锡膏测厚仪

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锡膏测厚仪相关的厂商

  • 高焱祥仪器专业提供涂装涂料及表面处理等行业检测仪器和相关耗材,代理全球各大知名品牌、实验室测试仪器设备,并提供各种检测仪器维修、保养等服务。    高焱祥仪器自2006年以来,就以提供最优良的仪器设备及专业的人力技术支援为己任,每年不断成长,得到了广大客户的肯定。我们强调服务,追求品质,以期达到[专业?积极?服务]的经营方针。我们将与您一起共创未来,成为您最值得信赖的合作伙伴。   我们代理的仪器设备:耐磨耗试验机,硬度计(铅笔硬度计),百格刀(附着力试验机),光泽度计,膜厚计(涂层测厚仪),粘度杯,粘度计,细度计,色差计,酸碱度计,电导度计,水份计,粗糙度计,液体比色计,比重杯,标准光源对色箱,涂膜器,超音波膜厚计,恒温恒湿机,RCA耐磨试验机配件,RCA耐磨机用测试纸带,耐磨机用测试橡皮擦条,TABER耐磨试验机用研磨轮,日本三菱铅笔,美国3M胶带………等多种仪器设备.
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  • 无锡市瑞金恒科技发展有限公司2012年10月落户于江苏无锡,以制造、贸易一体发展,产品——在线镀锌锌层测厚仪——在线钝化膜测厚仪,以“区别于其余产品”的设计原理,以“精度高”致力于行业,先于行业,以“为您提供一步到位的产品”为已任,为制造产品争光增彩。 企业原则:以质量,诚信为根为本;企业宗旨:为您提供一步到位的产品。
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  • 无锡市瑞金恒科技发展有限公司2012年10月落户于江苏无锡,以制造、贸易一体发展,产品——在线镀锌锌层测厚仪;——在线钢丝镀锌测厚仪;——在线硅钢干膜测厚仪,以“区别于其余产品”的设计原理,存于行业,以“为您提供一步到位的产品”为已任,为仪器制造产业争光增彩。 企业原则:以质量,诚信为根为本;企业宗旨:为您提供一步到位的产品。 服务产品:在线镀层测厚仪,在线镀锌层测厚仪,在线镀铝锌层测厚仪,在线镀锡层测厚仪,在线金属镀层测厚仪(镀锌测厚仪,锌层测厚仪,镀锌层测厚仪,镀铝锌层测厚仪,锡层测厚仪,镀银层测厚仪,锌层厚度检测仪,镀锌在线测厚仪) 在线钢丝镀锌层测厚仪,钢丝镀锌测厚仪,钢丝镀层测厚仪,钢丝在线检测仪,钢丝在线测厚仪,钢丝测厚仪,镀锌钢丝测厚仪 在线硅钢干膜测厚仪,硅钢干膜测厚仪,干膜厚度测厚仪,涂层干膜测厚仪,在线干膜测厚仪,干膜测厚仪,干膜涂层测厚仪
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锡膏测厚仪相关的仪器

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锡膏测厚仪相关的资讯

  • 全自动涂层测厚仪|涂魔师非接触无损测厚仪FLEX新功能介绍网络研讨会
    涂魔师全自动涂层测厚仪是一款非接触无损涂层测厚的仪器,采用先进的光热红外法(ATO)对涂层进行非接触测量,实时得出涂层厚度。在工艺早期在线测量涂层厚度是记录和监控涂装工艺的关键,不仅能起到节省涂装材料成本、提高产品质量,而且能减少滞后时间和降低废品率的作用。环境条件的变化容易影响涂装工艺,因此在工业环境中使用操作简易的测厚仪是至关重要的。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX采用的是非接触无损测厚专利技术,而不是基于磁感应或超声波原理。因此它能精准测量湿漆、固化前的粉末涂料来得出干膜厚度和直接测量固化后的涂层厚度,适合各种涂料类型和颜色(包括白色)。与电磁感应测厚设备相比,涂魔师能精准测量金属、木材、塑料和橡胶等基材上的涂层厚度。与其他光热法、基于激光和超声波原理的设备不同的是,它具有安全可靠、使用方便、精度高和重复性好、校准简便并无需严格控制测试距离和角度等优势。使用涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX有以下的优势:①节省10%-30%的涂料②减少测量湿膜涂层厚度的时间③操作简单,方便新员工学习④可以在生产线早期进行涂层厚度测量,降低成本和返工率⑤绿色环保⑥帮助企业建立工业4.0的标准⑦支持与企业ERP直连,数据实时传输2021年9月22号网络研讨会将由联合首席官Andor Bariska介绍涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX的详细产品信息和新功能,帮助企业优化喷涂工艺。马上发邮件到marketing@hjunkle.com申请网络研讨会视频和资料,邮件主题【9月22号涂魔师研讨会】我们将在研讨会结束后给您发送资料和视频。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX工作原理ATO光热红外法介绍涂魔师全自动涂层测厚系统使用光热红外法ATO原理,通过计算机控制光源以脉冲方式加热待测涂层,其中内置的高速红外探测器从远处记录涂层表面温度分布并生成温度衰减曲线。表面温度的衰减时间取决于涂层厚度及其导热性能。最后利用专门研发的算法分析表面动态温度曲线计算测量待测的涂层厚度。涂魔师全自动涂层测厚仪FLEX是一款功能齐全的高精准的非接触式无损测厚系统,无需进行整合,操作方便,校准简单,无需严格控制测试距离和角度,无需等到涂层固化后才进行涂层厚度测量,能有效节省材料和避免涂层缺陷问题,十分适用于生产车间现场,且自动记录数据及生产全过程。翁开尔是涂魔师中国总代理,欢迎致电咨询关于涂魔师全自动涂层测厚仪更多产品信息、技术应用和客户案例。
  • 发布欧屹球坑测厚仪新品
    产品简介:球坑法是一种简易实用的镀层厚度测试方法,是镀层产品质量控制或研发检测不可或缺的小型装置,用于硬质膜、固体润滑膜、陶瓷膜、金属膜等各种镀层的检测。不仅可对标准试样进行测量,也可对小型的工件进行测量。球坑法球坑仪是实现球坑法测量技术的必要仪器。球磨后,在镀层样品上形成一球坑,通过正确的测量分析,可快速得出镀层的准确厚度。主要特点:球坑法可用于分析镀层厚度、单层厚度及复合厚度。此外,配合POD销盘磨损试验机,可快速准确地测量出镀层磨损率。采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作,使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层(1 μm)的厚度。技术参数:技术规格 参数膜厚测试范围 0.5-100 μm 膜厚测试精度 0.1μm 磨球 标配直径 GCr15 钢球30mm抛光介质 W1级金刚砂研磨膏转速 10~160rpm可调定时范围 1秒~99小时电源电压 220 V AC 50/60 Hz功耗 100 Watts Maximum工作温度 0~40oC外形尺寸 ~400×250×180 mm重量 ~10K g操作电脑 选配CCD数码显微镜 选配/500万像素CCD/20-100倍放大倍数/同轴光源球坑测量软件 选配/适用于32位Windows XP/Windows 7系统质量保证 一年免费/终身维护备注 以上所列技术规格与参数更新恕不另行通知,如有疑问请联系我们创新点:采用优质机械加工部件和傻瓜化的操作,使得BCT1000球坑测厚仪 特别适合于要求快速测量硬质涂层(1 μ m)的厚度. 欧屹球坑测厚仪
  • 新品 | 日立分析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪
    2023年12月,日立分析仪器推出FT210型X射线荧光测厚仪和用于增强FT200系列智能镀层分析功能的最新版FT Connect软件。日立分析仪器是日立高新技术公司旗下的全资子公司,主要从事分析和测量仪器的制造与销售。通过推出 FT210 新型XRF镀层测厚仪,日立分析仪器扩大了其镀层和材料分析仪器产品系列。FT210 包括用于常规测量普通电镀的正比计数探测器,并集成先进且易于使用的功能,旨在增强大批量测试需求。此外,推出的 FT210 还包括适用于所有 FT200 系列型号的 FT Connect 软件更新版本,具有用于报告、创建校准曲线和数据处理的增强可用性功能。新版本 FT Connect 扩展了 FT230 的 RoHS 筛选功能。FT Connect V1.2软件与新仪器和现有仪器兼容。新品亮点每日为客户团队节省45分钟*FT210 与 FT230 非常相似,具备通过减少设置测量和处理数据所需的时间来提高生产率的功能。为加快分析设置,FT200 系列配备新型超大的样品视图、广视角相机、自动对焦和自动接近功能,以及名为“Find My Part™ (查找我的样品)”的智能识别功能,该功能可自动识别待测的特定测点并选择正确的分析方法。FT230扩展了RoHS功能得益于新版本 FT Connect 软件的更新, FT230 现在可用于检查更多材料是否符合最新的有害物质指令。FT Connect 中的界面内置 RoHS 筛选功能,从而确保简单、无缝地进行分析。日立分析仪器镀层分析产品经理 Matt Kreiner 表示:“FT210 使我们的客户能够为自己的镀层应用领域选择理想的探测器。由于引入新的软件功能,我们不断对操作员与 XRF 镀层分析仪的交互方式进行创新,通过简化设置和减少出错的可能性来增加测试量。通过使用 FT210 或 FT230,XRF 所有者可帮助操作员每天节省长达45分钟的时间,以专注于增值任务或增加测试量。”从简单的电镀层到针对微小特定测试点的复杂应用领域,日立分析仪器所拥有的各种分析仪(包括 FT210)旨在帮助用户在整个生产过程(包括进货检验、过程控制、最终质量控制)中获得置信度高的镀层零件测量结果。*使用“Find My Part™ (查找我的样品)”的5点测试程序的设置时间从73秒减少到19秒™,这样每次测试可节省54秒,每天可节省45分钟(50次测试)。

锡膏测厚仪相关的方案

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锡膏测厚仪相关的试剂

锡膏测厚仪相关的论坛

  • 高精度测厚仪哪个好

    在选择高精度测厚仪这样大型的机械设备时,往往都通过比较做出选择,知名品牌也是参考的一点,但是设备的质量也尤为重要。大成精密高精度测厚仪就符合这两点的厂家,在国内来说,他们做的是相当不错的,自主研发生产,质量高,得到了得到了消费者的大力认可,下面我们就来介绍一下,它好在哪些方面吧:   1、操作简单方便  简单方便的设备仪器不管是谁,都会非常喜欢的。如果设备仪器的操作比较繁琐或是需要专业人员来操作。厂家就会考虑很多方面,一来操作繁琐要对工作人员进行一系列的培训,二来请来的专业人员所需要的成本就会有所上升,利益就会相应减少。高精度测厚仪操作十分简单方便,这是厂家选择他们的其中一个理由。  2、能连接数据进行打印  测厚仪有电脑连接接口,在使用的时候可以购买相关软件,从而实现对测两次数据的储存打印,而且相关的软件还能够对测量数据进行统一,用专业的方式显示出来,从而让我们更加简单的了解测量数据机器所具有的特点。  http://www.dcprecision.cn/Uploads/201601/56a1a0aa23fb3.jpg  3、采用国外进口的优质元件  专业的测厚仪传感器部件通常采用的都是国外进口的优质元件,这些优质传感器元件能够让测厚仪的测厚分辨率比普通测厚仪增加很多,这种仪器对于零点一微米的距离都能精准的测量。然而测厚仪里面的优质传动元件也是确保测厚仪工作稳定性和准确性的重要因素。  激光测厚仪是近年来开发出的高科技实用型设备,是用于热轧生产线上实时在线式连续测量成材厚度的非接触式测量设备。它有效地改善了工作环境,具有测量准确、精度高、实用性好、安全可靠、无辐射、非接触式测量等人工测量及其它测量方法无法比拟的优点,并为轧制钢材厚度控制提供了准确的信息,从而提高了生产效率和产品质量,降低了劳动强度。  使用大成精密激光测厚仪以来,具不完全统计,因板厚误差造成的废品率下降了50%以上,创经济效益近千万元,受到各级部门和工作人员的肯定与赞赏。

  • 铁铝双用涂层测厚仪测厚仪CQ-X5(FN)

    铁铝双用涂层测厚仪测厚仪CQ-X5(FN)双功能技术的测厚仪, 完成磁感应和电涡流测量自动转换 http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/20130906153790149014.jpg http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/20130906153710011001.jpg http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/2013090615270230230.jpg http://www.szjmyiqi.com/up/image/201309/20130906152722842284.jpg 产品简介CQ-X5(FN)涂层测厚仪采用了双功能测量技术即磁性和涡流测厚方法,能够自动识别磁性或非磁性底材,然后采用相应的测试方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。该产品已经通过华南国家计量测试中心、广东省计量科学研究院验证,并荣获相关证书,深受各大厂家青睐。 适用范围: CQ-x5(FN)涂层测厚仪是铁铝基材双用的测厚仪,可以测量包括铝或铜底材上的特富龙、珐琅、瓷釉、环氧树脂、阳极氧化层或涂料的厚度测量。测厚仪磁感应测试方法应用的涂镀层包括锌、镉、涂料或粉末喷涂。 测试特点:精度高、稳定性好 铁基和非铁基底材自动识别、仪表能自动识别基材种类 切换LCD会显示“NFe”或“Fe 无需校准、一键操作 一体化探头、小巧实用、测量快速精确 自动开、关机以延长电池使用时间技术参数 测量厚度及精度 0-1999μm ± (3.0%+2μm) 0-40mil ± (3.0%+0.1mil) 公英制转换 μm/mil 双显 数据存储 10组数据 技术优势 零点校准 自动开机 内置防腐探头 LCD180度反转显示 电源 1.5V电池(AAA)×1 机身重 70g 机身尺寸 108mm×46mm×23mm产品结构图 http://www.szjmyiqi.com/up/image/201310/20131002161424492449.jpg CQ-X5(FN)涂层测厚仪面板图 CQ-X5(FN)测厚仪标准清单:CQ-x5(fn)涂层测厚仪主机 * 1台保证卡 * 1本说明书 * 1本[color=#000

  • 涂层测厚仪如何选型?以及测量方法介绍

    涂层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。下面小编为大家介绍涂层测厚仪测厚方法?涂层测厚仪如何选型?[url=http://www.dscr.com.cn/show.asp?id=175]涂层测厚仪[/url]测厚方法?磁性测厚法适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。涡流测厚法适用导电金属上的非导电层厚度测量,此种方法较磁性测厚法精度低。超声波测厚法目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。电解测厚法此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高,测量起来较其他几种麻烦。放射测厚法此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。涂层测厚仪如何选型?用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪,磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米,这类仪器又分探头与主机一体型,探头与主机分离型,前者操作便捷,后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测,测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金,银等金属的厚度。迪斯凯瑞GT-100高精度涂层测厚仪可无损地直接测量磁性材料(如钢、铁、合金和硬磁性钢)等物体表面上的非磁性覆盖层厚度(如:油漆、塑料,陶瓷,橡胶,铜,锌、铝、铬、铜等)。非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度(如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层)。具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)

锡膏测厚仪相关的耗材

  • 光学薄膜测厚仪配件
    教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等,也可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术,膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱,也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析,结合多次反射原理,给出膜层的厚度和光学常数(n,k),到货即可使用,仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可,操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 100nm-30微米;波长范围: 300-1000nm 探测器:650像素Si CCD阵列,12bit A/D精度:1%斑点大小:0.5mm 光源:钨灯-汞灯(360-2000nm)所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:320x360x180mm 重量:9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
  • TT30超声波测厚仪
    TT30超声波测厚仪 TT30超声波测厚仪 超声波测厚仪TT300 超声波测厚仪TT300(智能标准型,TT300超声波测厚仪是智能标准型超声波测厚仪超声波测厚仪TT300采用超声波测量原理,TT300超声波测厚仪适用于能使超声波以一恒定速度在其内部传播,TT300超声波测厚仪并能从其背面得到反射的各种材料厚度的测量。TT300超声波测厚仪可对各种板材和各种加工零件作精确测量,另一重要方面是可以对生产设备中各种管道和压力容器进行监测,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度。可广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。超声波测厚仪TT300基本原理  超声波测量厚度的原理与光波测量原理相似,探头发射的超声波脉冲到达被测物体并在物体中传播,到达材料分界面时被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。 超声波测厚仪TT300性能指标  测量范围: 0.75mm~300.0mm   显示分辨率:0.1/0.01mm(可选)  测量精度:± (1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度   管材测量下限(钢):&Phi 15mm× 2.0mm   最小厚度值捕捉模式:可选择显示当前厚度值或最小厚度值  数据输出:RS232接口,可与TA220S微型打印机或PC连接  数据存储:可存储500个测量值和五个声速值  报警功能:可设置限界,对限界外的测量值能自动蜂鸣报警  使用环境温度:不超过60℃   电源:二节AA型1.5V碱性电池  工作时间:可达100小时  外形尺寸:152mm× 74 mm× 35 mm   重量:370g
  • 手持式薄膜测厚仪配件
    手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率,薄膜反射率,荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量(折射率n和k),薄膜厚度测量范围为350-1000nm,不需要电线连接,也不需要实验室安装空间,它从USB连接中获取工作电源,这种独特设计方便客户移动测量,只需USB线缆从计算机控制测量即可,采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪,具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源,光源寿命高达20000小时,手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电,不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚: 15nm-90微米;波长范围: 360-1050nm 探测器:3648像素Si CCD阵列,16bit A/D精度:1nm 斑点大小:0.5mm 光源:LED混合光源( 360-1050nm )所测样品大小:10-150mm, 计算机要求:Windows XP, vista, Win7均可,USB接口;尺寸:300x110x500mm 重量:600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量,用于化学和生物薄膜测量,传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量
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