水分分析天平

产品描述采用环行红外灯 , 快速有效加热样品采用分析天平的传感器 , 确保水分测量结果的准确性采用镀金辐射体，确保样品加热的均匀性内置天平和加热单元的校准校验程序参数都可以键盘设定自动记忆功能：温度，时间，初始重量，结束重量，干重，水分等可以储存 5 组样品的数据测量结束有声音提示RS232 通讯接口技术参数：样品重量： ≥140mg样品重量： ≤200g水分精度：±0.01% 水分分辨率： 0.01%定时功能： 1-999min 加热炉温度： 50~180℃加热功率可达： 350W工作环境温度： 10~40℃称量盘：直径120mm尺寸 : 210×355×300(mm)重量 : 9kg技术参数型号称量范围分辨率重复性线性秤盘尺寸外形尺寸校准方式ggggmmmmEUT2000.001±0.001±0.002直径120210×355×300外部

天平简介：梅特勒托利多XPR/XS分析天平快速安全的满足所有称量需求。其中，XPR分析天平具有全面的质量管理工具(QM)，满足质量保证的要求，特别适合于例如制药行业的严格法规环境。而XS分析天平，配合其创新选件，为快速高效的称量过程设立了全新标准。天平特点：采用高精度高分辨率后置式传感器，满足用户高精度的称量需求；具有中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen)或触摸屏(TouchScreen)，实现安全、便捷的天平操作；红外感应器(SmartSens)*，实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等；网格秤盘(SmartGrid)，获得快速、准确的称量结果；水平控制系统(LevelControl)*，在天平偏移水平位置时提供警告提示功能；专业级全自动校准技术(proFACT)或全自动校准技术(FACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正，获得精确称量结果；最小称量值(MinWeigh)功能，提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒托利多客户服务工程师现场设置激活)；天平校验功能(BalanceCheck)*，自动提示用户使用外部砝码校正天平，确保称量结果始终准确；显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀；配备多个端口用于轻松连接和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备；符合GxP规范的称量结果输出，获得完整的、可追溯的称量信息；GWPExcellenceTM一体化安全功能，确保天平始终正确工作；*仅XP天平天平参数：XPR分析天平：量程120g~520g，可读性0.01mg~0.1mgXS分析天平：量程120g~220g，可读性0.01mg~0.1mg天平应用:梅特勒托利多XPR分析天平在例如需要符合美国药典(USP)或GMP/GLP规范的制药行业有着广泛的应用，同时也是获得至高称量准确度的完美解决方案。而XS分析天平，则是食品化工行业，关注至高称量效率，易于清洁的理想选择。 PR 微量天平主要型号：超微量天平XPR2U超微量天平XPR6U微量天平XPR2微量天平XPR10微量分析天平XPR56 微量分析天平XPR36XPR precision精密天平XPR204S精密天平XPR504SDR精密天平XPR303SN精密天平XPR603SNDR精密天平XPR4002S精密天平XPR10002S 分析天平分析天平 XPR226DR分析天平 XPR105DR分析天平 XPR204

MA 55分析天平高效简便 简化每日称量 轻松应对日常任务 使用这些操作直观且易于清洁的高质量天平，获取值得信赖的准确结果。内置应用程序提供简单的操作说明，同时支持自动计算和电子数据传输，可最大限度地减少错误并简化文档记录。 高亮度 LCD 屏幕读数清晰，玻璃表面耐磨损且易于清洁。使用触摸键，可轻松操作天平和浏览用户界面中的菜单。梅特勒托利多MA 55分析天平操作简单 明亮的大屏幕易于读数，屏幕上的说明可指导您完成每个称量过程。自动执行计算，打印结果或将结果传输到存储设备的操作也很简单。 梅特勒托利多MA 55分析天平多种接口 借助 USB-A 和 RS232 接口，可以快速无误地将称量数据传输至打印机、计算机，或者连接至 USB 存储设备进行简单的数据传输。梅特勒托利多MA 55分析天平 可靠的性能 利用经验证的称量技术并使用内部测试砝码进行自动校正，可以信赖结果的一致性和精确性。 梅特勒托利多MA 55分析天平经久耐用 由于采用优质材料和坚固的结构，这些天平具有很强的适应能力。即使在具有挑战性的称量环境中频繁使用， 也可以相信能够提供多年的可靠服务。