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1.UV老化测试概述UV老化测试项目是指模拟产品在现实使用条件中涉及到的各种因素对产品产生老化的情况进行相应条件加强实验的过程,该实验主要针对塑胶材料,常见的老化主要有光照老化,湿热老化,热风老化。产品使用在户外长期受太阳光照,想要了解该产品在户外能够使用的寿命就要模拟太阳紫外光进行UV老化实验,当然实验的强度要比实际户外光照的强度要大很多,从而缩短测试时间,可以通过短时间的测试了解产品使用多少年后的老化情况。2.适用产品范围:主要用于汽车、涂料、油漆、印刷包装、颜料、纺织物、屋顶材料、橡胶、塑料、涂层等。3.UV老化测试符合标准:GB/T14522-93(机械工业产品用塑料、涂料、橡胶材料人工气候加速试验方法)GB/T16422.3-1997(塑料实验室光源暴露试验方法第3部分:荧光紫外灯)ASTM D4329-2005(塑料荧光紫外线曝光的标准实施规程)ASTM D5208-2009(照相级塑料制品的荧光紫外线曝光的标准实施规程)ASTM G154-2006(非金属材料紫外线曝光用荧光仪器操作的标准实施规范)ISO 4892-3-2006(塑料.实验室光源暴露法.第3部分:UV荧光灯)ISO 11507-2007(涂料和清漆.涂层暴露于人工风蚀.暴露于荧光紫外灯和水)BS 2782(塑料试验方法)JIS D0205-1987(汽车零件耐气候性的试验方法)SAE J2020(汽车外饰材料UV快速老化测试)4. 常见UV老化测试UVA-340模拟阳光中的紫外线部分,主要用于户外产品的光老化试验;UVA-351模拟穿过窗玻璃的阳光的紫外线部分,主要用于室内产品的光老化试验;UVB-313EL:广泛应用于耐久性材料的快速、节省的测试,会加速材料的老化,有时会导致异常结果。在使用时必须征得客户的同意。
[size=18px][b]背景简介[/b][/size]材料在其合成、贮存及其加工和最终应用的各个阶段都可能发生变质,即性能变坏,例如泛黄、相对分子质量下降、制品表面龟裂、光泽丧失,更为严重的是导致冲击强度、挠曲强度、拉伸强度和伸长率等力学性能大幅度下降,从而影响正常使用。这种现象称为材料老化现象,简称老化。材料的老化是不可避免的,为了能较快速及准确地考察材料的耐候老化性能,实验室采用人工加速老化测试方法。为材料开发及筛选、产品应用及比较、质量监控等提供实验依据。研究材料老化的机理及加速老化与自然老化的相关性,可帮助试验人员找到合理的试验方法和结果评估方式,从而更有效的指导材料研发和筛选。翁开尔公司将联合美国Q-lab在广州SGS通标标准技术服务有限公司举行相应的材料耐候老化测试研讨会,深入探讨材料老化机理及加老化与自然老化相关性。[size=18px][b]课程内容[/b][/size][b]《耐候老化测试的机理及相关性研究》[/b]探讨材料在光、热、潮湿环境下所产生的老化机理,建立实验室老化与自然环境老化的对应关系,帮助您正确选用实验室加速老化测试设备和方法并开展户外曝晒,建立完善的老化实验方案。[b]《老化测试及结果评估案例分享》[/b]测试结果对于实际研发工作的指导,离不开正确的结果评估方式。课程将以实际案例出发,探讨各种材料老化测试结果的评估方式,帮助您正确的解读老化测试结果和材料性能。[size=18px][b]演讲嘉宾-瞿华盛Kobe Qu[/b][/size]瞿华盛(Kobe Qu),美国Q-Lab公司技术经理兼市场经理。主要从事材料耐候老化和腐蚀的应用及研究工作,帮助许多行业正确认识耐候老化和腐蚀测试的意义,协助客户建立正确的耐候老化和腐蚀测试体系。[size=18px][b]举办时间[/b][/size]12月10号 13:30-17:00(本公开课费用全免,首批报名人数限50人)[size=18px][b]地点[/b][/size]广州高新技术产业开发区科学城科珠路198号[size=18px][b]主办单位[/b][/size]翁开尔公司、美国Q-Lab公司、广州SGS通标标准技术服务有限公司[size=18px][b]报名方式[/b][/size]扫描下方二维码或发送邮件至foshan@hjunkel.com,邮件格式:报名+材料耐候老化测试研讨会+单位名称+人数。[img]https://www.hjunkel.com/system/upload/day_191111/201911111811018400.png[/img]
芯片又称集成电路,或称微电路、微芯片、晶片/芯片在电子学中是一种把电路小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上。前述将电路制造在半导体芯片表面上的集成电路又称薄膜集成电路。另有一种厚膜集成电路是由独立半导体设备和被动组件,集成到衬底或线路板所构成的小型化电路。 芯片老化测试对于芯片测试至关重要,但是需要注意哪些要点?对其测试又是可以做为什么试验项目呢?[align=center][img=,600,600]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206211700528596_4941_1385_3.jpg!w600x600.jpg[/img][/align] 芯片的温湿度试验方法如下: 高温高湿耐候性: a.芯片测试环境:温度方面,一般室温,70℃,125℃,155℃,175℃甚至更高,根据不同级别的测试要求来安排;湿度方面,80/85%的相对湿度,其他的湿度要求根据测试要求来定。 b.芯片测试时长,一般分为24H,168H,1000H等。 c.将芯片置于老化架上,然后连同老化架放入[b][url=http://www.instrument.com.cn/netshow/C27540.htm]恒温恒湿试验箱[/url][/b]中。条件设置为45℃(2h),70℃(2h)、-20℃(2h),45℃(2h)(五个循环,对于普通型)和60℃(2h),80℃(2h),-40℃(2h),60℃(2h)(五个循环,对于中耐久型)环境中老化。 一般来说,贴合实际使用的测试是比较符合要求的,但是由于需要在短时间内搞定测试要求,所以需要测试要求和环境条件超级加倍。 芯片行业的老化数据会对行业的发展产生特别积极的影响,会不断的推动这个行业朝着好的方向发展。