精度(室温) 0.1 %FS工作温度0~50 °C样品测量室高:12cm, 直径:15cm, 容积:2120cm3压力室容积体积1000ml尺寸44 x 50 x 40 cm(宽 x 高 x 深)重量15kg产地:德国
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纤维细度测量仪相关的资讯

  • 原位力学测量仪与拉曼光谱、金相显微镜实现联用
    p   近日,科技部高技术研究发展中心组织专家组对吉林大学牵头承担的863计划“跨尺度原位力学测试新技术与仪器装备的开发制造”进行了技术验收。专家组认为该课题突破了微纳量级测量的多项关键技术,研发出系列测量仪器,实现了预期目标,一致同意通过验收。 /p p   随着新材料、航空航天和高端制造业等产业集群的发展,对材料服役性能测试与保障能力的要求不断提高,学术界和工业界对材料微观力学性能测试技术与仪器开发的需求迅速增长。对此,在863计划支持下吉林大学等单位开展了跨尺度原位力学测试新技术与仪器装备的开发研制工作。经过3年攻关,课题组攻克了原位力学测试仪器装备的设计、制造与标定等关键技术,突破了原位测试仪器精度校准的技术瓶颈,使加载力分辨率达10mN、加载位移分辨率优于100nm,多项指标取得突破,与传统的材料力学性能测试技术相比,本课题研制的仪器能与扫描电子显微镜、Raman光谱仪和金相显微镜等多种材料性能表征技术相兼容,实现了对材料力学参数、微观力学行为、变形损伤机制与微观组织演化多参量原位精准测试。课题组已初步掌握了微测量仪器工程化产业化关键技术,并形成了专利成果转化的良性机制,所研发的压痕/刻划、拉伸/压缩、剪切、弯曲、扭转和拉伸-扭转复合等6类17种仪器及其配套分析处理软件,填补了我国相关领域仪器的空白。该课题成果已在包括北京大学、浙江大学、北京工业大学以及济南铸锻所等国内20多家大学和研究单位得到示范应用和推广。 /p p   该课题的验收表明我国已经掌握了具有自主知识产权的材料微观力学性能测试仪器及其批量制造的核心关键技术,实现了我国自主知识产权原位测试仪器的突破,提升了我国自主研制仪器的技术水平,推进了传统试验机行业转型升级,丰富了现有材料力学性能测试理论、技术与标准体系,在人才培养、学科建设和产学研合作等方面发挥了重要作用,扩大了我国在力学性能测试领域的国际影响力。 /p
  • 《锡膏厚度测量仪校准规范》发布实施
    近日,在广东省市场监管局指导下,由广东省计量院主持起草的JJF1965-2022《锡膏厚度测量仪校准规范》获国家市场监督管理总局批准发布实施。本规范的颁布实施,有效解决了锡膏厚度测量仪的量值一直无法获得有效溯源,不同仪器上测量结果差异较大的技术难题,进一步完善了精密几何量领域国家计量技术规范体系,促进了行业技术标准的统一,有利于集成电路产业、企业相关技术能力的提升。  据了解,锡膏厚度测量仪是一种被广泛用于检测集成电路板上锡膏印刷质量的仪器,它采用非接触式的光学测量原理,能快速、无损地测量锡膏的厚度、面积、体积等参数,其中,厚度是判断锡膏印刷质量的关键核心指标。以往由于缺乏相关的计量技术规范,各生产厂家在校正仪器时采用的方法和计量标准存在差异,导致测量结果的复现性较差,不利于产品质量的控制和不同企业间的产品验收。  针对上述问题,在广东省市场监管局的指导下,广东省计量院和国家计量院、山东院、苏州院等单位专家组成规范起草组,对目前市场上锡膏厚度测量仪的生产厂家和用户开展广泛调研,深入了解仪器技术原理、客户需求和实际使用情况,经过反复论证和实验,确定了仪器校准的主要技术指标、操作方法和计量标准器要求等,并最终由广东省计量院主持完成校准规范的起草和报批。目前,该院联合研发了配套的多种规格计量标准器,并已为香港生产力促进局等多家粤港澳大湾区的客户提供了校准服务。
  • 360万!武汉大学高分辨显微CT表型测量仪采购项目
    项目编号:ZB0104-202212-ZCHW0927项目名称:武汉大学高分辨显微CT表型测量仪采购项目预算金额:360.0000000 万元(人民币)最高限价(如有):360.0000000 万元(人民币)采购需求:序号货物名称主要规格数量(套)最高限价(万元)是否接受进口备注1高分辨显微CT表型测量仪最大功率:≥39W1360是合同履行期限:交货期:进口设备:收到买方信用证并办理完免税后260天;国产设备:合同签订后260天;质保期:验收合格后至少1年。本项目( 不接受 )联合体投标。

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  • 【分享】测量仪器的准确度

    定义 指“测量仪器给出接近于真值的响应的能力”(见JJF1001-1998《通用计量术语及定义》7.18条,以下简称条款)。也就是指测量仪器给出的示值接近于真值的能力,即测量仪器由于仪器本身所造成的其输出的被测量值接近被测量真值的能力。由于各种测量误差的存在,通常任何测量是不可能完善的,所以实际上真值是不可知的,当然接近于真值的能力也是不确定的,因此测量仪器准确度是反映了测量仪器示值接近真值的一种程度,所以在该定义的注中说明准确度是一个定性的概念。 测量仪器准确度是表征测量仪器品质和特性的最主要的性能,因为任何测量仪器的目的就是为了得到准确可靠的测量结果,实质就是要求示值更接近于真值。为此虽然测量仪器准确度是一种定性的概念,但从实际应用上人们需要以定量的概念来进行表述,以确定其测量仪器的示值接近于其真值能力的大小。在实际应用中这一表述是用其他的术语来定义的,如准确度等级、测量仪器的示值误差、测量仪器的最大允许误差或测量仪器的引用误差等。准确度等级是指“符合一定的计量要求,使误差保持在规定极限以内的测量仪器的等别、级别”(7.19条)。即就是按测量仪器准确度高低而划分的等别或级别,如电工测量指示仪表按仪表准确度等级分类可分为0.1、0.2、0.5、1.0、1.5、2.5、5.0等七级,具体说就是该测量仪器满量程的引用误差,如1.0级指示仪表,则其满量程误差为±1.0%FS。如百分表准确度等级分为0、1、2级,则主要是以示值最大允许误差来确定。如准确度代号为B级的称重传感器,当载荷m处于0≤m≤5000v时(v为传感器的检定分度值),则其最大允许误差为0.35v。又如一等、二等标准水银温度计,就是以其示值的最大允许误差来划分的。所以准确度等级实质上是以测量仪器的误差来定量表述测量仪器准确度的大小。有的测量仪器没有准确度等级指标,则测量仪器示值接近于真值的响应能力就是用测量仪器允许的示值误差来表述,因为测量仪器的示值误差就是指在规定条件下测量仪器示值与对应输入量的真值之差,这和测量仪器准确度定义概念是完全相对应的,如长度用半径样板,它就是以名义半径尺寸来规定其允许的工作尺寸偏差值来确定其准确度。因为真值是不可知的,实际上测量仪器可以用约定真值或实际值来计算其误差的大小,通过示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级来定量进行表述。实际上准确度等级也只是一种表述形式,这些等级的划分仍是以最大允许误差、引用误差等一系列的特性来定量表达的。 这里要注意,从名词术语的名称和定义来看,测量仪器准确度和准确度等级、测量仪器的示值误差、最大允许误差、引用误差等其概念是不同的,测量仪器准确度术语是定性的概念,严格讲要定量地给出测量仪器接近于真值的响应能力,则应该指明给出量值是什么量,是示值误差、最大允许误差、引用误差或准确度等级,不能笼统地称为准确度。我们可以认为测量仪器准确度是它们这些特性概念的总称,测量仪器准确度可以用其它相应的术语来定量表述,这二者是有区别的。准确度1级应称为准确度等级为1级,准确度为0.1%称为其引用误差为0.1%FS。但有时为了制定表格或方便表述,表头则也可写“准确度”,表内填写准确度等级或规定的允许误差。要说明一点,测量仪器准确度是测量仪器最最主要的计量性能,人们关心的就是是否准确可靠,如何来确定这一计量性能大小?通常它是用其它的术语来定量表述而已。

  • 直线度测量仪在现代工业中有广泛的应用前景

    [font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]在现代的生产中,传统的产品直线度尺寸检验是直尺法、准直法、重力法和直线法等离线检测方法。这种检测方法具有滞后性,检测效率低,而生产企业要想得到快速高质量生产,一台在线直线度测量仪是必不可少的。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪是可进行在线无损直线度尺寸检测的设备,可在生产线上监测直线度的微小变化,提供及时的检测数据,在超差时进行声光提醒,从而实现高质量的生产。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪由3台测量仪构成,每台测量仪内采用成90°交叉分布的2路光电测头测量棒材边缘的位置,利用2路测头的位置数据计算测量点在坐标系中的实际偏差。因此,无论被测物的弯曲方向如何,测量仪均可测得真实的直线度尺寸。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]测径工作介绍:棒材通过测量仪的测量区,每台小型测量仪分别实时采集直径数据。当外径测量的数据超过设定的公差范围时,声光报警器自动声光报警。测量的数据传输到控制柜中进行存储、显示、分析等。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度工作介绍:3台小型测量仪同时采集各截面边沿的位置,计算圆棒的直线度误差,与测径数据采集不冲突。当直线度超过设定的公差范围时,声光报警器自动声光报警,达到合格判定的目的。测量的数据传输到控制柜中进行存储、显示、分析等。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪可兼顾直径与直线度的检测,直线度测量精度≤±0.5mm。整个系统中测量仪安装在轧制现场,控制柜安放在控制室或其它环境适合电脑工作的室内。测量仪的供电电源由控制柜引入,测量仪的测头采用串口服务器合并成1路数据后通过网线或光缆传输至控制柜内的工控机。[/color][/size][/font][font=Tahoma, &][size=16px][color=#444444]直线度测量仪具有检测精度高、响应速度快、抗干扰性好、可靠性高等特点,能够满足棒材生产现场条件的使用要求。能安装于生产线上进行测量,它可实现长距离大范围的连续测量,同时具有精度高,测量准确性好的特点,这种自动化的在线直线度测量仪在现代工业及国民经济建设中有广泛的应用前景。[/color][/size][/font]

纤维细度测量仪相关的耗材

  • 显微薄膜测量仪配件
    显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统,可以结合显微镜测量薄膜的吸收率,透过率,反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量,测量点处的薄膜厚度,薄膜光学常量(n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是:光栅光谱仪(200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜(可选)。其中目镜适配器包含镜头,可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果(20X物镜)薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制,光谱测量和薄膜测量功能的软件,具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率,透过率,反射率和荧光光谱,并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置,所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数,如signal integration也能测量出来。对于反射率测量,该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度(《10nm到100微米), 光学常量(n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚: 10nm-150微米; 波长范围:200-1100nm 精度:0.5% 分辨率:0.02nm 光源:使用显微镜光源 光斑大小:由显微镜物镜决定 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口; 尺寸:120x120x120mm 重量:1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量
  • 雾度测量仪配件
    雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率,根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值,测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率,总反射率,漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要,雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱,不需要移动或改变任何部件,保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计,具有高度的可拓展性,充分满足不同客户的多种需要。例如,自动光学窗口可更换,简化操作,减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成,从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外,还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制,可以适合任何尺寸的样品,包括面积大于1平方米的玻璃板。
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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