光学表征

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光学表征相关的耗材

  • 石墨烯材料及其他新型低维材料检测表征服务
    泰州石墨烯研究检测平台是泰州市政府与泰州巨纳新能源有限公司共同成立的国内 石墨烯性能测试与结构表征的综合性研究及检测机构。平台目前建有近千平方米的检测洁净室，拥有高分辨拉曼光谱仪、原子力显微镜、三维共聚焦显微镜、电子束曝光系统、近场光学显微镜等国际先进的新材料性能检测及结构表征设备。平台致力于在石墨烯等高新碳材料以及新型低维材料（如各类二维材料、量子点）等领域提供全面专业的检测及表征服务。泰州石墨烯研究检测平台相关检测服务：微区形貌表征：表面洁净度、平整性、层数或厚度判定、均匀性分析等原子结构表征：原子缺陷、层间堆垛方式、电子能带结构等光学性能表征：紫外到红外波段透射、反射、吸收性能等成分检测及分析：元素含量与比率、官能团分析等电学、力学、热学、电化学性能表征等各种定制研究检测服务（如二维材料的光电响应测试）等 检测项目检测内容描述二维材料光电响应测试二维材料的光电响应测试定制化分析实验方案协助制定、数据分析整体解决方案原子力显微镜（AFM）检测石墨烯层数/厚度，尺寸，AFM图像光学显微分析石墨烯层数/厚度，尺寸，对比度分析，光学显微图片荧光显微分析发光样品显微图片3D显微分析石墨烯均匀性，表面起伏度，表面残余物检测拉曼（Raman）光谱分析（单谱） 石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等拉曼（Raman）光谱分析 （单谱+成像）石墨烯洁净度，层数，掺杂浓度，缺陷含量等扫描电子显微镜（SEM）检测样品微观形貌（分辨率10nm）超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息生物型透射电镜获取显微形貌，适合对分辨率不高但是衬度要求高的高分子、生物型样品透射电子显微镜（TEM）检测获取显微形貌截面离子束抛光用离子束抛光，去除表面应力层，适合复杂样品的EBSD的采集，以及截面样品的SEM观察离子束平面研磨高分辨透射电子显微镜（TEM）检测样品高分辨形貌（分辨率1nm）,衍射图（结晶度，晶格取向等）低真空场超高分辨场发射扫描电镜检测获取显微形貌、元素组成及分布信息 变温光学显微镜获取样品的显微形貌，具有明场、暗场、偏光、微分干涉等模式电子背散射衍射—STEM检测获取微观取向信息，可用于晶粒度、晶界、织构、应力等分析X射线光电子能谱（XPS）表面元素含量及化学价态(氧含量分析，成键态),结晶性能等紫外可见吸收光谱分析200-3300nm薄膜、溶液的透射率，吸收率等红外光谱分析（FTIR）红外波段透射（350-7800cm-1），有机物官能团分析等X射线荧光光谱分析元素的定量和半定量分析直读光谱分析获取样品的成分灰分测试获取样品的灰分能谱仪分析获取样品的元素成分和分布，微区域元素的定性和半定量分析等离子体发射光谱元素分析分析样品中无机元素的准确成分及定量辉光放电质谱分析H以外的所有元素，包括常用分析方法难以测定的C，N，O，P，S等轻元素超低检测限，大多数元素的检测限为0.1～0.001ug/G碳硫元素分析C 和 S 的比例元素分析C H O N S 的比例元素分析同位素质谱元素分析：C、N、S 百分含量 同位素质谱：13C、15N含量离子色谱-阴离子阴离子含量分析电感耦合等离子体质谱痕迹量元素测定电子探针 元素定性分析、定量分析X射线衍射分析结晶度、晶粒大小、层间距等显微红外分析微区样品红外光谱采集液相色谱分析样品有机物质的含量圆二色光谱分析液相色谱质谱联用分析 样品有机物质的含量及具体成分气相色谱易挥发的有机物质的含量气相色谱-质谱联用易挥发的有机物质的具体成分核磁共振分析氢谱、碳谱石墨烯薄膜热传导性能测试石墨烯热导率热重分析测试材料的质量随温度的变化，可用于分析构成的比例热差分析测定样品在程序控制温度下产生的热效应，可分析融点、成分构成、热性能、相转变、结晶动力学等信息同步热分析测量样品的热流、转变温度和重量变化三种信息力学性能测试 （氧化石墨烯纸/薄膜等）拉伸应力、拉伸强度、扯断强度、剪切剥离力、杨氏模量等电阻测试（薄膜样品）薄膜面电阻等比表面积测试(BET)测试样品比表面积椭圆偏振分析平板材料或者薄膜的折射率、反射率、膜厚、吸收系数测定电学性能测试（Transport）迁移率，掺杂浓度等纳米粒度分析纳米粒径的分布微米粒度分析微米粒度的分布PH值测试测量PH值
    供应商： 上海巨纳科技有限公司
    品牌： 巨纳
    价格： 面议
  • Styragel色谱柱——用于表征聚合物
    Styragel色谱柱——用于表征聚合物Styragel色谱柱设计专用于表征聚合物，分为三大系列：用于分析低-中分子量的HR系列，用于高温应用的HT系列，以及用于超高分子量样品的HMW系列。特别控制的聚乙烯二乙烯苯配方，为您的GPC应用提供重现的分析结果。Styragel HR 色谱柱(高分辨)Styragel HR(High Resolution，高分辨)系列色谱柱，专门设计用于低-中分子量样品的分析。色谱柱用坚硬的5μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，为低分子量样品提供分析所需的最大化分辨率和柱效。Styragel HT 色谱柱(耐高温)Styragel HT(High Temperature，高温)系列色谱柱，专门设计用于中-高分子量范围。色谱柱使用坚硬的10μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，能够在室温或高温条件下使用而仍保持极佳的分辨率。其所具有的窄的粒径分布，使得柱床结构更稳定，也就是使得Styragel HT柱特别耐用。Styragel HMW 色谱柱(高分子量分析)Styragel HMW(High Molecular Weight，高分子量)系列色谱柱，专门设计用于对剪切力敏感的、超高分子量的聚合物分析。色谱柱使用坚硬的20μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，而且安装的是特殊设计的大孔径柱筛板，使对聚合物分子的剪切效应最小化。能够在室温或升温条件下使用，有极好的柱寿命。色谱柱规格方面，您可以选择传统的7.8mm内径规格，或者是更节约溶剂的4.6mm内径规格。如前所提的三大Styragel系列柱，均提供4.6mm内径柱；有单一孔径柱，也有混合型柱床柱(E)。使用内径较小的Styragel柱，能够为您节约溶剂消耗及环保处理费用高达2/3。当使用具有低谱带展宽体积的GPC系统时，我们的4.6mm内径柱可媲美7.8mm内径柱的高性能。Styragel 保护柱Styragel 4.6mm id x 30mm保护柱，设计用于提高您的Styragel分析柱的柱寿命。该保护柱能够配合沃特世任一系列的GPC柱使用。色谱柱的选择与优化选择合适的色谱柱，对于优化性能至关重要。为一个分析应用挑选最佳色谱柱的规则非常直接：它只对您希望分离的分子提供分离。不要选择色谱柱的排阻上限值比您希望保留分离的最大分子所需的排阻上限还要大的色谱柱。如果希望测量分子量广泛分布时，使用混合柱床(mixed-bed)或扩展范围(extended-range)色谱柱是恰当的选择，这能够对所有分子量大小提供一致的分离能力。Styragel色谱柱提供混合柱床和窄分子量范围柱床两种规格。混合床色谱柱，用字母“E”来标记代表拓展分子量范围(Extended range)，特别适合作为筛选柱，适用于当您的样品的分子量范围未知、或是要测量的样品具有广泛的分子量分布时的情况。窄分子量范围柱，在更集中的分子量范围内，提供较大的孔容和更高的分辨率，对于要获得更精确分子量的应用是更有力的工具。Styragel HR系列(高分辨)柱的标准曲线图Styragel HT系列(高温柱)的标准曲线图Styragel HMW系列(高分子量柱)的标准曲线图Styragel柱产品规格货号一览表 7.8 x 300mm 4.6 x 300mm色谱柱 分子量范围 部件号 部件号 部件号 部件号 部件号 部件号 （THF） （DMF） （甲苯） （THF） （DMF） （甲苯）Styragel HT2 100-10,000 WAT054475 WAT054480 WAT054476Styragel HT3 500-30,000 WAT044207 WAT044208 WAT044206 WAT045920 WAT045925 WAT045915Styragel HT4 5,000-600,000 WAT044210 WAT044211 WAT044209 WAT045935 WAT045940 WAT045930Styragel HT5 50,000-4×10 6 WAT044213 WAT044214 WAT044212 WAT045950 WAT045955 WAT045945Styragel HT6 200,000-1×10 7 WAT044216 WAT044217 WAT044215 WAT045965 WAT045970 WAT045960Styragel HT6E 5,000-1×10 7 WAT044219 WAT044220 WAT044218 WAT045980 WAT045985 WAT045975Styragel HR0 .5 0-1,000 WAT044231 WAT044232 WAT044230 WAT045835 WAT045840 WAT045830Styragel HR1 100-5,000 WAT044234 WAT044235 WAT044233 WAT045850 WAT045855 WAT045845Styragel HR2 500-20,000 WAT044237 WAT044238 WAT044236 WAT045865 WAT045870 WAT045860Styragel HR3 500-30,000 WAT044222 WAT044223 WAT044221 WAT045880 WAT045885 WAT045875Styragel HR4 5,000-600,000 WAT044225 WAT044226 WAT044224 WAT045895 WAT045900 WAT045890Styragel HR4E 50-100,000 WAT044240 WAT044241 WAT044239 WAT045805 WAT045810 WAT045800Styragel HR5 50,000-4×10 6 WAT054460 WAT054466 WAT054464Styragel HR5E 2,000-4×10 6 WAT044228 WAT044229 WAT044227 WAT045820 WAT045825 WAT045815Styragel HR6 200,000-1×10 7 WAT054468 WAT054474 WAT054470Styragel HMW2 100-10,000 WAT054488 WAT054494 WAT054490Styragel HMW7 500,000-1×10 8 WAT044201 WAT044202 WAT044220 WAT046805 WAT046810 WAT046800Styragel HMW6E 5,000-1×10 7 WAT044204 WAT044205 WAT044203 WAT046820 WAT046825 WAT046815Styragel保护柱 WAT054405 WAT054415 WAT054410脂溶性凝胶柱Styragel分子量范围选择指南脂溶性凝胶柱Styragel柱溶剂选择指南聚合物 GPC溶剂 柱贮存溶剂（Styragel柱）
    供应商： 百道亨仪器设备（北京）有限公司
    品牌： 沃特世
    价格： 面议
  • Styragel色谱柱-用于表征聚合物
    用于非水相样品的GPC色谱柱 Styragel色谱柱 — 用于表征聚合物Styragel色谱柱设计专用于表征聚合物，分为三大系列：用于分析低-中分子量的HR系列，用于高温应用的HT系列，以及用于超高分子量样品的HMW系列。特别控制的聚乙烯二乙烯苯配方，为您的GPC应用提供重现的分析结果。 Styragel HR 高分辨色谱柱Styragel HR(High Resolution，高分辨)系列色谱柱，专门设计用于低-中分子量样品的分析。色谱柱用坚硬的5μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，为低分子量样品提供分析所需的最大化分辨率和柱效。 Styragel HT 高温色谱柱Styragel HT(High Temperature，高温)系列色谱柱，专门设计用于中-高分子量范围。色谱柱使用坚硬的10μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，能够在室温或高温条件下使用而仍保持极佳的分辨率。其所具有的窄的粒径分布，使得柱床结构更稳定，也就是使得Styragel HT柱特别耐用。 Styragel HMW 高分子量色谱柱Styragel HMW(High Molecular Weight，高分子量)系列色谱柱，专门设计用于对剪切力敏感的超高分子量的聚合物分析。色谱柱使用坚硬的20μm苯乙烯二乙烯苯颗粒填充，结合以特殊设计的高孔缝度10μm筛板，使对聚合物分子的剪切效应最小化。能够在室温或高温条件下使用，有极好的柱寿命。 Styragel 保护柱Styragel 4.6mm id x 30mm保护柱，设计用于提高您的Styragel分析柱的柱寿命。该保护柱能够配合沃特世任一系列的脂溶性Styragel GPC柱使用。 订货信息：Styragel柱产品规格货号一览表色谱柱分子量范围7.8 x 300mm4.6 x 300mm*部件号（THF）部件号（DMF）部件号（甲苯）部件号（THF）部件号（DMF）部件号（甲苯）Styragel HT2100-10,000WAT054475WAT054480WAT054476Styragel HT3500-30,000WAT044207WAT044208WAT044206WAT045920WAT045925WAT045915Styragel HT45,000-600,000WAT044210WAT044211WAT044209WAT045935WAT045940WAT045930Styragel HT550,000-4×106WAT044213WAT044214WAT044212WAT045950WAT045955WAT045945Styragel HT6200,000-1×107WAT044216WAT044217WAT044215WAT045965WAT045970WAT045960Styragel HT6E5,000-1×107WAT044219WAT044220WAT044218WAT045980WAT045985WAT045975Styragel HR0.50-1,000WAT044231WAT044232WAT044230WAT045835WAT045840WAT045830Styragel HR1100-5,000WAT044234WAT044235WAT044233WAT045850WAT045855WAT045845Styragel HR2500-20,000WAT044237WAT044238WAT044236WAT045865WAT045870WAT045860Styragel HR3500-30,000WAT044222WAT044223WAT044221WAT045880WAT045885WAT045875Styragel HR45,000-600,000WAT044225WAT044226WAT044224WAT045895WAT045900WAT045890Styragel HR4E50-100,000WAT044240WAT044241WAT044239WAT045805WAT045810WAT045800Styragel HR550,000-4×106WAT054460WAT054466WAT054464———Styragel HR5E2,000-4×106WAT044228WAT044229WAT044227WAT045820WAT045825WAT045815Styragel HR6200,000-1×107WAT054468WAT054474WAT054470———Styragel HMW2100-10,000WAT054488WAT054494WAT054490———Styragel HMW7500,000-1×108WAT044201WAT044202WAT044200WAT046805WAT046810WAT046800Styragel HMW6E5,000-1×107WAT044204WAT044205WAT044203WAT046820WAT046825WAT046815Styragel保护柱—WAT054405WAT054415WAT054410——— *4.6x300mm溶剂节约型Styralgel色谱柱，能够提供与常规7.8x300mm Styragel色谱柱相同的高分辨能力，同时具有减少三分之二有机溶剂消耗的优点。注意！因所使用流速较低，对色谱系统的溶剂输送能力要求较高(精密度与稳定性)。
    供应商： 北京豫维科技有限公司
    品牌： 沃特世
    价格： 面议
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光学表征相关的仪器

  • 材料表征 400-801-8117
    产品包括实验室加工设备药物制剂工艺设备旋转流变仪粘度计更多信息：请访问赛默飞世尔科技材料表征的展台，展位号：SH100279。或使用简易域名登陆：http://mctc.instrument.com.cn。
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    厂商： 赛默飞世尔科技（中国）有限公司集团展位
    品牌： 未知
    型号： Thermo Scientific 材料表征
    价格： 70万 - 100万元
  • 工艺与材料表征系统 TriboLab CMP 400-895-0897
    TriboLab CMP 利用其前身产品 （Bruker CP-4） 超过 20 年的 CMP 领域专业知识，为业界领先的 TriboLab 平台带来了一套完整的功能。基于本套设备产生的高精度和高可重复性使得在整个 CMP 流程中能够进行高效的鉴别、检查和连续功能测试。TriboLab CMP 是市场上唯一能够提供广泛的抛光压力 （0.05-50 psi）、速度（1 至 500 rpm）、摩擦、声发射和表面温度测量的工艺开发工具，可准确、完整地描述 CMP 工艺和耗材。用于 CMP 的小型研发规模专业系统布鲁克的TriboLab CMP工艺和材料表征系统是专为晶圆抛光工艺而设计，是具有可靠、灵活和高效的台式设备。重现全尺寸晶圆抛光工艺条件，无需在生产设备上停机提供无与伦比的测量可重复性和细节检测允许在小样品上进行测试，比全晶圆测试节省大量成本板载诊断系统可以更好地了解抛光过程比市场上任何其他系统提供更多的瞬态抛光过程的参数从接触抛光盘开始直至整个测试过程都能收集数据通过更完整、更详细的数据实现早期流程开发决策具有灵活的样品类型、尺寸和安装配置抛光任何平面材料，几乎能使用任何修正盘，任何抛光液，和任何抛光垫轻松使用 100 mm 以下的小尺寸晶圆可同时安装多个样品，测试更灵活
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    厂商： 布鲁克纳米表面仪器部(Bruker Nano Surfaces)
    品牌： 布鲁克/Bruker
    型号： TriboLab CMP
    价格： 面议
  • 稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统 400-628-5299
    闪烁体是一类吸收高能粒子或射线后能够发光（探测器灵敏波段）的材料，可分为有机和无机两大类，按其形态又可分为固体、液体和气体三种。 当闪烁体受到高能粒子或射线照射后能够发生能级跃迁，且产生的紫外可见光强度可被光电探测器探测到。当X射线与闪烁体作用时，一个X射线光子，可以产生多个光子，与紫外可见光不同，因为X射线的能量足以使物体电离，使电子脱离能级的束缚。能量越高的X射线光子，通过产生俄歇电子，康普顿散射等产生更多的电离电子（二次电子），二次电子热能化退至激发能级，通过荧光或磷光的方式发光。因此闪烁体对辐射具有能量分辨率。在医学上，闪烁体是核医学影像设备的核心部件，通过它可以快速诊断出人体各器官的病变大小和位置。闪烁体在行李安检、集装箱检查、大型工业设备无损探伤、石油测井、放射性探测、环境监测等领域也都发挥着不可替代的作用。闪烁体还是制造各类对撞机中电磁量能器的重要材料，它可捕捉核反应后产生的各种粒子的信息，是人类探索微观世界及宇宙演变的重要工具。稳态瞬态荧光-闪烁体综合性能表征系统可综合测试稳态瞬态光致发光以及X射线辐射发光。X射线辐射样品仓安装可控屏蔽快门，在辐射光源最大功率下关闭快门时，样品位置辐射剂量小于10uSv/h，辐射防护满足国标GBZ115-2023《低能射线装置放射防护标准》的要求。 该系统可根据用户需要搭建以下功能● 稳态荧光/瞬态荧光● 稳态X射线荧光/瞬态X射线荧光● X射线荧光成像● 显微荧光/显微荧光寿命成像● 温度相关光谱 X射线荧光成像瞬态X射线荧光寿命测试技术参数X射线荧光成像TYP 39分辨率卡的X射线图像。测试1mm厚的YAG(Ce)时，分辨率可以达到20pl/mm以上。
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    厂商： 北京卓立汉光仪器有限公司
    品牌： 卓立汉光/ZOLIX
    型号： -
    价格： 面议
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光学表征相关的试剂

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光学表征相关的方案

  • 采用UV-DSC8000表征光学胶的紫外固化过程
    光学粘合剂在很多不宜使用有机溶剂的行业中都有广泛应用。例如，半导体和芯片制造商不允许有机溶剂沉积在器件上。紫外光源联用差示扫描分析仪技术（UV-DSC）可以快速分析光固化过程，并且测定固化反应的能量。由于光引发反应速度快且活性高，良好的温度控制和响应能力对于获得准确的数据是必需的。功率补偿型仪器是这类应用的最佳选择。本文使用UV-DSC8000表征光学胶的紫外固化过程，结果表明，UV-DSC是研究和表征光固化材料的强有力的工具。
  • 薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
    该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号（总第 51 卷，第二期）上[1]。精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数（使用光学镀膜的逆向工程）对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数，重校监测系统，改善对各层的厚度控制。通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征，对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而，基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
  • 薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
    该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号（总第 51 卷，第二期）上[1]。精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数（使用光学镀膜的逆向工程）对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数，重校监测系统，改善对各层的厚度控制。通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征，对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而，基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
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光学表征相关的论坛

  • 帮忙下载一篇 “熔石英光学元件亚表面缺陷的探测与表征技术研究”

    [b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】：１[/font]【作者】：[/b][font=&][size=15px][font=&][/font][b]刘红婕蒋晓东黄进孙来喜王凤蕊叶鑫郑万国[/b][font=&][/font][size=12px][/size][/size][/font][b][/b][font=&]【题名】】：[b][b][b]熔石英光学元件亚表面缺陷的探测与表征技术研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【出版社】：CNKI[/font][font=&][color=#333333][b][/b][/color][/font][font=Arial][size=12px][/size][/font][b]【链接】:[url=https://ieeexplore.ieee.org/document/9075661]熔石英光学元件亚表面缺陷的探测与表征技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]

  • 纤维透明表征能不能用紫外分光光度计测试呢

    我是一个刚进实验室的学生。做实验时要表征纤维的透明度，查资料许多材料的光学性能、凝胶化都是用紫外分光光度计测得，纤维这种形态的可以测吗？请问应该怎么测？望有高人能指点迷津。

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  • 【好书推荐】《颗粒表征的光学技术及应用》
    颗粒业内有句行话：万物皆颗粒。鸟瞰各行各业，还真难找得到一个不与颗粒打交道的领域。甚至表面上看起来与颗粒毫无关系的行业，人们其实也一直在与颗粒材料打交道。例如，编程码工使用的键盘是用塑料颗粒材料制成的，显示器的荧光粉本身就是颗粒；再如，音乐作曲者使用的纸张、笔墨也都与颗粒有关。几乎所有材料，从原料到成品，总有一个阶段处于颗粒态。由于颗粒材料的多样性与多分散性，人们甚至将颗粒称为物质的第五态， 颗粒材料的物理特性表征也具有与其他化学分析、物理测量不同的独特性。颗粒与材料品质紧密相关。例如，巧克力的颗粒度需要与味蕾之间的距离吻合，可口可乐中风味液滴的密度必须与水一致，牙膏中碳酸钙的硬度与颗粒度要适当，定时释放肥料颗粒的大小与溶解度有一定的规格等。如何表征颗粒？技术概貌：颗粒表征技术成百上千，仅粒径测量就曾有400多种。现在仍在普遍使用的表征颗粒粒度、数量、表面特性、内部孔径的技术就有十几种。这些技术有着相当广泛的日常应用，例如新材料的研发过程、生产过程的质量控制、或商业贸易上下家的衡量指标等。仅在中国，每年新安装的各类颗粒表征仪器据估计当在数千台甚至上万台。不足：颗粒表征作为对各行各业如此重要的领域，现有的高等教育却很少涉及，甚至专门教授与这些技术有关基础知识的研究生课程也不太多见，集中论述这些技术的中文书籍更是少之又少。现状：这一实践与教育的脱节，造成了很多在工作中涉及颗粒表征的工作者不完备的专业知识体系与错误的应用实践，例如在用动态光散射测量纳米颗粒粒径或用电泳光散射测量颗粒表面电位时，用纯净水进行样品稀释，或者在激光粒度法测量颗粒粒度时，用高压气体分散药物晶体。颗粒材料领域专著出版扫码即可优惠购买为了填补上述空白，为广大颗粒表征技术使用者提供普及版读物，作者精心挑选了当今应用最广的六种颗粒表征技术，从历史起源、物理原理、数学基础、仪器构造、操作要点、数据处理阐释等方面对这些技术做了全面的介绍。这六种方法分别是光学计数法、激光粒度法、光学图像分析法、颗粒跟踪分析法、动态光散射法、电泳光散射法，它们都与光与和颗粒之间的作用有关。对光与和颗粒作用的系统研究始于1936年化学诺贝尔奖获得者彼得• 德拜（数学家大卫• 希尔伯特的学生阿诺尔德• 索末菲的第一位博士生）1908年的博士论文。作为这些技术的铺垫知识与辅助资料，颗粒表征中的样品准备、基本数据统计知识、光散射在颗粒表征中的基本原理、几乎所有其他常用的颗粒表征技术，以及这些技术的标准化现状，也特别另立章节介绍。这是一本别无二版的、系统介绍当代颗粒表征技术的专著。本书可供欲了解与掌握当代颗粒表征技术的教师、本科生、研究生、科学家、技术专家、仪器操作人员阅读与学习参考，为他们提供坚实的颗粒表征理论基础与丰富的实践参考。读者不但可以从中学习这些技术的物理基础以及仪器工作原理，而且通过了解每种技术的实际操作与实用细节，可以在应用过程中避免常犯的错误，不断改进仪器操作的正确性、测量数据的准确性、重复测量的精确性。本书作为进入颗粒表征技术领域的引荐读物，除了汇集了作者经年累积的丰富知识与资料外，还引用了上千篇中外文献。这些跨越两个多世纪（1809—2021）的文献，除了与该技术的最初发明有关的以及里程碑式的重要论文，还有大量与这些技术的最新动态与发展有关的报道，为有志于进一步探索发展颗粒表征技术、成为承前启后新一代的颗粒人提供一些可借鉴的方向与途径。 作者简介本书作者 许人良作者专业背景：在过去半个世纪里，作者许人良在德拜的关门弟子朱鹏年与当代荧光胶体化学大师魏尼克的教诲指导下，除了进行高分子物理与胶体化学的研究，还从搭建全角度动静态光散射仪器为起点，涉足纳秒级相关器、米氏理论的收敛分析、拉普拉斯转换的技术探讨、光导纤维频移器等颗粒表征的多个领域，发明了从电泳光散射测量中剥离布朗运动以得到真实表面电荷分布曲线的方法以及颗粒表征方面的数个专利，填补了颗粒在水中的德拜长度与水化层厚度之间关系的实验验证空白，其中的一些论文几十年来一直在不断地被引用。进入美国首台动态光散射仪器生产公司后，作者曾先后在全球三家主要颗粒表征仪器公司内担任技术、商务、管理的各类主要职务，对多种仪器的设计、试验、投产、应用有第一手感性认识与全方位了解；作者并在过去近30年中，参与制定了多项颗粒表征技术的国际标准、美国国家标准以及中国国家标准，时刻关注着这一领域的最新发展。目录预览第1章　颗粒体系与颗粒表征　/ 0011.1　颗粒与颗粒体系　/ 0011.2　样品制备　/ 0061.3　颗粒测量数据及其统计分析　/ 018参考文献　/ 032第2章　光散射的理论背景　/ 0352.1　光散射现象与技术　/ 0352.2　光散射理论要点　/ 0392.3　其他光学技术　/ 059参考文献　/ 069第3章　光学计数法　/ 0813.1　引言　/ 0813.2　仪器构造　/ 0833.3　测量结果与数据分析　/ 098参考文献　/ 108第4章　激光粒度法　/ 1134.1　引言　/ 1134.2　仪器　/ 1214.3　数据采集与分析　/ 1414.4　测量精确度与准确性　/ 153参考文献　/ 161第5章　光学图像分析法　/ 1695.1　引言　/ 1695.2　图像获取　/ 1715.3　图像分析　/ 1815.4　颗粒形状表征　/ 1875.5　仪器设置、校准与验证　/ 193参考文献　/ 196第6章　颗粒跟踪分析法　/ 1996.1　引言　/ 1996.2　仪器与测量参数　/ 2006.3　样品与数据　/ 2086.4　颗粒跟踪分析法的其他考虑因素　/ 217参考文献　/ 219第7章　动态光散射法　/ 2217.1　引言　/ 2217.2　仪器组成　/ 2237.3　数据分析　/ 2417.4　测量浓悬浮液　/ 263参考文献　/ 269第8章　电泳光散射法　/ 2818.1　引言　/ 2818.2　zeta电位与电泳迁移率　/ 2828.3　电泳光散射仪器　/ 2898.4　数据分析　/ 3068.5　相位分析光散射　/ 315参考文献　/ 317第9章　颗粒表征的标准化　/ 3239.1　文本标准　/ 3249.2　标准物质、参考物质与标准样品　/ 3329.3　标准化组织　/ 345参考文献　/ 349第10章　其他颗粒表征技术概述　/ 35110.1　电阻法：计数与粒度　/ 35110.2　沉降法：粒度　/ 35810.3　筛分法：分级与粒度　/ 36110.4　色谱方法：分离与粒度　/ 36310.5　超声分析　/ 36610.6　气体物理吸附：粉体表面积与孔径　/ 37010.7　压汞法：孔径分析　/ 37410.8　空气渗透法：平均粒度　/ 37510.9　毛细管流动孔径分析法：通孔孔径　/ 37510.10　气体置换比重测定法：密度　/ 37710.11　核磁共振技术　/ 37810.12　流动电位测量：zeta电位　/ 37910.13　共振质量测量：计数与粒度　/ 38010.14　亚微米气溶胶测定：计数与粒度　/ 38110.15　颗粒表征技术小结　/ 381参考文献　/ 382附录1　符号　/ 392附录2　Mie理论的球散射函数　/ 395附录3　常用液体的物理常数　/ 397附录4　常用分散剂　/ 402附录5　用于分散一些粉体材料的液体与分散剂　/ 404
    时间： 2022-07-26
    作者： 牛亚伟
  • 复享光学-ARMS在有机电致发光器件表征中的应用
    ARMS在有机电致发光器件表征中的应用研究背景具有偏振和方向性发射的有机发光器件(OLEDs)在光学成像、光通信和沉浸式视觉技术等领域中具有广阔的应用前景。现有的基于自由空间整体光学元件在实现高偏振和定向发光时存在显著的功率损耗，限制了它们的实际应用。导读 2024年10月，清华大学孙洪波教授、杨原牧教授和吉林大学冯晶教授课题组合作，在Laser & Photonics Reviews 上发表了一篇题为《Polarized and Directional Electroluminescence from Organic Light‐Emitting Devices by Using a Bifunctional Meta‐Electrode》的研究文章，提出了一种新OLED。该研究利用复享光学的显微角分辨光谱仪 ARMS 对该meta-OLEDs的定向电致发光进行表征，探究了该器件的光束控制性能。图1，meta-OLEDs的结构示意图和形貌表征样品 & 测试如图1所示，meta-OLEDs通过将Ag超表面结构集成到氧化铟锡（ITO）的表面上制备而来。研究团队首先探究了meta-OLEDs的偏振特性，使用复享光学ARMS测量了不同纳米光栅周期下meta-oled的偏振光致发光（PL）光谱，模拟的PL光谱如图2c所示，与测量结果（图2b）一致。对于meta-OLED，TM偏振光显示出比TE偏振光更高的发射强度，偏振比为4.5。图2, meta-OLEDs偏振光发射的实验表征和模拟 随后，团队利用复享光学ARMS角分辨光谱系统，通过不同纳米光栅周期为275、310和350 nm的元电极在TM偏振下的实验和模拟的角度和波长相关的PL光谱，探究了meta-OLEDs 的方向特性。如图3所示，实验和模拟结果非常一致，显示出明显的角度相关特征。色散随纳米光栅的周期而变化，从而在meta-OLEDs中实现可调方向的光发射。图3，meta-OLEDs 的定向 PL 的表征图3d显示了不同纳米光栅周期的meta-oled的PL的角发射轮廓。周期为310 nm的meta-OLEDs在法向方向上实现了准直发射，周期为350和275 nm的元oled的光束方向分别为12°和16°，所有器件的光束散度均≈10°。为了进一步探究meta-OLEDs的光束控制情况，作者使用光谱分辨的后焦平面成像设置对该设备进行了表征。图4表明具有TM偏振的PL和EL发射的方向性均具有光栅周期的可调性，实验结果和计算的PL结果保持一致。图4，meta-OLEDs的实验和理论TM偏振远场发射在meta-OLEDs 的偏振和定向光致发光相关研究中，对所设计的OLED器件的定向PL角分辨表征是重要研究方式。复享光学的显微角分辨光谱仪 ARMS，是全球唯一一款基于 FT-ARS 技术且经过严格工程化开发的显微角分辨光谱产品，可在多种测量模式下快速准确获得有机电致发光器件的角分辨 PL 光谱，帮助用户更简单、更清晰地研究有机电致发光器件的光学特性。ARMS 在研究以上问题中具有以下特点：丰富的测量模式，支持反射、透射、偏振等多种显微角分辨光谱测量模式，同时适配用户不同场景的测试需求；精细的角度分辨及定角度入射能力，角度分辨率可达0.5°；超宽光谱探测能力，最高可实现 400~1650nm 的光谱测量；瞬态光谱采集能力，毫秒级（ms）实现角分辨光谱检测。显微角分辨光谱仪ARMS总结：双功能超电极具有电荷注入和光子管理功能，在保持器件高效率的同时，实现了OLED的高偏振和定向光发射。角度分辨的PL表征在偏振和定向光研究中具有重要意义，展望未来，复享光学的显微角分辨光谱技术将持续在显示领域发挥关键作用，进一步推动发光器件进步。 /参考文献 / Wang S R, Li L, Bi Y G, et al. Polarized and Directional Electroluminescence from Organic Light‐Emitting Devices by Using a Bifunctional Meta‐Electrode. Laser & Photonics Reviews, 2400393.
    时间： 2024-10-31
    作者： 复享光学
  • Veeco于9月24号举办光学干涉表征技术研讨会
    全球领先测量仪器制造商美国Veeco公司，将于“2008中国国际轴承及其专用设备展览会”同期举办光学干涉表征技术研讨会。Veeco旗下的Wyko光学轮廓仪可提供精确的、重复性高的三维测试方案，达纳米以下的垂直分辨率，被广泛应用在精密机械加工、材料、半导体、生物、光学器件等方向。在这次的研讨会中，我们将着重介绍光学干涉测量技术在轴承制造及精密加工领域的应用，并在现场进行仪器操作演示。 欢迎致电021-68866186转123，或发送电邮至sales@veecoasia.com垂询。 敬请阁下光临我公司展台，展位号：Bd24 题目：光学干涉表征技术及其在轴承领域的应用 时间：2008年9月24日 14:00-17:00 pm 地点：光大会展中心国际大酒店一层光韵厅3号，上海徐汇区漕宝路66号
    时间： 2008-08-22
    作者： Bruker Nano Surfaces
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