帕利伐米

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  • 马尔文帕纳科纳米粒度新品发布会重磅来袭!
    对于纳米颗粒的检测一直是生命科学领域和材料表征领域的重点方向。纳米颗粒跟踪分析技术(Nanoparticle Tracking Analysis,NTA)是利用光散射和颗粒布朗运动的特性获得样本粒度分布和颗粒浓度信息的检测方法。它能对悬浮液中粒径分布范围较宽的颗粒进行全方位表征,具有分辨率高、检测速度快、准确度高等优点。马尔文帕纳科NanoSight系列纳米颗粒跟踪分析仪NS300在役十余年,稳定地帮助用户获得高品质的粒径和浓度数据。2023年9月19日,马尔文帕纳科将推出新一代产品Nanosight Pro,进一步升级了体验,更多便捷、智能的功能助力用户尽享每一次数据分析过程。新一代 Nanosight Pro 的推出,马尔文帕纳科为纳米和生物材料的表征提供了简单且快速的 NTA解决方案。先进的工程设计和众多智能功能的组合确保了 NTA 测量高效、快速。NS Xplorer 软件由机器学习提供支持,实现了自动测量,消除了主观影响,并为光散射和荧光分析提供了高质量的颗粒大小和浓度数据。可互换的激光器让应用更灵活,Smart Manager 连接确保了仪器稳定,无需担心数据质量问题或宕机问题。届时,马尔文帕纳科将举行纳米粒度新品发布会,并开启线上直播。新品发布会上,将通过NTA技术发展历程、客户分享、新品揭秘访谈、新品介绍、应用分享、功能演示等多个环节,全面了解NanoSight Pro如何为纳米和生物材料的表征提供更简单且快速的 NTA 解决方案。报名链接:https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/malvernpanalytical2023/ 或扫描二维码,提前报名看直播直播时间:2023年9月19日14:00-16:00;直播平台:仪器信息网3i讲堂多重好礼,等您来拿马尔文帕纳科纳米粒度新品发布会,期待您的参与!
  • JASIS 2018新品发布之马尔文帕纳科:纳米粒度仪
    p    strong 仪器信息网讯 /strong 2018年9月5日,日本最大规模的分析仪器展JASIS 2018在东京幕张国际展览中心盛大开幕,吸引来自全球各地的万余名观众参观出席。 /p p   作为世界知名材料表征领域仪器供应商,马尔文帕纳科公司再次亮相JASIS 2018,并在展会期间带来其两款全新纳米粒度仪产品Zetasizer& reg Pro和Zetasizer& reg Ultra。 /p p   据介绍,新产品基于市场领先并广泛使用的Zetasizer Nano系列,通过使用动态光散射和电泳光散射技术,在颗粒尺寸、分子大小和Zeta电位的测试质量与速度上有显著的提升,并获得了2018年红点设计奖。 /p p style=" text-align: center" img src=" https://img1.17img.cn/17img/images/201810/uepic/4125ab4e-be8e-4e07-8050-71055398c36c.jpg" title=" 018.jpg" alt=" 018.jpg" / /p p style=" text-align: center " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 马尔文帕纳科新款Zetasizer& reg Pro(右)和Zetasizer& reg Ultra(左)纳米粒度电位仪 /span /p p   马尔文帕纳科Zetasizer Pro/Ultra系统的ZS Xplorer软件,引入了新的样品中心流程概念,使得其方法设计和数据分析对新用户而言更为直接,同时保留了完整的对于光散射法应用的用户体验。新的分析功能首次回应了使用动态光散射法表征微粒和分子过程中存在的尘埃或团聚这一关键问题,通过从结果中滤除这些杂质的曲线来得到一个更真实的样品信息。通过集成的、深度学习的、授权的数据质量指导的支持,为用户测量结果提供即时反馈,以及对于低质量数据的改进提供可操作的建议。 /p p   Zetasizer Ultra另一个与众不同之处是其专利的多角度动态光散射(MADLS& reg )技术,可以自动通过多角度进行检测,为待测样品提供了更高的分辨率和更完整的粒径分布信息。MADLS还可以分析不同粒径范围的颗粒浓度,可对大部分材料可进行无需校准的浓度分析。新的可抛弃性毛细管粒径检测池实现了无损检测,将低容量(3微升)分析的粒度上限扩展到了10微米,在降低成本的同时还可提高数据质量。通过这些独特而强大的功能,Zetasizer Ultra的速度和易用性是卓越超群的,使其成为目前业内最先进的光散射系统。 /p
  • 安东帕纳米粒度仪动态分享
    安东帕收购CILAS公司PSA业务: 日前,安东帕宣布收购法国激光粒度仪器制造商CILAS公司PSA业务以扩大公司颗粒表征的产品组合。 PSA系列仪器扩展了基于动态光散射的当前粒度测量仪器组合,是LitesizerTM系列仪器的极佳补充。该系列仪器基于激光衍射原理,扩展了可用尺寸测量范围,并将图像分析技术添加到了安东帕的产品系列。安东帕发明测试zeta电位的独特毛细管样品池: 安东帕发明用于zeta电位测试的样品池由聚碳酸酯制成,具有优秀的化学稳定性、抗磨损和抗划伤性能。安东帕Ω样品池的特征是毛细管的形状,类似于一个倒置的Omega(Ω)形状。与标准的U形毛细管相比,Ω形避免测量颗粒速度部分的毛细管电场形成梯度。 因此,安东帕Ω样品池测试不受测量位置的影响,结果高度稳定而具有重复性。新品发布 LitesizerTM500的自动滴定系统: 安东帕Litesizer500TM纳米粒度及zeta电位分析仪推出自动滴定系统,它是直接自动调节样品池中样品pH值的一种基本配件。现在,快速而准确地分析zeta电位和颗粒度随着pH值的变化成为可能。 悬浮液中颗粒的zeta电位是衡量悬浮液稳定性的指标,受pH值影响很大。因此,通常需要确定悬浮液的等电点,与之对应的是zeta电位等于0、颗粒不带电荷的pH值。这套自动滴定系统不仅可以避免手动调节pH值的繁琐过程节省时间和精力,更为重要的是减少人为误差的可能性。

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  • 即使作为入门级纳米粒度及Zeta电位分析仪,Zetasizer Lab 的功能也不容小觑。 Zetasizer Lab 纳米粒度仪采用经典动态光散射(90°),包含"自适应相关"算法、M3-PALS 和恒流 Zeta 模式。 Zetasizer Lab 纳米粒度分析仪还随附 ZS Xplorer,这是一款易于使用的分析软件,提供有关数据质量的实时反馈,以及如何改进结果的指导。特点和优点Zetasizer Lab 纳米粒度仪是一款出色的入门级系统,提供各种功能,其中包括:动态光散射 (DLS) :用于测量从0.3 nm 到 15 μm 的颗粒和分子的粒度及粒度分布 (使用低容量可抛弃粒度样品池和扩展粒度分析可以测试粒度大于10 μm ;取决于样品和样品制备)电泳光散射 (ELS) :测量颗粒和分子的Zeta电位,以显示样品稳定性和/或团聚倾向性扩展粒度范围分析功能可针对超过 1 μm 的颗粒粒度提供更高的准确性,并针对超过 10 μm 的颗粒粒度提供指示性结果(使用 ZSU1002 低容量可抛弃粒度测量池)具有恒流模式的M3-PALS可以在高导电介质中测量Zeta电位和电泳迁移率 以样品为中心的ZS Xplorer软件可以实现灵活的指导式使用,并可轻松构建复杂的模型 “自适应相关”算法能生成可靠且可重复的数据,同时计算速度超过以往的两倍,可在减少样品制备的情况下更快速地执行更多可重现的粒度测量,实现更具代表性的样品视图通过深度学习实现的数据质量系统可以评估粒度数据质量问题,并针对如何改进结果提供明确的建议使用静态光散射(90°)测量分子量软件符合 21 CFR Part 11 法规支持使用低容量可抛弃毛细管样品池对低至 3 μL 的样品进行粒度测量选择 Red Label 型号可用于测定更具挑战性的样品,如蛋白质、表面活性剂溶液和低固含量样品如果您的需求发生改变,可现场升级到Zetasizer Pro 或 Zetasizer Ultra型号主要应用Zetasizer Lab 应用广泛,包括:学术界 Zetasizer纳米粒度分析仪是全球众多学术实验室的重要分析工具,广泛用于需要分析颗粒或分子大小以及 Zeta 电位的应用领域。 Zetasizer应用领域广泛,被科学文献引用的次数达上万次,成为许多科研机构的核心设备。生命科学和生物制药 在生物制药应用中,温度或pH值变化、 搅拌、剪切和时间都会影响生物分子的 稳定性,造成变性和聚集、功能丧失, 还可能会产生不良免疫反应。Zetasizer纳米粒度仪提供快速的纯度和稳定性筛选,并可协助配方开发, 从而优化流程和产品,消除风险。食品和饮料 Zetasizer纳米粒度分析仪用于分析颗粒粒度和Zeta电位,以改善食品、饮料和调味料的外观及味道,并优化分散和乳化稳定性,从而延长产品保存期限,提高产品性能。纳米材料 Zetasizer纳米粒度仪所测量的纳米颗粒粒度分布、分散特性、稳定性和团聚倾向是新纳米材料设计的关键。 此类材料的超大表面积可能会带来新的物理和化学性质,比如更高的催化活性和溶解度,或者出乎意料的光学或毒理学性质。油漆、油墨及涂料 油漆、油墨及涂料配方必须稳定,以使它们在一段时间内不会发生变化或团聚。 Zetasizer纳米粒度分析仪测量的颗粒粒度和Zeta电位在确定产品特性(例如分散性、颜色、强度、光洁度、耐久性和保存限期)方面起着至关重要的作用。药物和给药粒度和Zeta电位检测有助于确保安全有效的治疗。Zetasizer纳米粒度仪用于表征分散体系、乳化液和乳膏的稳定性和质量,从而减少配方时间,加快新产品上市。消费品改良多种消费品时,需要了解和控制胶体参数,引导颗粒间的相互作用,并改善产品的稳定性和性能。其中一个例子是胶束和乳液的粒度和电荷对化妆品和洗涤剂性能的影响。Zetasizer纳米粒度分析仪可表征表面活性剂的胶束大小、电荷和临界胶束浓度, 并测量乳液的液滴大小和稳定性。
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  • Litesizer DLS 系列只需一键触摸即可表征纳米和微米粒子。借助这些动态光散射仪器,您可以在较宽的浓度范围内测定分散体中的颗粒以及溶液中的肽或大分子,从而缩短样品制备时间。关键功能得益于完美的角度选择 - 无论您的样品如何通过多角度粒度测定 (MAPS) 确保实现不同大小群体的高分辨率从三个检测角度(侧向、后向或前向散射)中进行选择,以实现最佳参数设置手动选择最适合的动态光散射仪器角度或使用自动角度选择 得益于多功能后向散射角,这对于浊度样品较理想,其减少了多个散射事件,确保优秀的数据质量。依靠我们的 cmPALS 技术进行 zeta 电位测量通过 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 您可以通过电泳光散射法执行 zeta 电位测量。在低样品浓度(低至 0.1 mg/mL) 下采用我们的 cmPALS 专利技术(欧洲专利 2 735 870) 使用 cmPALS 享受更短的测量时间和极低的样品降解使用我们 zeta 电位样品池独特 Ω 形毛细管完成高度可重复的 zeta 电位测量在颗粒浓度测量中模式保持灵活性使用 Litesizer DLS 700 对一个样品中高达三种不同大小的粒子群进行免校准颗粒浓度测量使用这种基于单角度 DLS 或多角度粒度分析 (MAPS) 的模式可确保适用于较宽浓度范围内的单分散和多分散样品实现样品监测的持续的透光率测量享受样品的即时反馈 — 动态光散射仪器能够连续测量透射率充分利用自动优化测量参数(如测量角度、焦点位置和持续时间) 在一系列测量中获取有关沉积或聚集开始的数据使用同一仪器测定折射率使用 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 在 DLS 或 ELS 测量的精确波长和温度下测量溶剂的折射率(欧洲专利 3 023 770) 确保在所有试验条件下,获得出色的粒径和 zeta 电位值。借助 Litesizer DLS 700 和 Litesizer DLS 500 测定 ±0.5% 以内的折射率只需点击几下即可掌控您的测量使用我们简便易用的粒度软件 Kalliope 管理数据通过我们独特的单页工作流程,一目了然地了解您的输入参数、测量信号和结果 得益于预定义标准报告和结构化结果概览,快速查看您的测量结果 通过分析功能、Excel 报告,和自定义报告模板来深入挖掘您的数据符合 21 CFR Part 11 规定
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  • 新一代纳米颗粒跟踪分析仪 NanoSight Pro —— 纳米和生物材料的表征从未如此快速、简单和精确新一代 NanoSight Pro 的推出,马尔文帕纳科为纳米和生物材料的表征提供了简单且快速的 NTA 解决方案。先进的工程设计和众多智能功能的组合确保了 NTA 测量高效、快速。NS Xplorer 软件由机器学习提供支持,实现了自动测量,消除了主观影响,并为光散射和荧光分析提供了高质量的颗粒大小和浓度数据。 可互换的激光器让应用更灵活,Smart Manager 连接确保了仪器稳定,无需担心数据质量问题或宕机问题。 特点与优势:快速安装和分析NanoSight Pro 可供各种规模的实验室中的各类人员使用。智能安装功能支持您快速启动并运行设备。得益于测量前只需要简单的设置、便捷的操作和直观的 NS Xplorer 软件,您可以在数分钟内完成样品测量。智能化和自动化NanoSight Pro 以机器学习和智能功能为后盾,可以自动处理样品测量任务并有效消除人为错误,从而实现精确的颗粒识别和颗粒跟踪,以获得高质量和可重复性高的测量数据。高分辨率全新 NanoSight Pro 可测量 10 nm - 1000 nm 范围内的纳米颗粒,包括低散射和生物颗粒。逐粒分析技术可提供高分辨率的粒度和浓度数据,并可通过视觉途径进行确认。强大的荧光功能除了光散射外,系统还可以从荧光标记的生物样本或合成颗粒中检测荧光信号,从而助您更深入地了解样品。可互换的激光模块可以选择四种激发波长。与对应的长通滤光片配合使用,可以实现流动分析支持的最佳设置,从而更好地对样品(甚至是光漂白样品)进行采样和跟踪。 更高的荧光灵敏度可以实现检测特定亚群,例如表面标记物、内部货物检测或污染物。主要应用:马尔文帕纳科 NanoSight Pro 可用于诸多重要应用领域,包括:细胞外囊泡 (EV)虽然对细胞外囊泡的产生和功能的研究仍在不断发展,但监测和控制其分离和纯化仍然很重要。NanoSight NTA 可以快速、方便地表征水性缓冲液中囊泡的大小和浓度,使人们对下游实验中所用样品的质量充满信心,同时荧光功能有助于清楚识别细胞外囊泡 (EV) 的亚群来源。病毒和疫苗疫苗的生产需要严格控制生产过程,以确保组分剂量适当并被免疫系统识别。NTA可助力稳定疫苗的粒度分布从而帮助优化生产流程。NTA 还能够确定病毒计数和粒度,因此可以作为滴度测定的更快替代方案。药物递送和基因治疗对于药物递送和基因治疗产品,为了确保临床上的有效疾病靶向,所需的颗粒大小为 70-150 nm。从早期药物研究到候选物筛选、制剂开发和临床批次监测,NTA 非常适合用于测量这些环节中的颗粒粒度,同时借助其浓度测量功能,可用于确定最终产品的剂量并用于体外和体内测定。生物治疗药物温度、pH 值变化、搅拌、剪切和时间都会影响生物治疗药物蛋白的稳定性,造成变性和聚集,进而可能导致丧失疗效和潜在的不良免疫反应。NTA 能够提供制剂中亚可见聚集体的高分辨率粒度分布信息,用于安全性和质量确认。纳米材料/胶体/毒理学随着纳米材料融入日常用品中,它们正引起监管机构的注意。因此需要充分表征这些颗粒,分析颗粒的性质以及其对最终产品的影响。NanoSight 可以针对这些纳米材料提供基于数量的浓度信息,并为那些在工业、环境和毒理学领域从事纳米级研究工作的人员提供高分辨率的粒度分布信息。超细气泡近年来,微细气泡在工业清洁和水处理、农业和食品、医疗应用等领域中的应用场景越来越多。鉴于相对较低的浓度和较小的粒度,超细气泡对许多传统的纳米颗粒表征技术提出了严峻的挑战,而 NTA 特别擅长检测和分析这类气泡。概述:技术类型纳米颗粒跟踪分析技术粒度检测范围(直径)110 nm - 1000 nm颗粒浓度2106 至 109 个/毫升最小样品量:250 μL高级浓度算法浓度提升系统:产品合规性一类激光产品 (BS EN 60825-1:2014)EMC 指令 (EN IEC61326-1:2021)低电压指令 (IEC 61010-1:2010IEC 61010-1:2010/AMD 1:2016)摄像头高灵敏度 sCMOS (USB-3)激光信息光束波长(最大功率输出):405 nm,最大功率 70 mW488 nm,最大功率 55 mW(蓝)532 nm,最大功率 60 mW(绿)642 nm,最大功率 50 mW(红)温度控制范围低于环境温度 5°C 至最高 70°C温度读数自动注射泵1 mL 注射器连续进样尺寸 (宽, 长, 高):34 x 35 x 25 cm仪器重量11 kg激光模块重量1.6 kg电源要求AC 110 – 240 V,50-60 Hz,4.0A工作环境条件最高 80% 相对湿度(31°C 时),然后线性下降至 50%(40°C 时)其他选项荧光 - 自动选择3适用于最多 5 个滤光片注:1 取决于样品和仪器配置2 取决于样品3 可选功能。不同激光波长的长通滤光片
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帕利伐米相关的耗材

  • 离轴抛物镜 Off-Axis Parabolic Mirrors
    Off-Axis Parabolic Mirrors资料下载: Download Off-Axis Parabolic Mirrors Datasheet (PDF, 164 KB)Parabolic mirrors are the most commontype of aspherical mirrors used in optical instruments. They are free from spherical aberrations, and thus focus the parallel beam to a point or point source to infinity.In many optical systems it is not necessary to use aperture that is completely rotationally symmetric. On the other hand, in some applications the central part of the mirror obscures the beam path and therefore is a disaster. For such systems, off-axis mirrors offer many advantages versus the traditional paraboloids.Main applications of off-axis parabolic mirrors are as follows:Target simulatorsCollimatorsMTF measuring systems and other optics test devicesSpectroscopic and FTIR systemsRadiometersBeam expandersLaser divergence measuring systemsKey advantages of off-axis parabolic mirrors Use of off-axis optics allows optical engineers to achieve the following advantages:Minimize system sizesMinimize system weightBoth “wedged” and equi-thick mirrors are availableMinimize system costAll this results in maximization of system efficiency and marketability.How to specify OAP mirror Fig. 1 Off-axis parabolic mirror draft.Description to the draft.Parent focal length (PFL) is the focal length of the parent paraboloid. It defines the shape of the surface as Z=R^2/4*PFL, where R is radial distance from vertex and Z is surface sagitta.Slant Focal Length (SFL) is the distance between OAP mechanical center and parabola focus. This value may be calculated from PFL and vice versa.Optical Centerline is the line parallel to parent parabola optical axis and coming through the mechanical center of OAP. Zonal Radius (ZR) is the distance between parent parabola optical axis and optical centerline of the OAP.Off-axis Distance (OAD) is the distance from parent parabola optical axis to inner edge of OAP. This value may be calculated from ZR and vice versa.Adjust flat is commonly glued to OAP. It is perpendicular to parent parabola optical axis (and therefore to OAP centerline) and helps greatly to adjust OAP in the optical system.To fully describe OAP one has to specify 5 parameters:PFL (or SFL),ZR (or OAD),CA (clear aperture),SA (surface accuracy),and SQ (surface quality). Auxiliary parameters are:preferable mechanical size and thickness (if not specified we state Diameter = CA+10 mm and Thickness = Diameter/8),preferable material (if not specified we state LK-7 optical glass – Russian analogue of Pyrex),and coating type (if not specified we state protected aluminum).Key data for OAP mirrors we produceTypical material is LK-7 (analogue of Pyrex), also AstroSitall CO-115M (analogue of Zerodur), and K8 glass (analogue of BK7) are available on request.Typical surface accuracy is l/8 at 633 nm PtV, l/40 RMS. Higher precision surfaces may be produced on the request.Typical coating is protected Al, other metal (silver or gold) or multilayer dielectric coatings are available on request.Off-axis angle is up to 45 degrees, typical value is 5-30 degrees.Focal lengths are from 150 mm up to 12 meters. Typical value is 0.5-2 meters.Diameters are up to 640 mm. Typical values are 100-400 mm.All these parameters are not independent. For example longer focal length allows better SA and longer ZR makes for lower SA.DocumentationTogether with each mirror we supply a certificate that shows SA, SQ, measured data for PFL and ZR, and the mechanical sizes. Interferometer graph of the surface, calculated surface error profile and coating reflection spectrum are attached to this certificate. Sample interferometer graph, surface error profile and coating spectrum are shown below. These are for CA 8” mirror with ZR 7” and FL40. Fig. 2 Typical interferometer graph of OAP mirror. Fig. 3 Surface error profile reconstruction.Wave front analysisUnits of deformations measuring: microns Wavelength: 0.633 μmReference surface: sphere Subtracted aberrations: Form of zonal error - Zernike polynomialParameters of regular errorsD = -0.000 Lx = 0.000 Ly = -0.000 C = 0.000 RMS(W) = 0.009 A = 0.013 FIA = 41.300 PV = 0.025 RMS(W-A) = 0.007 FA = 0.361 B0 = 0.007 PV = 0.011 RMS(W-Z) = 0.008 FZ = 0.137 B2 = -0.043B4 = 0.043 C = 0.020 FIC = 5.327 PV = 0.013 RMS(W-C) = 0.008 FC = 0.074Local errorsPV = 0.037RMS(M) = 0.006Characteristics of wavefrontRMSMINMAXPVSTRLSTRH0.009-0.0230.0320.0550.9980.999Fig. 4 Typical reflection spectrum for protected aluminum (Al + SiO2) coating.Short description and key advantages of the technologyThe manufacturing technologywas developed to supply mirrors cheaper and in higher volume for use in aero/defence applications. Typically, OAPs are made by polishing and slicing-up large on-axis parent paraboloids. Obviously, this “traditional” method is quite expensive, especially when perhaps only 1-2 mirrors are needed. This older method also places heavy restrictions on the range of available combinations of focal lengths and off-axis distances. The other “traditional” method is diamond turning. Its main disadvantages are limitations for substrate materials (metals), lower surface roughness, and accuracy.Instead of the above-mentioned methods of OAPs production, our OAP facility uses a sophisticated, computer-controlled spot-correction polishing process. It combines advantages of conventional polishing (smooth surface and possibility to use common glasses) and diamond turning (possibility to produce OAP without polishing of full paraboloid). After each polishing run we measure the surface error using large interferometers that precisely simulate current surface error of the OAP mirror. Then the information from the interferometer is transferred to the polisher’s computerized controller, which calculates the optimum location, trajectory and rotation speed of the compact, spot-polishing head.We name this process retouching. 10,000 square-foot facility is used for this production. A team of highly experienced (and patient!) technicians set up and measure a mirror over and over until it is perfect. Each mirror undergoes typically about 10 cycles of interferometric measurements, followed by retouching. Of course for state-of-the-art mirrors many more cycles are required.This unique production technology allows us to offer precise optics at very competitive prices.更多太赫兹元件相关产品 太赫兹透镜 太赫兹偏振片 HDPE 太赫兹线栅偏振片 太赫兹衰减片 太赫兹波片 太赫兹分束镜 太赫兹光谱分光镜 太赫兹棱镜 太赫兹窗片 太赫兹滤波片
  • 离轴抛物镜 Off-Axis Parabolic Mirrors
    离轴抛物镜产品简介资料下载: Download Off-Axis Parabolic Mirrors Datasheet (PDF, 164 KB) 离轴抛物镜是光学仪器中最常见的一种非球面反射镜。它们不受球面像差的影响,它可以将将平行光束聚焦到一个点或点源上,直到无限远。 在许多光学系统中,都不需要使用完全旋转对称的孔径元件。另一方面在一些应用当中,镜子的中心位置使光路变得模糊,这将是一个灾难。在这些系统中,离轴抛物镜相比传统的反射镜具有更多的优势。离轴抛物镜的主要应用√ 目标模拟器√ 准直光束√ MTF测量系统和其他光学测试设备√ 红外光谱系统√ 辐射测量计√ 光束扩束√ 激光发散角测量系统离轴抛物镜的主要优势√ 缩小系统尺寸√ 减小系统的重量√ 楔形镜和等厚镜都可用√ 减小系统成本如何定义一个离轴抛物镜离轴抛物镜草图离轴抛物镜草图解释父焦距 (PFL) 是父抛物面的焦距. 它将表面的形状定义为 Z=R^2/4*PFL, 其中R是顶点的径向距离,Z是表面的弧顶高度。偏焦距 (SFL) 是离轴抛物镜的机械中心到抛物线焦点的距离。 这个值可以根据父焦距(PFL)来计算,反之亦然。计算表面误差轮廓和涂层反射谱也会体现再质量证书上。保护铝(Al + SiO2)涂层MY254-OAP-254-Al25.425.4增强铝离轴抛物镜Al25.450.8增强铝离轴抛物镜Al 25.476.2增强铝离轴抛物镜Al25.4101.6增强铝离轴抛物镜MY254-OAP-508MY254-OAP-762MY254-OAP-1016MY254-OAP-254-Au25.425.4保护金离轴抛物镜-Au25.450.8保护金离轴抛物镜-Au25.476.2保护金离轴抛物镜-Au25.4101.6保护金离轴抛物镜MY508-OAP-762MY508-OAP-1016MY508-OAP-1524MY508-OAP-508-Ag50.850.8保护银离轴抛物镜MY508-OAP-1016-Ag50.8101.6保护银离轴抛物镜MY508-OAP-508-Au50.850.8保护金离轴抛物镜MY508-OAP-1016-Au50.8101.6保护金离轴抛物镜MY508-OAP-1524-Au50.8152.4保护金更多太赫兹元件相关产品 太赫兹透镜 太赫兹偏振片 HDPE 太赫兹线栅偏振片 太赫兹衰减片 太赫兹波片 太赫兹分束镜 太赫兹光谱分光镜 太赫兹棱镜 太赫兹窗片 太赫兹滤波片
  • Millipore默克Milli-Q IQ7000水机纯化柱IPAKMETA1
    【原装正品】默克Millipore IQ7000水机纯化柱IPAKMETA1★★★★★ 授权代理商★★★★★ 现货急速发货★★★★★ 终身售后服务 DescriptionCatalogue NumberIPAKQUAA1DescriptionIPAK Quanta® polishing cartridgeOverviewWorks as a pair with the IPAK Meta® polishing cartridge for the Milli-Q® IQ 7000 systemApplicationsApplicationWorks as a pair with the IPAK Meta® polishing cartridge for the Milli-Q® IQ 7000 systemPackaging InformationMaterial Size1

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