纳米级粒径分析仪

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纳米级粒径分析仪相关的厂商

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    布鲁克(北京)科技有限公司总部位于美国,是在纳斯达克上市的世界著名的高科技分析仪器跨国企业。在 50 多年的发展历程中,布鲁克始终致力于开发和生产性能强大的测量仪器,为我们客户的研究和行业发展铺平了道路。如今,布鲁克已经成为全球领先的分析技术提供商。公司遍布全球的 6000 多名员工正在五大洲逾 90 个地点,努力满足客户需求,扩展科学、工业和医疗分析的范围,为应对这一永久的挑战积极努力着。 布鲁克系统涵盖所有研发领域的广泛应用,被各种工业生产流程所采用,确保质量和流程的可靠性。布鲁克不断扩大其海量的产品和解决方案范围、广泛的已安装系统基础,以及在客户中的强大声誉。事实上,如我们的客户所预期,作为世界领先的分析仪器公司之一,布鲁克持续开发先进的技术和创新解决方案,解决当今的分析问题。 德国布鲁克公司,现属于上市公司布鲁克集团(NASDAQ: BRKR),1997年以前为西门子X射线分析仪器部。她完全继承和延续了西门子X射线分析仪器的研发、生产、销售及售后维护体系。几十年来,她一直引领X射线分析仪器的潮流。布鲁克公司纳米分析仪器部具有近50年能谱仪研发、生产、销售和维护历史,并开创微分析之先河――全球首创电镜用电制冷能谱仪,并将之推广,为用户提供了更好的微分析工具。秉续近20年电制冷能谱仪商用经验,承载6,000多台套电制冷能谱全球用户的殷切希望,作为电制冷能谱仪技术领域领跑者的布鲁克将一直以优异的性能、卓越的稳定性及全面的技术支持,不断超越用户的需求。 About Bruker Nano Analytics The Bruker Nano Analytics (BNA) Division, headquartered at Bruker Nano GmbH in Berlin, Germany, develops, manufactures and markets X-ray systems and components for elemental and structural analysis on the micro- and nano-scale.BNA' s product range comprises analytical tools for electron microscopes, including energy-dispersive X-ray spectrometers (EDS), wavelength-dispersive X-ray spectrometers (WDS), electron backscatter diffraction systems (EBSD), micro-spot X-ray sources for Micro-XRF on SEM and micro computed tomography (Micro-CT) accessories, as well as mobile and bench-top micro X-ray fluorescence (Micro-XRF) and total reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectrometers.
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    魔技纳米科技是三维微纳制造领域集研发、生产、销售、服务于一体的高新技术企业。核心研发团队拥有十年以上设备研发经验,深入生物医疗、光电通信、新材料、微纳器件等多个产业应用领域,打造具有自主知识产权的商用纳米级三维激光光刻直写制造系统。拥有应用于多行业场景的成熟加工工艺。可定制研发适配各产业领域生产需求的个性化设备和产品,突破生物制药、传感、光电芯片、超材料等领域从科研到工业生产的屏障,将纳米级制造精度和大范围生产相结合,提供针对精密智造领域的整套专业解决方案。
  • 普爱纳米位移技术(上海)有限公司是德国跨国公司Physik Instrumente(PI)GmbH & Co.KG在中国设立的独资子公司。 PI-纳米位移和定位领域的市场领导者。哪里需要挑战极限位移,哪里就会有PI! 40多年来,PI的产品一直以高品质和创新技术而著称。在提供最佳产品质量的同时,PI更为用户提供创新的技术服务和最佳的解决方案。从精密加工到数字与模拟控制电路,从亚纳米级的电容位置传感器到独创的PICMA 压电陶瓷促动器,PI已掌握全套关键技术,强大的技术实力推动着微米纳米定位技术不断地向前沿发展,也使得PI成为全球众多高科技企业、著名实验室的合作伙伴。 PI为用户提供各种不同类型的压电纳米定位系统和电机微米定位系统的解决方案,并可根据用户需求,提供各种OEM产品和定制产品。PI的产品包括,六自由度并联机器人,压电纳米定位台,压电偏转镜,PIFOC 显微物镜定位器,以及直线与旋转定位台等。今天,无论是在计量、显微,生命科技,还是激光技术,精密加工技术;无论是半导体科技,数据存储技术,还是光电子/光纤,天文等领域,PI的产品和技术正得到越来越广泛的应用,也赢得了越来越广泛的赞誉。 具体产品信息请参见PI公司官方网站:www.pi-china.cn www.pi.ws
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纳米级粒径分析仪相关的仪器

  • Aero-Particle Sizer 气溶胶粒径谱仪—— Nanoparticle Spectrometer一、仪器描述Aero-Particle Sizer 气溶胶粒径谱仪是英国ANCON公司唯一的高分辨率扫描电迁移粒径谱仪的设备,设备具有小型实验室的检测性能,自包含的一个打包箱,使设备便于携带,可用于实地研究和现场研究。Aero-Particle Sizer具有较高的测试准确性和适应性,可测试的粒径范围为10nm~17μm,具有超过100个测试通道。操作者可选择扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS)和光学粒子计数器(OPC)模式的双重功能,采用无臭、无危险、燃点高的易耗品,无需任何危险操作和安全风险,便于运输。非放射性的软X射线代替传统的放射性射线,扩宽了产品的应用范围:1、纳米技术(包括纳米管、石墨烯)2、气溶胶研究3、环境科学4、大气源解析5、颗粒粉尘研究6、工业生产过程管理7、汽车工业等触摸屏配置,可在显示界面上设置测试参数,并在几分钟时间内完成参数设置并开始测试采样,计算机控制,可允许无人值守的操作、数据存储和处理。本产品满足长期以来对研究级仪器的需求,便于携带,易于集成到特定应用的测试研究系统中。二、测试环境传统的高灵敏度光谱分析仪的尺寸、重量、复杂性和放射性在很大程度上限制了它的测试环境和应用,Aero Particle Sizer利用无毒、有机的溶液,并具有相同准确灵敏度,在任何地方都可进行粒度分布测量,如现场、生产车间、甚至是办公室都可以。三、配置和操作简单取样几分钟内就可开始测试,内置控制软件配置显示触摸屏,工作液消耗极低,两次添加之间可工作2000h,并具有高数据存储能力,满足无人执勤的测试条件。 四、技术参数1)粒径范围: (SMPS & OPC)10nm–12μm (CPC)10nm 2)流量:1.5Lpm±5%3)通道数:64 per decade <400 nm 16 total 400 nm 4)扫描测试时间:SMPS 模式,30seconds to 166 minutes, user selectableCPC 模式: 1–30seconds,user selectable5)测试浓度: SMPS模式,最大浓度 10?/cm3 CPC模式,最大浓度 10?/cm3 6)预热时间:通常小于400s,周围环境22℃情况下7)Charger:软射线 X-ray (4.9 kV) ,正常工作时间 5,000 hours, 8)SMPS 测试准确度:±3% 9)工作液:独有的、无毒、无臭味的工作液,装满可工作2000h,储液15ml;10)激光器: Class I - EN60825-1 (内置Class IIIB- EN60825)11)数据储存:SMPS模式 500 samplesCPC模式 1000 samples 12)尺寸:400 (L) x 300 (W) x 370 (H) mm13)重量: 9.5 kg14)电源:100–240V,50–60 Hz,5A15)输出: USB 数据接口,6英寸彩色触摸屏16)测试环境:温度10–37℃,湿度10–90%RH,不凝结,1个大气压
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  • 动态光散射纳米粒径分析仪Nicomp N3000介绍 Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来,采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理检测分析颗粒的粒度分布,粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯( Gaussian)单峰算法和拥有专li技术的 Nicomp 多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。 动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定,每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积(在特定浓度下)成比例关系,再带入其他影响参数比如折射率,这就是经典光散射(Classic light scattering)的理论基础。 图1:DLS系统示意图 zui新的动态光散射方法(DLS)从传统的光散射理论中分离,不再关注于光散射的光强值,而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说,我们在一定角度(一般使用90°角)检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散,光强值不断波动,理论上存在有非常理想化的波动时间周期,此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ,我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式,我们zui终就可以计算得出颗粒的半径(假定其是一个圆球形状)。 动态光散射理论:光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动,我们必须先理解相干叠加(coherent addition)或线性叠加(superposition)的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光,这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的zui终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系,这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起,或者叫干涉在一起,zui终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值,在DLS系统中,绝大部分都使用90度角。 技术参数:粒径检测范围粒度分析:0.3 nm - 10 μm分析方法动态光散射,Gaussian 单峰算法和 Nicomp 多峰算法pH值范围2 - 12温度范围0℃-90 ℃(±0.1℃控温精度,无冷凝)激光光源35mW激光光源检测角度90°检测器APD(雪崩二极倍增管,可7倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料);1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,zui小进样量10μL) 分析软件Windows操作系统,主流配置,光驱,USB接口,串口(COM口);符合 21 CFR Part 11 规范分析软件(可选)验证文件有电压220 – 240 VAC,50Hz 或100 – 120 VAC,60Hz计算机配置要求Windows操作系统,主流配置,USB接口,串口(COM口)外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg(与配置有关) Nicomp多峰分布 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特点,Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布,这和实践生产生活中不相符,因为现实中很多样本是多分散体系,非单分散体系,而且高斯分布灵敏性不足,分辨率不高,这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论,大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。如下图所示: 图一:Nicomp多分分布数据呈现 如图一:此数据为Nicomp创始人David Nichole亲测其血液所得。其检测项目为:高密度脂蛋白,低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白,平均粒径分别显示在7.0nm;29.3nm和217.5nm。由此可见,Nicomp仪器对于多组分体系的粒径分布可以提供清晰地检测数据结果。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果,更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计,Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。 图二:高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二:此数据为检测93nm和150nm的混合标粒所得到的数据。左边为高斯分布(Gaussian)结果,右图为Nicomp多峰分布算法结果,两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间,却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰,即如数据呈现,体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近。由此可知,尽管93nm和150nm的混合标粒之间粒径差别已经不大,由Nicomp的多峰算法仍然可以清晰地将体系中的多组分区分开来,可见N3000的灵敏性之高,其算法之精确,实为科研研发的zui佳帮手。 为满足不同客户的实际检测需求,我司的Nicomp 380 N3000会配备相应的配置,旨在为客户们在控制成本的基础上,得到需求的解决方案,达到收益zui大化。 技术优势检测范围:0.3nm -10μm;校准需求:无需校准;应用领域:广检测,速度快,灵敏度高且对团聚粒子灵敏度高;法典法规:符合USP,CP等各国药典要求;复合型算法:高斯(Gaussion)单峰算法与专li的Nicomp多峰算法结合均可选择;模块化设计:可同机搭载ZETA电位检测模块,还可增加自动稀释,自动滴定和自动进样等辅助测试模块,亦便于升级; 产品优势模块化设计Nicomp 380纳米粒径分析仪是全球wei一在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加,Nicomp 380的功能体系越来越强大,可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块带有专li的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差,且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度,这大大缩短了测试者宝贵时间,且无需培训,测试结果重现性好,误差率<1%。380/HPLD大功率激光器美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中,考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求,对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号,使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样,大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助,比如在检测右旋糖酐大分子时,折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性,会弥补散射光强的不足和衰减,测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离,Nicomp 380纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD) 探测器Nicomp 380纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和jun品级别的雪崩二极管检测器(相比较传统的光电倍增管有7倍放大增益效果)。APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度,如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团,他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低,这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块,在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。380/MA多角度检测器粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175,步长0.9°的多角度测角器,从而使得单一90°检测角测试不了的样品,通过调节角度进行检测,改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。应用行业: 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等
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  • 纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计,充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术,即可以多角度(步长0.9μm )检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:粒度测试范围:0.3 nm – 10 μm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量,是表征胶体分散系稳定性的重要指标,Zeta电位(正或负)越高,体系越稳定。Zeta电位表征的是粒子之间的排斥力。由于大部分的水相胶体体系是通过粒子之间的静电排斥力来保持稳定的,粒子之间的排斥力越大,粒子越不容易发生聚集,胶体也会越稳定。NICOMP 380 Z3000结合了动态光散射技术(DLS)和电泳光散射法(ELS),实现了同机测试纳米粒子分布和Zeta电势电位。 应用行业:磨料、化学机械抛光液、陶瓷、粘土、涂料、污染监测、化妆品、乳剂、食品、液体工作介质/油、墨水、 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等 自动滴定仪NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪在增加自动滴定模块后,可以一次性使用同一样品在不同PH值或不同离子浓度的条件下进行一系列测试,实现了在等电点测试的技术难题。 相位分析光散射法PALS(Phase Analyze Light Scattering)技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术,用相位(Phase)变化的分析取代原 先频谱的漂移,不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高,而且突破了水相体系的限制,对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及zui新的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品检测范围宽广,亚微米颗粒均可以被检测样品测试量小高辨析率结果重现性好,误差小于1%100 % 样品可回收li用可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器无须校准一次性进样,避免交叉污染样品可选配大功率激光发生器以及jun品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒 技术参数:粒径检测范围粒度分析:0.3 nm - 10 μmZeta电位检测范围粒度0.3 nm-100 μm分析方法粒径:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 Nicomp 无约束自由拟合多峰算法;电位:电泳光散射(ELS)技术和相位分析光散射法pH值范围2 - 12温度范围0℃ - 90 ℃激光光源(可选)5 mW氦氖光源;15 mW, 35 mW,50 mW激光光源;100 mW激光光源(红);20 mW,50 mW,100 mW激光光源(蓝/绿)检测角度(可选)90°或 多角度(10°- 175°,可选配)检测器(可选)PMT(光电倍增管),CMP(4倍增益放大)APD雪崩二极管(7倍增益放大)高浓度样品背散射175°背散射可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池(1cm×4cm,高透光,石英玻璃或塑料);1mL样品池(玻璃,高透光率微量样品池,zui小进样量10μL)选配模块高浓度背散射;自动稀释模块,自动进样器,多角度检测器,高能激光发生器,高增益检测器,21CFR PART11规范软件,在线模块。分析软件Windows 兼容软件;符合 21 CFR Part 11 规范分析软件(可选)验证文件有电压220 - 240 VAC,50Hz 或100 - 120 VAC,60Hz计算机配置要求Windows XP及以上版本windows操作系统,40Gb硬盘,1G内存,光驱,USB接口,串口(COM口)外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg(与配置有关)电泳光散射法(ELS)与粒子的动电(Zeta)电位: ELS 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射。它的光散射理论基础是 准弹性碰撞理论,只是在实验时在式样槽中多加一个外电场,带电粒子即以固定 速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动,与之相应的动力光散射光谱产生多普勒漂移,这一漂移正比于带电粒子的移动速度,因此实验测得谱线的漂移,就 可以求得带电粒子的电泳速度,从而求得ζ-电位。相位分析光散射法PALS(Phase Analyze Light Scattering)技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术,用相位(Phase)变化的分析取代原 先频谱的漂移,不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高,而且突破了水相体系的限制,对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。动态光散射原理 Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理来获得范围在0.3 nm到10 μm的胶体体系的粒度分布。DLS是通过一定波长的聚焦激光束照射在悬浮于样品溶液的粒子上面,从而产生很多的散射光波。这些光波会互相干涉从而影响散射强度,散射强度随时间不断波动,二者之间形成一定的函数关系。粒子的扩散现象(或布朗运动)导致光强不断波动。光强的变化可以通过探测器检测得到。使用自相关器分析随时间而变的光强波动就可以得到粒度分布系数(Particle size distribution, PSD)。单一粒径分布的自相关函数是一个指数衰减函数,由此可以很容易通过衰减时间计算得到粒子扩散率。zui终,粒子的半径可以很容易地通过斯托克斯(Stokes-Einstein)方程式计算得到。如下是Nicomp 380纳米粒径分析仪的检测原理简图: 大部分样品一般都不均匀,往往会呈现多分散体系状态,即测出来的粒径正态分布范围会比较大,直观的呈现是粒径分布峰比较宽。自相关函数是由多组指数衰减函数综合组成,每一个指数衰减函数都会因指数衰减时间不同而存在差异,此时计算自相关函数就变得不再简单。Nicomp 380纳米粒径分析仪巧妙运用了去卷积算法来转化原始数据,从而得出zui接近真实值的粒度分布。Nicomp 尤其适合测试粒度分布复杂的样品体系,li用一组独特的去卷积算法将简单的高斯正态分布模拟成高分辨率的多峰分布模式,这种去卷积分析方法,即得到PSS粒度仪公司独有的粒径分布表达方法—Nicomp分布(Nicomp Distribution)。有些仪器的高斯分析模式可以使用基线调整参数的功能,以此来补偿测试环境太脏而超出仪器灵敏度的问题。高斯分析模式也可以允许使用者指定“固体重量模式”或者“囊泡重量模式”来分析带有小囊泡的胶体体系,比如脂质体。Nicomp分析方法是一种专li的高分辨率的去卷积算法,它首次在1990年提出并应用于分析和统计粒径分布。在历史上已经证明Nicomp分析方法能够精确分析非常复杂的双峰样品分散体系(比如 2:1比例),甚至是三峰样品分散体系。在科学研究中,找到粒子聚集分布的杂峰是非常有用的。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪广泛适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。
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  • HORIBA发布新品纳米颗粒追踪粒径分析仪
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 仪器信息网讯 /strong & nbsp 近日仪器信息网从HORIBA处获悉,HORIBA新品纳米粒度仪ViewSizer& nbsp 3000已于2020年正式在中国上市。该产品是一款全新的多光源纳米颗粒追踪粒径分析仪,能同时给出颗粒的粒径分布和数量浓度信息,不仅能测量单分散样品的粒径,也能准确测量多分散性样品和多峰样品技术。该新品研发的技术来源于HORIBA刚刚于2019年收购的美国MANTA仪器公司。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/b3456bab-739e-4784-ac6e-f9ee64da138a.jpg" title=" HORIBA发布新品纳米颗粒追踪粒径分析仪.jpg" alt=" HORIBA发布新品纳米颗粒追踪粒径分析仪.jpg" / /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong ViewSizer& nbsp 3000 多光源纳米颗粒追踪粒径分析仪 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 据了解,目前市面上可以进行单颗粒追踪的主要有两种技术,一种是ICP-MS,另外一种就是纳米颗粒跟踪分析技术(NTA),ViewSizer& nbsp 3000正是一款采用了NTA技术的纳米颗粒追踪粒径分析仪。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 据HORIBA粒度表征应用工程师肖婷介绍,与普通的动态光散射纳米粒度仪相比,ViewSizer& nbsp 3000具备如下三大优点: /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 第一,仪器同时配备三种不同波长的激光光源,因而能够准确测量多分散性样品和多峰样品的粒径。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 第二,测量样品粒径分布的同时,能给出样品的数量浓度信息,并提供颗粒运动的视频,满足用户的可视化需求。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 第三,仪器可配置荧光功能模块,利用此功能可以扣除样品荧光的干扰,也可进行荧光标记,进一步测试各组分颗粒的粒径和数量浓度。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " ViewSizer& nbsp 3000当前主要目标用户群为高校、研究所用户,肖婷表示,该仪器特别适合做生命科学和纳米材料方向的应用研究。在生命科学方向,ViewSizer& nbsp 3000的荧光功能模块将发挥很大作用,通过荧光标记能得到各组分的粒径和数量浓度。而在纳米材料领域,该仪器能带来宽粒径分布的样品和多峰样品测量。 /p p style=" text-align:center" a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/KLDHFIRST/" target=" _self" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/cb5743d2-5345-4ce6-9a26-eab372832a55.jpg" title=" 640_300.jpg" alt=" 640_300.jpg" / /a /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " img style=" max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 75px height: 110px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/c823118b-54b9-4f5f-b995-34a69862bcfd.jpg" title=" 微信图片_20200330103948.png" alt=" 微信图片_20200330103948.png" width=" 75" height=" 110" border=" 0" vspace=" 0" / 想了解ViewSizer 3000更多信息?4月9日-10日,仪器信息网将联合中国颗粒学会举办首届“颗粒研究应用与检测分析”主题网络大会。HORIBA粒度表征应用工程师肖婷也将在4月10日10:00-10:30带来《纳米颗粒追踪粒径分析技术的特点及应用》的精彩报告,重点讲解ViewSizer 3000的更多性能特点和应用方案。欢迎大家报名参会。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(255, 0, 0) " strong 免费报名渠道: span style=" color: rgb(0, 0, 0) " /span /strong span style=" color: rgb(0, 0, 0) " 点击进入 /span /span strong style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " a href=" https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/KLDHFIRST/" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " 首届“颗粒研究应用与检测分析”主题网络大会 /a 官网 /span /strong ,点击“我要参会”,报名即可。 /p
  • 日立分析仪器推出全新FT160 XRF镀层分析仪:针对微电子纳米级镀层
    p style=" text-indent: 2em " strong span style=" text-indent: 2em " 仪器信息网讯 /span /strong span style=" text-indent: 2em " 2月25日,日立高新技术公司(TSE:8036)的全资子公司日立分析仪器(HitachiHigh-Tech Analytical Science)推出 strong span style=" text-indent: 2em color: rgb(0, 112, 192) " 新型FT160XRF光谱仪 /span /strong ,该分析仪提供三种基座配置选择方案用于纳米级镀层分析。日立分析仪器主要致力于分析和测量仪器的制造和销售。 /span /p p style=" text-align: center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 451px height: 301px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/c29354c7-1547-456d-ac6a-6c7087db5a33.jpg" title=" 日立新品.png" alt=" 日立新品.png" width=" 451" height=" 301" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: center " span style=" color: rgb(0, 176, 240) text-indent: 0em " FT /span span style=" color: rgb(0, 176, 240) text-indent: 0em " 160 XRF镀层分析仪 /span /p p style=" text-indent: 2em " 随着新型FT160系列在日本率先推出,日立分析仪器目前已在中国、北美、欧洲、中东和非洲销售FT160系列镀层分析仪并提供相关服务。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " 日立推出的该款最新一代镀层分析仪旨在应对测量小型部件上的超薄镀层所带来的挑战。 /span FT160是一种台式EDXRF(能量色散x射线荧光)分析仪,配有强大的软件和硬件,能实现高样品处理量,且任何操作员均能获取高质量结果。由于FT160系列专为在生产质量控制中发挥关键作用而设计, span style=" color: rgb(0, 112, 192) " 因此其可在半导体、电路板和电子元件市场中被广泛应用 /span 。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " strong ▋ /strong /span strong 测量纳米级的镀层 /strong /p p style=" text-indent: 2em " FT160配置高端部件,可以提供精细结构上的超薄镀层的元素分析。毛细管聚焦光学镜能聚焦直径小于30μm的X射线束,从而在样品上集中更大强度且其可测量的部件尺寸小于传统准直器可测量的部件尺寸。高灵敏度、高分辨率日立分析仪器硅漂移探测器(SDD)充分利用光学系统测量微电子和半导体上的纳米级镀层。高精度样品台和具备数字变焦功能的高清摄像头可快速定位样件,以提高样品处理量。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " 日立分析仪器产品经理Matt Kreiner表示 /span :“在之前产品的成功基础上所推出的FT160能提供重新设计的照明布置以提高零件的可视性并便于定位,且新的配置选择方案可确保特定应用的最佳性能并为繁忙的测试实验室提供新的紧凑型基座配置要素。该产品系列硬件和分析能力的不断发展使我们的客户更容易在快速发展的微电子领域控制生产。FT160是对我们镀层仪器综合系列的补充,这归功于日立45多年的XRF镀层分析仪的开发经验。” /p p style=" text-indent: 2em " FT160系列现已允许订购。可通过点击文末 a href=" https://www.instrument.com.cn/netshow/SH104100/product.htm" target=" _blank" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 日立分析仪器厂商展位 /span /a 联系日立分析仪器。 /p p style=" text-align: left text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " strong ▋ /strong /span strong 关于日立分析仪器 /strong /p p style=" text-align: left text-indent: 2em " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 354px height: 80px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202002/uepic/db00c146-e659-42ad-b762-773a6727b57f.jpg" title=" 00.png" alt=" 00.png" width=" 354" height=" 80" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: left text-indent: 2em " 日立分析仪器是日立高新技术集团于2017年7月创立的全球性公司。其总部位于英国牛津,其在芬兰、德国和中国从事研发和装配业务并在全球多个国家开展销售和支持业务。其产品系列包括: /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " □ /span FT160、FT110和X-Strata微焦斑XRF光谱仪,能测量单层和多层镀层(包括合金层)的镀层厚度,可成为质量控制或过程控制程序以及研究实验室的专用分析仪。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " □ /span EA1000、EA6000和HM1000 RoHS(有害物质限制指令)分析仪适用于RoHS 1和RoHS 2测试,使用便捷,能够很好适应限制指令的变化。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " □ /span DSC7000X、DSC7020、NEXT STA、STA7000、TMA7100、TMA7300和DMA7100系列热分析仪已经过优化,可检测最小反应并使其可视化,同时具有坚固耐用、可靠且易于使用的特点。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " □ /span EA8000 x射线颗粒污染物分析仪用于锂离子电池生产中快速有效的质量控制。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " □ /span Lab-X5000和X-Supreme8000台式XRF光谱仪可为石油、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料等多种行业提供质量保证和过程控制服务。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " □ /span & nbsp OE750、PMI-MASTER、FOUNDRY-MASTER和TEST-MASTER系列分析仪被世界各地的行业用于进行快速和精确的金属分析。该仪器采用直读光谱分析技术,可测定所有重要元素,能提供低检测限和高精度,包括钢中的碳和几乎所有金属中所有技术相关的主要和痕量元素。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " □ /span X-MET8000手持式光谱仪被成千上万的企业用于通过XRF精密技术进行简单、快速和无损的合金分析、废金属分拣和金属牌号筛选。 /p p style=" text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 112, 192) " □ /span 采用LIBS激光技术的Vulcan手持式光谱仪只需一秒即可识别金属合金,是世界上分析速度最快的分析仪之一。这对需要处理大量金属的企业而言非常有利。 /p p br/ /p
  • 3i流式新品|纳米流式新"玩家"——纬冉科技AN415纳米流式分析仪
    仪器信息网讯 近期,纬冉科技发布了新品纳米流式分析仪AN415将常规流式仪器的检测能力推向纳米级别,能够准确分析外泌体微囊泡、细菌、病毒、纳米材料等小粒径颗粒,为纳米尺度科学研究开辟了全新的可能。 纬冉科技AN415纳米流式分析仪(查看详情)仪器创新点:AN415 纳米流式分析仪凭借卓越的性能,将常规流式仪器的检测能力推向纳米级别,能够准确分析外泌体微囊泡、细菌、病毒、纳米材料等小粒径颗粒,为纳米尺度科学研究开辟了全新的可能。AN415纳米流式分析仪配备智能化软件,提供流畅的操作体验。支持批量组间对比和批量导出,处理高通量实验产生的大量数据。用户可以轻松管理和分析实验结果,无需手动处理。▍ 设备特点: AN415 纳米流式分析仪在外泌体微囊泡检测领域展现出优秀的应用价值,能够一次性准确表征外泌体微囊泡的粒径、浓度、携带的蛋白质和核酸等多个参数。AN415 纳米流式分析仪检测速度快,通量高,可以悬液上样,完美解决冷冻电镜等传统方法通量低,样品制备麻烦等问题。▍ 检测范围广 AN415纳米流式分析仪可检测30纳米到3微米的样本,涵盖了纳米级别的微粒和常规流式仪器的检测范围。▍ 多通道设计 AN415纳米流式分析仪采用多功能通道设计,最高可配置4个激光器,可3激光同时激发,最多支持13个荧光通道。可以在同一次实验中同时检测多种参数,实现更加全面的样本分析,提高实验的准确性和可靠性。此外,支持根据客户需求定制滤光片,灵活适配不同的实验需求。▍ 高通量上样AN415纳米流式分析仪具备高效的上样系统,支持96孔板自动上样,并且配备自动深度清洗功能,确保样本之间的严格隔离和无交叉污染,显著提高实验室的工作效率。▍ 开机便捷AN415纳米流式分析仪提供简便的操作流程,无需复杂的光路校准,15分钟内完成整个开机流程。使得用户能够更快速地开启实验,提高工作效率。

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  • 【资料】DelsaNano C 纳米级激光粒径仪

    我们公司新买台DelsaNano C 纳米级激光粒径仪,不知各位有没有用过引仪器,我们交流下注意、关键点:1,测粒径时,与稀释用的纯水,溶剂的粘度,屈折率有很大的关系,2,最好把稀释用的纯水,溶剂温度调整到所需的温度,如25度,更能检测出准确的结果,3,样品光强调到蓝色标,如果各位有更好的、更多的心得,希望能大家交流下,

  • 学位论文:纳米级镀镍晶粒屏蔽织物的研究

    是从万方下载的西安工程科技学院的硕士学位论文,其研究内容应该算是本专业的前沿了,与朋友们共享。【 摘 要 】 电子产品的普及,给人类的生活带来了极大进步的同时,却使电磁辐射无处不在,危害到了人类的健康.开发电磁屏蔽织物已成为纺织业的一个研究热点,虽然已研制出了各种纳米级的兼具导电、导磁性能吸波材料,但吸波材料与织物相结合、用于个人防护的纳米级吸波纺织品仍是一个空白.该文首次将镀镍织物制成纳米级晶粒镀镍织物,由于纳米晶粒自身的特性,具有优良的吸波性能,能制得质量轻、厚度薄、吸收的频带宽、吸收能力强的织物.该文采用碱性预处理、敏化处理、活化处理,使织物表面具有催化活性.通过正交实验确定了粗化工艺的最佳温度、浓度和时间等工艺条件.分析研究了敏化液、活化液在不同浓度和时间对金属化织物增生的影响,从而确定了最佳预处理工艺.化学镀镍溶液以碱性的次亚磷酸钠为镀液,镀液在60℃的条件下者.考察了镀液pH值、施镀温度、氯化镍、次亚磷酸钠、柠檬酸钠、硼酸的用量,以及硫代硫酸钠浓度等因素对化学镀镍反应时间、镀速、增重率的影响,确定了最佳工艺.织物镀覆开始并经过一段时间后,反应会自动停止.对镀覆后镀液成分的分析表明,反应自发停止的原因是由于镀液pH值过低或镀液中次亚磷酸钠在施镀过程中被消耗,使其浓度下降到极低所致.该段时间定义为"反应时间",镀速用增重法,镀液成分用化学滴定法确定.该文首次采用在镀液化气中加入分散剂,并在搅拌的条件下进行化学镀,分别选用了扩散剂NNO、十二烷基苯磺酸钠、聚乙二醇4000作为分散剂,用扫描电子显微镜考察了分散剂对在织物上形成的金属镍晶粒的粒径尺寸的影响.上述分散剂单独使用无法得到纳米级晶粒,考虑到表面活性剂的协同作用,故对分散剂进行复配,结果表明,扩散剂NNO与聚乙二醇4000复配的镀液化学镀得到的金属镍晶粒粒径能达到纳米级.电磁波屏蔽性能测试,证明该纳米级晶粒镀镍织物比普通化学镀镍织物有更好的屏蔽效果,而且这种结构特征使该织物具有吸波频带宽、兼容性好、质量轻和厚度薄等特点.镀镍织物的抗菌效果测试证明该织物具有抗菌效果,这为已经形成的镀层具有纳米材料的特性提供了旁证.[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=34313]纳米级镀镍晶粒屏蔽织物的研究[/url]

  • 使用马尔文纳米激光粒度仪ZEN3600分析纳米钛白粒径时有误差

    使用马尔文纳米激光粒度仪ZEN3600分析纳米钛白粒径时有误差

    [font=Verdana]我在进行粒径分析时,使用无水乙醇作分散剂,浓度0.025mg/ml,温度25℃,超声震荡20min。测量了几次结果粒径都偏差很大,如100nm的锐钛纳米二氧化钛,虽然PDI为0.289,但平均粒径达到了1285nm,且出现双峰;同样100nm金虹纳米二氧化钛虽然是单峰,但平均粒径高达826nm,PDI:0.146;0.2-0.4微米钛白分析结果平均粒径650nm,PDI[/font][font=Verdana]:0.184[/font][font=Verdana]。这是什么原因导致的外购商品参数与测试结果不符,是不是分散剂不对,或者使用有误?望各位大佬解惑。[img=三种纳米二氧化钛的强度分布,690,573]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/07/202207111807266875_4002_5322665_3.png!w690x573.jpg[/img][/font]

纳米级粒径分析仪相关的耗材

  • 纳米级微球颗粒标准品
    纳米级微球颗粒标准品(Particle-Size Standards)直径大小高度均一,具有NBS 的NIST认证,属于Duke Scientific公司荣誉出品Nanosphere Size Standards?系列产品中的聚合体微球标准品(苯乙烯单体聚合而成)。纳米级微球颗粒标准品应用广泛,电子显微镜领域、气液相微粒研究、色谱柱、激光散射研究等等,20-1000nm范围内的微球颗粒可以用来测量细菌、病毒、核糖体和细胞亚显微结构的大小。该产品以水溶液瓶装形式出售。聚合体密度为1.05g/ml;Refractive index of 1.58 @ 589 nm (25°C)。 订购信息:货号正常直径Certified Mean Dia.Size Uniformity Std. Dev.&C.V固体百分比7088120nm19nm+/-1.5nmNA1%7088350nm50nm+/-2.0nmNA1%70885100nm102nm+/-3.0nm7.6nm (7.5%)1%70886200nm204nm+/-3.1nm3.1nm (1.5%)1%70887300nm304nm+/-6.0nm4.5nm (1.5%)1%70888400nm404nm+/-4.0nm5.9nm (1.5%)1%70889500nm486nm+/-5.0nm5.4nm (1.1%)1%70890600nm600nm+/-5.0nm6.6nm (1.1%)1%70891700nm701nm+/-6.0nm9.0nm (1.3%)1%70892800nm802nm+/-6.0nm9.6nm (1.2%)1%70893900nm895nm+/-8.0nm9.1nm (1.0%)1% 下面推荐的是最高级别测量标准品,对直径1-40um的颗粒来说,以下产品极具竞争力。订购信息:货号Nominal diameterCertifiedMean Dia.Size UniformityStd. Dev.&C.V.SolidsContent708941.0μm0.993+/-0.0210.010μm (1.0%)1.0%708952.0μm2.013+/-0.0250.022μm (1.1%)0.5%708963.0μm3.063+/-0.0270.03μm (1.0%)0.5%708975.0μm4.991+/-0.0350.06μm (1.2%0.3%7089810.0μm9.975+/-0.0610.09μm (0.09%)0.2%
  • 纳米颗粒分析仪配件
    纳米颗粒分析仪配件用于观测和分析液体中的微小颗粒的布朗运动速率与尺寸分布相关,采用纳米颗粒跟踪分析(NTA)技术,通过激光散射装置(纳米观测)与超显微镜ultra-microscope和NTA软件的相结合,生成纳米颗粒图像,是全球领先的纳米粒度分析仪。纳米颗粒分析仪配件 纳米观测原理 纳米颗粒分析仪使用纳米透视Nano-Insight 激光散射模块,可以通过顶眼超显微镜观测到液体中的纳米粒子。采用不同激光散射颗粒在矩阵中表现为模糊点。模糊点根据其各自的布朗运动而移动。液体中有不同的布朗运动粒子。小粒子比大粒子受到相邻粒子的影响更少。因此,在超显微图像中,较大的粒子有大的模糊外观。 NTA能够追踪粒子的相应路径。 纳米观测模块 纳米观测模块的设计,可以使其安装在超显微镜,顶眼纳米的底板。可以通过Mishell软件来控制该模块。Mishell软件控制着纳米观测模块以及照相机。根据应用决定在纳米观测模块装备一个或多个激光器。激光器以一种特殊的方式排列。左侧图片上展示的是纳米观测图。较小的粒子比较大的粒子移动更快。我们用摄像机同时跟踪每个粒子。 顶眼超显微镜 顶眼超显微镜将进入模糊点的散射光可视化。用适当的时间分辨跟踪,模糊云可被分配并与各自的粒径相关。粒子的布朗运动图像是唯一的。下面将给出例子。每个模糊点代表单个粒子。 NTA 软件 上图展示的是NTA分析的典型图像。散射激光被捕获到模糊点,要根据时间函数跟踪模糊点。我们跟踪每个模糊点。跟踪每个粒子的方法,得到的技术结果是高分辨率。我们正在寻找与图像相关的量,当我们知道相关的量后,我们就可以极其精确地确定各种粒子的浓度。该技术将会带起许多可能的应用。例如,可能也可以使用荧光激光器。使用荧光激光器,可以瞄准复杂的基质里的一个粒子。该技术带来的好处是,用户可以在视觉上检查并且通过观察相应图像验证所有可能的应用。 MiNan是Mishell® 内的一个模块- 扩展图像分析软件包,被认为是市场上最先进的图像分析软件。MiNan是一个子程序,可以进行Morphious纳米粒子分析的全部描述。 MiNan是自带Morphious纳米系统的软件,研发用于纳米粒子的可视化以及纳米粒子的大小、形状(形态)和浓度的测量。每个粒子是一个个体,但通过观测扩散同时被分析。这种一个粒子后接一个粒子的方法产生高分辨率的结果,即粒子的尺寸分布和浓度分辨率高,同时视觉验证让用户对数据有了额外的信心。当荧光模式检测标记粒子时,粒子尺寸和浓度,蛋白质聚集和粘度都可以被分析。 纳米颗粒分析仪配件应用 ? 在制药或复合产业研发药物 ? 用于病毒筛查 ? 用于开发纳米生物标记物或毒物筛查 ? 用于蛋白质聚集的动力学模型研究 ? 用于通过膜泡的表征研究疾病 ? 用于促进纳米复合材料的发展 纳米颗粒分析仪配件特色 ? 在同一时间多粒子高通量表征 ? 实时视觉展示粒子,允许用户评估试验,无需额外复杂性 ? 方便和易于使用的软件,允许用户通过宏设置任何实验 ? 添加像高通量自动采样器,泵或加热和制冷配件 ? 自适应模块化系统构建任何复杂的应用程序,操作轻松舒适 ? 超级高效和购买成本低 ? 该系统提供高分辨率的粒度特性来研究复杂的多分散矩阵 ? 激光波长可选择 ? 通过给过滤器添加电动轮,得到自适应荧光分析 纳米颗粒分析仪配件参数 ? 尺寸 10 nm - 2000 nm* ? 浓度 106 - 109 粒子/ mL ? 荧光检测 纳米颗粒分析仪配件规格 温度范围 15-40 °C 电源 230V AC/115V AC, 50/60 Hz 摄像机 USB3 CMOS分辨率:1936x1216 161帧/秒,像素尺寸5.86μm:颜色校准模块 功耗 18W 激光波长 405nm(紫色),488nm(蓝),532nm(绿),642nm(红色) 尺寸范围 从10 nm到2000 nm (取决于材料) 焦点 电脑控制电动调焦 个人计算机 SDD亿康 II SDSSDHII-120G-G25HDD 西数蓝WD10EZEX1 TB|主板千兆字节 GA-Z97X-UD3H|内存金士顿骇客神条怒黑| HX318C10FBK2/1616 GB DDR3-RAM 处理器 英特尔® 酷睿™ i7 i7-4790K四核4×4.0 GHz 显卡 PNY VCQK2200-PB 4GB 电源 酷冷至尊 G750M 750w 机箱 酷冷至尊黑 软件 Windows® &(或更高).由Mishell® 供电 Mishell是Microptik BV公司的注册商标。 Windows是微软公司的注册商标。 MiNan尖端程序在Mishell下运行,以充分体现由Morphious纳米获得的纳米粒子 尺寸(长×宽×高) 20 x 18 x 30 cm 重量 10.5 kg
  • 吉致电子JEEZ陶瓷抛光液 CMP纳米级抛光液
    产品名称:陶瓷抛光液/氧化锆抛光液/氧化铝抛光液/氮化硅抛光液/氮化铝抛光液陶瓷抛光液作用: 吉致电子陶瓷类抛光液适用于碳化物、氮化物、氧化物和硼化物各精密陶瓷件的镜面抛光,通过CMP抛光工序可得到理想镜面效果,表面光滑平整具有易清洗、无残留等特点。产品特点:吉致可提供各陶瓷类的镜面抛光液1、纳米级抛光液,抛光后具有较优的粗糙度2、抛光液绿色环保、不含卤素及重金属元素3、抛光液可循环使用,根据工艺要求可添加去离子水稀释可定制化:可以依客户不同工艺要求,提供定制化服务 包裝方式:25KG/桶(也可依客户需求)
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