闪烁亮度色度计

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闪烁亮度色度计相关的厂商

  • 视彩(上海)光电技术有限公司是一家专注于光学视觉检测的高科技公司。 公司以Color Vision品牌的光谱、亮度、色度测量仪器和配套软件为核心产品,为显示、汽车、照明等行业的客户提供精确的测试和自动化服务。 公司的主要产品有成像式亮度计、成像式色度计、光谱式亮度色度计和相配套的软件分析系统。公司研发方向包括高精度的亮度色度测量、显示屏和背光BLU均匀性测量分析、显示屏的缺陷检测、LCD和OLED的Demura、AR/VR/MR/HUD产品的测量、汽车仪表按键背光的测量、发光键盘的亮色度均匀性、汽车照明如尾灯/氛围灯/阅读灯的测试、LED显示屏色彩校正等。
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  • 上海楚光仪器技术有限公司是美国Gamma Scientific,德国Opsira的总代理,其公司主要的产品有AR/VR近眼显示测量仪器、多角度光谱照度计、光谱成像亮度色度计以及照明及材料光学的测量检测仪器、逆反射测试仪器等。
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  • 400-860-5168转2948
    光傲科技,专注于光电计量测试解决方案秉持测试就是生产力的理念,以所代理的欧美一流仪器设备为核心,结合十多年的行业经验,与客户一起工作,提升研发能力、品质管理能力!五大领域业务领域发光测量在200-30 微米的范围内,提供光谱辐射度计、成像式亮度计、分布式光度计,用于光源、灯具、显示器、遥感等高精度测量,以及相关产业的在线分析材料测量在 紫外-可见-中远红外波段,提供材料透过率、反射率、漫反射率测试,以及在线过程分析,色差控制解决方案探测器测量提供探测器,包括各种单点探测器、CCD、光电系统的绝对光谱响应测试系统,并提供追溯 NIST 的标准探测器。标准计量提供各种光谱辐射度标准灯、精密电源用于分光光度计校正的光谱透射、反射标准、荧光标准OEM 产品为仪器仪表行业提供 OEM 光谱仪、信号读出电路、光电器件等全球合作伙伴光谱辐射度计行业鼻祖企业 ,NIST 计量科学家1970 创立 ,提供光谱辐射度计、光谱辐射度标准灯、标准探测器等。位于美国专注成像亮度色度计30年,是成像亮度计标准 CIE 244 2021 主席单位,以及近场分布式光度计的国家技术标准制定企业。位于德国。专注产线测试应用光电测试系统和传感器 ,适应苛刻产线环境 ,并节约客户的测试成本。位于德国。简单、创新的光及颜色测量仪器,位于美国加州。设计制造经济型、便携式高精度光谱辐射度计。德国企业。标准板、标准物质,光学涂料联系我们售前客服售后客服电话:021 52960771 邮箱:sales@light-all.com
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闪烁亮度色度计相关的仪器

  • CR 100 亮度、色度计 400-860-5168转2948
    CR 100 是业界最佳光谱匹配误差的滤片式亮度、色度计,仅重340g,软件可运行与 Apple 和Windows 操作系统。可测试项目亮度、色度、色温、主波长、照度;支持闪烁、响应时间、Gamma测试;兼容市场上的显示调校软件技术特点采用并列探测器,同时获取三刺激值,无需转动滤光片可测试显示器、灯具的Flicker、闪烁系数、调制深度等参数,同步频率:10-500 Hz;亮度模式最高可达500KHz,采样时间仅 2 us,可用于响应时间测试。采用不锈钢与铝的金属机身,适应各种苛刻的、快速移动的测试环境。全固态设计,没有移动部件和机械快门,所有部件均为固定设计,抗震动性极佳支持 Four-Color Matrix Method 校正,内置针对不同显示原理显示器的修正系数矩阵,保证测试精度严格控制光谱匹配误差,保证精度可以与 CR250 配套,实现自动四色校正功能光谱匹配误差指标GuaranteedTypicalY (Photopic)≤ 2.0%1.4 – 1.8%Xr (Red)≤ 3.0%2.3 - 2.7%Xb (Red under Blue)≤ 1.2%0.8 - 1.0%Z (Blue)≤ 3.5%2.2 – 2.7%访问光傲科技公众号,了解色度计的四色校正技术:技术参数工作波长范围380 – 780 nm亮度范围0.0007 -5140 Nits 0.0007 Nits @ 信噪比 10, 20s 曝光时间0.003 Nits @ 信噪比 10, 0.5s 曝光时间0.003 Nits @ 信噪比 100, 20s 曝光时间5140 Nits @ 信噪比 8000, 0.001s 曝光时间 亮度精度± 2 % @ 0.34 Nits , 0.4s 曝光时间亮度重复性0.2 % @ 0.34 Nits , 0.4 s 曝光时间1.5 % @ 0.034 Nits 0.5 s 曝光时间1.5 % @ 0.0034 Nits 20 s 曝光时间色度精度± 0.0015 x, y @ 0.34 Nits 0.4 s 曝光时间± 0.0015 x, y @ 0.069 Nits 20 s 曝光时间色度重复性0.0005 x, y @ 0.34 Nits , 0.4 s 曝光时间0.0005 x, y @ 0.069 Nits , 20 s 曝光时间偏振误差≤ 0.1 %同步频率10 - 500 Hz (可定制, 10 Hz to 10 KHz )曝光时间范围1 ms - 20 s电源5V, 120 mA (600 mW) via USB 2.0通讯接口USB 2.0, Ethernet, RS-232重量0.34 Kg
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  • Atlas系列成像色度计(二维光谱视觉分析)高性能高分辨光谱视觉系统姓名:许工(Sherry)电话:(微信同号)邮箱:所属类别: 光谱仪 / 色度计所属品牌:荷兰Admesy公司 产品简介Atlas系列成像色度计(二维光谱视觉分析)高性能高分辨光谱视觉系统 上海昊量光电提供Atlas系列2维光谱视觉系统(成像色度计)结合了光谱仪有点和高分辨率相机两款设备的独特系统,为显示器、LED显示屏和其它显示器件的视觉检测提供真实的颜色测量特性。另外,该系统也可以进一步扩展增加色度计的功能,可以用作闪烁测量。 系统具有高度的灵活性,通过一个预先定义好,庞大的函数库,而该函数库已经被整合在一个非常容易使用的语言脚本里,最终用户可以按照自己的需求编写测试流程方案。 色度计,光度计,亮度计,照度计,LED显示屏检测,LCD显示屏检测,MURA检测,白点检测,显示屏坏点检测,显示屏色度监测,表面平整度检测,表面光泽度检测 产品特点:? 可见光谱测量(380nm~zui高达到780nm)? 亮度和色度测量? 二维亮度和色度校准输出? 二维均匀性检测? 二维Mura检测(Black,Cloud,blob,line)? 块状或区域对比? 确定区域比较? 像素/线缺陷检测? 用户自定义测试流程脚本? 合格/不合格测量? 数据记录(用户自定义)? 无需校准仪器(无需培训) 基本规格参数:典型的测试项目:色度、亮度均匀性通过DFF均匀性算法线缺陷通过ADMESY算法斑状缺陷通过ADMESY MURA算法异物(灰尘等)通过DFF MURA算法像素缺陷通过DFF MURA和颜色均匀性算法漏光(边缘Mural)通过颜色均匀性算法色斑检测通过DFF均匀性算法 相机参数参数800万像素1600万像素相机分辨率3312×24884872 × 3248探测器KAI-08050 TrueSense CCDKAI-16000 TrueSense CCD输出格式12 bit12bit非线性度< 1%< 1%信噪比60dB60dB曝光时间1ms ~ 16 Senconds1ms ~ 16 Senconds 光谱仪参数光谱范围380nm ~ 780nm波长分辨率(FWHM)2.3nm积分时间1.4ms – 20s杂散光< 0.03%非线性度< 1% 镜头参数参数800万像素1600万像素相机镜头Componon-S 4.0/80Componon-S 4.5/90Componon-S 5.6/100Componon-S 4.5/90Componon-S 5.6/100焦距80.3mm91.2mm102.3mm91.2mm102.3mm视场角水平12.5°11.2°10.1°16.0°14.5°垂直9.4°8.4°7.6°10.7°9.7°斜线15.5°13.9°12.6°19.2°17.3°工作距离6inch/152mm593mm677mm766mm492mm558mm8inch/203mm774mm883mm997mm635mm719mm10inch/254mm956mm1089mm1228mm779mm880mm12inch/305mm1137mm1295mm1459mm922mm1041mm 软件和溯源: 相关产品Atlas系列成像色度计(二维光谱视觉分析) 世界最小的UV/VIS光纤光谱仪 Hyperion系列-高速、高精确色度计 MSE系列-在线色度检测色度计 Arges系列—45度入射色度计
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  • 成像亮度色度计-WP 400-860-5168转2499
    成像亮度色度计:WP 6E/ES系列:WP640E/ES,WP690E/ES,WP6120E/ES仪器的独特之处在于其镜头的控制可以进行电动变焦和光圈控制。这些电动变焦镜头可以为其应用提供更高的精确度,准确度、分辨率和便利。有多种佳能EF镜头和集成光谱辐射计可选,WP的photometrica® 软件和应用程序包为用户的测量分析提供了最高效的环境。(SDK)软件开发工具包可以有效的实现所有功能。关键特性: 电动变焦和光圈控制多款佳能EF镜头选择高灵敏度外形简洁紧凑可选的集成光谱辐射计 TE 冷却传感器 应用领域:显示屏的特征显示与校准键盘背光 航空电子设备汽车仪表盘和面板光束分布分析固态光源成像极佳:WP6E系列有400万,900万或者1200万像素的分辨率, 为显示屏,发光键盘,图像和其他的亮度色度检测提供了最优解决方案。这些仪器的独特之处在于其镜头的控制可以进行电动变焦和光圈控制。这些电动变焦镜头可以为所有应用提供更高的精确度,准确度和便利。WP的photometrica® 软件和应用程序包为用户的测量分析提供了最高效的环境。(SDK)软件开发工具包可以有效的实现所有功能。 灵敏度:CCD探测器的稳定的铂尔帖制冷可以最大限度的减少测量噪声和漂移。灵敏度低于0.0001 cd/m2,超低光信号能可靠分析。光学系统的优化同时还缩短了测量时间。外形紧凑:WP6E系列功能丰富,小巧轻便。无论是在三脚架,台子或是机械手上安装仪器,都很容易.自动色彩校正:WP6ES同时拥有了点式光谱辐射计和成像色度计的好处。成像色度计的精度可以通过自动校正来提高到光谱辐射计的水平。频谱数据还提供了辐射信息和其他的测量见解。为了满足现代的显示和照明,WP提供S3、S4高性能光谱辐射计,有着优异的动态范围、线性、杂散光抑制和信噪比。WP还可以和其他的光纤光谱仪一起使用,更多详情请联系我们。 灵敏FLICKER:直径1毫米的光纤组件可用于收集更多的光并产生卓越的灵敏度。作为一种选项,第二光纤束也可以收集光以连接到闪烁传感器。 可靠简化: 和单独使用点式光谱辐射计和成像色度计相比起来,WP6ES的综合功能更优越。WP6ES成像光谱色度计点式光谱辐射计&分开的成像色度计色度计和光谱辐射计的成像路径都匹配, 从而保证比较的测量位置和几何图形精确地相互关联光斑大小,位置和测量角度可能有所不同,使得相互关联不确定光谱测量是在色度计测量后立即获取WP6ES最小化了采样的亮度和色度漂移当一个仪器需要在成像路径中由另一个仪器替代时,测量不能被及时地排序所有测量速度快,自动校正校正方法费时费力,不经常进行 Photometrica软件显示以2D图像为中心和相关的光谱测量点的局部截图 用S3和S4光谱辐射计不同的测试LED光源,主波长偏差(上)和△u’v’(下) 光谱辐射计型号S3S4探测器背照式 CCD背照式 CCD像素数1024 x 582048 x 64波长范围380-1100 nm380-880 nm光学对称的Czerny-Turner,焦距 100 mm对称的Czerny-Turner,焦距 75 mm数字分辨率16 bit16 bit数据点间隔0.7 nm0.26 nm光谱带宽2.9 nm2.3 nm波长精度± 0.5 nm± 0.3 nm杂散光 (150 nm到左红色LED峰值, 未加权光谱)0.000 040.000 1累积时间5.2 ms - 65 s9.7 ms - 65 s线性0.8 %0.8 %制冷TE Cooled, stabilized at 5 oCThree stage TE Cooled, stabilized at 5 oC亮度范围 **0.004 to 75,000 cd/m20.004 to 24,000 cd/m2亮度精度 (vs. NIST 亮度指标)3%3%亮度可重复性0.2 %0.2 %测量功能亮度, 照度, 发光强度, 色度, 相关色温, 主波长PC 接口USB 3.0 or GigEUSB 2.0尺寸 (H, W, D)185 x 161 x 185 mm250 x 179 x 144 mm功耗12 VDC, 1.5 A100-240 VAC, 50 W重量3.5 kg3.6 kg符合认证RoHS, CERoHS, CE*规格为f / 2.8典型的镜头,除非另有说明.**亮度范围的低水平代表10X信号暴露在噪音水平8s。高级别使用F/11表示最大级别。 规格~WP640E/ESWP690E/ESWP6120E/ES传感器型号, 对角线尺寸, 像素间距 True Sense KAI-04022,21.4 mm, 7.4 μmSony ICX814,16.0 mm, 3.69μmSony ICX834,15.8 mm, 3.1 μm传感器类型16-bit, 行间转移CCD成像传感器,带显微镜头传感器像素4.29.112图片分辨率2048 x 20483388 x 27124250 x 2838动态范围74 db75 db75 db高动态范围 (多重曝光) 1 000 000:1 1 000 000:1 1 000 000:1最小亮度 (cd/m2 )* 测试极限0.000 010.000 010.000 02信噪比 = 600.000 10.000 10.000 2信噪比 = 1000.000 20.000 20.000 3最大亮度 (cd/m2)**4 0005 0005 000 ND滤光片下的最大亮度 (cd/m2)**400 000500 000500 000系统精度***亮度 (Y) ± 4 %CIE色度坐标(x,y) ± 0.003短期可重复性色度 (Y) ± 0.03 %CIE色度坐标 (x,y) ± 0.000 05EF Lenses:视场角 (H x V)14 mm57° x 57°40° x 48°35° x 51°24 mm35° x 35°23° x 29°21° x 31°
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闪烁亮度色度计相关的资讯

  • 虹谱光色发布CX-1000成像亮度计成像色度计成像光度计新品
    CX-1000成像亮度计用于测量Led模块,灯,灯具,显示器,街道亮度和其他来源的亮度,具有广泛的应用范围成像亮度计主要特点: 1、使用CMoS图像传感器和高级v-lambda滤镜2、具有数百万个探测器点矩阵,能捕获整个场景,同时测量每个点的亮度 3、一次操作即可快速测量多个点 4、高分辨率和高灵敏度 成像亮度计标准及规格:成像分辨率1920×1200(FUHD.2.3MPix)A / D转换12位测量范围0.01cd / m2至10000cd / m2 (ND滤镜适用范围更大要求可以办到)分辨率0.01cd / m2动态范围1:1000000对焦距离440毫米为无限最小工作面积86毫米x55毫米 (距离440 mm)光谱响应不确定性A级(F1)带有光谱响应滤波器CMOS单色矩阵光学系统50毫米f / 2.8镜头(可根据要求提供) 尺寸 [ 高 X 宽 X 长 ]86毫米 x 90毫米 x 156毫米重量1200克PC连接USB 3.0能量源由USB连接供电三脚架适配器创新点:成像亮度计是一种基于成像原理来进行测光和测色的计量仪器,基本结构是由视觉(或色觉)匹配的探测器、光学系统以及与亮度(或三刺激值)成比例的信号输出处理系统所组成。● 测量精度高 光学系统的V(λ )匹配可达国家标准级或一级水平。亮度测量精度可达± 3%。 ● 动态范围高 采用高动态测量技术,可同时实现高亮光源和低亮背景的精确测试,动态范围可达120dB ● 高稳定性 采用独特的降噪和缺陷处理技术,产品无需预热,开机即测。重复性好且高度稳定。 ● 测量结果的线性度高 系统的线性校准采用高亮度范围的标准光源,可实现CMOS信号强度在3%以上的条件下精确测量。 ● 软件功能强大 软件可以实现对光源的识别、编号和处理。采用先进的图像处理算法实现字符、眩光和显示器检测等测量。 ● 灵活便携 产品尺寸小、重量轻,且可直接通过USB连接电脑,在室外环境中可进行便携式测试。 CX-1000成像亮度计成像色度计成像光度计
  • 北京恒奥德仪器仪表特价促销数字光通量色度计
    数字光通量色度计 光通量色度计 色温计 型号: XY-XYC-II数字光通量色度计采用新代数字测量术,不包含何模拟分,克服了现有色度计难以避免的零点漂移问题,具有数字系统的强抗干扰能力和转换度,同时仪器采用了大动态范围的数字X(λ)Y(λ)Z(λ)传感器,消除了传统色度计的量程切换误差。 XY-XYC-II型数字光通量色度计能强大,可用于色品坐标x、y,光通量Y和相关色温Tc测量,XY-XYC-II型数字光通量色度计可对应于不同的光源行密色度校准,使其针对不同对象的测量具有的检测度。 XY-XYC-II型数字光通量色度计内包含RS232接口,由计算机软件定标,同时可用于计算机远程在线监控应用,系统稳定性。特点:可以实现快速测量系统无零点漂移无换挡误差量程测量,度应用: 快速测量白炽灯,卤素灯,节能灯,金卤灯,LED,LCD等各种光源光通量,相关色温,色差等颜色参数术标:色品坐标x、y、u、v(测量条件:光通量1lm) 测量度:x、y优于±0.002(标准A光源,500lm) 重复性:x、y优于±0.0005(标准A光源)相关色温Tc(测量条件:光通量1lm) 动态范围:1350-25000K 分辨率:1K 测量度:优于±20K(标准A光源,500lm)温度系数:-0.1%/℃刷新频率:1次/s(≥5lm),1次/3s(5lm)供电电源:220VAC显示:128×64图形LCD显示RS232接口,可用于计算机远程监控具有保持能主机尺寸:250L×260W×100H(mm)重量:2.5Kg 光通量特性Y(测量条件:1米积分内) Y(λ)传感器光谱响应达家标准 动态范围:0.05-50,000lm 测量度:优于±4% 分辨率:0.001lm 示值误差:优于±4%
  • Science|一种纳米光子学闪烁体:闪烁数量级增强 推进电镜等技术发展
    仪器信息网讯 2月25日,麻省理工学院电子研究实验室和物理系等在Science发表一种纳米光学的闪烁体架构最新成果:A framework for scintillation in nanophotonics。该闪烁体架构在电子诱导和x射线诱导的闪烁中都获得了近一个数量级的增强,有助于开发出一种更亮、更快、更高分辨率的新型闪烁体。这或将推动医学成像、x射线无损检测、电子显微镜和高能粒子探测器等技术的发展。(DOI: 10.1126/science.abm9293 )闪烁体纳米光子学当高能粒子与材料碰撞时,能量会传递给材料中的原子,从而可以发光。这种闪烁过程被应用于从医学成像到高能粒子物理学等的许多探测器中。Roques-Carmes等人将纳米光子结构集成在闪烁材料上,以增强和控制其光发射。作者展示了纳米光子结构如何塑造闪烁的光谱、角度和偏振特性。这种方法将有助于开发更亮、更快和更高分辨率的闪烁体。摘要高能粒子对材料的轰击通常导致光发射,这一过程称为闪烁。闪烁在医学成像、x射线无损检测、电子显微镜和高能粒子探测器中有广泛的应用。大多数研究集中在寻找更亮、更快、更可控的闪烁材料。团队发展了一个统一的纳米光子闪烁体理论,该理论解释了闪烁的关键方面:高能粒子的能量损失,以及纳米结构光学系统中的非平衡电子的光发射。然后,我们设计了一种基于将纳米光子结构集成到闪烁体中来增强其发射的方法,在电子诱导和x射线诱导的闪烁中都获得了近一个数量级的增强。该框架预期能够开发出一种更亮、更快、更高分辨率的新型闪烁体,具有定制化和优化的性能。纳米光子闪烁体:( A ) 纳米光子闪烁体由与闪烁体集成的纳米光子结构组成。通过结合能量损失动力学、占据水平动力学和纳米光子学建模,可以对闪烁进行建模、定制和优化。( B ) 光子晶体纳米光子闪烁体增强x射线闪烁的数量级。( C ) 使用纳米光子闪烁体(白色虚线正方形)进行的 X 射线扫描。简介高能粒子对材料的轰击通常导致光发射,这一过程称为闪烁。闪烁体广泛应用于电离辐射的检测,具有广泛的应用,包括用于医学成像、无损检测的 X 射线探测器、用于正电子发射断层扫描的伽马射线探测器、夜视系统和电子显微镜中的荧光屏以及高能物理实验中的电磁热量计。因此,人们对开发具有更高光子产率和更高空间和能量分辨率的“更好的闪烁体”非常感兴趣。一般来说,更好的闪烁体会导致上述所有应用技术的明确改进。比如在医学成像技术中,更亮的闪烁体可以实现极低剂量的 X 射线成像,从而减少对患者的潜在伤害。大多数对改进闪烁体问题的研究都涉及合成具有更好固有闪烁特性的新材料。基本原理高能粒子转化为光子是一个复杂的多物理过程,其中入射粒子在闪烁体中产生一连串的二次电子激发。然后这些二次激发在发射闪烁光子之前放松为非平衡分布。通过在闪烁体中在闪烁光子波长的尺度上产生空间不均匀性,从而在波长尺度上调制材料的光学特性,可以控制和增强光发射。在这种“纳米光子闪烁体”中,由于电子可用于发光的光学态的局部密度的增强,闪烁体中的发光电子可以更快地发光。还可以使用这些纳米光子结构将捕获的光“引导”出闪烁体,从而检测到更多的光。这两种效应都导致闪烁光子发射率的提高。这些纳米光子效应与材料无关,原则上可以增强任何闪烁体,并且原则上也可以对任何类型的高能粒子观察到这些效应。纳米光子成形和增强电子束诱导闪烁实验演示:(a) 使用改进的扫描电子显微镜(SEM)诱导和测量电子束(10-40 keV)轰击闪烁纳米光子结构的闪烁。(b) 通过Monte Carlo模拟计算了绝缘体上硅晶片中的电子能量损失。插图:放大闪烁(硅)层中的电子能量损失。(c) 光子晶体(PhC)样品(蚀刻深度35nm)的SEM图像。倾角45◦.比例尺:1µm(顶部),200 nm(底部)。(d) 具有不同蚀刻深度(但厚度相同)的薄膜(TF)和PhC样品的闪烁光谱。(e) 闪烁信号通过物镜从真空室耦合出来,然后在相机上成像,并用光谱仪进行分析。(f-g)绿色和红色闪烁峰的理论(左)和实验(右)闪烁光谱之间的比较。插图:计算出的正常发射方向的闪烁光谱(每个立体角),显示出在单个发射角度上可能有更大的增强。成果该团队建立了纳米光子闪烁体的第一性原理理论,理论考虑了导致电子激发的复杂过程以及任意纳米光子结构中非平衡电子的光发射。使用该理论作为指导,在两个不同的平台上通过实验证明了数量级的闪烁增强:通过硅缺陷产生的电子诱导闪烁,以及传统闪烁体中通过稀土掺杂引起的 X 射线诱导闪烁。两种情况下的增强都是通过对闪烁体或闪烁体上方的材料进行二维周期性蚀刻来实现的,以创建二维光子晶体平板几何形状。该理论解释了实验观察到的增强,以及其他需要对发射过程的潜在微观动力学进行第一性原理描述的影响。例如,我们可以将观察到的光谱形状解释为光子晶体板的几何参数的函数。此外,使用该框架,我们可以解释信号与入射粒子通量的非线性关系,以及主要闪烁波长可能随高能粒子通量而变化的影响。此外,团队使用纳米图案 X 射线闪烁体来记录各种样本的 X 射线扫描,并观察到图像亮度的增加。这直接转化为更快的扫描,或者相当于实现给定亮度所需的更低 X 射线剂量。X射线闪烁的纳米光子增强结论该框架可以直接应用于在许多现有实验中的纳米光子闪烁模型,可解释任意类型的高能粒子、闪烁体材料和纳米光子环境。除此之外,该框架还允许发现用于增强闪烁的最佳纳米光子结构。成果展示了如何使用拓扑优化和其他类型的纳米光子结构来寻找可以呈现更大闪烁增强的结构。该团队期望这里展示的概念可以部署在使用闪烁体的所有应用领域,并在整个应用领域提供引人注目的应用,包括医学成像、夜视和高能物理实验等。实验设置和校准测量示意图.(A)实验设置示意图,扫描电镜SEM室内,1:电子束与样品相互作用;2:法拉第杯,链接外接皮安计,测量入射电流;3:6轴,同心圆工作台,由SEM控制;4:XYZ目标阶段。5:X射线遮挡窗口,SEM室外;6:镜面;7:管状镜头;8:分束器;9:CCD摄像机,成像样品表面;10:偏振片(可选);11:XYZ框架组件,带两个聚焦透镜和一个光纤耦合器,内部分光仪;12:光栅转台;13,14:(聚焦)镜;15:光谱仪CCD,绿色激光馈通对准臂;16:绿色激光源;17:光纤耦合直通,真空兼容;18:光纤输出照明样品。(B)校准实验(其余设置与(A)类似)。19:AVA校准光源。(C)测量校准转换功能。

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  • 转让CCD影像色度亮度计

    美国Radiant Zemax PM-1000 系列CCD影像色度亮度计,九成新,14年生产,原装进口未修理,超低价!!! 有意者或者有渠道者请与我联系。 [b]产品简介[/b]PM-1000系列CCD影像色度亮度计是一款针对测量速度为第一关键因素而优化设计的经济型影像光度计和色度机[b] 产品详细信息[/b]Radiant Zemax位于美国西雅图,是一家在光学测量及检验领域有着20多年历史的企业。在1992年成立以来,已经成为一个光学测量系统和服务的供应商,目前主要提供领先的光和颜色的测试和测量仪器。公司的产品应用于全球的实验室、平板显示、手机、触摸屏、LED设备等。2011年3月Radiant Imaging和ZEMAX Development Corporation合并为Radiant Zemax公司,将使原有的两家企业更好的服务和提升现有产品的市场。同时也可以推出新的产品,来满足全球在光学行业的需要。2012年4月,Radiant Zemax公司和先锋科技股份有限公司达成代理协议,通过强强联合,为中国的广大客户提供好的技术支持和售后服务工作,继续扩大其在光测量领域的优势。PM-1000系列CCD影像色度亮度计是一款针对测量速度为第一关键因素而优化设计的经济型影像光度计和色度机。PM-1000结构紧凑,坚固耐用,适合任何测试环境,包括工厂车间。PM-1000使用10位(1024灰度级)的行间传输型CCD成像,使用电子快门,以提高其测量速度和长期的可靠性。PM-1000系列有两个型号:光度计,只提供亮度测量;色度计,同时进行亮度和色度测量。出于对于成本效益的考虑,PM-1000色度计采用彩色滤光片与CCD集成的形式(Bayer模式),与Radiant另一类彩色滤光片转轮技术相比,其测量速度更快。PM-1000系列可与多种镜头配置,适用于许多不同的测量应用。 多样的镜头选项使PM-1000几乎可以满足所有尺寸光源和显示器的测试要求。中性滤光片选项可以扩展PM-1000的亮度测量范围。[color=#0000ff]特点:[/color]1.电子曝光控制;2.没有机械转动部件;3.与CIE匹配的滤光片;4.体积小巧,轻便;5.测量亮度(辐射度),照度(辐照度)和发光(辐射)强度的二维分布;6.10位先进的CCD相机。[color=#0000ff]配置:[/color]1.USB 2.0接口的10位(1024灰度级)CCD色度计/亮度计/辐射度计;2.精确设计较匹配CIE 1931光谱响应曲线的彩色滤光片(客户可要求定制滤光片) ;3.ProMetric 9软件,用于控制CCD色度计/亮度计/辐射度计,数据采集,数据分析和生成 测量报告 4.照度校准光源或Radiant亮度校准;[color=#0000ff]应用:[/color]1.显示器测试:CRT、LCD液晶、PDP等离子、OLED有机LED等显示器,显示器背光和投影系统的亮度和色度(辐射度和辐照度)均匀性测量及其Mura检测;2.仪表板、键盘以及照明字符的测量和检测 ;3.NVIS/NIR显示器辐射度均匀性测试 ;4.灯具和发光标志等照明系统光束形状发光强度(辐射强度)和照度(辐照度)分布测试。[table][tr][td][align=center]空间测量功能[/align][/td][td][align=left]亮度辐射度光照度辐照度发光强度CIE色度坐标相对色温CCT[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]单位[/align][/td][td][align=left]Footlambert, Cd/cm^2, Cd/m^2, Nit, Mnit, mnitW/sr/m^2, W/sr/ft^2, W/sr/cm^2, mW/sr/m^2Footcandles, Lux, mLux, Mlux, Lux-SecW/m^2, W/ft^2, W/m^2, mW/m^2, MW/m^2, W-Sec/m^2Candela,W/sr,CIE(x,y),(u’,v’),Kelvin(CCT)[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]CCD分辨率(px)[/align][/td][td][align=left]1392x1040像素[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]CCD相机模数动态范围[/align][/td][td][align=left]10bits = 1024灰度级[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]亮度范围[/align][/td][td][align=left]最小:0.01 nit最大(带ND过滤):10^10 nit[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]系统精度[/align][/td][td][align=left]照度:+-3%亮度(Y):+-3%[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]短期重复性[/align][/td][td][align=left]照度:+-1%亮度:+-1%[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]接口[/align][/td][td][align=left]USB 2.0[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]最小测试时间(100cd/m^2)[/align][/td][td][align=left]1.3秒[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]相机视场(FOV)[/align][/td][td][align=left]1~25度[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]尺寸[/align][/td][td][align=left]100mm(高) x 58mm(宽) x 63mm(深)[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]重量[/align][/td][td][align=left]1.0 lbs(480克)[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]工作温度[/align][/td][td][align=left]0-30度[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]工作湿度[/align][/td][td][align=left]20-70%不结凝[/align][/td][/tr][/table]

  • 【原创】LCD/LCM/背光模组全面亮度色度测量系统

    LMK 98-4 CCD面测量色度亮度计德国的TechnoTeam公司专注于基于影像解析的光度、色度测试系统,其产品在FPD、汽车、航空、夜视显示行业应用广泛,许多国际著名显示器、汽车及协作厂商均选用TechnoTeam 公司的LMK产品作为研发、品质控制的必备仪器。 应用领域 CRT,LCD,PDP,LED,OLED和背光模组的测试,包含亮度,亮度均匀性和Mura检测 投影系统测试包括亮度,照度,色彩均匀性和色彩Mura检测 马路和现场的照度和色彩评估 色彩过滤器均匀性测试 照度系统光束部分发光强度(辐射强度)和照度(辐照度)测试产品特性LMK 98-4彩色系列是俄IE1394接口的计算机控制的基于CCD影像的光度计,辐射计和色度计。它能够捕捉影像并定量地分析这些影像的光和色彩特性。LMK98-4包括: 2级peltier冷却型14位CCD相机 精确设计以符合CIE1931三色光谱响应曲线的彩色滤镜 从14mm到300mm的标准镜头 LMK2000软件,用来控制相机,数据采集,数据分析和测试报告生成。 照度校准光源泉或工厂亮度校准 工厂色彩校准 提高的数据传输和滤光轮技术缩短了光和色彩测试时间 数秒内读取一百万级亮度和色彩数据 测试二维亮度(辐射度),照度,发光强度分布 测试二维CIE(x,y)和(u’,v’)色度和相关色温(CCT)分布 冷却型科学级16位动态范围CCD相机 全功能windows软件,支持自动测试流程和界面开发特性参数测试项目:亮度 L(cd/m2)-色度值x, y 色度座标:RGB,XYZ,sRGB, EBU-RGB, User , Lxy, Luv, Lu’v’, L*u*v , C*h*s*uv, L*a*b, C*H* ab, HIS HSV HSL,主波长,饱和度(纯度),色温CCD分辨率:1380(H)*1030(V)像素比:6.45um*6.45um光谱匹配:应于全套滤光片,符合CIE1931色度标准亮度范围:由镜头决定,从0.1~10000 cd/m2 或用特殊滤光片300,000,000 cd/m2色度测试时间:20秒 在10cd/m2   30秒 在1cd/m2亮度测试时间:1秒 在10cd/m2   2秒 在1cd/m2测量精度: 3%(标准A光源)       x, y 0.0020 (标准A光源)重复性:2%详细资料请参考附件,或登陆我公司网站http://www.high-jump.com.cn[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=58000]CCD全面色度亮度测量系统[/url]

  • 测电解液用什么密度计、色度计好?

    电解液的密度约1.22g/cm3,但不同的配方其密度也不同;电解液吸水后会变黄,通过控制色度值来预防其变质。用过密度计(密度仪)和色度计,但只是皮毛,对这两款设备不了解,熟悉的用户帮忙给点意见:买什么品牌好?什么型号?价格大概多少?最好提供主要技术参数(精确度)。十分感谢!金额鼓励。

闪烁亮度色度计相关的耗材

  • 闪烁体转换屏
    这款闪烁体转换屏是欧洲进口的优质荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,具有全球最高的转换效率和最薄的厚度,非常适合X射线探测,电子成像、X射线成像和紫外成像应用.我们可根据用户要求提供全球领先的Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。这种闪烁体转换屏使用YAG:Ce晶体和LuAG:Ce晶体作为衬底,具有超薄和超高分辨率的优点(最薄可达5微米以下)。这两种闪烁体材料(YAG:Ce晶体 LuAG:Ce晶体)具有具有良好的化学、力学和温度性能,非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。中国领先的进口X射线成像系统旗舰型服务商--孚光精仪!闪烁体转换屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计,并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。 确定成像显示屏的厚度需要考虑到合适的探测效率和高分辨率两种因素。根据多年的经验可以确定的是对于耦合在精密光学衬底上的超薄山活体荧光屏荧光屏而言,如果使用高灵敏度的CCD探测器照相,就X射线应用而言可以给出大约1微米的分辨率。光学衬底上的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏高分辨率的闪烁体转换屏实际上是高效率成像系统的主要元件.我们提供基于YAG:Ce或LuAG:Ce 单晶闪烁探测器的超薄显示屏. 超薄YAG:Ce闪烁屏(左图) 和 超薄LuAG:Ce超薄闪烁屏(右图) 使用这种镀在光学衬底上的闪烁体转换屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏 (荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏)我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏,也可与CCD耦合一起。 FOP上的薄YAG:Ce闪烁屏(左图)和锥形FO上的YAG:Ce闪烁屏(右图) 我们提供的这种用成像系统获取的X射线图像的分辨率大约是20微米。我们也可以根据用户需求把成像屏耦合到光纤元件和CCD上。超薄独立成像屏: 这种超薄闪烁体转换屏不需要与衬底耦合或其他支持物,不需要胶合在玻璃或FOP上。直径为10mm厚度为0.030mm。也可以提供更大直径的荧光转换屏,X射线转换屏,X射线荧光屏,闪烁体转换屏,但是厚度需要增加到0.050mm左右。
  • YAG:Ce闪烁晶体
    YAG:Ce闪烁晶体也叫作YAG:Ce闪烁体或YAG:Ce晶体。我们提供优质欧洲进口的YAG:Ce闪烁晶体,并可以在YAG:Ce晶体基础上支撑Ce:YAG闪烁晶体和YAG:Ce晶体作为衬底,从而保证具有超薄和超高分辨率的优点(最薄可达5微米以下)。YAG:Ce闪烁晶体材料具有衰减快以及具有良好的化学、力学和温度性能。Ce:YAG闪烁体和Ce:YAG闪烁晶体发出的光非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。这些YAG:Ce闪烁晶体成像荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计,并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。光学衬底上的YAG:Ce晶体高分辨率的成像屏实际上是高铝成像系统的主要元件.我们提供基于YAG:Ce晶体或YAG:Ce闪烁晶体的超薄显示屏.超薄YAG:Ce浸提屏(左图) 和超薄LuAG:Ce超薄屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的超薄成像屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏 我们可以提供耦合到FOP上的YAG:Ce和LuAG:Ce成像屏,也可与CCD耦合一起。
  • YAP:Ce闪烁晶体
    YAP:Ce晶体也叫作YAP:Ce闪烁晶体。我们提供优质进口的YAP:Ce闪烁晶体。并可以在YAP:Ce晶体基础上支撑YAP:Ce闪烁晶体和YAP:Ce作为衬底,从而保证具有超薄和超高分辨率的优点(最薄可达5微米以下)。这两种材料具有衰减快以及具有良好的化学、力学和温度性能。YAP:Ce晶体YAP:Ce闪烁发出的光非常适合光电二极管和雪崩二极管读取。这些成像荧光屏特意为电子成像、X射线成像和紫外成像应用而设计,并可以提供Al、ITO或C(铝、氧化铟锡、炭)等传导性和反射或者增透镀膜。光学衬底上的成像屏高分辨率的成像屏实际上是高光谱铝成像系统的主要元件.我们提供基于Ce:YAP闪烁晶体或Ce:YAP晶体的超薄显示屏.超薄Ce:YAP闪烁晶体屏(左图) 和超薄Ce:YAP晶体超薄屏(右图)使用这种镀在光学衬底上的超薄成像屏,结合光学系统和CCD相机,可以获得优于1微米(X射线应用)和2纳米(电镜)的分辨率.光纤光学上的成像屏 我们可以提供耦合到FOP上的YAP:Ce闪烁晶体和YAP:Ce晶体,也可与CCD耦合一起。
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