光栅原理

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光栅原理相关的仪器

  • “影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪“影像谱王”系列光栅单色仪/光栅光谱仪功能及特点:1.180mm,320mm,500mm等多种焦距可选,适应不同光谱带宽需求;2.光学结构采用经典的C-T结构和非球面影像校正技术,最大限度了抑制了像散,使得离轴信号能够在焦平面上汇聚于空间上的同一位置,获得了清晰的成像,从而提高 了信号强度,提升了光谱仪信号收集的能力;3.多光栅塔台设计,更好的发挥了仪器覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围的优势,并可根据需要更加灵活的选择光谱范围和分辨率;4.光栅采用40×40mm或68×68mm(68×84mm)大面积光栅,提高了光收集效率;5.适应不同光谱波段使用的光栅选择,覆盖UV-IR全波段范围;针对红外(1um)波段的最优化设计,光学镜片采用镀金膜设计,提高红外光反射效率;6.更好的杂散光抑制比,达到1×10-5;7.仪器的控制(如光栅转换、波长扫描等)全部由计算机控制,并用USB2.0接口取代传统的RS-232接口,不仅使仪器的连接更加简单化,更极大提高了通讯速率;8.采用DSP芯片控制设计使得多出入口的选择更加具有灵活性,可根据需要选择双入、出口;双入、出口的控制通过计算机软件自动控制,定位更精准;9.可灵活与卓立光源、探测器(单点探测器和阵列CCD等)组合搭建,实现任意光谱系统解决方案,如荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱系统等;10.电子快门可选;11.自动狭缝可选;规格参数表(@1200g/mm光栅条件下):Omni-λ180iOmni-λ320iOmni-λ500iOmni-λ750i焦距(mm)180320500750相对孔径f/4f/4f/6.5f/9.7光学结构C-T机械扫描范围(nm)0-1200分辨率(nm)-PMT0.250.080.050.028分辨率(nm)-CCD(26μm)0.350.210.150.09倒线色散(nm/mm)3.72.31.71.1波长准确度(nm)±0.2±0.15±0.1波长重复性(nm)±0.1±0.08±0.01扫描步距(nm)0.010.0050.0025杂散光1×10-5焦面尺寸(mm)30(w)×10(h)30(w)×14(h)光轴高度(mm)146.5狭缝规格缝宽:0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝;缝高:2,4,10,14mm可选光栅尺寸(mm)40×4068×68光栅台双光栅三光栅通讯接口标配USB2.0,可选RS-232
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  • 啁啾光纤光栅 400-860-5168转3512
    啁啾光纤光栅啁啾光纤光栅的栅格周期不是常数,而是沿轴向变化的。啁啾光纤光栅是一种折射率调制周期沿纤芯方向线性变化的光纤光栅,其主要特点是大带宽,一般可以达到几纳米或几十纳米。 产品应用:色散补偿模块、光纤反射器、脉冲展宽器。 啁啾光栅工作原理示意图:产品特点: 1、体积小,插损小 2、与光纤通信网络兼容,稳定性与可靠性高 产品参数:参数规格单位备注working bandProjection Band1260-1625nmReflection Band1644.5-1655.5nmTransmission BandIL≤1.0dB@1260-1306≤1.0dB@1460-1600≤2.0dB@1600-1625ORL>35dB@1260-1360>35dB@1460-1580>35dB@1580-1620>20dB@1620-1625Reflection BandIL>21dB@1644.5-1655.5ORL≤1.0dB@1644.5-1655.5
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  • 光纤光栅位移传感器产品介绍光纤光栅位移计原理是利用反射的激光信号中心波长移动量来检测位移值,测量精度不受光源功率波动及传输线路损耗的影响,可在一根光纤上串接几十个光纤光栅位移计并直接进行信号远程传输,监测现场无需供电。光纤光栅式位移计可用于测量大型结构的裂缝或位移,如:大型建筑、管道、桥梁、大坝、钢结构以及岩石等的裂缝或位移量。传感器内部组成包括光纤光栅应变计、高性能弹簧、拉杆、保护外壳、万向节等几个部件组成,传感器完全密封,当连接杆从传感器主体拉出,会导致光纤光栅波长的变化,通过读取光纤光栅的波长可以精确地得到位移值。产品特点1)高精度、高分辨率;2)不受电磁干扰,自然防爆;3)全不锈钢材料封装,内部全密封;4)安装方便、可重复使用;5)光纤双端出口,可串联测量;6)内置温度补偿传感器,无需外置温度传感器;7)性价比高;8)可根据用户要求定制外型尺寸和安装座。产品参数位移测量范围100mm(其它可定制)中心波长选择范围1510nm~1590nm分辨率0.1%F.S.精度0.5%F.S.反射率≥80%温度补偿自带光纤类型SMF-28涂覆方式和类型机器涂覆;Acrylate或polyimide尾纤类型3mm金属铠装光缆光纤接口FC/APC (可选)工作温度-40℃~+80℃
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光栅原理相关的方案

光栅原理相关的论坛

  • 衍射光栅与闪耀光栅的原理?

    衍射光栅与闪耀光栅的原理有何不同?   现在紫外分光光度计都是用闪耀光栅吧?   有人说闪耀光栅是一种衍射光栅,也有人说是反射光栅,我觉得是属反射。   但为何有的书上在闪耀光栅上又提到衍射角?   请高手解释下。

  • 光栅尺工作原理

    光栅尺工作原理及详细介绍光栅:光栅是结合数码科技与传统印刷的技术,能在特制的胶片上显现不同的特殊效果。在平面上展示栩栩如生的立体世界,电影般的流畅动画片段,匪夷所思的幻变效果。 光栅是一张由条状透镜组成的薄片,当我们从镜头的一边看过去,将看到在薄片另一面上的一条很细的线条上的图像,而这条线的位置则由观察角度来决定。如果我们将这数幅在不同线条上的图像,对应于每个透镜的宽度,分别按顺序分行排列印刷在光栅薄片的背面上,当我们从不同角度通过透镜观察,将看到不同的图像。 光栅尺:其实起到的作用是对刀具和工件的坐标起一个检测的作用,在数控机床中常用来观察其是否走刀有误差,以起到一个补偿刀具的运动的误差的补偿作用,其实就象人眼睛看到我切割偏没偏的作用,然后可以给手起到一个是否要调整我是否要改变用力的标准。 【相当于眼睛】 一、引言 目前在精密机加工和数控机库中采用的精密位称数控系统框图。 随着电子技术和单片机技术的发展,光栅传感器在位移测量系统得到广泛应用,并逐步向智能化方向转化。 利用光栅传感器构成的位移量自动测量系统原理示意图。该系统采用光栅移动产生的莫尔条纹与电子电路以及单片机相结合来完成对位移量的自动测量,它具有判别光栅移动方向、预置初值、实现自动定位控制及过限报警、自检和掉电保护以及温度误差修正等功能。下面对该系统的工作原理及设计思想作以下介绍。 二、电子细分与判向电路 光栅测量位移的实质是以光栅栅距为一把标准尺子对位称量进行测量。目前高分辨率的光栅尺一般造价较贵,且制造困难。为了提高系统分辨率,需要对莫尔条纹进行细分,本系统采用了电子细分方法。当两块光栅以微小倾角重叠时,在与光栅刻线大致垂直的方向上就会产生莫尔条纹,随着光栅的移动,莫尔条纹也随之上下移动。这样就把对光栅栅距的测量转换为对莫尔条纹个数的测量,同量莫尔条纹又具有光学放大作用,其放大倍数为 : (1) 式中:W为莫尔条纹宽度;d为光栅栅距(节距);θ为两块光栅的夹角,rad 在一个莫尔条纹宽度内,按照一定间隔放置4个光电器件就能实现电子细分与羊向功能。本系统采用的光栅尺栅线为50线对/mm,其光栅栅距为0.02mm,若采用四细分后便可得到分辨率为5μm的计数脉冲,这在一般工业测控中已达到了很高精度。由于位移是一个矢量,即要检测其大小,又要检测其方向,因此至少需要两路相位不同的光电信号。为了消除共模干扰、直流分量和偶次谐波,我们采用了由低漂移运放构成的差分放大器。由4个滏电器件获得的4路光电信号分别送到2只差分放大器输入端,从差分放大器输出的两路信号其相位差为π/2,为得到判向和计数脉冲,需对这两路信号进行整形,首先把它们整形为占空比为1:1的方波,经由两个与或非门74LS54芯片组成的四细分判向电路输入可逆计数器,最后送入由8031组成的单片机系统中进行处理。 三、单片机与接口电路 为实现可逆计数和提高测量速度,系统采用了193可逆计数器。假设工作平台运行速度为v,光栅传感器栅距为d,细分数为N,则计数脉冲的频率为: (2) 若v=1m/s,d=20μm,N=20,则f=1MHz,对应计数时间间隔为[font=Times New Roman

光栅原理相关的耗材

  • 衍射光栅-相干光栅阵列
    衍射光栅-相干光栅阵列图1。照片LightSmyth单片光栅阵列单片式单基片硅栅阵列(图1)提供独特的高分辨率连续获得超出所能获得的单个光栅的光带宽。这种光栅须不能有移动部件。单片光栅阵列是一致的单次数据采集与许多宽带应用,例如激光诱导击穿光谱,可以帮助系统元件数显著减少。每个阵列由的所有相干在单一基板上形成的多个主光栅。母光栅有连续且轻度重叠的有效光谱范围。此外,在基底的顶部和底部的辅助光栅产生直接的校准的输出区域用于使用一个单一参考波长,如氦氖激光器的波长的光输出。 图2。示意图说明操作的单片光栅阵列光谱仪与2D检测器设置在图2给出在一个简单的光谱仪装置的光栅阵列。一个二维检测器阵列被用来记录的光栅阵列的输出。图3示出了照射时由白色光源和一个共同传播的氦氖激光器的二维探测器阵列上看到的光栅阵列输出的示意图。每个附近的水平行包括四个主光栅中的一个的输出端,并对应于光谱范围表示。此外,还显示为红点是6个辅助光栅校准参考标记,当暴露在氦氖光。进一步详细描述了设备的运行和设计说明请点击http://www.lightsmyth.com/downloads/product_info/LS_MonoGrat_Array.pdf。图3。阵列输出信号检测原理图校准/准直功能特性 顶部和底部的六个小光栅阵列(参见图1)提供了用于校准的光谱输出,以及协助系统对齐标记,这里的校准标记用于氦氖照明,见示意图4。校准标记提供了两个主要的功能:第一,它们表示在主光栅输出的校准部分的开始和结束点。因此,它们允许用户校准波长作为位置的函数的沿着各母光栅色散线 - 注意,校准点所表示的波长范围内是独立的光栅输入角度,使光栅阵列具备各种不同可能的样式。第二,辅助光栅辅助系统调整。当所述检测器表面被适当地定位在焦平面阵列后聚焦镜,两对对准标记设计为一致性和适当远场操作指示。中心两个标记阵列探测器表面使得水平正确的准直方式。更多单片光栅阵列技术细节请参考http://www.lightsmyth.com/downloads/product_info/LS_MonoGrat_Array.pdf。单片硅平面阵列硅基底具有0.73毫米厚度。基板的高度和宽度公差是0.3毫米。光栅基片:单晶硅。光栅镀膜:铝(其它镀膜类型额外收费)。Primary GratingCalibration Markers 1Line/mmSizePart NumberPrice first 99 units 2,3Unit price 100+1381, 522 nm178812.5mm x12.5mmSAG-1212A-Al$96.00 ea.$25.00 ea.2509, 696 nm13413683, 935 nm9984929, 1271 nm7341The calibration markers listed are produced by a HeNe laser incident on the small calibration gratings. Use of a different calibration light source having a different wavelength will produce markers (see Fig. 4) coinciding with different values of the dispersed spectra of the four primary gratings. Using a common input angle for calibration light and signal, the calibration marks delineate spectral output ranges of the primary gratings that are independent of grating input angle.2 For orders with the total product value below $250.00, a handling charge of $75.00 will be added.3 Academic discounts are available for eligible institutions. To determine eligibility complete an account application procedure.
  • 横向啁啾体布拉格光栅(TCBG, 波长调谐)
    横向啁啾体布拉格光栅(TCBG,适用于波长调谐) 产品简介: 横向啁啾体布拉格光栅(TCBG)是一种刻制在硅酸盐光敏玻璃内部的光栅产品,它与纵向啁啾体布拉格光栅(CVBG)不同,它是在光栅的入射端面产生啁啾的体布拉格光栅。这种光栅可以应用在激光器谐振腔内用作全反镜或输出镜,通过对光栅的线性平移,可以对激光器的输出波长实现调谐,且调谐波长范围可达20nm。 产品特点:§ 可调谐波长范围: up to 30nm § 可在高能量、高温度条件下使用;§ 连续调谐,无跳模;§ 波长范围:600-2500nm;§ 衍射效率:5-99%;§ 半高全宽(FWHM): 50-500GHz;§ 啁啾覆盖整个全面;§ 尺寸:5mm x 20mm, 20mm x 20mm § 结构小巧,使用方便; 应用域: 可调谐输出镜; 可调谐全反镜; 可调谐滤波器; 光谱合束镜; 工作原理(图): 图1、TCBG工作原理图示 图2、TCBG应用示意图 图3、TCBG应用效果 应用案例:TCBG-794.7-30 (碱金属泵浦半导体激光器应用)TCBG-1870-99 (1870nm波长可调谐激光器) TCBG-1950-99 (1950nm波长可调谐激光器)等等
  • 光栅
    Diffraction Gratings 衍射光栅 Optometrics 公司有着四十多年衍射光栅设计和生产经验,在工业,教育,科研领域为各种各样的应用提供广泛的光栅选择。Optometrics公司自身的刻划技术能力以及生产和开发全息实验室,为客户应用提供最佳光栅选择。 Optometrics公司是少有的几个既可以生产刻划光栅,也可以生产全息光栅的公司。 用于光谱仪器的标准光栅包括刻划和全息复制两种。激光应用的标准光栅包括:用于分子激光器的高损伤阈值原始和复制光栅,用于染料激光器的全息掠入射光栅以及阶梯光栅。丰富的光栅类型● 刻划反射式光栅(UV, VIS,NIR)● 全息反射式光栅● 阶梯光栅● 掠入射光栅● 分子激光器(ML)光栅● 透射式光栅(UV, VIS,NIR)● 透射/反射式光栅分束器 Optometrics增加3D纳米成像对衍射光栅进行优化(原子力显微镜为衍射光栅生产提供了新的优化基准) Optometrics公司最近为其计量体系增加了扫描原子力显微镜(AFM),对衍射光栅优化设计中涉及的纳米测量,特性描述,操作处理技术树立了新的标杆。AFM增强了Optometrics对OEM客户的特殊支持和服务。 AFM是Optometrics使用的几种精密制造和工程计量工具中的一种,用于了解光栅表现的缘由。在准备生产新的母光栅时,AFM通常用于对光栅刻槽的尺寸,形状,以及角度进行确认。同时作为取证工具用于帮助发现光栅性能异常原因。 当用金刚石刀刻划或全息方法制作一个新的母光栅时,通过高分辨率成像工具检察,可以确认微观刻槽的形状和纹路是否优化和符合设计要求。下面是Optometrics生产的衍射光栅扫描图像。图像1为全息记录的1200刻线/mm紫外闪耀光栅。注意由AFM获得并确认的高清晰槽纹剖面。图像2为2180刻线/mm全息记录衍射光栅正弦槽纹剖面。 在众多光谱仪器设计中,衍射效率和动态范围是至关重要的参数。了解为什么一个特定的衍射光栅可能有一个小的但却是必然的性能差异,对仪器设计的成功是很重要的。 通常许多衍射光栅只是简单说明其原本的制作方式,刻线频率和闪耀波长 (如市面上通常标明的每毫米600刻线及闪耀波长400nm的刻划式光栅)。但是,不是所有刻划式的600刻线/mm闪耀波长400nm的光栅都相同。同样,用于复制光栅的“母光栅”会由于刻槽面的大小,形状或位置的异常,而导致性能的相互差异。正如下面两种不同的每毫米600刻线及400nm闪耀波长母光栅的衍射效率曲线所示,这些纳米级的差异可能在或窄或宽的光谱范围内显著影响光栅性能。 您可以将您的具体光栅规格要求发给我们,我们可以提供光栅定制和常规产品技术规格供您参考。另外,Optometrics公司可以提供光栅检测服务,为您的光栅性能提升提供专业分析。 详情请联系我公司销售人员。

光栅原理相关的资料

光栅原理相关的资讯

  • HORIBA讲座回放视频|光栅光谱仪原理简介
    课程内容 光谱测量系统组成 光栅技术 光栅光谱仪原理 小结讲师介绍熊洪武,HORIBA 应用技术主管,负责光学光谱仪的应用支持,光学背景深厚,有着丰富的光学系统搭建经验。可根据用户需求提供性能优异,功能独特的的光谱测试方案,如光致发光、拉曼、荧光、透射/反射/吸收等。课程链接识别下方“二维码”即可观看我们录制好的讲解视频了,您准备好了吗? HORIBA Optical SchoolHORIBA一直致力于为用户普及光谱基础知识,其旗下的Jobin Yvon有着近200年的光学、光谱经验,我们非常乐意与大家分享这些经验,为此特创立 Optical School(光谱学院)。无论是刚接触光谱的学生,还是希望有所建树的研究者,都能在这里找到适合的资料及课程。 我们希望通过这种分享方式,使您对光学及光谱技术有更系统、全面的了解,不断提高仪器使用水平,解决应用中的问题,进而提升科研水平,更好地探索未知世界。
  • 日立分光光度计衍射光栅技术
    日立分光光度计的衍射光栅技术 衍射光栅覆盖了从软X射线到远红外的各种波长,扩展了光谱仪中光学元件的应用领域。日立的衍射光栅在全球多个领域获得了高度评价。比如日本的国立基础生物学研究所的冈崎教授使用90cm*90cm的衍射光栅(刻有36条15cm*15cm的光栅格子)实现了一种人造彩虹,其强度是赤道处太阳光的20倍。此外,美国宇航局发射的探测卫星的极紫外分光光度计采用了日立变间距平面和凹面衍射光栅。 衍射光栅的原理图1衍射光栅衍射的过程衍射光栅是各种光学仪器的核心部件,是一种色散元件,可以将混合了不同波长的光(白光)分成单个波长的光(单色光)。其原理是根据衍射现象将入射处的白光分成不同波长的光,因此单色器中常用光栅作为色散元件。在单色器中,夹缝通常设置在光栅后面,选取特定波长的单色光。在凹面衍射光栅中,一般每毫米有几百或几千个凹槽,如图2所示。图2 凹面衍射光栅 光栅刻划机光栅刻划技术是世界上一种罕见的技术之一,使用机刻光栅能够制造出高质量的单色器。日立优异的衍射光栅刻制技术,能够将光栅刻槽精确到nm级别。光栅刻划机一般使用金刚石刀具,这样制作的光栅衍射效率高,同时凹槽设计具有像差校正功能。详细光栅种类和应用信息请参考:https://www.instrument.com.cn/netshow/sh102446/down_917717.htm 总结日立开发的反射平面光栅和凹面光栅致力于满足前沿科学领域的需求,丰富的产品线能够适应多样化的实际应用。
  • 清华大学李星辉团队合作在超精密光栅干涉测量领域取得新进展
    近日,清华大学深圳国际研究生院李星辉团队与国防科技大学团队合作提出了一种基于反射型二维光栅的外差式三自由光栅干涉仪。团队自主设计具有高光敏度、高频差和高信噪比的双频激光系统,基于二维反射型光栅和采用创新的共光路设计,搭建三自由度位移测量系统,设计并优化外差信号相位检测算法,最终实现了亚纳米的测量分辨率和重复定位精度。这项工作将有效推动多自由度光栅精密定位技术的发展。多自由度精密定位技术在纳米计量、显微成像、精密机床、半导体制造等领域具有重要地位。以半导体制造为例,光刻机是半导体行业的“掌上明珠”,在先进制程的光刻机中,晶圆台需要亚纳米位移测量精度的六自由度超精密定位技术。当前光刻机常用激光干涉仪和光栅干涉仪对晶圆台进行多自由度超精密定位,然而激光干涉仪由于暴露在环境中的光路长、难以实现单测量点多自由度测量等限制,会引入环境噪声和阿贝误差,而以光栅栅距为测量基准的光栅干涉仪正成为光刻机晶圆台超精密定位的主流方法。(a)光刻机晶圆台中“四读数头—四光栅”的六自由度测量系统;(b)外差式三自由度光栅干涉仪基本原理针对光刻机等先进装备中的超精密定位需求,团队提出了一种新型的基于外差干涉原理的三自由度光栅干涉仪,可以实现亚纳米的测量分辨率和重复测量精度,并通过 “四读数头—四光栅”的晶圆台测量系统可以实现六自由度位移/角位移测量。该外差光栅干涉仪使用一束双频激光,通过二维反射型光栅的四束衍射光产生外差干涉,实现光栅在X/Y方向上的位移测量,通过光栅反射光与固定反射镜反射光产生外差干涉,实现光栅在Z方向上的位移测量,从而完成光栅ΔX、ΔY、ΔZ三自由位移测量。该方案创新地采用了二维反射型光栅,利于光路系统读数头的集成化和小型化,在未来应用中,可以将读数头和光栅分别安装于固定部件和运动部件上,来检测运动部件的位移,其相对于基于透射型光栅的测量方法具有更广的适用性。此外,研究团队提出并采用了自主设计的双频激光系统,相比于传统的基于塞曼效应的商用双频激光器,具备更大更稳定的频差,以及更强的激光功率,可以实现更高的光源稳定性和信噪比以及更大的外差频率,有利于提升系统的整体精度和测量速度。最终实验结果显示,该系统具备0.5 nm的分辨率,0.6 nm的重复定位精度和2.5×10-5的测量线性度。该研究提出的外差式三自由度光栅干涉测量方法有利于多自由度超精密定位技术的发展,同时对先进装备和精密仪器的发展具有指导意义,尤其是需要多轴超精密定位的纳米科学和技术。 (a)自主设计的双频激光系统;(b)外差式三自由度光栅干涉仪测量系统 (a)三轴分辨率测试结果;(b)三轴在10 nm和40 nm处的重复定位精度测试结果相关成果以“三自由度亚纳米测量反射型外差光栅干涉仪”(A Reflective-Type Heterodyne Grating Interferometer for Three-Degree-of-Freedom Subnanometer Measurement)为题,在线发表在仪器仪表领域期刊《IEEE仪器与测量汇刊》(IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement)上。论文第一作者为清华大学深圳国际研究生院2020级硕士生朱俊豪,清华大学深圳国际研究生院李星辉副教授为通讯作者,国防科技大学为共同通讯作者单位。该研究工作得到了广东省基础与应用基础研究基金、国家自然科学基金、清华大学科研启动基金、湖南省自然科学基金、中国博士后科学基金等项目的支持。论文链接:https://ieeexplore.ieee.org/document/9913946/

光栅原理相关的试剂

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