紫外反射测量

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紫外反射测量相关的厂商

  • 400-860-5168转4759
    北京领宇天际科技有限责任公司成立于2014年, 是一家专门从事工业润滑油检测,设备润滑检测及故障分析,艺术品修复, 艺术品研究, 艺术品鉴定检测技术以及航天材料地面空间环境模拟试验及空间环境模拟技术的专业化公司。公司主营业务产品范围涉及工业润滑失效分析,工业润滑检测系统,油液检测系统,艺术品修复及鉴定仪器设备,及航空、航天材料分析,工业润滑失效分析,油液状态分析三大领域。北京领宇天际科技有限责任公司是加拿大SimulTek Research公司航天空间环境模拟在中国地区独家授权代理商;主要产品:低地球轨道环境模拟,原子氧模拟实验装置,月球综合环境模拟实验装置,月尘模拟装置,月表尘埃环境模拟,真空除气测试设备(热真空释气)ASTM E595,行星火星空间环境模拟装置,随机定位仪,微重力环境设备等,英国OPUS INSTRUMENTS红外成像设备公司在中国大陆及香港,澳门地区独家授权代理商和技术服务商;主要产品:红外反射成像系统,油画红外反射成像系统,唐卡红外反射成像,壁画红外反射成像系统,绢画红外检测,油画检测,壁画检测,唐卡检测;俄罗斯OKB-SPECTR光谱仪公司在中国地区独家授权代理商和技术服务商。主要产品:油料光谱仪,滑油光谱仪,油液监测平台,综合油液智能分析平台,油料原子发射光谱仪,原子发射油料光谱仪,润滑油光谱仪,金属多元素光谱仪,磨损金属元素光谱仪,便携红外光谱仪,油液状态检测仪器,水中油分析仪,HFRR耗材试验件,油料光谱仪耗材石墨盘电极,石墨棒电极等德国SPECTROLYTIC红外光谱分析仪器厂家在中国地区授权代理商。主要负责润滑油及在用润滑油油品品质状态分析,便携式油液状态分析仪,油液状态分析仪等产品Atik Cameras科学科研相机在中国大陆及香港,澳门地区独家授权代理商和技术服务商EXPLOR Space Technologies生命科学公司中国地区授权代理商和技术服务商依托国际领先的先进技术,我们成功为国内的专家学者及相关领域的客户提供专业领先的仪器设备及解决方案。 目前公司提供原子氧测试,除气测试唐卡、壁画、油画、底图(素描草稿),绢本,简牍笔迹等红外反射成像测试,产品型号:智能分析式铁谱仪,磨粒自动分类原子氧效应地面模拟装置符合QJ 20422 2-2016 航天器组件环境试验方法APOLLO红外反射成像仪原子氧源热真空实验舱综合空间环境模拟系统月球环境地面模拟设备月壤模拟装置(月尘模拟物采用JSC-1A或类似型号)行星环境模拟系统真空质损模拟装置-除气测试--符合ASTM E595和ASTM E1559惰性气体抽取分离装置热真空环境力热耦合实验舱(复合材料,轴承加速老化)火星环境地面模拟试验装置火星尘模拟装置NUV近紫外辐射系统VUV真空紫外辐射系统(FUV远紫外辐射系统)月表尘埃综合环境模拟设备月球环境模拟设备微重力地面环境模拟大气环境地面模拟设备真空磨损试验装置电离层环境地面模拟装置探气质谱仪大气层再入环境地面模拟装置油料光谱仪(多元素油料发射光谱仪)滑油光谱仪原子发射光谱仪多光谱红外反射成像系统红外反射成像系统磨损金属多元素光谱仪便携式手持式FTIR傅里叶红外光谱仪便携式油液状态分析仪FluidInspectIR红外油液状态分析仪水中含油分析仪水中油分析仪水/土壤中油分析仪FOG分析仪FAME分析仪土壤中油分析仪污水含油分析仪(海上平台)污水分析仪(海上平台)
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  • 以色列Ofil紫外成像仪是光学和数字紫外线检测和成像技术的世JIE领XIAN制造商。成立于1993年,总部在以色利。Ofil紫外成像仪开发和销售创新解决方案,这些解决方案正在全球范围内用于监测电气装置和环境危害。我们的数字检测系统对于电气故障的诊断、预防和预测是不可或缺的。我们的紫外线偏振系统有助于绘制海上溢油扩散图并控制其清洁效果。Ofil紫外成像仪利用其紫外线光学专有技术,不断开发紫外线增强成像解决方案,以应对全球电网不断变化的需求。多年来,Ofil以其创新、高质量和快速响应的方法赢得了全球的认可。DayCor?系列产品提供以下解决方案:电力设施的维修操作电动列车的预测性维修操作以色列Ofil紫外成像仪介绍石油化工电网部件制造商高压实验室和研究所用于国土安全的紫外线信号检测环境组织的漏油监测
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  • 400-860-5168转2592
    北京安洲科技有限公司主要致力于环境生态遥感、大气科学、成像光谱仪、目标光谱特性、材料表面光学特性和表面光学特征等方面国外先进仪器的引进和推广,积极为国内用户提供以上仪器技术咨询、方案设计、客户化系统集成、仪器设备调试安装等各类优质服务。公司所推广的SOC系列高光谱成像仪、UHD 185高速机载成像光谱仪、PSR系列光纤型地物光谱仪、红外反射率及发射率测量仪等高端科研仪器广泛应用于遥感科学、农业、林业、航空、太阳能、节能建筑、生命科学、遥感科学和工业等领域的监测与科研,其中SOC710便携式可见近红外成像光谱仪更是被国家农业部学科群批量采购项目多次选中。公司具有一支由实力雄厚的科研技术人员组成的团队,与中国科学院、中国农科院、中国林科院、中国农业大学、国家气象局,北京大学等单位建立了紧密的合作关系并聘有科学顾问,最大程度上给予客户全面而专业的技术服务。公司自成立以来先后为中国科学院、中国森林生态系统研究网络(CFERN)、中科院知识创新工程、农业部“948”项目、农业部专项研究中心、水利部“948”项目、国家“973”项目、国家“863”项目、全国高校的“211”工程和“985”项目、中国环境科学院、环境监测站、国家气象局等提供技术咨询、仪器设备和集成系统。安洲科技愿以专业的精神、诚信的态度为国内相关研究领域科研的专家服务。
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紫外反射测量相关的仪器

  • 紫外反射滤光片 400-860-5168转4250
    紫外反射滤光片 型号:UVREF 光谱范围:200nm-400nm
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  • 来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗)Apollo(阿波罗)是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器,被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户:英国国家美术馆,荷兰国立博物馆,美国大都会博物馆,古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆,日耳曼国家博物馆,美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术:“一种非破坏性的无损检测技术,它利用红外线穿透研究对象表层(颜料或漆层),对表层下面的详细纹理细节进行成像,从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测,通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化,是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上,Apollo(阿波罗)使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量,高对比度,分辨率达到5100×5100的红外反射图像,其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画,唐卡作品,图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿,素描草图和笔迹变化(经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现),识别后期修复及补色的微观变化,并且当使用我们提供的滤光片套装时,可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像,Apollo(阿波罗)是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于:1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片,分辨率5100×5100,传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统,提供柱状图分析,可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器,可进行大画幅作品的扫描,提供成像预览,节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面,拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统,减少了成像噪音,提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式,方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能,解决研究人员后期图像处理的困扰,非常实用。8. 体积紧凑,方便携带,可装入航空旅行箱。
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  • 红外反射率测量仪410Solar 内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等,进行测量时,抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面,样品反射回来的光线经积分球处理后,由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出,获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。红外反射率测量仪410Solar ,可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。红外反射率测量仪410Solar 应用领域: 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制红外反射率测量仪410Solar 仪器特点: 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射 NIST标准 快速、便携 PDA触摸屏操作,内置SD卡 计算半球反射比技术参数 410-Solar 便携式太阳能反射率仪 符合标准 ASTM E903、ASTM C1549 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 20°入射角的积分总反射比 输出参数 总反射,漫反射,和20°角的镜面反射 波段 7个波段:335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm 入射角 20°法线入射角 样品表面: 任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面 BEAM SPOT SIZE 0.250”直径,20°入射角 BEAM ANGLE 3°半锥角 测量时间 10秒/次;90秒预热 VIS-NIR源 钨灯 测量探头 模块化设计,测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境:-25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg,含电池
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紫外反射测量相关的资讯

  • 中国大鲵近红外反射光谱(NIRS)研究获得新进展
    近期,陕西省动物研究所大鲵科研团队与美国孟菲斯动物学会、密西西比州立大学联合攻关的&ldquo 利用近红外技术判定大鲵性别的研究&rdquo 项目取得了部分成果,在英国IM出版社的新闻通讯部分(2015年第26卷第2期)发表,并被选做杂志封面。   NIR 讯息是国际近红外光谱学协会的新闻通讯,提供最新的近红外界内新闻。它以全面,有趣的文章展示近红外光谱学的实际应用。   近红外反射光谱研究,是通过扫描样品的近红外光谱,可以得到样品的特征信息,收集数据建立模型,进而对未知样品进行准确预测。利用近红外光谱技术分析样品具有方便、快速、高效、准确和成本较低,不破坏样品,不消耗化学试剂,不污染环境等优点,广泛应用于动物生理、营养、健康,特别是动物行为、数量统计、繁殖和疾病等方面。此技术将为我国大鲵研究提供新的技术和手段。   Near infrared reflectance spectroscopy studies of Chinese giant salamanders in aquaculture production   Carrie K. Vance, Andrew J. Kouba, Hong-Xing Zhang, Hu Zhao, Qijun Wang and Scott T. Willard   http://www.impublications.com/content/nir-news-table-contents?issue=26_2   大鲵近红外扫描
  • 基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪
    CPB仪器与测量栏目最新发文:基于177.3nm激光的真空紫外光调制反射光谱仪,此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。光调制反射光谱是通过斩波器周期性地改变泵浦光源对样品的照射来测量半导体材料反射率相对变化的一种光谱分析技术。由于所测差分反射率作为能量的函数在材料电子能带结构的联合态密度奇点附近表现出明显的特征,光调制反射光谱已成为研究具有显著电子能带结构的半导体、金属、半金属及其微纳结构和异质结等材料联合态密度临界点的重要实验技术之一。光调制反射光谱中所使用的泵浦激光的光子能量一般要高于被研究材料的带隙,随着第三代宽禁带与超宽禁带半导体材料相关研究和应用的不断深入,需要更高能量的紫外激光作为光调制反射光谱的泵浦光源。目前国际上已报道的光调制反射光谱系统中,配备的泵浦光最大光子能量约5 eV,尚未到达真空紫外波段。因此,迫切需要发展新一代配备高光子能量和高光通量的泵浦光源的光调制反射光谱仪,使其具备探测超宽带隙材料的带隙和一般材料的超高能量临界点的能力。中科院理化所研制的深紫外固态激光源使我国成为世界上唯一一个能够制造实用化深紫外全固态激光器的国家,已成功与多种尖端科研设备相结合并取得重要成果。此文详细介绍了由中科院半导体所谭平恒研究员课题组利用该深紫外固态激光源搭建的国际上首台真空紫外光调制反射光谱仪(图1)的系统设计和构造,将光谱仪器技术、真空技术、低温技术与中科院理化所研制的177.3 nm深紫外激光源相结合,同时采用双单色仪扫描技术和双调制探测技术,有效避免了光调制反射光谱采集中的荧光信号的干扰,提高了采集灵敏度。该系统将光调制反射技术的能量探测范围从常规的近红外至可见光波段扩展至深紫外波段,光谱分辨率优于0.06 nm,控温范围8 K~300 K,真空度低至10-6 hPa, 光调制反射信号强度可达10-4。通过对典型半导体材料GaAs和GaN在近红外波段至深紫外波段的光调制反射信号的测量对其探测能力进行了性能验证(图2)。此装置将有望成为高效无损地探测宽禁带半导体材料电子能带结构高阶临界点的有效光学表征手段,并广泛用于超宽禁带半导体材料及其异质结的电子能带结构研究。该系统基于中科院半导体所承担的国家重大科研装备研制项目“深紫外固态激光源前沿装备研制(二期)”子项目“深紫外激光调制反射光谱仪”,目前已经初步应用于多种半导体材料在深紫外能量范围内的能带结构和物性研究,并入选《中国科学院自主研制科学仪器》产品名录,将有望在推动超宽禁带半导体材料的电子能带结构研究、优化超宽禁带光电子器件的性能方面发挥重要作用。图1. 深紫外激光调制反射光谱仪图2. 177.3 nm(7.0 eV)激光泵浦下的GaAs在1.2 eV至6 eV内的双调制反射光谱及对应能级跃迁
  • 如何测量绝对反射与相对反射?
    1. 前言光照射到物体上,由于物体的表面不同,通常会发生两种反射,镜面反射和漫反射,如图所示。图1 光在物体表面的反射示意图对于玻璃、镀膜基板、滤光片等表面光滑的零部件,镜面反射率是评价其光学特性的重要参数,测定反射率最常用的仪器是紫外可见近红外分光光度计。日立紫外产品线丰富,波长测试范围涵盖紫外可见区域到近红外区域,可以满足样品不同波长下的测量需求。2. 应用数据镜面反射根据测量方式的不同,分为相对反射率和绝对反射率。客户需要根据样品特征,选择不同的测量方式。日立具有5°到75°固定入射光角度的镜面反射附件,适用于多种样品的镜面反射测量。图2 绝对反射测量图3 相对反射测量绝对反射率通常使用V-N法进行测量,直接获得样品的反射特性,应用广泛。但是对于低反射率的样品,使用相对反射测量,可以有效扩大动态范围。 2.1 石英基板的相对反射率测量 • 测量附件图4 5o 相对反射附件• 测量结果 使用紫外可见分光光度计U-3900 的5o相对反射附件,以BK7玻璃为参考标准品测定石英基板的相对反射光谱。结果表明石英基板的相对反射率约为80%。 图5 石英基板的相对反射率通过日立U-3900的选配程序包,使用相对反射率得到转换后的绝对反射率,如下图所示。如果直接测定石英基板的绝对反射率,光谱易受噪声影响。图6 石英基板转换后的绝对反射率2.2 铝平面镜和金平面镜的绝对反射率金平面镜表面涂有金膜,该金膜在红外区域具有高反射率。铝平面镜是表面涂有铝膜,在可见光区到近红外区有较高的反射率和较小的角度依赖性。两者常作为相对反射测量时的标准面。• 测量附件图7 5 o绝对反射附件• 测量结果 使用紫外可见近红外分光光度计UH4150的5°绝对反射附件分析了金平面镜和铝平面镜的绝对反射率。 图8 金平面镜和铝平面镜的绝对反射率 结果表明,在可见光区域,铝平面镜的反射率超过80%。金平面镜的反射率在可见光区域较低,但其在近红外区域的反射率较高。因此在测量样品的相对反射率时,如果需要关注近红外区域,可以使用在近红外区具有高反射率的金平面镜作为标准面。 3. 结论样品的镜面反射率有两种测量方式,相对反射率和绝对反射率。对于低反射性样品,使用相对反射附件测量其相对反射率,可以获得信噪比良好的光谱,如玻璃基板上薄膜的反射率。对于通常的样品,可以直接使用绝对反射附件测量其绝对反射率。日立提供多种镜面反射测量附件,还可根据客户需求量身定制,满足各种样品的镜面反射率测量。

紫外反射测量相关的方案

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紫外反射测量相关的论坛

  • 求助:怎样测量样品微区的紫外-可见-近红外反射(或者透射)光谱

    本人急需测量样品的微区紫外-可见-近红外反射(或者透射)光谱,样品为附着于基片(玻璃或者石英片)上的膜。微区大小为几十微米。请教各位大虾:有没有紫外-可见分光光度计可以测量微区的光谱性质,并且测量的波长范围可以达到近红外区。或者有哪种仪器具有相关的附件可以达到这种要求(本人现在采用的紫外-可见分光光度计是日立公司的UV-4100型。)请各位大虾指教。先谢过了!

紫外反射测量相关的耗材

  • 紫外反射装置
    仪器主要指标及成套性:测量紫外反射光谱 用途:用于精密分析仪器附件
  • 精密球面紫外反射镜
    精密球面紫外反射镜&bull 设计波长 120nm 和 190nm&bull 聚焦 VUV 或 DUV 光的理想选择&bull 通过可见光和红外波段的宽带反射率&bull 另有 精密平面镜 可供选择通用规格基底:Fused Silica (Corning 7980)表面质量:20-10直径 (mm):25.40 +0.00/-0.20镀膜类型:Metal后表面:Fine Grind有效孔径 (%):90边缘厚度 ET (mm):6.35 ±0.10Irregularity (P-V) @ 632.8nm:λ/10真空兼容性 :10-7 Torr产品介绍TECHSPEC® 精密球面紫外(UV)反射镜在高精度凹面激光反射镜基材上采用了增强型深紫外(DUV)或真空紫外(VUV)强化金属镀膜。真空紫外(VUV)镀膜设计的峰值反射率在 120nm处,而增强型深紫外(DUV)镀膜设计在 190nm处 ;这两种镀膜在紫外波长之外提供与标准增强型铝镀膜相似的反射率。这些镀膜的真空度可低至 10-7 Torr,并沉积在熔融石英基片上,提供了优异的抗温度波动能力。TECHSPEC® 精密球面紫外(UV)反射镜非常适合深紫外(DUV)分光光度计、电感耦合等离子体(ICP)分光光度计或其他基于VUV/UV的分析应用。 请注意: 这些增强型金属镀膜相对较软,很容易被指纹和气溶胶损坏。订购信息 Dia. (mm)EFL (mm)涂层产品编码25.40 +0.00/-0.2025.00 Enhanced Aluminum (120-600nm)24-05625.40 +0.00/-0.2050.00 Enhanced Aluminum (120-600nm)24-05725.40 +0.00/-0.2075.00 Enhanced Aluminum (120-600nm)24-05825.40 +0.00/-0.20100.00 Enhanced Aluminum (120-600nm)24-05925.40 +0.00/-0.2025.00 Enhanced Aluminum (190-900nm)24-06225.40 +0.00/-0.2050.00 Enhanced Aluminum (190-900nm)24-06325.40 +0.00/-0.2075.00 Enhanced Aluminum (190-900nm)24-06425.40 +0.00/-0.20100.00 Enhanced Aluminum (190-900nm)24-065
  • 精密紫外反射镜
    精密紫外反射镜&bull 120nm 和 190nm 设计波长&bull 在指定范围内平均反射率 85%&bull 实现可见区域宽带反射率的增强金属镀膜通用规格表面平整度 (P-V):λ/10基底:Fused Silica (Corning 7980)镀膜类型:Metal入射角 (°):0有效孔径 (%):90真空兼容性 :10-7 Torr产品介绍TECHSPEC® 精密紫外反射镜适用于绝大多数市场上在售的光源,并提供深紫外(DUV)和真空紫外加硬(VUV)镀膜。DUV镀膜在190nm至长波红外(LWIR)波段可提供优异的反射率,而VUV镀膜在120nm至长波红外(LWIR)波段具有最佳反射率。这款TECHSPEC® 精密紫外反射镜拥有0°入射角角度,并镀有适用于低偏振灵敏度应用的铝膜。注意:软镀膜很容易被指纹和气溶胶损坏。技术数据订购信息Dia. (mm)表面平整度 (P-V)涂层规格涂层AOI (°)厚度 (mm)产品编码5.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥78% @ 120 - 125nm Ravg ≥85% @ 120 - 600nm Enhanced Aluminum (120-600nm) 0 2.00 ±0.2018-72510.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥78% @ 120 - 125nm Ravg ≥85% @ 120 - 600nm Enhanced Aluminum (120-600nm) 0 2.00 ±0.2018-72612.50 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥78% @ 120 - 125nm Ravg ≥85% @ 120 - 600nm Enhanced Aluminum (120-600nm) 0 6.00 ±0.233-91215.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥78% @ 120 - 125nm Ravg ≥85% @ 120 - 600nm Enhanced Aluminum (120-600nm) 0 3.00 ±0.2018-72720.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥78% @ 120 - 125nm Ravg ≥85% @ 120 - 600nm Enhanced Aluminum (120-600nm) 0 3.00 ±0.2018-72825.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥78% @ 120 - 125nm Ravg ≥85% @ 120 - 600nm Enhanced Aluminum (120-600nm) 0 6.00 ±0.233-91330.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥78% @ 120 - 125nm Ravg ≥85% @ 120 - 600nm Enhanced Aluminum (120-600nm) 0 5.00 ±0.2018-72935.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥78% @ 120 - 125nm Ravg ≥85% @ 120 - 600nm Enhanced Aluminum (120-600nm) 0 5.00 ±0.2018-73040.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥78% @ 120 - 125nm Ravg ≥85% @ 120 - 600nm Enhanced Aluminum (120-600nm) 0 5.00 ±0.2018-73150.00 +0.0/-0.2 λ/10 Ravg ≥78% @ 120 - 125nm Ravg ≥85% @ 120 - 600nm Enhanced Aluminum (120-600nm) 0 10.00 ±0.233-914 5.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥92% @ 190 - 250nm Ravg ≥83% @ 250 - 900nm Enhanced Aluminum (190-900nm) 0 2.00 ±0.20 18-73910.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥92% @ 190 - 250nm Ravg ≥83% @ 250 - 900nm Enhanced Aluminum (190-900nm) 0 2.00 ±0.2018-74012.50 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥92% @ 190 - 250nm Ravg ≥83% @ 250 - 900nm Enhanced Aluminum (190-900nm) 0 6.00 ±0.2018-74112.50 +0.0/-0.2λ/10 Ravg 88% @ 190 - 195nm Ravg 85% @ 200 - 600nm Enhanced Aluminum (190-600nm) 0 6.00 ±0.248-56715.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥92% @ 190 - 250nm Ravg ≥83% @ 250 - 900nm Enhanced Aluminum (190-900nm) 0 3.00 ±0.2018-74220.00 +0.0/-0.2 λ/10 Ravg ≥92% @ 190 - 250nm Ravg ≥83% @ 250 - 900nm Enhanced Aluminum (190-900nm) 0 3.00 ±0.2018-743 25.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥92% @ 190 - 250nm Ravg ≥83% @ 250 - 900nm Enhanced Aluminum (190-900nm) 0 6.00 ±0.20 18-74425.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg 88% @ 190 - 195nm Ravg 85% @ 200 - 600nm Enhanced Aluminum (190-600nm) 0 6.00 ±0.248-56830.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥92% @ 190 - 250nm Ravg ≥83% @ 250 - 900nm Enhanced Aluminum (190-900nm) 0 5.00 ±0.2018-74535.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥92% @ 190 - 250nm Ravg ≥83% @ 250 - 900nm Enhanced Aluminum (190-900nm) 0 5.00 ±0.2018-74640.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg ≥92% @ 190 - 250nm Ravg ≥83% @ 250 - 900nm Enhanced Aluminum (190-900nm) 0 5.00 ±0.2018-74750.00 +0.0/-0.2 λ/10 Ravg ≥92% @ 190 - 250nm Ravg ≥83% @ 250 - 900nm Enhanced Aluminum (190-900nm) 0 10.00 ±0.2018-748 50.00 +0.0/-0.2λ/10 Ravg 88% @ 190 - 195nm Ravg 85% @ 200 - 600nm Enhanced Aluminum (190-600nm) 0 10.00 ±0.2 48-569
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