光路切换器

尊敬的客户： 您好!非常感谢您长期以来对德国耐驰仪器公司的支持与信任！我公司定于2012年10月16至18日上海国际博览中心参加Analytica China展览会。希望通过此次机会能与您共同探讨和交流技术，加深彼此的了解。诚邀您的参加，我们不胜荣幸！NETZSCH 市场部参展时间：2012年10月16-18日展览地点：上海新国际博览中心 上海市浦东新区龙阳路2345号展位号：N2，2346 前言： 在热分析与热物性测量领域，耐驰公司拥有无可争议的崇高地位。我们有着六十多年的热分析研发与应用经验，宽广的热分析品线，以及专业的技术支持力量。针对您的各项需求，能够提供给您超出预期的完美解决方案。我们的专家团队将竭诚为您服务！ 展品简介： 差示扫描量热仪DSC204F1测量单元为圆柱状加热银炉体，以确保炉内样品的均匀受热。其气密性的结构设计则使得炉体出口端可连接到FTIR、GC-MS以及MS用于逸出气体的成分分析。作为DSC204F1核心的传感技术，其中τ型传感器的时间常数仅为 0.6 秒；μ型传感器拥有比普通传感器高出十几倍的灵敏度。此外，可更实际需求选配特别的功能与选件。 同步热分析仪通过选择合适的炉体、安装高性能传感器、配以最恰当的附件，耐驰同步热分析仪几乎可以满足所有的应用。各种 TG-DSC传感器可以提供真正的 DSC 测试；各种特制的TG、TG-DTA 传感器则可满足特殊的测试要求。通过适当的配置，仪器的测量温度范围可达-150...2400℃。 热分析-气相色谱-质谱联用系统我们的解决方案是开发一种独特的 TG/STA-GC-MS 联用解决方案，使用事件驱动或温度相关的触发。新方案突破了传统联用技术的瓶颈，可以确保热重数据和GCMS数据的准确对应，从而使该技术成为真正实用的强大分析工具。 激光导热仪代表了当代激光闪射测量技术的最新进展。仪器为桌上型，温度范围 -125 ... 1100℃。为了覆盖这一温度范围，提供了两种可自由切换的炉体。仪器既可使用内置的自动样品切换器在一次升温中对多个较小的样品进行测量，也可单独测量较大的样品（最大直径 25.4mm）。 介电固化监测仪耐驰的DEA是市场是唯一可以实现在线、实时监测大型制件固化过程的设备。DEA288包括实验室版本、车间版本、工控版本，满足不同工作环境需要。仪器最大可接16个外部通道，可实时监测样品（制件）不同部位的固化行为。根据需求还可选配紫外灯，湿度发生器、热压机等。 热机械分析仪TMA402F1拥有独特的模块化设计，提供多种可更换的炉体，覆盖宽广的温度范围。配置真空密闭恒温系统，可在纯净气氛中工作；可精确控制作用力，轻松测量纤维、薄膜类材料；可以控制力以步进或线性的方式改变，方便测试蠕变和压缩模式；还提供额外附加功能，包括多种脉冲可选，如矩形和斜坡形的单频或多频的震荡力。 多模式量热仪 MMC274结合了DSC与绝热加速量热仪ARC这两大类仪器的优点，拥有非常广泛的应用范围。MMC274可以用于测量反应热，反应速率，吸热效应，热容，相转变，气体生成速率，蒸气压等。 有奖竞猜： 欢迎您参加有奖竞猜活动，点击此处下载并打印试题作答，现场我们将安排专门人员批阅，按答题得分不同换取对应的小礼品。名额有限，先到先得，不容错过啊!小提示：题目答案可在耐驰官网www.netzsch.cn寻得。我们期待您的光临！

X射线显微CT：先进的无损三维显微镜显微CT即Micro-CT，为三维X射线成像，与医用CT（或“CAT”）原理相同，可进行小尺寸、高精度扫描。通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像，真正实现三维显微成像。无需样本品制备、嵌入、镀层或切薄片。单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像，并且最后可以完好取回样本品！ 特点：先进的扫描引擎—可变扫描几何：可以提高成像质量，或将扫描时间缩短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的软件套件 自动样品切换器技术规范：X射线源：20-100kV，10W，焦点尺寸＜5μm@4WX射线探测器：1600万像素（4904×3280像素）或1100万像素（4032×2688像素）14位冷却式CCD光纤连接至闪烁体标称分辨率（最大放大率下样品的像素）：1600万像素探测器＜0.35um；1100万像素探测器＜0.45um，重建容积图（单次扫描）：1600万像素探测器，最高14456×14456×2630像素 1100万像素探测器，最高11840×11840×2150像素扫描空间：最大值：直径75mm，长70mm辐射安全：在仪器表面的任何一点上＜1 uSv/h外形尺寸：1160（宽）×520（深）×330（高）毫米（带样品切换器高440毫米）重量：150千克，不含包装电源：100-240V / 50-60Hz，典型值：在最大X射线功率下为90W创新点：SKYSCAN 1275 专为快速扫描多种样品而设计。该系统采用一个功能强大的广角X 射线源（100 kV）和高效的大型平板探测器，可以轻松实现大尺寸样品扫描。由于X射线源到探测器的距离较短以及快速的探测器读出能力，SKYSCAN 1275 可以显著提高工作效率——从几小时缩短至几分钟，并保证不降低图像质量。SKYSCAN 1275 如此迅速，甚至可以实现四维动态成像。 Push-Button-CT™ 让操作变得极为简单 您只需选择手动或自动插入一个样品，就可以自动获得完整的三维容积，无需其他操作。Push-Button-CT 包含了所有工作流程：自动样品尺寸检测、样品扫描、三维重建以及三维可视化。选配自动进样器，SKYSCAN 1275可以全天候工作。 灵活易用、功能全面 除了 Push-Button-CT 模式，SKYSCAN 1275 还可以提供有经验用户所期待的 μ CT 系统功能。所有测量都支持手动设置，从而确保为难度较大的样本设置佳参数。即使在分辨率低于 5 μ m 的情况下，典型扫描时间也在15 分钟以内。 无隐性成本：一款免维护的桌面 μ CT 封闭式 X 射线管支持全天候工作，不存在因更换破损的灯丝而停机的情况，为您节约大量时间和成本。 Bruker高分辨率X射线三维显微成像系统（3D XRM）

X射线显微CT：最先进的无损三维显微镜显微CT即Micro-CT，为三维X射线成像，与医用CT（或“CAT”）原理相同，可进行小尺寸、高精度扫描。通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像，真正实现三维显微成像。无需样本品制备、嵌入、镀层或切薄片。单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像，并且最后可以完好取回样本品！特点：最先进的扫描引擎—可变扫描几何：可以提高成像质量，或将扫描时间缩短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的软件套件自动样品切换器技术规范：X射线源：20-100kV，10W，焦点尺寸＜5μm@4WX射线探测器：1600万像素（4904×3280像素）或1100万像素（4032×2688像素）14位冷却式CCD光纤连接至闪烁体标称分辨率（最大放大率下样品的像素）：1600万像素探测器＜0.35um；1100万像素探测器＜0.45um，重建容积图（单次扫描）：1600万像素探测器，最高14456×14456×2630像素 1100万像素探测器，最高11840×11840×2150像素扫描空间：最大值：直径75mm，长70mm辐射安全：在仪器表面的任何一点上＜1 uSv/h外形尺寸：1160（宽）×520（深）×330（高）毫米（带样品切换器高440毫米）重量：150千克，不含包装电源：100-240V / 50-60Hz，典型值：在最大X射线功率下为90W创新点：微CT即Micro-CT，为三维X射线成像，与医用CT（或“CAT”）原理相同，可进行小尺寸、高精度扫描。 通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像，真正实现三维显微成像。无需样本品制备、嵌入、镀层或切薄片。 单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像，并且最后可以完好取回样本品！ Bruker高分辨率X射线三维显微成像系统（Micro-CT）