进口四探针测试仪

仪器信息网进口四探针测试仪专题为您提供2024年最新进口四探针测试仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括进口四探针测试仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的进口四探针测试仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合进口四探针测试仪相关的耗材配件、试剂标物,还有进口四探针测试仪相关的最新资讯、资料,以及进口四探针测试仪相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

进口四探针测试仪相关的厂商

  • 金坛市品杰测试仪器有限公司,主要从事气候环境与可靠性试验设备的科研、生产、销售和服务。公司产品是江苏省星火科技扶持项目,公司地址为位于国家科技产业区-著名数学家华罗庚的故乡:江苏省金坛市金城镇工业园区。距常州火车站以及南京禄口机场约一个小时车程,地理位置极其优越便捷。公司本着以“品质为企业的使命”、“服务是友谊的延续”的目标,为客户提供全方位,高品质的测试用试验设备。 公司主导产品有:高低温(交变)试验箱、高低温湿热(交变)试验箱(也称可程式恒温恒湿试验箱)、盐雾腐蚀试验箱(盐水喷雾试验机)、二氧化硫腐蚀试验箱,霉菌试验箱,温度冲击试验箱,防尘、防水(IP外壳防护等级测试设备),光老化(紫外光耐气候,氙灯耐气候),温度老化试验箱等模拟气候类环境试验设备以及各类步入式试验室,产品广泛应用在军工、航空航天、电工电子、仪器仪表、家用电器、汽摩配件、科研质检等各类领域。 公司拥有先进的生产设备及工艺,如数控冲床、折弯机、剪板机、二氧化碳气体保护焊等设备,令生产出的产品工艺更加精湛,公司外购件均采用国内、外知名品牌,如美国Honeywell,韩国三元,法国TE等,制冷压缩机采用法国泰康,德国谷轮等品牌。公司也自行开发专用试验箱控制器,在设计中融入了计算机技术,采用大面积彩色触摸屏的人机交谈方式,发挥了设备更好的性能以及方便了用户对设备的操作。 “客户满意”是公司永远的追求,公司承袭“以诚为本”的经营宗旨,奉行“质量是企业的生命”为用户提供有效可靠的最佳产品解决方案和售后跟踪“保姆式”服务,公司在2008年已经通过ISO9001:2000质量体系认证,真正做到售前指导、售中培训、售后跟踪的完善体系。
    留言咨询
  • 山东省潍坊瑞格测试仪器有限公司是一家专业从事分析检测仪器的研发、生产、销售及服务于一体的高科技企业。公司产品主要应用于农业科研、土壤分析、地质勘探、公路建设、食品、医药、化工、卫生防疫、环保检测等领域。 目前公司主要有四大系列产品,分别为粉碎系列、药残检测系列、田间信息管理系列、样前处理系列。产品获得国家17项专利,其中自主研发的“改进型土壤粉碎机”入围2011年度国家星火计划。产品在中科院、社科院、环科院、中国农业大学、山东大学等多个科研院校中得到广泛应用,并在全国多个省土肥站测土配方施肥项目仪器采购中中标。公司还积极拓展海外业务,且远销印度及东南亚等地区。 公司自创立以来,本着“质量第一,用户至上”的原则,秉承“科技服务社会”的理念,积极引进吸收国内外的先进技术,不断研制开发出优质、高效、实用的新型产品。
    留言咨询
  • HT ITALIA来自于美丽的欧洲小镇——意大利法恩莎,公司自1983年成立以来,产品年销售额超过4000万欧元。并在2009年在中国广州建立办事处,负责中国地区的产品销售和售后服务。 HT ITALIA公司设立专业的研发团队,在1992年研制生产出HT2038,1999年研制生产了世界上第一台带电能质量分析仪功能的便携式多功能电气安全测试仪——GENUIS 5080,在2001推出具有三相电能质量分析仪功能的多功能电气安全测试——GSC系列,刷新了便携式仪器的多功能之最。2007年HT公司开始涉及太阳能光伏系统测试,以提供太阳能光伏电站的现场测试仪表,HT可提供全面的太阳能光伏电站测试仪表:并网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR300N,太阳能电池I-V特性曲线分析测试仪I-V400,离网太阳能光伏电站性能验证测试SOLAR I-V等。近年来,HT公司又基于自身的设计现场测试理念,推出自主品牌的全新系列红外热像仪产品,以充分满足客户的个性化需求,HT品牌的红外热像仪家族包括:THT41/42/44的经济型系列,THT49的专业级红外热像仪和THT50专家型红外热像仪。现在HT公司拥有:红外热成像仪,电气安全测试仪(含:绝缘电阻测试仪,接地电阻测试仪,漏电保护开关-RCD测试仪,耐压测试仪和多功能电气安全测试仪)、电能质量分析仪、通用测试仪表(含:数字万用表,数字电流钳表,红外测温仪,数字测温仪,数字噪声计,激光测距仪等)、GEF专业绝缘工具(含:绝缘镙丝批,各种绝缘剪钳,各种型号的工具套包,工具箱等)等系列产品。
    留言咨询

进口四探针测试仪相关的仪器

  • 四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪光伏测试专用美国ResMap四点探针CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67m&Omega -cm及Implant高电阻2K&Omega /□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换CDE ResMap&ndash CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。 主要特点: 测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪(Four point probe(4PP))设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap规格:1. Pin material: Tungsten Carbide.2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜,半导体材料)设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量,半导体,光伏特点:1)针尖压力一致2)适用于各种基底材料3)友好的用户界面4)快速测量5)数据可存储 应用:1)方块电阻2)薄片电阻3)掺杂浓度4)金属层厚度5)P/N类型6)I/V测试
    留言咨询
  • 多功能四探针测试仪,数字式四探针测试仪FT-341双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-5~2×105Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×106Ω-cm3.测试电流范围:0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.1%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原 FT-342双电测电四探针方阻电阻率测试仪本仪器本仪器采用四探针双电测量方法,适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响,它与单电测直线或方形四探针相比,大大提高精确度,特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。参数资料1.方块电阻范围:10-4~2×103Ω/□2.电阻率范围:10-5~2×104Ω-cm3.测试电流范围:10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度:±0.2%读数5.电阻精度:≤0.3%6.显示读数:液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式: 双电测量8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W9.整机不确定性误差: ≤4%(标准样片结果)10.选购功能: 选购1.pc软件;选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头: 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;优秀与智慧之原
    留言咨询
  • 四探针测试仪FT-330系列普通四探针方阻电阻率测试仪按照硅片电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准,本机配置232电脑接口及USB两种接口,本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差,比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量,更加准确.本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门,是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示,无需人工计算,并带有温度补偿功能,电阻率单位自动选择,仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程,无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制,恒流输出,结构合理、质量轻便,运输安全、使用方便;选配:配备软件可以由电脑操控,并保存和打印数据,自动生成报表;本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示,同时显示液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率,配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购. 规格型号FT-331FT-332FT-333FT-334FT-335FT-3361.方块电阻范围10-5~2×105Ω/□10-4~2×103Ω/□10-3~2×105Ω/□10-3~2×103Ω/□10-2~2×105Ω/□10-2~2×103Ω/□2.电阻率范围10-6×106Ω-cm10-5×104Ω-cm10-4~2×106Ω-cm10-4~2×104-cm10-3~2×106Ω-cm10-3~2×104-cm3.测试电流范围0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA0.1μA ,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA0.1μA,1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA1μA,10μA,100μA,1mA,10mA,100 mA4.电流精度±0.1%读数±0.2%读数±0.2%读数±0.3%读数±0.3%读数±0.3%读数5.电阻精度≤0.3%≤0.3%≤0.3%≤0.5%≤0.5%≤0.5%6.显示读数液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式普通单电测量8.工作电源输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:30W 9.整机不确定性误差≤4%(标准样片结果)10.选购功能选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台11.测试探头探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格 探针材质选购:碳化钨针 白钢针;镀金磷铜半球形针ROOKO/瑞柯品牌,来自瑞柯仪器公司,一个专注于改变人们生活方式和品质的企业. 专业与精致并重;与智慧之原 四探针测试仪四探针测试仪
    留言咨询

进口四探针测试仪相关的资讯

  • 瑞柯发布瑞柯全自动四探针测试仪新品
    FT-3110系列全自动四探针测试仪一.功能描述:四点探针法,全自动化运行测量系统,PC软件采集和数据处理;参照A.S.T.M 标准方法测试半导体材料电阻率和方块电阻;可设定探针压力值、测试点数、多种测量模式选择;真空环境,可显示:方阻、电阻率、显示2D,3D扫描/数值图、温湿度值、提供标准校准电阻件. 报表输出数据统计分析.FT-3110系列全自动四探针测试仪二.适用范围晶圆、非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等;半导体材料分析,铁电材料,纳米材料,太阳能电池,LCD,OLED,触摸屏等. FT-3110系列全自动四探针测试仪三.技术参数: 规格型号FT-3110AFT-3110B1.电阻10^-5~2×10^5Ω10^-6~2×10^5Ω2.方块电阻 10^-5~2×10^5Ω/□10^-6~2×10^5Ω/□3.电阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm10-7~2×106Ω-cm4.测试电流 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA, 10mA,100mA1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA5.电流精度 ±0.1% 6.电阻精度 ≤0.3%7.PC软件操作PC软件界面:电阻、电阻率、电导率、方阻、温度、单位换算、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、2D、3D图谱、压力、报表生成等8.压力范围:探针压力可调范围:软件控制,100-500g可调9.探针针间绝缘电阻:≥1000MΩ;机械游移率:≤0.3%圆头铜镀金材质,探针间距1mm;2mm;3mm选配,其他规格可定制10.可测晶片尺寸选购 晶圆尺寸:2-12寸(6寸150mm,12寸300mm);方形片:大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm11.分析模式单点、五点、九点、多点、直径扫描、面扫描等模式的自动测试12.加压方式测量重复性:重复性≤3% 13.安全防护具有限位量程和压力保护 误操作和急停防护 异常警报14.测试环境真空15.电源输入: AC220V±10%.50Hz 功 耗:瑞柯全自动四探针测试仪
  • 进口率超九成,美日仪器垄断市场——全国共享探针台盘点
    探针台是一种很专业的仪器,它主要的功能就是针对半导体元件进行检测,这里面说的半导体元件指的是集成电路,分立器件,光电器件,传感器等元件以及封装的测试。通过探针台配合测量仪器可完成集成电路的电压,电流,电阻和电容电压特性曲线等参数检测。可以适用于对芯片进行科研分析,抽查检测等;可以保证这些半导体元件的质量,缩短研发时间和器件制作工艺的成本,所以,它的存在对于制造半导体的企业来说是非常重要的。随着半导体市场的逐步开放和增长,作为半导体检测的必备仪器—探针台的市场也在逐年增长和扩大中,不论是海外品牌还是国产品牌,近几年在半导体检测仪器市场中的规模都在逐年扩大。由于高校的管理模式及制度,探针台大多养在“深闺”,大量科研资源潜能没有得到充分发挥。为解决这个问题并加速释放科技创新的动能,中央及各级政府在近几年来制订颁布了关于科学仪器、科研数据等科技资源的共享与平台建设文件。2021年1月22日,科技部和财政部联合发布《科技部 财政部关于开展2021年度国家科技基础条件资源调查工作的通知(国科发基〔2020〕342号)》,全国众多高校和科研院所将各种科学仪器上传共享。其中,对探针台的统计分析或可一定程度反映科研领域相关仪器的市场信息(注:本文搜集信息来源于重大科研基础设施和大型科研仪器国家网络管理平台,部分仪器品牌信息不全则根据型号等信息补全,不完全统计分析仅供读者参考)。不同地区(省/市)仪器分布情况本次统计,共涉及探针台的总数量为235台,涉及20省(直辖市/自治区),84家单位。其中,上海市共享磁测量仪器数量最多达63台,占比29%,涉及17所高校、研究院所和企事业单位等,上海如此高的占比主要是由于其集成电路等半导体产业发达。上海市探针台主要来自于上海华岭集成电路技术股份有限公司,共有25台,占上海市总共享探针台的11%。仪器所属学科领域分布从仪器所属学科领域分布可以看出,探针台主要用于电子与通信技术、物理学和材料科学研究,占比分别为32%、17%和14%。不过,信息科学与系统科学和信息与系统科学相关工程与技术两个学科重合度较高,合计占比达16%,比材料科学略高。需要注意的是,以上统计存在交叉分布的情况,即该仪器同时属于多类学科领域。仪器所属单位性质分布那么这些仪器主要分布在哪些单位呢?统计结果表明,共享探针台主要分布于高校中,占比达60%,这一结果主要是因为共享仪器平台的仪器由高校上传所致,统计结果并不能体现出此类仪器的市场分布。不过共享仪器最多的确实企业中的上海华岭集成电路。而高校和科研院所共享数量TOP5分别为清华大学、苏州大学、中国科学院上海微系统与信息技术研究所、东南大学、北京大学,这些高校院所都具有集成电路研发的基础。探针台主要品牌分布探针台品牌所属地区分布这些探针台主要品牌为美国Cascade、美国Lake Shore和日本东京精密,占比分别为28%、23%和16%。Cascade是全球领先的的探测系统、探针、探测器等产品的设计生产商,公司成立于1983年,总部设在美国俄勒冈州西北部城镇,为全球晶圆级测试的销售、服务和应用而存在,自主拥有150多项专利技术。Lake Shore公司成立于1968年,位于美国俄亥俄州哥伦布市,是低温与磁场科研设备的国际领导者。主要产品包括:振动样品磁强计、低温真空探针台、霍尔效应测量系统、低温控温仪、低温传感器、高斯计、磁通计等。可以看出,目前我国高校院所的探针台仍以进口为主,大部分市场被美日产品垄断,进口产品占比超过90%。此外,在统计过程中,笔者发现探针台常与半导体参数测量仪搭配联用,而搭配的半导体参数测量仪主要是美国Keithley的4200-SCS型号的产品。这是美国泰克旗下的吉时利品牌的一款产品。不过目前该型号已下架,最新款是4200A-SCS型号,4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器,包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。Keithley 4200A-SCS 参数分析仪本次共享探针台仪器盘点,涉及等Cascade、Lake Shore、东京精密、MPI、Janis、SUSS、东京电子、奕叶、Signatone、ARS、FORMFACTOR、MPI等三十多家厂商,呈现出三超多强局面。探针台高校院所市场将爆发随着集成电路产业的爆发式发展,2018 年开始,将集成电路设置成一级学科的提案开始出现。2018 年中国科学院院士王阳元在新时期中国集成电路产业论坛中提议,微电子学科提升为一级学科。学术界和产业界对集成电路成为一级学科异常关注。2019 年 10 月 8 日,工信部官网发布《关于政协十三届全国委员会第二次会议第 2282 号(公交邮电类 256 号)提案答复的函》中表示,工信部与教育部等部门将进一步加强人才队伍建设,推进设立集成电路一级学科,进一步做实做强示范性微电子学院。去年12月30日,国务院学位委员会、教育部正式下发关于设置“集成电路科学与工程”一级学科的通知。过去一年来,北京航空航天大学、安徽大学、广东工业大学、中山大学、清华大学等国内多所高校均成立集成电路相关学院。随着集成电路学院的纷纷成立,高校院所对半导体相关仪器设备需求将剧增,探针台作为半导体检测的重要仪器,相关市场将爆发。
  • 瓶颈显现,国产半导体测试探针突围之路漫漫!
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 随着芯片性能的日益提升,芯片复杂度越来越高,为了保证出厂的芯片品质,芯片测试环节越来越受到各大厂商的重视。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 在测试系统中需要用到一种重要的配件便是测试治具,包含设备连接治具(Docking)、探针台接口板(PIB)、探针卡、KIT、测试座(Socket)等,而其中的核心零部件便是测试探针,占整个测试治具总成本的70%。 /p h3 style=" text-align: justify text-indent: 0em " 测试探针市场被国外厂商占据 /h3 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 众所周知,国内半导体产业与国际的差距是全方位的,尤其是在高端领域,而高端芯片也是最注重测试环节领域。因此,与高端芯片的供应情况一样,芯片测试及其测试治具、测试探针等市场均被欧美、日韩、台湾等地区的厂商占据。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 长期以来,国内探针厂商均处于中低端领域,主要生产PCB测试探针、ICT测试探针等产品。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 近年来,伴随着资本运作和技术升级,长电科技、华天科技、通富微电已进入全球封测企业前十强,技术上已基本实现进口替代。同时,以华为、中兴等为代表的公司正加快将订单转移给国内供应商,芯片测试领域也展现了前所未有的繁荣景象。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 中美贸易摩擦的一次次升级也给我们敲响了警钟,不仅是IC测试环节需要国产化替代,作为重要配件的测试治具以及测试探针环节同样需要加快国产化进程。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 随着国内半导体产业链国产化替代的需求显现,近些年国内探针厂商开始布局发力半导体测试探针产品。目前,正在向半导体探针市场突围的国内厂商有台易电子(中韩合资)、木王探针、克尔迈斯(qualmax、韩资)、钛辅(台资)、先得利(港资)、和林科技等厂商。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 事实上,在半导体测试探针、测试治具领域近期发生了一件大事,华为旗下哈勃投资与来自马来西亚的老牌测试探针厂商JF Technology合作,在中国设立合资公司生产测试探针以及测试治具,并在业务方面进行深度绑定。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 一直以来,哈勃投资的目标均为国产供应链厂商,上述投资是截至目前哈勃投资首次与国外公司合作。笔者从业内了解到,这其实是无奈的选择,因为华为急需重构供应链,而国内厂商生产的测试探针产品性能并不能满足华为的需求。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 事实上,为避免技术外流,国外及台湾厂商都没在大陆设厂生产半导体测试探针(部分台湾厂商设有生产治具的工厂),这也导致进口测试探针产品交期太长,在设计、生产、物流以及售后服务等各方面都不能跟上国产客户的需求。 /p h3 style=" text-align: justify text-indent: 0em " 瓶颈显现,进口替代之路漫长 /h3 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 尽管半导体测试探针国产化迫在眉睫,但从技术的角度来看,要想替代进口产品却并不容易。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 业内人士指出,国内半导体测试探针还只能用于要求不高的测试需求,比如可靠性测试国产探针可以替代很多,但功能性测试和性能测试还有待突破。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 台易电子社长涂炳超表示,一套测试治具需要用到几十、几百甚至于上千根测试探针,若是有1根探针出现问题,那整套治具都要报废,这也是治具厂商一般会采购进口探针的原因所在。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 日本、韩国、台湾等地的半导体测试探针厂商是与国外的大型半导体厂商一起成长起来的,有长时间的技术积累,为很多大型企业提供测试解决方案,是经过市场验证的产品和团队,因此,进口测试探针有先天的优势,在中国市场颇为受欢迎。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 弹簧测试探针最核心的技术是精微加工和组装能力,涉及精微加工设备、经验、工艺能力缺一不可。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 值得注意的是,由于半导体测试探针市场一直被国外厂商占据,同时也实施了技术封锁,国内并没有相应的技术人才,包括生产人员和设计人员都缺乏。国内大部分测试探针厂商基本不具备全自动化生产制造能力。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 涂炳超指出,在国产测试探针厂商中,在国内有工厂的仅有木王探针、先得利、台易电子等少数厂商,而qualmax的工厂在韩国,在国内并未设立工厂,仅以贸易的方式在国内进行销售,和林科技则是以外购零部件的方式运作,仅负责组装,然后对外销售。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 涂炳超表示,“对于生产半导体测试探针而言,国产探针厂商面对的处处是瓶颈。” /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 在设备方面,生产半导体测试探针的相关设备价格较高,国内厂商没有足够的资金实力,采购日本厂商的设备。另一方面,对于半导体设备而言,产业链各个环节均会采购定制化的设备,客户提出自身需求和配置,上游设备厂商通过与大型客户合作开发,生产出经过优化的最适合该客户的设备。因此,即使国产探针厂商想采购日本设备厂商的专业设备,也只能得到标准化的产品。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 在原材料方面,国产材质、加工的刀具等也不能达到生产半导体测试探针的要求,同时日本厂商在半导体上游原材料方面占据绝对的优势,其提供给客户的原材料也是分等级的,包括A级、B级、S级,需要依客户的规模和情况而定。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 在工艺方面,常用的测试探针是由针头、针管、弹簧这三个组件构成的,测试探针中的弹簧是测试探针使用寿命的关键因素,电镀处理过的弹簧使用寿命高,不会生锈,也能提高测试探针是持久性和导电性。因此,电镀工艺是生产半导体测试探针的主要技术,而国内的电镀工艺尚且有待突破。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 根据VLSIResearch统计,2019年,全球半导体测试探针系列产品的市场规模达到了11.26亿美元。随着国产高端芯片不断突围,国内半导体测试探针市场规模也将迅速增长。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 涂炳超指出,总体来说,只要高端芯片、高端封测厂商才需要用到半导体测试探针,只有国内高端芯片和测试遍地开花,整个产业足够大,国产配套供应商才能迅速成长起来。 /p

进口四探针测试仪相关的方案

  • 贵金属合金的电子探针测试方法
    贵金属除了在国际金融活动、首饰和奢侈品中广为人知,在科研领域及工业应用也具有非常重要的价值,是一种重要的基础材料。贵金属合金的电子探针微区表征和测试中,由于其特征X射线之间可能存在的相互重叠和干扰,常常给测试带来一定的困难。本文选择了两类金系合金和一种铂系合金试样进行了电子探针测试,对测试方法进行了总结和说明,排除干扰因素后可获得较为理想的测试结果,为贵金属行业中相关的测试提供经验参考。岛津电子探针通过配置52.5°高取出角,以及统一4英寸罗兰圆的全聚焦分光晶体兼顾了高灵敏度和高分辨率,保证了获得理想的分析结果。
  • 岛津电子探针测试界面高温超导材料的方法研究
    利用薄膜生长法获得的界面高温超导材料是超导领域的一个重要研究方向。由于电子探针定量测试基体修正模型中首先假设电子束与试样交互作用区域的均质性,这种界面高温超导材料的层状膜结构给电子探针的定量测试带来一定的问题。本文以多层复合膜Sb-BaTiO3界面高温超导材料为例,梳理了测试流程。对于干扰谱线的确认和扣减问题进行了方法说明,探讨了基体修正ZAF方法的选择,以期获得更为理想的测试结果。
  • 碳酸盐矿物定量测试的新思路—应用岛津电子探针直接测试碳氧法及与传统方法的对比
    应用岛津EPMA测试超轻元素灵敏度高的特点,直接对包括碳和氧在内的全元素分析,测试碳酸盐矿物试样。电子探针对氧化物矿物的定量测试过程中,对于超轻元素元素氧一般不直接测试,而是按照价态配比补足,同时由于超轻元素元素碳的特殊性,以往测试碳酸岩矿物试样时也通常不测试碳,而是通过余量法给出。这种处理方式是基于测试仪器对于超轻元素测试的灵敏度和精度不够所不得已采取的折中方法。本文结合岛津电子探针对于超轻元素测试的高灵敏度特征,尝试了一种新的测试方案。通过对包括碳和氧在内的全元素分析,在典型的碳酸盐矿物白云石和方解石上获得了满意的测试结果。

进口四探针测试仪相关的资料

进口四探针测试仪相关的论坛

  • 四探针电阻率测试仪

    四探针电阻率测试仪。XH-KDY-1BS 型四探针电阻率测试仪是严格按照硅材料电阻率测量的国际标准(ASTM F84)及国家标准设计制造,并针对目前常用的四探针电阻率测试仪存在的问题加以改进。整套仪器有如下特点:1、 配有双数字表: 一块数字表在测量显示硅片电阻率的同时,另一块数字表(以万分之几的精度)适时监测全过程中的电流变化,使操作更简便,测量更精确。数字电压表量程:0—199.99mV 灵敏度:10μV输入阻抗:1000ΜΩ基本误差±(0.04-0.05%读数+0.01%满度)2、可测电阻率范围:10—4 —1.9×104Ω·cm可测方块电阻范围:10—3 —1.9×105Ω/□。2、 设有电压表自动复零功能,当四探针头1、4 探针间未有测量电流流过时,电压表指零,只有1、4 探针接触到硅片,测量电流渡过单晶时,电压表才指示2、3 探针间的电压(即电阻率)值,避免空间杂散电波对测量的干扰。3、 流经硅料的测量电流由高度稳定(万分之五精度)的特制恒流源提供,不受气候条件的影响,整机测量精度10 万次),在绝缘电阻、电流容量方面留有更大的安全系数,提高了测试仪的可靠性和使用寿命。5、 加配软件配电脑使用,实现自动换向测量、求平均值,计算并打印电阻率最大值、最小值、最大百分变化率、平均百分变化率等内容。6、 四探针头采用国际上先进的红宝石轴套导向结构,使探针的游移率减小,测量重复性提高(国家知识产权局已于2005.02.02 授予专利权,专利号:ZL03274755.1)。

进口四探针测试仪相关的耗材

  • 四探针测试探头
    340-TT四探针测试探头探针间距选择1mm;2mm;3mm探针材质选择:铜/钨钢针探针尖形态选择:尖针,半球型
  • 钨钢探针
    产品介绍探针作为探针台的核心附件之一,主要用途是接触连接待测件电极,为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件,从不同应用场景可分为钨钢探针,钨钢镀金探针,镀金软针,钨钢角度探针等,被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针,优异的导电性能;探测线细而柔韧,最大限度减少对集成电路的损坏;可测电流范围1fA-1A 多款针尖直径可选,满足不同应用需求 产品示意图针杆长度38mm,直径0.5mm。针尖直径有(1-3-5-10-30-50-150-300-500)um可选。
  • 钨钢角度探针
    产品简介 探针作为探针台的核心附件之一,主要用途是接触连接待测件电极,为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件,从不同应用场景可分为钨钢探针,钨钢镀金探针,镀金软针,钨钢角度探针等,被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针,优异的导电性能;钨探测线细而柔韧,因此可最大限度地减少对被测样品的损坏;可测电流范围1fA-1A;多款针尖直径可选,满足不同应用需求;产品示意图针杆长度32mm,直径0.5mm。针尖直径有(1-3-5-10-30-50-150-300-500)um可选。
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制