二次离子质谱仪

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二次离子质谱仪相关的厂商

  • 北京艾飞拓科技有限公司作为德国 IONTOF 公司的中国总代理,成立于2012年。主要负责飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS,新一代型号ToFSIMS M6)、低能离子散射能谱仪(LEIS,型号Qtac100)和高分辨磁力显微镜(hr-MFM,型号VLS-80)这三类产品,在中国大陆及港澳地区的销售、售后、宣传、培训、技术服务等工作。公司成员来自北京大学、中科院物理所等一流院校研究生,“以物理学、材料学、国际贸易等专业背景打造核心团队,秉承引进国际质谱领域先进技术的理念,以提高我国材料分析技术为核心目标,密切与国内多所高校、研究机构、科技公司合作,共同攻克技术难题。”IONTOF是由Alfred Benninghoven教授,Dr.Ewald Niehuis和Thomas Heller先生于1989年创立,创始人Prof.Benninghoven教授是国际静态二次离子质谱的奠基人,他们团队始终带领国际二次离子术的发展,从上世纪80年代初开始,Benninghoven教授和他的研究组就致力于飞行时间二次离子质谱的系统和应用研究。依托于明斯特大学和州纳米中心的技术和人才优势,TOF-SIMS已经发展成为无可替代的表面分析手段。TOF.SIMS 5从2003年定型到现在已经成为市场上相当成功的飞行时间二次离子质谱系统。到2016年,世界上已经有超过350套高性能的TOF.SIMS系统成功地应用在世界各地的公司和学术研究机构中。获取更多资讯,请访问艾飞拓官网:www.iontof.com.cn,或扫描下方二维码关注“IONTOF-CHINA”微信公众号。
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  • 那诺中国主要提供基于飞行时间的质谱仪,涉及用于材料表面分析应用的飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)、用于气体分析的电子电离飞行时间质谱仪(EI-TOF-MS)、用于环境监测的质子转移反应飞行时间质谱仪(PTR-TOF-MS)等。
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  • 400-860-5168转3314
    ULVAC-PHI是全球领先的超高真空表面分析仪器供应商。专注于研发和生产表面分析仪器,包括光电子能谱仪(XPS)、俄歇电子能谱仪(AES)、飞行时间二次离子质谱仪(Tof-SIMS)和动态二次离子质谱仪(D-SIMS)。通过提供独特的技术解决方案,帮助客户解决各种具有挑战性的问题,从而加速新产品和新技术的发展。产品应用领域包括纳米技术、太阳能技术、微电子技术、存储介质、催化、生物材料、药品以及金属、矿物、聚合物、复合材料和涂料等基础材料。作为唯一一家能够同时提供高性能XPS、AES和SIMS全系列表面分析仪器的制造商,ULVAC-PHI在全面性和完整性的表面分析解决方案领域拥有独特的地位。爱发科费恩斯(南京)仪器有限公司成立于2023年11月,创办理念是为一流的商业产品提供顶级的创新市场营销和售后服务。作为ULVAC-PHI在中国区域的子公司,负责PHI产品在中国的销售和售后服务。主要客户包括清华大学,复旦大学,上海交通大学,南京大学,西安交通大学,厦门大学,山东大学,吉林大学,华南理工大学,中南大学等国内知名高校和科研院所。在全国各地都有销售合作伙伴,能够为您提供全方位的服务。技术专员具备多年超高真空和精密电子分析仪器的使用经验,致力于为合作伙伴提供最佳的产品和服务,以实现最大的效益。
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二次离子质谱仪相关的仪器

  • Kore SurfaceSeer S在飞行时间二次离子质谱仪 (TOF-SIMS) 系列中,是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择,适用于研发和工业质量控制应用。飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、半导体、微电子、物理学、材料化学、纳米科学、矿物学、生命科学等领域。Kore SurfaceSeer S型号的飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)使用的是5keV Cs+离子束(可选惰 性气体Ar+),该离子束是脉冲式的,以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µ s TOF 循环中,该离子枪的脉冲时间仅为60ns,因此,主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限,需要在一个点上进行几分钟的分析,在这个点上,表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低,这款TOF分析仪还是非常高效的,这就说明了它具有较高的二次离子数据速率(即使在离子产率相对较低 的聚合物上,也通常为5000 c/s)。SurfaceSeer S 仪器特点:配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束,以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤,实现样品“无损”分析;针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器;均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ;可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析;质量分辨率可达 2,500 m/δm (FWHM);适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。SurfaceSeerS应用领域:表面化学黏附力分层印刷适性表面改性等离子体处理痕量分析(表面ppm)催化剂同位素分析表面污染
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  • 飞行时间二次离子质谱(TOF- SIMS)是一种表面敏感的技术,提供表面分子,元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素,包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上,该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率(在实践中通常是大约 10000amu)。PHI TRIFT V nano飞行时间质谱仪(三次对焦飞行时间)是一种高传输、并行检测仪器,其目的是由主脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子可以得到zui佳的收集状态,并可同时用于有机和无机表面特征分析。TRIFT分析仪的工作原理会把离子在光谱仪中不断的重新聚焦。使二次离子质谱允许更多重大的实验得以进行。主离子束zui先进的设计,允许经由计算机控制去同时达到高横向分辨率的成像和高质量的图谱分辨率。PHI TRIFT V nanoTOF是第五代SIMS仪器,该仪器具有独特的专利时间飞行(TOF)分析仪,它拥有市场上TOF-SIMS仪器中zui大的角度和能量接受标准,实现了高空间分辨率质量分辨率和使用具有优良离子传输能力的三重重点半球形静电分析器。PHI TRIFT V nanoTOF还具有很高的能力,可以图像具有非常复杂的几何形状的样本而没有阴影。
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  • Kore SurfaceSeer I是一款高灵敏度的TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪,具有高通量分析功能,可用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化学的理想选择,适用于研发和工业质量控制应用。TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪主要通过离子源发射离子束溅射样品表面进行分析。离子束作为一次离子源,经过一次离子光学系统的聚焦和传输,到达样品表面。样品表面经过溅射,产生二次离子,系统将产生的二次离子提取和聚焦,并将二次离子送入离子飞行系统。在离子飞行系统中,不同种类的二次离子由于质荷比不同,飞行速度也不同,在飞行系统分离,通过检测这些离子进行相关分析。SurfaceSeer I 使用与 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技术,但配备了高亮度、高空 间分辨率的 25kV 液态金属离子枪(LMIG)作为主要离子源。LMIG 的探头尺寸≤ 0.5µ m,可实现高分析空间分辨率。全自动计算机控制,允许在质谱采集期间扫描离子枪,从而可以收集到化学图像或图谱。另外还提供了一个二次电子探测器(SED),用 于调谐初级电子束和 SED 图像捕获。带有12.7µ m重复单元的铜格栅SurfaceSeer I 仪器特点:配备25KV液态金属离子枪(LMIG)作为主要离子源,检测能力更强,质量分辨率更高;具备表面成像和深度剖析功能;提供的SIMS材料谱库包含上千种材料的质谱数据,可识别未知的化合物和材料;可同时分析所有元素及有机物,可消除有机物和元素干扰,使谱图更清晰,检测限更低,能更有效地分析材料样品。专用数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取,其所有储存的数据都能用于溯源性分析。表面分析灵敏度高达 1x109 atoms/cm2SurfaceSeer I 应用领域:表面涂层和处理电子元件和半导体电极与传感器润滑剂催化剂粘合剂薄膜等包装材料腐蚀研究大学教学与科研
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二次离子质谱仪相关的资讯

  • 阿美特克发布两款新型二次离子质谱仪
    阿美特克子公司CAMECA发布两款新型超高灵敏度二次离子质谱仪,两款仪器均为满足环境和地质学家的分析需求而设计,满足其对小粒子、同位素等分析的高精度和高通量要求。  IMS 1300-HR3是CAMECA最新一代的大型磁质谱二次离子质谱仪,可以同时保证高重现性、高空间分辨率、高质量分辨率。KLEORA是在IMS 1300-HR3的基础上改进并同期推出的一款产品,主要是优化了离子探针而适用于地质学定年。  “我们非常自豪可以同时推出这两款新型的二次离子质谱仪,我们相信这两款仪器均代表了微量分析技术的重大进步。”CAMECA副总裁和业务部经理Jean-Charles Chen,“在引进独特的、创新的特点的同时,这两款仪器也继承了以前CAMECA大型磁质谱二次离子质谱仪产品的优点,这些产品曾被世界上顶级的实验室所选用。”  重大的突破使IMS 1300-HR3和KLEORA成为市场上最强大和灵活的离子探针,使其应用范围更加广泛,如地质年代学、细胞生物学和材料科学。  CAMECA超高灵敏度二次离子质谱仪优势明显:超大尺寸的设计保证了高质量分辨率条件下的最优敏感度,灵活多用的多接受系统保证了高准确度的同位素测量,高分辨磁场控制保证了高质量分辨率条件下的高重现性,可以实现较好的离子成像功能。除此之外,CAMECA还可以提供全球的上门售后支持。  IMS 1300-HR3和KLEORA均配有自动样品室,可实现无人值守状态下的多样品分析,使用更加方便。新的紫外灯光学系统提高了光学成像,提高了样品定位的准确度和降低了样品移动的难度。  除此之外,CAMECA在这两款仪器上实现了空间分辨率和数据重现性的较大提高,还有一大突破是使用了高亮度的射频离子源。  由于这些改进,IMS 1300-HR3可以应用于更多的分析,如硫化物中36S/32S的比率,复杂结构的高空间分辨率离子成像,复杂地质样品中低浓度微量元素的检测等。  KLEORA配有高通量、方便使用的离子探针,此离子探针专为地质年代学家而设计,为高空间分辨率和高质量分辨率的铀-钍-铅同位素分析提供了高基线敏感度。来源于希腊语的Key和Hour,KLEORA的名字代表了可以帮助科学家追踪地球的历史。  通过在高空间分辨率和高质量分辨率的前提下实现高重现性,IMS 1300-HR3和KLEORA离子探针帮助环境、地质和同位素研究者进行更多的研究。
  • 二次离子质谱仪在生物医学领域中的用途是什么?
    二次离子质谱(简称:SIMS)分化为静态二次离子质谱(S-SIMS)、动态二次离子质谱(D-SIMS)两种,通过扫描,可以得到化学成像、成分定性鉴定。二次离子质谱技术具有非常高的分辨率以及灵敏度,可对有机物进行元素的面分布,深度分布分析,所以被广泛地运用在生物医学的领域当中。SIMS是利用具有一定能量的初级离子束轰击固体材料表面,再通过质谱分析检测被初级离子束溅射出的二次离子的质荷比,从而得到样品信息。如今应用在SIMS中最广泛的质谱检测器是飞行时间质谱仪(TOF),TOF-SIMS的分辨率可以达到5-10nm,微区分辨率达到100nm2,深度分辨率达到0.1-1nm,二次离子浓度灵敏度达到ppm级别。TOF-SIMS以其各种优异的性能和特点被广泛地用于半导体行业,随着半导体硅晶片制程越来越小,SIMS逐渐成为分析半导体器件表面污染缺陷、研究元素掺杂等不可替代的手段。除此之外,SIMS的应用近年来也不断发展到生物医学、材料、化学等领域。 其中在生物医药领域,利用TOF-SIMS技术对生物细胞进行化学成像分析受到越来越多的研究人员关注,例如使用TOF-SIMS研究生物组织或生物薄膜上蛋白质等分子行为、细胞界面特性、药物作用、疾病诊断等。和MALDI-TOF-MS、ESI-MS等质谱相比,TOF-SIMS的灵敏度更高且可以进行二维或三维化学成像。 下图为分别使用SSIMS和DSIMS对冠状动脉支架中的药物进行分析的案例。其中的质谱图就是通过SSIMS得到样品表面化学信息,下方的化学成像则是通过DSIMS层层剥离,得到的不同深度下的药物分布图。
  • 昆明理工大学“飞行时间二次离子质谱仪”通过验收
    3月15日,昆明理工大学资产管理处组织专家组,对飞行时间二次离子质谱仪(TOF.SIMS-5)进行验收。在逐一核实设备部件,配件型号、数量,质量分析器的动态离子能量扩展技术(EDR)后,专家组认为,该设备安装齐全,设备性能和EDR指标均已达到合同指标,通过终极验收。同时,专家组在设备的维护和管理、设备性能的开发利用等方面提出了一些意见和建议。截止目前,学校单价500万元以上的仪器设备已达到5台套。  飞行时间二次离子质谱仪(TOF.SIMS-5)主要用于矿物表面深度剖析、表面化学药剂吸附层厚度、表面微量组分、表面有机物吸附推测、表面3D表征及成像等表面微观研究。在进一步熟练设备操作和性能后,TOF.SIMS-5将正式投入使用,在矿物加工工程、矿物学、材料学、生命科学等专业的实验教学与科研工作中发挥积极作用。

二次离子质谱仪相关的方案

二次离子质谱仪相关的资料

二次离子质谱仪相关的论坛

  • 【原创】二次离子质谱分类

    [size=5][b] [/b][/size]  采用脉冲一次离子源(LMIG, Cs, C60,Au,O2+,Ar+)等轰击样品,然后收集从样品表面激发出来的二次离子,采用质谱检测器(飞行时间、四极杆、扇形磁过滤、离子阱等),来收集这些二次离子,并且根据他们的质荷比(m/z)将它们分离,据此来判断分析材料的成分。     二次离子质谱仪分为静态- 二次离子质谱仪(S-SIMS) 和动态二次离子质谱仪(D-SIMS) ,其区分的标准就是根据入射的一次离子的剂量一般10^12atoms/cm2,成为静态二次离子质谱仪,一般采用飞行时间检测器,主要用于生物医药的有机物分析,半导体材料的污染物分析,存储材料分析,可以坚定有机的分子碎片。在分析过程中,材料表面的吸附物质及化学状态,对谱峰影响巨大。这也就是二次离子质谱中的“基体效应”。静态-二次离子质谱是一种无破坏的表面分析方法。最常见的静态- 二次离子质谱仪是飞行时间二次离子质谱仪。飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)利用一次脉冲离子轰击样品,通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量(m/z 100,000),以分析样品的表面组成。  动态-二次离子质谱仪,入射的一次离子的剂量一般10^15atoms/cm2,对表面形成大量的溅射作用,是一种破坏性分析,主要用于地质研究,同位素定年分析,半导体掺杂的深度分析。主要采用的一次离子源为气体等离子源(Ar/O2)或Cs离子源,一般要求样品导电性要好。

  • 【原创】飞行时间-二次离子质谱仪基本知识

    飞行时间-二次离子质谱仪,TOF-SIMS, 是一种既能测试有机物,又能测试无机物的一种检测仪器,其质谱的基本原理:使用一次的离子源(Ga,Cs, O2, etc)轰击样品,产生二次离子,激发的二次离子被引入一个无场区(drift tube),自由飞行,飞行时间的长短,与离子的mass-to-charge ratio的二分之一此方成正比;也就是说,质量数越小的离子飞得越快,到达检测器的时间越短,反之,质量数越大的离子飞得越慢,到达检测器的时间越长,这样就可以实现质谱的分离。(未完待续)

二次离子质谱仪相关的耗材

  • 配套112FR-NEPTUNE Plus多接收等离子质谱仪用PFA进样管
    CETAC ASX-112FR-NEPTUNE Plus多接收等离子质谱仪用进样瓶、进样管材料:PFA或四氟体积:10、35ml可定制型号:NJ-ZH
  • 定制CETAC自动进样杯PFA多接收质谱仪进样管
    CETAC ASX-112FR-NEPTUNE Plus多接收等离子质谱仪用进样瓶、进样管材料:PFA或四氟体积:10、35ml可定制型号:NJ-ZH
  • Flexar SQ 300 质谱仪配件 | MZ108391 - 5001
    产品特点:Flexar SQ 300 质谱仪Flexar SQ 300 质谱检测器是众多分析项目的理想选择,可为液相色谱应用带来超群的质谱信息。Flexar SQ 300 MS 是功能强大且灵活的Flexar LC 产品系列的一个必不可少的组成部分。该产品的特点是拥有突破性的可互换式探头和独特的多级离子通道,可达到超乎寻常的灵敏度。使用Flexar SQ 300 质谱仪可使测定过程变得前所未有的简单。它为您提供了一条迅速而准确地获取所需信息的简便之路。作为Flexar LC 平台的一部分,实验室可以通过接入一台坚固耐用的创新型单四极杆质谱仪而获得超乎寻常的色谱分析性能,其中包括:● 卓越的前端色谱分离性能● 灵活的模块化组件可满足任何LC/MS 分析需求● 宽广的压力选择范围可满足不同分析应用的需求Flexar SQ 300 质谱仪有三种备选离子源,从而可满足您的具体分析需求:● Ultraspray 电喷雾接口(ESI)● 双探头Ultraspray2 ESI● 大气压化学电离(APCI)订货信息:校准用瓶子和盖子产品描述数量部件编号50 mL 聚丙烯校准用瓶子每个MZ108391 - 500150 mL 聚丙烯校准用瓶子盖子每个MZ108391 - 5002
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