影像校正光栅仪

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影像校正光栅仪相关的厂商

  • 维鸿精密仪器有限公司是一家台湾专业从事三坐标测量仪、二次元影像测量仪、自动化检测设备的研发与设计、生产与服务、销售与售后相结合的高科技生产企业。 公司总部位于台湾高雄, 成立于1995年,是全国认证基金会(TAF,Taiwan Accreditation Foundation)依据ISO/IEC 17025:2005认可的校正实验室,并取得国际实验室认证联盟相互承认协议授权(室验室编号:2691). 2004年广东东莞维鸿公司成立,2007年江苏昆山维鸿公司成立,2012年台湾通过TAF认证校正实验室,2017年东莞维鸿通过国家高新科技企业认证。? 我们有着二十年的专业测量经验以及台湾专业技术水准,始终坚持以客户为本,信用为先,用专业的技术优势及规范化的服务,用心为客户提供专业的尺寸测量与检测方案
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  • 二郎神影像设备(上海)有限公司 二郎神目前有两大主打产品:工业级的X射线异物检测和公共安检系统。异物检测主要应用在鞋帽厂、服装厂、玩具厂、手袋厂、箱包厂、制药厂以及调料、糖果、面食、腌制速冻品、水产蔬菜等食品行业;公共安检系统主要应用在汽车站、火车站、学校、海关、博物馆、档案局、税务局、监狱、法院、国家科研机构、邮政、物流、航空快递、各种会场、旅游景点、大型会展、体育展馆、码头等公共场所。 二郎神影像设备(上海)有限公司已通过IS09001:2009国际质量体系认证、OHSAS18001职业健康认证、IS014001:1400环境体系认证、国际CE认证、最新国家标准《GB15208.1—2005微剂量X射线安全检设备》检测。产品已通过公安部安全与电子产品质量检测中心认证,并取得所有型号的检验报告。 二郎神:以世界和谐为己任,一切只为您放心!
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  • 东莞市诚立仪器有限公司位于华南区—广东省东莞市长安镇。诚立-专业生产销售工业长度测量仪器设备,标准机采用分辨率0.0001mm贴片光栅尺,P级导轨、研磨丝杆,松下伺服电机,视帝软件、控制器等高端配件而精心打造的二次元影像测量一体机,为您的产品尺寸测量把控每1um。多年来,诚立一直致力于自主研发生产及销售长度测量仪器设备,主要产品有:二次元影像仪、三次元测量仪、一键式测量仪,自动影像测量仪、PPG锂电池平板测厚仪,测长仪,高度计/规,拉力机,大理石检测平台,工业光学镜头,测量仪器改装升级,非标测量仪器定制。在诚立销售、研发、售后团队的不断努力下,服务与产品质量得到诸多市场客户及同行认可,并与多家上市公司客户。与此同时,我司还在华南、华东两大市场设立销售与售后部门,保障客户的货源及技术支持。诚立仪器设备可用于现代工业产品长度尺寸合格检验,如:电子、五金、线路板、FPC软板、模具、硅橡胶按键、端子、连接器、马达轴心等产品合格检测。
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影像校正光栅仪相关的仪器

  • 高性能影像校正光谱仪 OmniEvo&ldquo 谱王&rdquo OmniEvo光谱仪是卓立汉光最新推出的将自有的&ldquo 谱王&rdquo 系列(Omni-&lambda 180i)影像校正光栅光谱仪与英国Andor公司的iVac制冷型CCD进行整合的新一代高性能光谱仪产品,充分发挥了&ldquo 谱王&rdquo 系列产品顶尖的光学分光性能以及iVac制冷型CCD优良的弱光探测性能,具有极高的性价比,是进行荧光、拉曼光谱实验的最佳选择之一。成熟的光学设计能力 OmniEvo高性能光谱仪的光学设计,均采用经典的C-T结构,并结合公司多年的研发经验加以改进,在光学分辨率、通光效率和杂散光抑制等各项关键指标上达到完美的平衡。其中采用OmniEvo180所采用的Omni-&lambda 180i型影像校正光谱仪,更是国内首款运用影像校正设计和调校技术的光栅光谱仪,其性能达到了国际一流水平。全进口光栅 OmniEvo光谱仪完全采用进口光栅(Newport公司生产),高质量的光栅确保了仪器的光谱性能指标。高灵敏的弱光探测能力OmniEvo高性能光谱仪选用了Andor公司的科研级、制冷型CCD作为光谱探测器件,在400-1000nm范围内进行了响应度优化,最高的量子效率达到60%;芯片的制冷温度达到了-60℃,使得其读出噪声仅为6.2e/count,因而能够满足大部分的弱光光谱探测应用。另有制冷温度更低至-100℃的背感光CCD可选,噪声更低,峰值量子效率高达80%以上;还提供适用于900-1700nm范围内使用的制冷型线阵InGaAs探测器,可用于近红外波段的光谱信号探测。 灵活的光输入结构选择OmniEvo高性能光谱仪采用的是标准的狭缝入口,开口宽度可在0.01-3mm之间灵活自由选择;通过可以选配光纤作为光输入附件,既可用于单点测量,也可以选择多通道光纤用于多点同时测量。
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  • Omni-λ200i系列“影像谱王”光栅单色仪功能及特点光谱范围广,灵敏度高,测量精度高;优良的机械和温度稳定性,绝对保证产品的一致性;预留各种接口,兼容各种光谱设备, 稳定的光学性能,方便集成到系统中 成本低,操作简单,是OEM应用的理想选择 采用超环面影像校准设计,光谱影像校正, 多通道光谱研究的*佳解决方案;出色的杂散光抑制比(5X10-5);双光栅塔台设计,覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围,即插即用,只需零级校正,实验操作更加方便;多种高性能的紫外-可见-红外探测器可选多种附件可选,包括:滤光片轮、电动狭缝、电动快门、光纤等;可与光源、探测器自由组合,实现荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱测试。规格参数表(@1200g/mm光栅)Omni-λ200i系列焦距(mm)200相对孔径F/3.5光学结构C-T扫描步距(nm)0.01杂散光5X10-5焦平面(mm)30 (w)X14 (h)光轴高度(mm)146光栅规格mm50X50光栅台双光栅狭缝规格缝宽0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝。缝高:2、4、14mm可选外形尺寸(mm)300X216X213重量(Kg)14功耗峰值100W@24V通讯接口标配USB2.0规格参数表@不同光栅光栅(g/mm)24001800120060030015075倒线色散(nm/mm)@435.83nm 1.4 2.16 3.58 7.68 15.76 31.89 64.09机械扫描范围(nm)0-6000-8000-12000-24000-48000-96000-19200扫描步距(nm)0.0050.0070.010.020.040.080.16光谱分辨率(nm)@PMT 0.08 0.1 0.15 0.3 0.6 1.2 2.4光谱分辨率(nm)@CCD(15um) 0.106 0.163 0.27 0.58 1.19 2.41 4.84CCD单次摄谱范围(nm)@30mmCCD 42 64.8 107.4 230.4 472.8 956.7 1922.7波长准确度(nm)±0.1±0.14±0.2±0.4±0.8±1.6±3.2波长重复性(nm)0.050.070.10.20.40.81.6注1:分辨率的测试条件为中心波长435.83nm;注2:200i光谱仪,只有侧入口,且CCD只能配置侧出口 注3:CCD单次摄谱范围、倒线色散为中心波长为435.83nm下的典型值,随着中心波长增加,摄谱 范围变窄;注4:随着中心波长的增大,倒线色散数值减小;随着中心波长的减小,倒线色散数值增大。Omni-λ200i系列“影像谱王”光栅单色仪典型型号表型号描述Omni-λ2002i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2003i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2005i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2007i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅Omni-λ2015i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅,红外镀膜Omni-λ2017i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅,红外镀膜Omni-λ2045i200mm焦距影像校正光谱仪 侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅,紫外增强镀膜Omni-λ2047i200mm焦距影像校正光谱仪侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅,紫外增强镀膜注1:本型号系列,为手动狭缝(电动狭缝需要额外选择);注2:本型号系列,需要额外选配光栅,*多可配置2块光栅;注3:本型号系列,不包含CCD接口法兰、滤光片轮、快门,这些附件需要额外选择;注4:更多配置型号,请咨询本公司相关销售。典型光谱仪Omni-λ2003i外形尺寸图:Omni-λ200i入口Omni-λ200i出口 光栅规格型号表5:光栅(本系列适用于Omni-λ200i系列光谱仪)注:凡蓝色的标注的均为常备库存光栅,建议优先选择型号使用范围(nm)光栅刻线(g/mm)闪耀波长(nm)规格尺寸(mm)9-240-240-NP190-600240024050X509-180-400-NP300-800180040050X509-120-300-NP200-600120030050X509-120-500-NP350-1100120050050X509-060-300-NP200-60060030050X509-060-500-NP330-100060050050X509-060-750-NP500-150060075050X509-060-1200-NP800-2400600120050X509-030-300-NP200-60030030050X509-030-500-NP300-100030050050X509-030-1000-NP600-2000300100050X509-030-2000-NP1400-4000300200050X509-030-3000-NP2000-4800300300050X509-015-500-NP330-110015050050X509-015-800-NP400-160015080050X509-015-1000-NP600-2000150100050X509-015-1250-NP800-2500150125050X509-015-2000-NP1100-4000150200050X509-015-3000-NP2200-6000150300050X509-015-4000-NP2500-8000150400050X50光栅规格型号表6:经济型光栅(本系列适用于Omni-λ200i系列光谱仪)注:凡蓝色的标注的均为常备库存光栅,建议优先选择型号使用范围(nm)光栅刻线(g/mm)闪耀波长(nm)规格尺寸(mm)9-120-300200-600120030050X509-120-500350-1100120050050X509-060-300200-60060030050X509-060-500330-100060050050X509-060-750500-150060075050X509-060-1250800-2400600125050X509-030-500330-100030050050X509-030-750450-150030075050X509-030-1250850-2500300125050X509-015-500330-110015050050X509-015-1000600-2000150100050X50典型光栅效率曲线
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  • “影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪“影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪功能及特点:1.180mm,320mm,500mm等多种焦距可选,适应不同光谱带宽需求;2.光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术,最大限度了抑制了像散,使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置,获得了清晰的成像,从而提高 了信号强度,提升了光谱仪信号收集的能力;3.多光栅塔台设计,更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势,并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率;4.光栅采用40×40mm或68×68mm(68×84mm)大面积光栅,提高了光收集效率;5.适应不同光谱波段使用的光栅选择,覆盖UV-IR全波段范围;针对红外(1um)波段的最优化设计,光学镜片采用镀金膜设计,提高红外光反射效率;6.更好的杂散光抑制比,达到1×10-5;7.仪器的控制(如光栅转换、波长扫描等)全部由计算机控制,并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口,不仅使仪器的连接更加简单化,更极大提高了通讯速率;8.采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性,可根据需要选择双入、出口;双入、出口的控制通过计算机软件自动控制,定位更精准;9.可灵活与卓立光源、探测器(单点探测器和阵列CCD等)组合搭建,实现任意光谱系统解决方案,如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等;10.电子快门可选;11.自动狭缝可选;规格参数表(@1200g/mm光栅条件下):Omni-λ180iOmni-λ320iOmni-λ500iOmni-λ750i焦距(mm)180320500750相对孔径f/4f/4f/6.5f/9.7光学结构C-T机械扫描范围(nm)0-1200分辨率(nm)-PMT0.250.080.050.028分辨率(nm)-CCD(26μm)0.350.210.150.09倒线色散(nm/mm)3.72.31.71.1波长准确度(nm)±0.2±0.15±0.1波长重复性(nm)±0.1±0.08±0.01扫描步距(nm)0.010.0050.0025杂散光1×10-5焦面尺寸(mm)30(w)×10(h)30(w)×14(h)光轴高度(mm)146.5狭缝规格缝宽:0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝;缝高:2,4,10,14mm可选光栅尺寸(mm)40×4068×68光栅台双光栅三光栅通讯接口标配USB2.0,可选RS-232
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  • “卓立造,中国芯”卓立汉光重磅发布十余款仪器新品
    仪器信息网讯 2024年1月26日, “卓立造,中国芯”——2024年度新品发布会暨卓立汉光25周年系列活动(第一辑)在北辰五洲皇冠国际酒店召开。100余位专家、用户及卓立汉光的相关领导、技术专家等出席活动。特别值得一提的是,该活动在仪器信息网3i讲堂、视频号等多渠道全球同步直播。据不完全统计,超万人次线上参与,引发热烈讨论与交流。新品发布会现场北京卓立汉光仪器有限公司总经理 张志涛致辞苏州惟光探真科技有限公司创始人 刘争晖致辞卓立汉光成立于1999年,以精密位移控制以及光谱仪模块和光谱仪系统为核心,并且为广大的科研和工业客户提供相应的产品和服务。卓立汉光总经理张志涛在致辞中讲到:“今年是卓立汉光成立的25周年,非常感谢在过去的发展历程当中,所有客户对卓立汉光的支持与帮助,以及所有员工对卓立汉光的贡献。未来我们将会继续加大在技术研发和市场应用端的投入,实现卓立汉光下一个腾飞的25年。”苏州惟光探真科技有限公司创始人刘争晖在致辞中谈到了国产仪器目前面临的问题,并就国产科学仪器如何发展壮大与大家进行了探讨。其介绍说,“国产仪器要发展壮大就要欢迎竞争和内卷,关注核心技术,关注软件和应用体验等。”此外,致辞中,刘争晖还就科学仪器转移转化的方式谈了自己的看法。重磅新品揭幕据张志涛介绍,本次发布会推出了十余款新品,主要分成两大类,核心配件及应用系统。其中,核心配件重点突破关键技术,为客户及卓立汉光自身系统开发提供基础保障。比如 Hipers 光谱仪,实现了全球领先的光谱成像效果,将在科研及生命科学应用发挥重大作用;应用系统以解决客户需求为目的,提供最终解决方案。比如高光谱系列智能一体机,实现数据的收集、分析、输出的一体化设计,方便客户使用。接下来的会议日程依次为大家揭晓了本次发布会的新产品和相关解决方案,包括HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪、Image-λ-RT系列可见-近红外高光谱相机、FI-RIR便携式红外拉曼一体机、2μm 掺铥光纤激光器、高能量连续可调衰减器、TL-900 热释光测试系统、T-lab系列通用型条纹相机、可见光分幅相机、CS系列30mm笼式组件、无线温振传感器等,并在现场进行了真机展示。一直以来,卓立汉光深耕科学仪器行业,而此次新品的集中发布就特别彰显了科学仪器的“中国力量”!据介绍,本次发布会推出的HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪、Image-λ-RT系列可见-近红外高光谱相机等已经实现国产替代,甚至超越国外品牌。Image-λ-RT系列可见-近红外高光谱相机(左)、HiperS-320i全焦面影像校正光栅单色仪/光栅光谱仪(右)第一排:Omni-λ300s”影像谱王”光栅光谱仪/光谱仪(左)、FI-RIR便携式红外拉曼一体机(右);第二排:超快时间分辨光谱测试系统(左)、超快高速成像-分幅相机(右)第一排:GaiaSmart系列高光谱成像仪(左)、高光谱激光雷达热红外一体机-GaiaSky-Lidar(中)、无人机载日光诱导叶绿素荧光系统GaiaSky-Fluo(右);第二排: 像素级控光影像整机(左)、高能量连续可变偏振分光器(中)、CS系列30mm笼式组件(右)第一排:无线分体式温振传感器VA350_ICP(左)、无线温振传感器VA325(中)、NB-loT无线温振传感器VA525(右);第二排:无线网关BS910、BS913(左)、VT108无线温湿度监控器和VT112温湿度监控终端(中)、全自动微区光电系统(右)第一排:北京必创科技股份有限公司产品经理 邱航(左)、无锡必创测控科技有限公司副总经理及研发负责人 姚先华(右);第二排:北京清智元视科技有限公司首席执行官 胡成洋(左)、北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家 覃冰(右)北京必创科技股份有限公司产品经理邱航分享了设备状态监测产品及解决方案;无锡必创测控科技有限公司副总经理及研发负责人姚先华介绍了实验室冷链安全监测产品及方案;北京清智元视科技有限公司首席执行官胡成洋对新品“像素级控光影像整机”—MetaCam进行详细讲解;北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家覃冰对TL-900热释光测试系统和基于振镜的FLIM系统进行详细介绍。北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家 吴京航(左)、湖北众韦光电科技有限公司 蔡梦豪(中)、江苏双利合谱科技有限公司总经理 张永强(右)北京卓立汉光仪器有限公司光谱应用专家吴京航介绍了超快时间分辨光谱与高速成像产品;湖北众韦光电科技有限公司蔡梦豪分享了全自动微区光电系统;江苏双利合谱科技有限公司总经理张永强详细讲解了多种类高光谱智能一体机系统。北京卓立汉光仪器有限公司项目经理 佟飞(左)、无锡中镭光电科技有限公司研发总监 王旭(中)、北京卓立汉光仪器有限公司激光产品服务部总经理 张瑞宝(右)北京卓立汉光仪器有限公司项目经理佟飞介绍了全焦面影像校正光谱仪;无锡中镭光电科技有限公司研发总监王旭介绍了2μm波段光纤激光器新品;北京卓立汉光仪器有限公司激光产品服务部总经理张瑞宝分享了高能量连续可调衰减器。北京卓立汉光仪器有限公司工业分析仪器事业部总经理 李敏(左)、北京卓立汉光仪器有限公司光机机械工程师 曹佳宝(中)、北京卓立汉光仪器有限公司光色测量事业部总经理 韩莉(右)北京卓立汉光仪器有限公司工业分析仪器事业部总经理李敏讲解了便携式红外-拉曼检测系统;北京卓立汉光仪器有限公司光机机械工程师曹佳宝讲解了CS系列30mm笼式结构组件;北京卓立汉光仪器有限公司光色测量事业部总经理韩莉带来了发光材料及器件光色电综合测试方案。相关新产品的详细特点和性能优势请查看仪器信息网的视频回放。北京大学副研究员 洪浩(左)、中国科学院化学研究所研究员 张贞(中)、中国海洋大学副教授 夏呈辉(右)除了优秀产品重磅推出与技术干货倾情分享外,本次活动还诚邀业内重要专家现场分享,共话光电新品与未来。其中,北京大学副研究员洪浩以《二维材料界面非线性光学调控》为题进行报告分享;中国科学院化学研究所研究员张贞以《复杂界面分子结构非线性光谱研究》为题展开讨论;中国海洋大学副教授夏呈辉进行《多功能半导体铜基疏化物纳米晶体的精准制备及光电性质研究》的主题报告。北京卓立汉光仪器有限公司销售经理 刘沫主持活动合影留念25年的积累、25年的沉淀,25年的风雨兼程,卓立汉光在国产替代的道路上砥砺前行。25周年,也必将是一个新起点,就像张志涛在致辞中介绍的:2024年不光是卓立汉光成立25周年的重要时刻,也将定义为卓立汉光进军国际市场、打造国际知名品牌的元年。据悉,本次发布会是卓立汉光25周年庆典的一个开端,后面将展开卓立25周年的质量万里行回馈客户活动、逐梦光电﹣卓立汉光25周年特别用户研讨会、贯穿全年度的线上名师讲堂活动、线下区域性的用户交流活动等一系列的市场宣传和客户回馈活动,敬请期待!虎啸龙吟展宏图,2024甲辰龙年是卓立汉光的25周年,也是卓立汉光和仪器信息网携手同行的16年,更是品牌合作伙伴加深合作的新一年,期待双方强强联手,合作共赢!活动直播过程中,仪器信息网的3i讲堂和视频号分别为参会代表准备了有奖问答、红包雨等系列惊喜,现场氛围热烈非凡,更多精彩内容请查看:
  • 了解球差校正透射电镜,从这里开始
    p   作者:Mix + CCL br/ /p p & nbsp & nbsp & nbsp strong 前言: /strong /p p   球差校正透射电镜(Spherical Aberration Corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)随着纳米材料的兴起而进入普通研究者的视野。超高分辨率配合诸多分析组件使ACTEM成为深入研究纳米世界不可或缺的利器。本期我们将给大家介绍何为球差,ACTEM的种类,球差的优势,何时才需要ACTEM、以及如何为ACTEM准备你的样品。最后我们会介绍一下透射电镜的最前沿,球差色差校正透射电镜。 /p p    strong 什么是球差: /strong /p p   100 kV的电子束的波长为0.037埃,而普通TEM的点分辨率仅为0.8纳米。这主要是由TEM中磁透镜的像差造成的。球差即为球面像差,是透镜像差中的一种。其他的三种主要像差为:像散、彗形像差和色差。透镜系统,无论是光学透镜还是电磁透镜,都无法做到绝对完美。对于凸透镜,透镜边缘的会聚能力比透镜中心更强,从而导致所有的光线(电子)无法会聚到一个焦点从而影响成像能力。在光学镜组中,凸透镜和凹透镜的组合能有效减少球差,然而电磁透镜却只有凸透镜而没有凹透镜,因此球差成为影响TEM分辨率最主要和最难校正的因素。此外,色差是由于能量不均一的电子束经过磁透镜后无法聚焦在同一个焦点而造成的,它是仅次于球差的影响TEM分辨率的因素。 /p p style=" text-align: center" img style=" width: 450px height: 246px " src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/565984ed-0352-4b62-8539-a16db18b6f6b.jpg" title=" 1.jpg" height=" 246" hspace=" 0" border=" 0" vspace=" 0" width=" 450" / /p p style=" text-align: center " strong 图1:球差和色差示意图 /strong /p p 自TEM发明后,科学家一直致力于提高其分辨率。1992年德国的三名科学家Harald Rose (UUlm)、Knut Urban(FZJ)以及Maximilian Haider(EMBL)研发使用多极子校正装置(图3)调节和控制电磁透镜的聚焦中心从而实现对球差的校正(图4),最终实现了亚埃级的分辨率。被称为ACTEM三巨头的他们也获得了2011年的沃尔夫奖。多极子校正装置通过多组可调节磁场的磁镜组对电子束的洛伦茨力作用逐步调节TEM的球差,从而实现亚埃级的分辨率。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/2080a2cf-4ab3-41ab-b731-7719f0c32d28.jpg" title=" 2.jpg" / /p p style=" text-align: center "   strong  图2 三种多极子校正装置示意图 /strong /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/090bb4c0-aeea-4ab4-8601-79bcf74b7c8e.jpg" title=" 3.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 图3 球差校正光路示意图 /strong /p p    strong ACTEM的种类: /strong /p p   我们在前期TEM相关内容已经介绍了透镜相关内容,TEM中包含多个磁透镜:聚光镜、物镜、中间镜和投影镜等。球差是由于磁镜的构造不完美造成的,那么这些磁镜组都会产生球差。当我们矫正不同的磁透镜就有了不同种类的ACTEM。回想一下STEM的原理,当我们使用STEM模式时,聚光镜会聚电子束扫描样品成像,此时聚光镜球差是影响分辨率的主要原因。因此,以做STEM为主的TEM,球差校正装置会安装在聚光镜位置,即为AC-STEM。而当我们使用image模式时,影响成像分辨率的主要是物镜的球差,此种校正器安装在物镜位置的即为AC-TEM。当然也有在一台TEM上安装两个校正器的,就是所谓的双球差校正TEM。此外,由于校正器有电压限制,因此不同的型号的ACTEM有其对应的加速电压,如FEI TITAN 80-300就是在80-300 kV电压下运行,也有专门为低电压配置的低压ACTEM。 /p p    strong 球差校正电镜的优势: /strong /p p   ACTEM或者ACSTEM的最大优势在于球差校正削减了像差,从而提高了分辨率。传统的TEM或者STEM的分辨率在纳米级、亚纳米级,而ACTEM的分辨率能达到埃级,甚至亚埃级别。分辨率的提高意味着能够更“深入”的了解材料。例如:最近单原子催化很火,我们公众号也介绍了大量相关工作。为什么单原子能火,一个很大的原因是电镜分辨率的提高,使得对单原子的观察成为可能。浏览这些单原子催化相关文献,几乎无一例外都用到了ACTEM或者ACSTEM。这些文献所谓的“单原子催化剂”,可能早就有人发现,但是因为受限于当时电镜分辨率不够,所以没能发现关键的催化活性中心。正是因为球差校正的引入,提高了分辨率,才真正揭示了这一系列催化剂的活性中心。 /p p    strong 何时才需要用球差校正电镜呢? /strong /p p   虽然现在ACTEM和ACSTEM正在“大众化”,但是并非一定要用这么高大上的装备。如果你想观察你的样品的原子级结构并希望知道原子的元素种类(例如纳米晶体催化剂等),ACSTEM将会是比较好的选择。如果你想观察样品的形貌和电子衍射图案或者样品在TEM中的原位反应,那么物镜校正的ACTEM将会是更好的选择。就纳米晶的合成而言,球差校正电镜常用来揭示纳米材料的细微结构信息。比如合成一种纳米核壳材料,其中壳层仅有几个原子层厚度,这个时候普通电镜下很难观察到,而球差电镜则可以拍到这一细微的结构信息(请参见夏幼男教授的SCIENCE,349,412)。 /p p    strong 如何为ACTEM准备你的样品: /strong /p p   首先如果没有合作的实验室的帮助,ACTEM的测试费用将会是非常昂贵的。因此非常有必要在这里介绍如何准备样品。在测试之前最好尽量了解样品的性质,并将这些信息准确地告知测试者。其中我认为先用普通的高分辨TEM观察样品是必须的,通过高分辨TEM的预观察,你需要知道并记录以下几点:一、样品的浓度是否合适,目标位点数量是否足量 二、确定样品在测试电压下是否稳定并确定测试电压,许多样品在电子束照射下会出现积累电荷(导电性差)、结构变化(电子束的knock-on作用)等等 三、观察测试目标性状,比如你希望测试复合结构中的纳米颗粒的原子结构,那么必须观察这些纳米颗粒是否有其他物质包覆等,洁净的样品是实现高分辨率的基础 四、确定样品预处理的方式,明确样品测试前是否需要加热等预处理。五、拍摄足量的高分辨照片,并标注需要进一步观察的特征位点。在ACTEM测试中,与测试人员的交流非常重要,多说多问。 /p p    strong 球差色差校正透射电镜: /strong /p p   球差校正器经过多年的发展,在最新的五重球差校正器的帮助下,人类成功地将球差对分辨率的影响校正到小于色差。只有校正色差才能进一步提高分辨率,于是球差色差校正透射电镜就诞生了。我们欣赏一下放置在德国Ernst Ruska-Centre的Titan G3 50-300 PICO双球差物镜色差校正TEM (300 kV分辨小于0.5埃)以及德国乌尔姆大学的TitanG3 20-80 SALVE 低电压物镜球差色差校正TEM (20 kV 分辨率小于1.4埃)。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/04b96c4d-c6fe-40d2-85c0-b86ce091e6e8.jpg" title=" 4.jpg" / /p p style=" text-align: center " strong 图4 Titan G3 50-300 PICO、TitanG3 20-80 SALVE及其矫正器 /strong /p
  • 聚焦这5个领域,看透“球差校正透射电镜”那些事儿!
    球差校正透射电镜(Corrected Transmission Electron Microscopy, CETEM)是一种高级的电子显微镜技术,它通过校正光学球差,显著提高了图像分辨率,广泛应用于材料、物理学、化学、生物学、地球科学等多个研究领域。材料领域,常用于观察和分析纳米材料和先进材料的微观结构,研究晶体缺陷、界面、相变等;物理学领域,可用于观察低维材料如石墨烯、纳米管等,研究量子点、纳米线等纳米结构的电子性质;化学领域,可分析催化剂的表面结构和活性位,观察化学反应过程和机理;生物学领域,可用于观察细胞器和病毒的高分辨率结构;地球科学领域,常用于分析矿物和岩石的微观结构。那么,国内球差校正透射电镜技术进展如何?2023-2029年间,该技术在国内的应用和研究正在逐步扩大,中国双球差校正透射电镜市场预计将经历一定的增长。目前,国内多所高校和研究机构已经拥有了球差校正透射电镜技术。2024年,清华大学、浙江大学、中国科学院宁波材料技术与工程研究所、南方科技大学、杭州大学等机构已相继合办或主办了多场相关的主题学术技术交流会,探讨了球差校正透射电镜技术发展现状。3i讲堂作为科学仪器行业的百家讲坛,致力于以信息化促进行业发展,将各类领域新技术、新应用、新方法以专家在线报告的方式分享给广大用户。基于此,为了进一步助力球差校正电镜技术的发展,仪器信息网3i讲堂,将于10月16日独家直播“2024赛默飞球差校正透射电镜技术研讨会”,在此,热忱邀请各位资深透射电镜用户参加此次盛会。点击报名:https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/thermo241016/时间主题嘉宾08:50--09:00领导致辞09:00--09:30解决材料科学难题的先进三维与定量电镜技术陈江华 海南大学09:30--10:10电子显微学在铁电材料与器件中的应用田鹤 浙江大学10:10--14:00茶歇14:00--14:40显微学新技术与地学新时代李金华 中科院地质与地球物理研究所14:40--15:20储能材料失效机理研究黄建宇 燕山大学 湘潭大学15:20--16:00高熵热电材料的结构与性能关联性何佳清 南方科技大学16:00--16:20茶歇16:20--16:50Achieving Sub-Picosecond Pulsed Electron Beams without a Femtosecond LaserEric Van Cappellen Thermo Fisher Scientific16:50--17:20一种析出强化汽车铝合金的原子分辨电子显微学和谱学研究赖玉香 海南大学17:20--17:30总结支持

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  • 影像仪校正标定玻璃板 其他配件
    校正片玻璃/影像测量仪专用校正片/二次元校正片|标定板|测微尺 专业用于测量仪器在测量的时候进行标准化校准,仪器校准后方可测量,得到准确的数值,对于PCB,五金电镀,2次元,3次元,显微镜,贴片机等测量,定位仪器起到很重要的作用。专业用于测量仪器在测量的时候进行标准化校准。即仪器测量工件前对仪器进行校对,以此标准片作为标准样品,根据距离对应关系,来得到标准数值。仪器校准后方可进行测量,得到准确数值。对于PCB,五金电镀,二次元,三次元,显微镜,贴片机等测量,定位仪器起到很重要的作用。 特点:准确的标定,校验仪器的精度。规格:50mm*50mm、63mm*63mm(可订做)
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    产品特点:聚苯乙烯* 与大多数有机溶剂兼容* 分析证书符合国际协议的要求* 校正性能适用于所有应用聚苯乙烯标准品是许多有机溶剂分析的首选,既适用于常规GPC 柱校正,又可用于校正光散射和粘度检测器。我们的有机聚合物分子量覆盖范围为162-1500 万,提供等距校正点,使精确度更高。每个试剂盒含有0.5 g 10 种不同分子量的标准品。订购信息:校正试剂盒(所有试剂盒 10x 0.5 g)S-h-10部件号Pl2010-0103S-h2-10部件号Pl2010-0104S-m-10部件号Pl2010-0100S-m2-10部件号Pl2010-0102S-l-10部件号Pl2010-0101S-l2-10部件号Pl2010-0105 成分聚合物标称mp(g/mol)300000100058058016216246000030001450140058037070000086004000240090058011000002500010000475014008001700000730002700095002200100026000002100006600019000340015004000000600000180000380005100190062000001780000460000750008100250095000005000000119000015000012800320015000000150000003000000300000200004500单一聚合物分子量聚合物标称 mp(g/mol)标称 mw/mn1 g部件号5 g部件号10 g部件号1621PL2012-1001PL2012-1005PL2012-10103701.11PL2012-0001PL2012-0005PL2012-00105801.11PL2012-2001PL2012-2005PL2012-201010001.09PL2012-3001PL2012-3005PL2012-301013001.07PL2012-4001PL2012-4005PL2012-401020001.05PL2012-5001PL2012-5005PL2012-501030001.04PL2012-6001PL2012-6005PL2012-601050001.03PL2012-7001PL2012-7005PL2012-701070001.04PL2012-8001PL2012-8005PL2012-8010100001.02PL2012-9001PL2012-9005PL2012-9010200001.02PL2013-1001PL2013-1005PL2013-1010300001.02PL2013-2001PL2013-2005PL2013-2010500001.03PL2013-3001PL2013-3005PL2013-3010700001.03PL2013-4001PL2013-4005PL2013-40101000001.02PL2013-5001PL2013-5005PL2013-50101300001.01PL2013-6001PL2013-6005PL2013-60102000001.05PL2013-7001PL2013-7005PL2013-70103000001.03PL2013-8001PL2013-8005PL2013-80105000001.03PL2013-9001PL2013-9005PL2013-90107000001.03PL2014-0001
  • 光栅
    Diffraction Gratings 衍射光栅 Optometrics 公司有着四十多年衍射光栅设计和生产经验,在工业,教育,科研领域为各种各样的应用提供广泛的光栅选择。Optometrics公司自身的刻划技术能力以及生产和开发全息实验室,为客户应用提供最佳光栅选择。 Optometrics公司是少有的几个既可以生产刻划光栅,也可以生产全息光栅的公司。 用于光谱仪器的标准光栅包括刻划和全息复制两种。激光应用的标准光栅包括:用于分子激光器的高损伤阈值原始和复制光栅,用于染料激光器的全息掠入射光栅以及阶梯光栅。丰富的光栅类型● 刻划反射式光栅(UV, VIS,NIR)● 全息反射式光栅● 阶梯光栅● 掠入射光栅● 分子激光器(ML)光栅● 透射式光栅(UV, VIS,NIR)● 透射/反射式光栅分束器 Optometrics增加3D纳米成像对衍射光栅进行优化(原子力显微镜为衍射光栅生产提供了新的优化基准) Optometrics公司最近为其计量体系增加了扫描原子力显微镜(AFM),对衍射光栅优化设计中涉及的纳米测量,特性描述,操作处理技术树立了新的标杆。AFM增强了Optometrics对OEM客户的特殊支持和服务。 AFM是Optometrics使用的几种精密制造和工程计量工具中的一种,用于了解光栅表现的缘由。在准备生产新的母光栅时,AFM通常用于对光栅刻槽的尺寸,形状,以及角度进行确认。同时作为取证工具用于帮助发现光栅性能异常原因。 当用金刚石刀刻划或全息方法制作一个新的母光栅时,通过高分辨率成像工具检察,可以确认微观刻槽的形状和纹路是否优化和符合设计要求。下面是Optometrics生产的衍射光栅扫描图像。图像1为全息记录的1200刻线/mm紫外闪耀光栅。注意由AFM获得并确认的高清晰槽纹剖面。图像2为2180刻线/mm全息记录衍射光栅正弦槽纹剖面。 在众多光谱仪器设计中,衍射效率和动态范围是至关重要的参数。了解为什么一个特定的衍射光栅可能有一个小的但却是必然的性能差异,对仪器设计的成功是很重要的。 通常许多衍射光栅只是简单说明其原本的制作方式,刻线频率和闪耀波长 (如市面上通常标明的每毫米600刻线及闪耀波长400nm的刻划式光栅)。但是,不是所有刻划式的600刻线/mm闪耀波长400nm的光栅都相同。同样,用于复制光栅的“母光栅”会由于刻槽面的大小,形状或位置的异常,而导致性能的相互差异。正如下面两种不同的每毫米600刻线及400nm闪耀波长母光栅的衍射效率曲线所示,这些纳米级的差异可能在或窄或宽的光谱范围内显著影响光栅性能。 您可以将您的具体光栅规格要求发给我们,我们可以提供光栅定制和常规产品技术规格供您参考。另外,Optometrics公司可以提供光栅检测服务,为您的光栅性能提升提供专业分析。 详情请联系我公司销售人员。
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