高反射率荧光粉材料

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高反射率荧光粉材料相关的耗材

  • LED荧光粉
    这款LED荧光粉欧洲进口,是全球白光LED转换效率最高的LED荧光片,成功打破日本在这一领域的垄断,并完全在性能上超过日本产品,称为全球最佳白光LED和高功率LED荧光粉。这款LED荧光粉专业为白光LED和高功率LED而生的单晶LED荧光发光体,,对InGaN蓝光LED直接封装,获取高效高亮度的白光LED, LED荧光粉是单晶荧光粉末或多晶荧光粉的理想替代产品。 对于蓝光InGaN发射发光二极管的波长转换而言,单晶Ce:YAG闪烁发光体是一种智能,精准和高效的解决方案。由Ce:YAG单晶制成的荧光体为高功率LED事业提供了最佳性能,其效率超过150LM/W,是单晶荧光粉末或多晶荧光粉的理想替代产品。Ce:YAG闪烁体LED荧光粉主要特性优势l 后向散射少,自吸收少,更高的转换效率,更大光强荧光粉和多晶材料的颗粒边界容易把光束散射到发光非有效方向,造成效率低下。而这种单晶荧光屏只需要克服一个边界的影响,具有最少的寄生吸收。 l 产生热量少,LED寿命长单晶荧光片具有更高的热导率,可帮助芯片散热。同时,芯片也不会经受后向散射产生热量,有助于降低LED芯片的老化,使得LED寿命更长。 l 热稳定性好,温度淬灭少与其它荧光粉相比,这种单晶荧光体在相对高温时也能产生更多的光,避免LED在高端应用中变暗,LED温度淬灭更少。 l 质量均匀可靠,更少的分选工作单晶荧光片具有稳定的特性,LED制造企业不需要对其分选或分类,有助于提高生产效率,优化生产成本。 l 光谱范围可变,色彩表现更佳荧光片可被调谐到多个波长范围,可制成产品覆盖CT2700-6500K的范围。 l 更长的持久性单晶Ce:YAG荧光体具有良好的抗划伤能力和抗热退化能力,这种物理特性决定了这种荧光片不仅是LED芯片的理想转换材料,同时也是LED理想的保护性材料。 l 更价的经济性,使用成本更低与荧光粉和多晶材料相比,这种单晶Ce:YAG荧光体具有更低的使用成本。 超高效率:单晶YAG:Ce荧光体制作的LED荧光粉可以获得最佳照明表现,可以把后向散射降到最小,使得发射效率最大化。 LED荧光粉和Ce:YAG荧光体表面增加了微小凹坑,成为扩散中心,产生的荧光光子更容易向上发射。 LED荧光粉荧光体有效控制表面粗糙度,表面和边缘平坦极大减少反射的光子,进而提高发射效率。 精细荧光片穿孔允许光子反弹到荧光片或小孔边缘,竖直方向发射出去,提供光子激发效率。LED荧光粉用Ce:YAG荧光体应用LED荧光粉荧光体可以制成适合LED工业应用的各种类型,为不含树脂的高功率LED而设计。其中平板形荧光片和半圆形荧光片非常适合不同的LED使用。 LED荧光荧光体非常适合拾放机器人操作,添加到单个或多个LED上。平板形或圆顶形荧光片提供了标准的结构,使得固定位置安装极为方便。 圆顶形荧光片和镜片组成整体的高效组合 荧光片可被加工成带有连接器(切口或针孔)的特定形状设计实例荧光片 带孔荧光片 带有切口连接器 切口连接器 半圆形带切割连接器 LED荧光粉数据LED荧光粉尺寸可根据LED设计和物理特性而自由加工,生产尺寸范围从十几微米到毫米单位的大小。标准LED荧光粉尺寸是1x1mm截面积,250微米厚度, 半圆形荧光片:直径为1.4mm单晶LED荧光粉与其他荧光粉的LED温度猝灭比较 圆顶形荧光片在宽视角范围都表现出良好的光均匀性1mm厚的Ce:YAG荧光片透过率曲线 荧光片制成的LED的发射光谱仪(色温4500K)
  • 海洋光学高镜面反射率标准板STAN-SSH
    STAN- SSH高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层,光涂层,机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率,在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。 有两种款式的STAN-SSH,STAN-SSH 型和NIST溯源的STAN-SSH-NIST型 。 NIST型STAN-SSH-NIST是按照一 个NIST校准(NIST号为NIST38060S, s/n 99G16)250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书,一个做为波长函数的反射率值数据表,和一张磁盘,磁盘中的数据可以转到海洋光学光谱 仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。 STAN-SSH感光底层直径为1.25" ,安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。 使用提示 使用海洋光学的光谱仪时,STAN-SSH限于200-1100 nm 设置高反射率基准时可使用STAN-SSH 虽然STAN-SSH的铝膜由一层外涂层保护着,用户还是应该在使用时备加小心,以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表 面,以避免污染和破坏。清理STAN-SSH表面时,先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土,然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜 头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确,溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。 裸露的金属层非常干净精密,不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏,用户在操作STAN-SSH时一定要非常小心,以延长它的使用寿命。 STAN-HOLDER 反射比标准固定器 STAN-HOLDER是一个用来在测量时将标准固定的附件,使用方便。 STAN-SSL镜面反射 技术指标 底层尺寸: 1.25" 外直径 x 0.25" 高 架子尺寸: 1.5"外直径 x 0.75" 高 反射物: 镜面的熔融石英,带有保护外套 反射率: ~5.4% (200-950 nm) ~4.0% (950-2500 nm)
  • YAG荧光粉
    YAG荧光粉由Y3Al5O12:Ce闪烁体或Y3Al5O12:Ce荧光体直接加工而成,这款YAG荧光粉是欧洲进口的优质Ce:YAG荧光粉,是广泛用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料,也常用于InGaN发光二极管。YAG荧光粉,全称Y3Al5O12:Ce荧光粉或YAG:Ce荧光粉,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3我们还提供如下荧光粉优质进口YAG:Ce荧光粉和Ce:YAG荧光粉,这些YAG:Ce荧光粉由高质量Ce:YAG闪烁体单晶直接加工而成。Ce:YAG荧光粉晶体颗粒均匀,在LED和液体闪烁技术中广泛使用。比如,这种YAG:Ce荧光粉可用于液相色谱法对14C和3H的检测。 YAG:Ce荧光粉颗粒规格: 0 – 30 um 30 – 50 um 50 – 70 um 70 – 90 um 90 –125 um其他粒径的规格可根据要求加工。YAG:Ce荧光粉颗粒表面可按用户要求蚀刻,也可覆盖钝化层,防止背景增加。 其它荧光粉P43 – GOS,P43 – Gd2O2S:Tb 是常用于X射线照相技术的发光磷光体材料,具有较高的原子量,发射峰值与光电二极管匹配。 Peak emission: 544nmEmission decay time: 1 msZeff: 61.1Density: 7.34g/cm3 P47 , P47 – Y2SiO5:Ce是一种常用于电镜上的荧光体材料。Peak emission: 400nmEmission decay time: 100 nsZeff: 33Density: 4.5g/cm3 P46 – YAG,全称YAG – Y3Al5O12:Ce,是一种常用于探测X射线或紫外线已经电子辐射的荧光体材料, 也常用于InGaN发光二极管。Peak emission: 550nmEmission decay time: 60 nsZeff: 32.0Density: 4.55g/cm3

高反射率荧光粉材料相关的仪器

  • 荧光粉量子产率测量系统北京卓立汉光仪器有限公司研发生产的Chameleon-QY荧光粉量子产率测量系统 采用460nm的蓝光LED作为激发光,荧光样品放置在积分球内部,由积分球来收集荧光,送入摄谱仪进行荧光分析。Chameleon-QY荧光粉量子产率测量系统采用我公司研制的SGM100摄谱仪。SGM100摄谱仪采用交叉水平光路。由入射狭缝进入的复合光线经准直物镜反射后成为平行光束照射到平面衍射光栅上,经光栅色散后的光线由聚焦物镜聚焦于线阵CCD处,在线阵CCD处形成光谱面。内部设置了光线吸收阱,可有效抑制产生的杂散光。光栅摄谱仪外壳由一整块铝材精加工而成,有效防止温度形变或是震动所致的光谱漂移。SGM100摄谱仪针对电磁干扰(EMI)进行了优化,有效防止外界干扰影响测量精度的问题。Chameleon-QY荧光粉量子产率测量系统可实现对激发荧光光谱分析,包括半波宽,傅立叶变换,谱线计算,色度计算,以及荧光量子产率计算等。 主要技术规格 型号Chameleon QY探测器探测器型号TCD1304DG线性阵列CCD响应非均匀性(PRNU)10%(MAX)有效像素数3648像素尺寸8&mu m X 200&mu m光路系统设计非对称交叉C-T光路焦距100mm入射孔径 F/2.95入射狭缝 100&mu m光谱特性波长范围400~780nm光谱分辨率1.62nm波长准确度± 0.5nm积分时间7.2ms~64s积分球内径110mm反射率 大于90%(320~2200nm)大于96%(380~1400nm)电子特性通讯接口USB2.0功耗350mA@5VDC供电方式USB口直接供电,或5V输出适配器物理特性摄谱仪尺寸203*160*90mm摄谱仪重量4Kg积分球尺寸130*130*165mm
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  • 漫反射涂料-Spectraflect Spectraflect涂料采用硫酸钡及专有配方配制而成,采用这种涂料制成的表面具有近乎完美的漫反射特性。Spectraflect在紫外-可见-近红外光谱区内通常被用作反射涂料,且在300至2400 nm的波长范围内最为有效, 其在可见区域内的反射率通常可达96%-98%。Spectraflect在100° C左右的温度下具有热稳定性。其损伤阈值为1.7 J/cm2。它可通过喷涂的方式被轻松涂覆在任何基板上,Labsphere向客户提供喷涂服务,并在大型或复杂的项目中进行现场喷涂。 应用光学元器件积分球反射灯罩涂层光谱漫反射板等产品特点: 高反射比高朗伯特性光学性能稳定无毒
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  • XUV高反射率镜 400-860-5168转3912
    基板形状:平面、凸形、凹形、抛物面、超环面、椭圆面基板材料:石英、硅、zero dewer等多层膜材料:Mo/Si(50eV至100eV)、Ru/Si(50eV至100eV)、Zr/Al(50eV至70eV)、SiC/Mg(25eV至50eV)、Cr/C(至300eV)等基板尺寸:φ3毫米至φ300毫米(标准值为1英寸)产品特点:Mo/Si多层反射镜具有接近13纳米(90电子伏)波长的高反射率。NTT-AT公司的Mo/Si多层反射镜具有高达70%的正入射反射率。NTT-AT公司的XUV反射镜的材料、膜结构和基板形状可以定制以满足用户有关中心波长和光学装置的需求。产品应用:天文学XUV光电子光谱XUV显微EUV光刻等离子体物理阿秒科学参数:武汉东隆科技有限公司是日本NTT-AT中国区代理,如需了解更多产品详情,请随时来电垂询027-87807177/819.
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  • 太阳能材料反射率测定方法
    材料的表面反射率是目前太阳能行业中最常关注的测试项目之一。这类测试所涉及到的样品种类繁多,包括金属反射涂层、半导体材料与涂层以及防护玻璃上面的防反膜等。很多材料的反射同时包含了镜面反射和漫反射两种类型,这对测试方法是否能将光谱干扰降到最低、获得准确的反射率数据提出了挑战。材料表面的反射类型:A.镜面反射;B.漫反射镜面反射镜面反射率可以用不同类型的镜面反射附件(例如VW型反射附件、VN型反射附件和通用反射附件URA)进行测量。VN型反射附件(单次样品反射)和VW型反射附件(两次样品反射)是根据背景(V)和样品(N和W)测量模式的几何光路而命名。背景和样品测量模式切换过程中镜子的移动是手动操作的。URA是一种可变角度、单次样品反射的VN型附件,其中镜子的移动和入射角度的选择完全由软件控制电子步进马达自动调节。PerkinElmer的通用反射附件URA漫反射漫反射率可以用积分球进行测量。测试光线分别经过参比光路和样品光路中的光学元件,通过Spectralon积分球表面开口,进入球体内部的参比窗口和样品反射窗口。积分球体积越大,开口率越小,测试准确率越高。PerkinElmer 150mm积分球内部检测器前面安装了具有Spectralon涂层的挡板,避免了样品初次反射光线进入检测器。PerkinElmer的150mm积分球及光路示意图■ 测试样品 样品描述1镜面反射成分很少的漫反射材料2反射强度较低的镜面涂层3中等反射强度的镜面涂层4反射强度较高的镜面半导体材料■ 光谱结果 样品1(左上)、2(右上)、3(左下)、4(右下)的光谱。黑色曲线为150mm积分球测量结果,红色曲线为60mm积分球测量结果,绿色光谱曲线为URA测量结果。样品1:150mm积分球测量的光谱强度更高,因为该积分球的窗口面积比例低于60mm积分球。因此更多的样品漫反射光线可以被收集起来,更接近准确值。样品2:150mm积分球测量结果与URA附件测量结果非常接近。60mm积分球测量结果的反射率偏高,这是因为热点区域主导并且富集了检测器所测量的光线。此外,积分球内部的漫反射光线很少,因此基本没有光线通过开放窗口逃离。样品3:60mm积分球测量的光谱存在波长漂移和强度平移的问题。150mm积分球与URA附件测量的光谱之间存在一些不规则的差异。样品4:60mm积分球和URA附件的测试结果差异明显(5%R),150mm积分球与URA附件所测量的样品光谱也不再重叠。结论镜面反射非常强或者完全是镜面反射的样品需要使用URA、VN或者VW等绝对镜面反射率附件进行测量。太阳能行业的一些材料具有很强的镜面反射,但是也含有少量的漫反射成分。对于这种类型的样品,可以使用150mm积分球来测量。通过测量铝镜消除热点产生的光谱干扰,获得可以接受的绝对反射率数据。如果样品与参比铝镜的反射率比较接近,可以获得最佳的测试结果。更多详情,请扫描二维码下载完整应用报告。
  • SpectraBlack 超低反射率漫反射目标板
    更易表征激光雷达和飞行时间 (ToF) 传感系统由于缺乏光谱平坦的光学反射材料,因此很难了解激光雷达和 ToF 系统在低反射率 (5%) 下的灵敏度。Labsphere (蓝菲光学)的 Spectrablack 漫反射目标板和材料有效解决了这个问题。Spectrablack 是一种低反射率、耐磨损的吸光材料,非常适合用于室内近标准传感器测试应用,以及OEM光学系统中的遮光/预防散射光。应用:ToF 和 LIDAR 低反射率范围测试遮光/吸光:利用微孔表面的吸光效果预防光学系统、光学测量仪器、相机等中的散射光降低光谱仪和分光光度计杂散光非反光片和一般遮光材料典型反射率*250 – 380 nm:1.5%380 – 780 nm:1.0 %780 – 2500 nm:1.1 %*反射值可能会有所不同。
  • 镀膜片基底背面反射的影响——低反射率样品表征
    当光线照射到两种介质的分界面上时,一部分光线改变了传播方向返回原来的媒介中继续传播,这种现象称为光的反射。在自然界中,光的反射存在着镜面反射、漫反射和逆反射三种现象。光的反射示意图镜面反射是在光线入射到一个非常光滑或有光泽的表面上时发生的。光线在物体表面反射的角度和入射的角度,度数相同但方向相反。如果物体的表面和光源成精确的直角,那么反射光线会完整地反射回光源方向。光的漫反射是一种最常见的反射形式。漫反射发生在光线入射到任何粗糙表面上, 由于各点的法线方向不一致,造成反射光线无规则地向不同的方向反射。只有很少一部分光线可以被反射回光源方向,所以漫反射材料只能给人眼提供很少的可视性。逆反射(背面反射)是指反射光线从靠近入射光线的反方向,向光源返回的反射。当入射光线在较大范围内变化时,仍能保持这一特性。当石英片上镀膜后,石英片的逆反射会对镜面反射的结果有明显的影响。本文采用日立的UH4150紫外可见近红外分光光度计、5°绝对反射附件和60mm积分球测试分析逆反射的影响。 下面是2种不同工艺需求的测试数据图:左图为同一批次的2个镀膜样品,变量为基底是否进行了涂黑处理。通过数据可以明显的发现:涂黑处理后的反射率明显降低,在1370nm附近的反射率约为0.3%,这是因为涂黑处理使得基底的背面反射(逆反射)尽可能地消除。 右图为另一种工艺的产品,直接对样品进行测试,不需要额外的处理,可以得到1300 ~ 1600 nm范围内反射率低于0.2%的效果,符合产品的预期。一般遇到测试反射率低于0.5%的指标需求时,建议使用标准片测试。×总结根据测试的目的需求,基底是否处理对实际的测试结果有很大影响。样品的反射率测试,需要考虑背面反射的影响。日立的紫外可见近红外分光光度计UH4150结合镜面反射附件,可以准确的表征低反射率的样品性能。——the end——公司介绍:日立科学仪器(北京)有限公司是世界500强日立集团旗下日立高新技术有限公司在北京设立的全资子公司。本公司秉承日立集团的使命、价值观和愿景,始终追寻“简化客户的高科技工艺”的企业理念,通过与客户的协同创新,积极为教育、科研、工业等领域的客户需求提供专业和优质的解决方案。 我们的主要产品包括:各类电子显微镜、原子力显微镜等表面科学仪器和前处理设备,以及各类色谱、光谱、电化学等分析仪器。为了更好地服务于中国广大的日立客户,公司目前在北京、上海、广州、西安、成都、武汉、沈阳等十几个主要城市设立有分公司、办事处或联络处等分支机构,直接为客户提供快速便捷的、专业优质的各类相关技术咨询、应用支持和售后技术服务,从而协助我们的客户实现其目标,共创美好未来。
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