紫外反射测定

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紫外反射测定相关的资讯

  • 中国大鲵近红外反射光谱(NIRS)研究获得新进展
    近期,陕西省动物研究所大鲵科研团队与美国孟菲斯动物学会、密西西比州立大学联合攻关的&ldquo 利用近红外技术判定大鲵性别的研究&rdquo 项目取得了部分成果,在英国IM出版社的新闻通讯部分(2015年第26卷第2期)发表,并被选做杂志封面。   NIR 讯息是国际近红外光谱学协会的新闻通讯,提供最新的近红外界内新闻。它以全面,有趣的文章展示近红外光谱学的实际应用。   近红外反射光谱研究,是通过扫描样品的近红外光谱,可以得到样品的特征信息,收集数据建立模型,进而对未知样品进行准确预测。利用近红外光谱技术分析样品具有方便、快速、高效、准确和成本较低,不破坏样品,不消耗化学试剂,不污染环境等优点,广泛应用于动物生理、营养、健康,特别是动物行为、数量统计、繁殖和疾病等方面。此技术将为我国大鲵研究提供新的技术和手段。   Near infrared reflectance spectroscopy studies of Chinese giant salamanders in aquaculture production   Carrie K. Vance, Andrew J. Kouba, Hong-Xing Zhang, Hu Zhao, Qijun Wang and Scott T. Willard   http://www.impublications.com/content/nir-news-table-contents?issue=26_2   大鲵近红外扫描
  • 如何精确测定LED灯反射板的反射率?
    前言LED灯具有长寿命、安全可靠、节能环保等优点,在家用照明设备、显示屏、公共设施场所以及景观装饰等方面应用广泛,如汽车上的照明设备、景区内各种图案的装饰灯。LED灯通常由光源、外壳组成,光源装有反射板可以有效利用光源的能量,因此反射板的反射率会直接决定LED灯的光利用效率。而评价反射板的反射率,常用的检测仪器是紫外分光光度计。检测实例我们选取了生活中常见的一种LED灯,拆开发现反射板的四周是弧形表面,为获得准确的反射率,要对中间的平整表面进行测定,如图中红色圆圈标注的位置。但这个位置的直经只有5mm,如此小的测量位点,要使仪器光源的光斑中心完全照射到测定位置非常困难。图1 LED灯的反射板为了解决这类微小样品的测定难题,日立特别研发了微小样品全反射/漫反射测量系统定制附件,确保光源的光斑中心完全照射到测定位置。而且日立UH4150紫外-可见-近红外分光光度计的样品仓空间足够大,可以轻松安装这个附件。 测定时使用铝制平面镜作为标准参考,利用铝制平面镜的绝 对反射率将LED灯反射板的反射率的相对值转换为绝 对值,得到的反射板的全反射光谱如图所示。图2 LED灯反射板的反射光谱测定结果表明该反射板的反射率高达90%,可以有效利用LED灯光源的光通量,提高照明效率。 想获取更多信息,请拨打电话:400-630-5821。
  • 基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪
    CPB仪器与测量栏目最新发文:基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪,此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。光调制反射光谱是通过斩波器周期性地改变泵浦光源对样品的照射来测量半导体材料反射率相对变化的一种光谱分析技术。由于所测差分反射率作为能量的函数在材料电子能带结构的联合态密度奇点附近表现出明显的特征,光调制反射光谱已成为研究具有显著电子能带结构的半导体、金属、半金属及其微纳结构和异质结等材料联合态密度临界点的重要实验技术之一。光调制反射光谱中所使用的泵浦激光的光子能量一般要高于被研究材料的带隙,随着第三代宽禁带与超宽禁带半导体材料相关研究和应用的不断深入,需要更高能量的紫外激光作为光调制反射光谱的泵浦光源。目前国际上已报道的光调制反射光谱系统中,配备的泵浦光最大光子能量约5 eV,尚未到达真空紫外波段。因此,迫切需要发展新一代配备高光子能量和高光通量的泵浦光源的光调制反射光谱仪,使其具备探测超宽带隙材料的带隙和一般材料的超高能量临界点的能力。中科院理化所研制的深紫外固态激光源使我国成为世界上唯一一个能够制造实用化深紫外全固态激光器的国家,已成功与多种尖端科研设备相结合并取得重要成果。此文详细介绍了由中科院半导体所谭平恒研究员课题组利用该深紫外固态激光源搭建的国际上首台真空紫外光调制反射光谱仪(图1)的系统设计和构造,将光谱仪器技术、真空技术、低温技术与中科院理化所研制的177.3 nm深紫外激光源相结合,同时采用双单色仪扫描技术和双调制探测技术,有效避免了光调制反射光谱采集中的荧光信号的干扰,提高了采集灵敏度。该系统将光调制反射技术的能量探测范围从常规的近红外至可见光波段扩展至深紫外波段,光谱分辨率优于0.06 nm,控温范围8 K~300 K,真空度低至10-6 hPa, 光调制反射信号强度可达10-4。通过对典型半导体材料GaAs和GaN在近红外波段至深紫外波段的光调制反射信号的测量对其探测能力进行了性能验证(图2)。此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。该系统基于中科院半导体所承担的国家重大科研装备研制项目“深紫外固态激光源前沿装备研制(二期)”子项目“深紫外激光调制反射光谱仪”,目前已经初步应用于多种半导体材料在深紫外能量范围内的能带结构和物性研究,并入选《中国科学院自主研制科学仪器》产品名录,将有望在推动超宽禁带半导体材料的电子能带结构研究、优化超宽禁带光电子器件的性能方面发挥重要作用。图1. 深紫外激光调制反射光谱仪图2. 177.3 nm(7.0 eV)激光泵浦下的GaAs在1.2 eV至6 eV内的双调制反射光谱及对应能级跃迁

紫外反射测定相关的方案

紫外反射测定相关的论坛

  • 求助:怎样测量样品微区的紫外-可见-近红外反射(或者透射)光谱

    本人急需测量样品的微区紫外-可见-近红外反射(或者透射)光谱,样品为附着于基片(玻璃或者石英片)上的膜。微区大小为几十微米。请教各位大虾:有没有紫外-可见分光光度计可以测量微区的光谱性质,并且测量的波长范围可以达到近红外区。或者有哪种仪器具有相关的附件可以达到这种要求(本人现在采用的紫外-可见分光光度计是日立公司的UV-4100型。)请各位大虾指教。先谢过了!

  • 紫外-可见-红外光反射光谱分析求助

    紫外-可见-红外光反射光谱分析求助

    [table=100%][tr][td]本人测的固体粉末的紫外-可见-红外光反射光谱,波长在400和800nm出现跳跃上升,求大神答疑解惑,另外有什么关于紫外可见红外反射光谱的书籍请大家推荐一下,谢谢了[/td][/tr][/table][img=,648,538]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/06/201906241620135235_6227_1676638_3.png!w648x538.jpg[/img]

紫外反射测定相关的资料

紫外反射测定相关的仪器

  • 紫外反射滤光片 400-860-5168转4250
    紫外反射滤光片 型号:UVREF 光谱范围:200nm-400nm
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  • 来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗)Apollo(阿波罗)是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器,被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户:英国国家美术馆,荷兰国立博物馆,美国大都会博物馆,古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆,日耳曼国家博物馆,美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术:“一种非破坏性的无损检测技术,它利用红外线穿透研究对象表层(颜料或漆层),对表层下面的详细纹理细节进行成像,从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测,通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化,是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上,Apollo(阿波罗)使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量,高对比度,分辨率达到5100×5100的红外反射图像,其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画,唐卡作品,图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿,素描草图和笔迹变化(经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现),识别后期修复及补色的微观变化,并且当使用我们提供的滤光片套装时,可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像,Apollo(阿波罗)是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于:1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片,分辨率5100×5100,传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统,提供柱状图分析,可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器,可进行大画幅作品的扫描,提供成像预览,节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面,拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统,减少了成像噪音,提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式,方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能,解决研究人员后期图像处理的困扰,非常实用。8. 体积紧凑,方便携带,可装入航空旅行箱。
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  • 仪器简介:ZF-3紫外透射反射分析仪简介: 使用说明: (一)、分析观察样品 将电泳好的凝胶样品或薄层、纸层样品放在仪器中央,开启&ldquo 反射紫外灯&rdquo 电源,调节反射紫外灯架高度与角度,使样品发出的萤光最清晰明亮。通常反射紫外离样品越近,则萤光越强。 (二)、拍摄样品照片 (1)打开&ldquo 照明&rdquo 白炽灯,利用白炽灯照明,调节照相高度及相机镜头使样品成像清晰。在相机前装上近摄接圈与PCR滤色镜。然后关闭&ldquo 照明&rdquo 白炽灯。 (2)开启透射紫外灯电源,进行拍摄,应根据不同的样品确定不同的曝光时间,以清晰满意的底片。 (三)注意:如使用时不用暗箱,必须在暗室内操作。 我公司生产的紫外分析仪系列产品: ZF1-I多功能紫外分析仪 ZF1-Ⅱ型紫外分析仪 ZF-1紫外透射反射分析仪 ZF-2紫外透射反射分析仪 ZF-3紫外透射反射分析仪 ZF-5 型手提式紫外分析仪(手提式紫外分析仪) ZF-6型三用紫外分析仪(台灯式ZF-1三用紫外分析仪) ZF-7型暗箱式三用紫外分析仪(暗箱式三用紫外分析仪) ZF-8型暗箱式四用紫外分析仪(暗箱式四用紫外分析仪) ZFD型紫外透射分析仪 UV-A型手提暗箱式紫外分析仪技术参数:ZF-3紫外透射反射分析仪的技术参数: 1、电源:AC220V± 10%50HZ 2、功率透射:48W 64W 反射24W 照明40W 3、紫外滤色片尺寸透射:ZF-3 200× 150mm 反射200× 80mm主要特点:ZF-3紫外透射反射分析仪的主要特点: ZF系列紫外射反射分析仪(配暗箱)是最新研制成功的新一代分析仪器。 本产品具有灵敏度高、使用方便、特别采用302NM波长对样品的破坏作用更小,是紫外分析仪的更新换代产品,它可适用于DNA、RNA电泳凝胶样品的观察,可检测蛋白质,核甘酸等,在制药工业中检查激素生物碱、维生素等能产生萤光的药品质量,对薄层分析,各种同功酶,纸层分析进行观察分析和摄影,并可作为PCR技术的专用仪器。 ZF-3型紫外透射反射分析仪装有一组透射紫外光源和二组反射紫外光源,分别供观察、分析和摄影用。 紫外透射分四组,供用户选择:一组254nm;二组302nm;三组365nm;四组白炽灯;紫外反射有二组;一组254nm;二组365nm。
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紫外反射测定相关的耗材

  • 紫外反射装置
    仪器主要指标及成套性:测量紫外反射光谱 用途:用于精密分析仪器附件
  • 红外反射装置
    仪器主要指标及成套性:测量红外反射光谱(光栅红外用) 用途:用于精密分析仪器附件
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用 Ø 可重复性更强,操作简单 Ø 水平样品台,方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032

紫外反射测定相关的试剂

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