化学电离源原理

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化学电离源原理相关的仪器

  • 谱育科技自主研发的TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪,将高灵敏度化学电离源和高分辨飞行时间质量分析器进行结合,具有灵敏度高、分析速度快、分辨率高、测量组分种类多等突出优点;仪器具有创新的辉光放电源、高压离子漏斗和静电透镜传输技术,保证样品的电离效率和离子的传输效率,适用于走航监测、食品科学、材料分析、爆炸物和药物检测等方面的应用。产品概述性能优势分析速度快微秒级的扫描速度,可捕捉目标物质的瞬时变化,为科学研究、应急监测、生产过程的高通量监测提供有效手段。分辨率高可实现复杂混合物样品中分子量相近物质的分析识别,解决传统低分辨直接进样质谱分析定性难的问题,将“看不见”变成“看得见”,追溯物质本源。多试剂离子可选配合试剂离子快速切换系统,根据目标物质的化学特性,可选择H3O+、O2+、NO+等多种不同电离能的试剂离子进行靶向电离,适测物质涵盖醛、酮、有机硫、有机胺、卤代烃、苯系物、长短链烃类等,是优选的快速检测技术。 应用领域TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪适用于走航监测和园区VOCs在线监测,可实现VOCs精准溯源及扩散预警。可对半导体生产过程中的AMC、食品生产的风味物质进行实时监控;石油化工生产过程中移动测量、定点在线监测;材料中有害成分的快速鉴定分析;人呼出气体的宽动态范围内的追踪分析。
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  • 为当今先进的MS技术增添新的气质功能APGC可为Xevo和SYNAPT质谱仪提供电离源。这是一种“软”电离源,也就是说:对于许多化合物而言,这种电离与诸如EI等技术相比,得到的碎片较少。减少碎片数量,可以提高灵敏度和特异性,很容易得到MS/MS分析中的母离子信息。基于沃特世通用离子源结构和“工程精简(Engineered Simplicity&trade )”的设计理念,从UPLC到GC的切换就变得十分快速与简便。APGC并不是一种需要真空的技术,因此这两种技术切换后的平衡时间可以压缩到最短。这意味着用户可以根据业务需求选择分析方法,从而使仪器的正常运行时间和利用率达到最大化。现在气质分析也可以采用沃特世独特的先进质谱技术,例如RADAR&trade 、MSE和HDMS&trade 等。解开样品中蕴藏的秘密,确保您的分析能得到更多的信息。 Xevo TQ-S与APGC结合 - 超痕量定量Xevo TQ-S /APGC配备了独特的StepWave&trade 技术,可以实现超痕量级检测。这样,在符合规定限值的同时,还可以减少样品基质的注入,降低对气质系统的污染,从而延长仪器正常运行时间。这种独特的源设计可以提供更高的基质耐受性和出色的进样重复性。StepWave离子传输光学设备和检测技术可以在最大动态范围内进行准确和精密的定量。Xevo G2-S QTof与APGC结合 - 利用GC进行更大范围的化合物鉴定、定量和确认许多分析都需要交叉使用LC和GC。沃特世 Xevo G2-S QTof可通过ACQUITY UPLC和GC分离,对样品进行完整的筛查。MSE可以为科学家提供样品中每一种可检测成分的母离子和碎片离子的精确质量谱图,简化了成分鉴定的过程。QuanTof&trade 结合了创新的几何学和离子检测系统,可以增强灵敏度、提供出色的色谱/质谱分辨率,以及在质谱分析动态范围内的基质耐受性、定量性能和质量数准确度。Xevo G2-S QTof经过专门设计,可以满足科学家在最复杂和最具挑战性的样品环境中进行最大范围的化合物鉴定、定量和确认的需要。SYNAPT G2-Si与APGC结合 – 为气质提供研究级的高分辨离子淌度分离APGC可以为GC用户提供前所未有的高水平的研究级高分辨离子淌度分离,并具备一系列独特的实验功能,能够获得超越任何其它分析平台的新发现。这种精确质量数、分离度和离子淌度的结合,可实现无可比拟的选择性水平,提供前所未有的样品信息完整度。利用高效的T-Wave&trade 离子淌度分离技术,有助于实现优异的分离效果,为您的分析增添更多的维度。这些前沿技术的结合,可以提供比以往更广泛的实验选择范围,让您能够最大程度地获取样品信息。SYNAPT可以为您的分析带来第三个维度,并且它已被证明:无论在何种应用中,都能为您提供崭新的分析视角。注意:本页面内容仅供参考,所有资料请以沃特世官方网站为准。
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  • 气体常压化学电离源(vAPCI) 气体常压化学电离源(vAPCI)与Advion expression CMS 质谱仪联用可用于气体样品顶空分析。它操作简单快速、无需任何样品预处理。质谱仪性能优越,但在分析气态样品方面仍有困难,结合使用 vAPCI 离子源便可轻松化解。样品入口与加热的传输管线连接,通过传输管与 APCI 离子源相连,进而通过电晕放电针实现离子化。图1:vAPCI 与 expression CMS 联用 气体常压化学电离源(vAPCI)与 Advion 小型台式质谱仪 expression CMS 结合,无需样品预处理,即可便捷、快速分析挥发性物质,如样品顶空,呼吸气体或空气等。 vAPCI 可以为客户提供:直接分析 VOCs 气态样品;分析速度快,30 s 即可得到结果,可在线分析;操作简单便捷,占用空间小;与传统 APCI 离子源相比,无需溶剂,去溶剂的 APCI 离子源可电离质量范围较宽的物质。图二:气体常压化学电离源(vAPCI)原理示意图
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化学电离源原理相关的方案

化学电离源原理相关的论坛

  • 实验分析仪器--质谱仪大气压化学电离源结构原理及特点

    [b]1.基本原理[/b]大气压化学电离源(atmospheric pressure chemical ionization,APCI)的结构与电喷雾电离源大致相同,不同之处在于APC喷嘴的下游放置一个针状放电电极,通过放电电极的高压放电,使空气中某些中性分子电离,产生H[sub]3[/sub]O[sup]+[/sup]、N[sub]2[/sub][sup]+[/sup]、O[sub]2[/sub][sup]+[/sup]和O[sup]+[/sup]等离子,溶剂分子也会被电离,这些离子与分析物分子进行离子-分子反应,使分析物分子离子化,这些反应过程包括由质子转移和电荷交换产生的正离子,质子脱离和电子捕获产生的负离子等。图1是大气压化学电离源的示意图。[img=image.png,500,299]https://i3.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643167215913880.png[/img]图1 大气压化学电离源示意图[b]2.技术分类[/b]大气压化学电离源是一种场电离离子源,在常压下采用直流等离子体(DC plasma)作为初级的离子源,使得一般在负压下进行的离子-分子反应或电子-分子反应进行电离。[b]3.技术特点[/b]大气压化学电离源主要用来分析中等极性的化合物。有些分析物由于结构和极性方面的原因,用ESI不能产生足够强的离子,可以采用APCI方式增加离子产率,可以认为APCI是ESI的补充。APCI主要产生的是单电荷离子,所以分析的化合物分子量一般小于1000Da。用这种电离源得到的质谱很少有碎片离子,主要是准分子离子

  • 简述化学电离的原理

    其原理是:首先使反应气电离,由被电离的反应气离子与被分析物分子发生分子-离子反应,从而使被分析物离子化 。从化学电离的条件分,有低压(0.1Pa)化学电离、中压(1-2000Pa)化学电离和大气压化学电离。从化学反应的类型分,有正化学电离和负化学电离。正化学电离发生的分子-离子反应主要有质子转移反应、电荷交换反应、亲电加成反应;负化学电离发生的分子-离子反应主要有电子捕获反应、负离子加成反应等。

  • 实验分析仪器--表面解吸常压化学电离源结构原理及特点

    [b]1.基本原理[/b]表面解吸常压化学电离源(surface desorption atmospheric pressure chemical ionization ,DAPCI)又可写成 SDAPCI,其以APCI工作原理为基础,通过电晕放电的方式将试剂(如水、乙酸等)分子电离,生成初级试剂离子[H[sub]3[/sub]O[sup]+[/sup],H[sub]2[/sub]O[sup]+[/sup][sup].[/sup],(H[sub]2[/sub]O)H[sub]2[/sub]O[sup]+[/sup][sup].[/sup],(H[sub]2[/sub]O)nH[sub]3[/sub]O[sup]+[/sup]等]。初级试剂离子作用于承载粉末、颗粒、液态等样品的玻璃或聚四氟乙烯等材质的平面上,将样品中待测分子解吸并发生分子-离子反应,使待测分子电离。根据待测样品分子的不同, DAPCI也有不同的工作形式,对于有一定挥发性易于解吸的样品分子,可以使用空气作为初级离子试剂[图1(a)];相对难于解吸的小分子,可以通过使用辅助试剂产生初级试剂离子,增强离子源解吸能力[图1(b)];对于样品量较少的样品,可以采用微量取样的方式进行分析[图1(c)];对于较难解吸的大分子,可以使用液体辅助的 DAPCI进行分析[图1(d)]。不管哪种形式的 DAPCI,其主要经过三个过程:[img=image.png,500,329]https://i5.antpedia.com/attachments/att/image/20220126/1643167113660594.png[/img]图1 表面解吸常压化学电离示意图(a)无需气体,液体辅助,通过放电针电放电直接检测复杂待测表面的装置示意图;(b)通过气体为离子源增加辅助试剂的装置示意图;(c)通过微量取样针,检测极微量样品的装置示意图;(d)液体辅助DAPCIN装置示意图①放电针电晕放电产生初级离子;②待测物分子从样品表面被解吸出来;③待测物分子与初级离子在电晕放电的迁移区域内发生分子-离子反应,进行能量的转移和电荷的交换,从而完成对待测物分子的电离。[b]2.技术分类 [/b]DAPCI是以电晕放电为基础的,通过初级试剂离子对样品中待测分子进行解吸电离的二维离子化技术。[b]3.技术特点 [/b]DAPCI在复杂样品的直接电离质谱分析中,具有如下特点:①由于电放电能产生比ESI更多的初级离子 DAPCI就有较高的离子化效率和灵敏度;②可以无需载气,可以检测粉末样品;③便于与小型质谱仪联用;④可以无需有毒化学试剂,对样品表面无污染;⑤由于初级离子产生密度较高,对弱极性和非极性物质的检测能力也较高;⑥可以通过选择不同的辅助试剂,来提高分析的选择性;⑦可以在常压下产生自由基阳离子作为初级试剂离子,对于[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]中分子离子反应的研究具有重要意义;⑧可以应用于样品表面的质谱成像研究;⑨上述各种形式的 DAPCI源,均可非常方便地与各种常见的质谱仪进行联用,如四极杆、离子阱、飞行时间和轨道阱质谱仪等。

化学电离源原理相关的耗材

  • 化学电离(CI) 源
    产品特点: 因为 CI 源的操作压力远比EI 源高,故与EI 相比,需要更经常地清洗。无论何时发现有与离子源污染相关的性能不正常,就应该清洗。让分析性能作为您清洗的指示。当清洗 CI 源时,要特别注意CI 推斥极,离子源体和拉出极板。确保清洗离子源体和拉出极板上的0.5 mm 直径的孔。清洗 CI 离子源与清洗EI 源很相似。使用与清洗EI 源相同的清洗步骤,下面的步骤除外: &bull CI 源看起来可能不脏,但是,化学电离的沉积物很难除去。彻底清洁CI 离子源 &bull 使用圆型牙签轻轻擦拭离子源体上的电子入口孔和拉出极板上的离子出口孔 &bull 不要使用卤代试剂。最后用己烷清洗 订货信息: 5975/5973 MSD 化学电离源部件(CI) 项目 说明   部件号 1 离子源体   G1999-20430 2 拉出极板   G1999-20446 3 拉出极柱体   G1999-20444 4 透镜绝缘体   G3170-20540 5 离子聚焦透镜   G1999-20443 6 入口透镜   G3170-20126 7 推斥极绝缘体   G1999-20433 8 推斥极   G1999-20432 9 耐高温灯丝   G1099-80053 10 螺帽,镀金   G1099-20021 11 接口端密封件/弹簧   G3170-60412
  • 5977//7000 MSD 化学电离源部件(CI)
    化学电离(CI) 源因为CI 源的操作压力远比EI 源高,故与EI 相比,需要更经常地清洗。只要出现与离子源污染相关的性能异常就应该清洗离子源。将分析性能作为您的指示。当清洗CI 源时,要特别注意CI 推斥极、离子源体和拉出极板。确保清洗离子源体和拉出极板上的0.5 mm 直径的孔。清洗该离子源的方法非常类似于清洗EI 离子源的方法。采用EI 的清洗操作步骤,以下内容除外:◇ CI 离子源可能看起来不脏,但是,化学电离留下的沉积物非常难以除去。彻底清洗CI 离子源◇使用圆形木质牙签轻轻擦拭离子源体上的电子入口孔和拉出极板上的离子出口孔◇不能使用卤代溶剂。最后一步清洗要使用己烷5977/5975/5973/7000 MSD 化学电离源部件(CI)项目说明部件号1透境组配套螺丝G1999-200222螺帽,镀金G1999-200213接口端密封件/弹簧G1999-604124推斥极绝缘体G1999-204335透镜绝缘体G3170-205406拉出极柱体G1999-204447拉出极板G1999-2044685977 CI 350 推斥极组件G3170-604169入口透镜组件G3170-2012610离子源体G1999-2043011离子聚焦透镜G1999-2044312推斥极G1999-2043213灯丝组件(CI),2/包G7005-6007214垫圈,SPR CRVD,内径 1.6 至 1.8 mm,外径 4 mm,不锈钢3050-1375
  • 安捷伦化学电离(CI) 源_北京谱合生物科技有限公司
    化学电离(CI)源因为CI 源的操作压力远比EI 源高,故与EI 相比,需要更经常地清洗。只要出现与离子源污染相关的性能异常就应该清洗离子源。将分析性能作为您的指示。当清洗CI 源时,要特别注意CI 推斥极、离子源体和拉出极板。确保清洗离子源体和拉出极板上的0.5 mm 直径的孔。清洗该离子源的方法非常类似于清洗EI 离子源的方法。采用EI 的清洗操作步骤,以下内容除外:. CI 离子源可能看起来不脏,但是,化学电离留下的沉积物非常难以除去。彻底清洗CI 离子源. 使用圆形木质牙签轻轻擦拭离子源体上的电子入口孔和拉出极板上的离子出口孔. 不能使用卤代溶剂。最后一步清洗要使用己烷 5977/5975/5973/7000 MSD 化学电离源部件(CI)项目 说明 部件号1 透境组配套螺丝 G1999-200222 螺帽,镀金 G1999-200213 接口端密封件/弹簧 G1999-604124 推斥极绝缘体 G1999-204335 透镜绝缘体 G3170-205406 拉出极柱体 G1999-204447 拉出极板 G1999-204468 5977 CI 350 推斥极组件 G3170-604169 入口透镜组件 G3170-2012610 离子源体 G1999-2043011 离子聚焦透镜 G1999-2044312 推斥极 G1999-2043213 灯丝组件(CI),2/包 G7005-6007214 垫圈,SPR CRVD,内径1.6 至1.8 mm,外径4 mm,不锈钢 3050-1375

化学电离源原理相关的资料

化学电离源原理相关的资讯

  • 专家约稿|压电力显微术的基本技术原理与使用注意事项
    原子力显微术(AFM)作为一种表征手段,已成功应用于研究各个领域的表面结构和性质。随着人们对多功能和更高精度的需求,原子力显微技术得到了快速发展。目前,原子力显微镜针对不同的研究对象,搭配特定的应用功能模块可以研究材料的力学、电学以及磁学等特性。其中压电力显微术(PFM)已被广泛应用于研究压电材料中的压电性和铁电性。1. 压电材料与铁电材料压电材料具有压电效应,从宏观角度来看,是机械能与电能的相互转换的实现。当对压电材料施加外力时,内部产生极化现象,表面两侧表现出相反的电荷,此过程将机械能转化为电能,为正压电效应。与之相反,若给压电材料的施加电场,材料会产生膨胀或收缩的形变,此过程将电能转化为机械能,为逆压电效应。铁电材料同时具备铁电性和压电性。铁电性指在一定温度范围内材料会产生自发极化。铁电体晶格中的正负电荷中心不重合,没有外加电场时也具有电偶极矩,并且其自发极化可以在外电场作用下改变方向。并非所有的压电材料都具有铁电性,例如压电薄膜 ZnO。压电铁电材料广泛应用于压电制动器、压电传感器系统等各个领域,与我们的生活息息相关,还应用于具有原子分辨率的科学仪器技术,例如在原子力显微镜中扫描的精度在很大程度上取决于内部压电陶瓷管扫描器的性能。2. PFM工作原理原子力显微镜是一种表面表征工具,通过检测针尖与样品间不同的相互作用力来研究样品表面的不同结构和性质。针尖由悬臂固定,激光打在悬臂的背面反射到位置敏感光电二极管上,由于针尖样品间作用力发生变化会使悬臂产生相应的形变,激光光束的位置会有所偏移,通过检测光斑的变化可获得样品的表面形貌信息。 图1 压电力显微术工作原理PFM测量中导电针尖与样品表面接触,样品需提前转移到导电衬底上,施加电压时可在针尖在样品间形成垂直电场。为检测样品的压电响应,在两者之间施加AC交流电场,由于逆压电效应,样品会出现周期性的形变。当施加电场与样品的极化方向相同时,样品会产生膨胀,反之,当施加电场与样品的极化方向相反时,样品会收缩。由于样品与针尖接触,悬臂会随着样品表面周期性振荡发生形变,悬臂挠度的变化量与样品电畴的膨胀或收缩量直接相关,被AFM锁相放大器提取,获得样品的压电响应信号。3. PFM的测量模式图2 压电力显微术的三种测量模式PFM目前有三种测量模式,分别为常规的压电力显微术、接触共振压电力显微术和双频共振追踪压电力显微术。常规的压电力显微术在测量过程中针尖的振动频率远小于其自由共振频率,将其称为Off-resonance PFM。这种模式得到的压电信号通常较小,一般需要施加更高的电压,通常薄层材料的矫顽场较小,有可能会改变样品本身的极性,不利于薄层材料压电响应的测量,存在一定的局限性。此时获得的振幅值正比于压电系数,利用针尖的灵敏度可直接将振幅得到的PFM 信号转换为样品的表面位移信息,获得材料的压电系数。接触共振的压电力显微术测量称其为contact-resonance PFM,可以有效放大信号,针尖的振动频率为针尖与样品接触时的接触共振频率,一般是针尖自由共振频率的3-5倍。此时无需施加很高的外场就能得到较强的PFM信号,不会改变样品的极化方向。此时测得 PFM 压电响应信号比常规FPM测量的响应信号幅值放大了 Q 倍(Q为共振峰品质因子),计算压电系数时需考虑放大的倍数。但此技术也存在一定的局限性,针尖的接触共振频率是在某一位置获得的,接触共振频率取决于此位置的局部刚度。在扫描的过程中,针尖与样品之间的接触面积会发生变化,引起接触共振频率的变化,若以单一的接触共振频率为针尖的振动频率会使得信号不稳定,测得的振幅信号在共振频率处放大,其余地方信号较弱,极大的影响压电系数的定量分析,得到与理论值不符的压电系数。与此同时PFM信号易与形貌信号耦合,产生串扰。双频共振追踪压电力显微术(DART-PFM)可以有效避免压电信号与形貌的串扰。在这项技术中,通过两个锁相放大器分别给针尖施加在接触共振峰两侧同一振幅位置的频率,当接触共振频率变化时,振幅会随之变化,锁相放大器中的反馈系统会通过调节激励频率消除振幅的变化,由此获得清晰的形貌和压电信号。此时在量化压电系数时需要额外的校准步骤确定振幅转化为距离单位的值,目前一般是通过三维简谐振动模型去校准修订得到压电材料的压电系数。 4. PFM的表征与应用PFM测量中可获得样品的振幅和相位图。图中相位的对比度反映样品相对于垂直电场的极化方向,振幅信息显示极化的大小以及畴壁的位置。一般来说,材料的压电响应是矢量,具有三维空间分布,可分为平行和垂直于施加外场的两个分量。图3 BFO样品的PFM表征图[1]若样品只存在与电场方向平行的极化响应,PFM所获得的振幅和相位信息可直接反映样品形变的大小和方向,若样品畴极化方向与外加电场相同,相位φ=0;若样品畴极化方向与外加电场相反,则相位φ=180°。此时垂直方向的压电响应常数可直接由获得的振幅与施加的外场计算出来,在共振频率下可以定量测量。值得说明的是,PFM获得的压电响应常数很难与块体材料相比较,因为样品在纳米尺度的性质会与块体材料有显著的不同。若样品具有平行和垂直于电场的压电响应,在施加电场时,样品的形变出现面内和面外两个方向。利用Vector PFM可以同时获得悬臂的垂直和横向位移,可以将得到的信号矢量叠加,获得样品的三维PFM图像。压电力显微术不仅可以成像,还能用于研究铁电材料的电滞回线,并且可以对铁电材料进行写畴。铁电材料的相位和振幅与施加的电压呈函数关系,测得的电滞回线和蝴蝶曲线可以用于判断铁电材料的矫顽场,矫顽场是铁电材料发生畴极化反转时的外加电压。一般的电滞回线的获取需要施加大于±10V的直流偏压,但值得注意的是较高的直流电压会增加针尖与样品间的静电力贡献,静电力信号有可能超过压电响应信号,从而掩盖畴极化反转信号。图4 SS-PFM的工作原理图开关谱学压电力显微术(SS-PFM)可以有效减小静电力的影响,原理如图4所示与普通PFM在测量电滞回线时线性施加DC电压的方式不同,SS-PFM将DC电压以脉冲的形式初步增加或减小,每隔一定的时间开启和关闭DC电压,并且持续施加AC交流电。其中DC用于改变样品的极化,AC交流电用于记录DC电压接通和关闭时的压电信号。图为研究二维异质材料MoS2/WS2压电性能时利用SS-PFM测得的材料特性曲线。 图5 二维异质材料MoS2/WS2的材料特性曲线[2]铁电材料与普通压电材料最大不同是在没有外加电场时也具有电偶极矩,并且其自发极化可以在外电场作用下改变方向,因此可利用是否能够写畴来区分铁电材料。知道压电材料的矫顽场之后可以对样品进行局部极化样品进行写畴,畴区可以自定义,正方形、周期阵列型或者更加复杂的图案。最简单的写畴是先选择一10×10μm正方形区域,其中6×6μm区域施加正偏压,4×4μ区域施加负偏压,获得回字形写畴区域,在相位图中可以清晰的看到所写畴区。图6 Si掺杂HfO2样品的回字形写畴区域[3]5. 注意事项在PFM测量中首先要保证在样品处于电场之中,在样品的前期准备时需将样品转移至导电衬底,并确定针尖和放置样品的底座可以施加电信号,此时才能保证施加电压时在针尖在样品间具有垂直电场。在PFM测量中静电效应的影响也不容忽略,导电针尖电压的电荷注入可诱导静电效应并影响材料的压电响应,导致PFM振幅和相位信息与特性曲线失真。尽管静电效应在 PFM 测试中无可避免,但可以使用弹簧常数较大的探针或者施加直流偏压来尽量减小其中的静电影响。此外针尖的磨损也会极大的影响PFM测量。由于针尖与样品间相互接触,加载力不宜过高,过高会损坏样品表面,保持恒定适中的加载力。此外使用较软的针尖在扫描过程中可以保护针尖不受磨损,并且保护样品。PFM测量中常用的针尖为PtSi涂层的导电针尖,以获得较稳定的PFM信号。参考文献[1] HERMES I M, STOMP R. Stabilizing the piezoresponse for accurate and crosstalk-free ferroelectric domain characterization via dual frequency resonance tracking, F, 2020 [C].[2] LV JIN W. Ferroelectricity in untwisted heterobilayers of transition metal dichalcogenides [J]. Science (New York, NY), 2022, 376: 973-8.[3] MARTIN D, MüLLER J, SCHENK T, et al. Ferroelectricity in Si-doped HfO2 revealed: a binary lead-free ferroelectric [J]. Adv Mater, 2014, 26(48): 8198-202.作者简介米烁:中国人民大学物理学系在读博士研究生,专业为凝聚态物理,主要研究方向为低维功能材料的原子力探针显微学研究。程志海:中国人民大学物理学系教授,博士生导师。2007年,在中国科学院物理研究所纳米物理与器件实验室,获凝聚态物理博士学位。2011年-2017年,在国家纳米科学中心纳米标准与检测重点实验室,任副研究员/研究员。曾获中国科学院“引进杰出技术人才计划”和首届“卓越青年科学家”、卢嘉锡青年人才奖等。目前,主要工作集中在先进原子力探针显微技术及其在低维量子材料与表界面物理等领域的应用基础研究。
  • 闻风辨味,动静皆宜 | 谱育科技TRACE 8000化学电离飞行时间质谱仪
    挥发性有机物(VOCs)是臭氧(O3)和颗粒物的重要前体物,对VOCs的管控已成为“十四五”空气质量考核的重要指标之一。因此要求各地方政府部门对VOCs实施细致管控、精准溯源、科学治污。但VOCs监测存在污染来源广泛、成分复杂、扩散速度快、波及范围广等难点,这也对监测仪器提出了更高要求。VOCs监测的新手段—TRACE 8000谱育科技一直不断探索多种分析技术的组合方案,以解决单台仪器难以满足所有监测需求的难题。气相色谱质谱联用仪(GC-MS)结合了GC强大的分离能力以及电子电离(EI)源的定性能力,使其成为了VOCs检测方面的国际通用标准。而以化学电离(CI)源为主要电离方式的直接进样质谱,实现了VOCs的快速监测,并且具有较高的灵敏度。两种技术的优势互补,必将发挥出更强大的分析能力。产品方面,谱育科技相继自主研发了便携式、走航式、实验室台式等系列GC-MS产品,充分发挥GC-MS定性定量准确的优势,以满足不同的应用需求。“本届北京分析测试学术报告会暨展览会(BCEIA)上,谱育科技将推出化学电离飞行时间质谱仪(CI-TOFMS)——TRACE 8000。TRACE 8000 化学电离飞行时间质谱仪TRACE 8000的分离艺术快速的进样系统多快好省引入VOCs样品通过合理的气路设计,TRACE 8000实现了更多的进气量、更快的进样速度、更好的进气路径、更省的气路结构,真正做到了VOCs监测的秒级响应,并可从容应对不同气压条件下的进样环境。精准电离可选试剂离子的化学电离源通过巧妙的试剂离子切换技术,TRACE 8000可以采用质子转移反应、电荷转移反应等多种电离方式。更为关键的是,基于对化学电离规律、产物离子裂解规律的研究,TRACE 8000建立了业内全面的单组分化学电离谱图数据库,能够为每种VOC匹配更佳的试剂离子。精巧的离子传输系统离子与中性粒子分离的关键通过采用多级差分真空结构,融合提取透镜与聚焦透镜,TRACE 8000可以获得更好的离子与中性粒子(主要为气体分子)的分离效果,其灵敏度得到显著提升。适宜的TOF“离子分离”不是质谱仪器的唯一追求通过深入思考离子分离与VOCs定性之间的关系,TRACE 8000不追高、不盲从,为CI源匹配了最适宜的TOF质量分析器,可以实现大质量范围内的微秒级扫描,秒级检测限小于1ppb。优化的谱图解析算法“软硬兼施”分离VOCs通过建立多达上百种的VOCs谱图数据库,配合独有的谱图解析算法,TRACE 8000可以从新的维度,对硬件系统得到的谱图进行深入的软件解析,更好的确定离子与VOCs之间的对应关系,提供更为精准的定性定量分析。应用案例
  • 哈希中南八省(区)第十一届电力化学技术经验交流会圆满结束
    近年来,随着国家对能源产业建设的不断重视,为帮助广大电力客户了解哈希公司产品,并为大家提供难得的技术交流机会,为期两天的&ldquo 中南八省(区)第十一届电力化学技术经验交流会&rdquo 于2011年9月21日在桂林高尔夫度假酒店隆重举行,此次会议由哈希公司和福州福光水务科技有限公司共同协办,来自广东、广西、福建等八省区的主要电力用户(电科院、电厂及电网用户)的技术主管、设备维护主管,共计约80人出席,活动还得到了许多在建电力企业客户专家的积极参与。 哈希公司中国区电力与饮料行业高级销售经理王德群先生代表公司做了热情洋溢的讲话,主要介绍了哈希公司在中国电力行业的先进应用技术,以及公司在中国电力行业的发展情况与优秀案例。他表示:哈希公司作为全球领先的水质分析解决方案的提供商,一直致力于为客户提供最优质的产品与服务,面对中国市场,我们将不断提高产品技术的应用性,同时哈希公司在中国已建立了覆盖广泛的服务网络,能在短时间内为客户提供满意的技术服务,也是我们不断追求的目标。 本次研讨会在热烈的讨论声中圆满结束,不仅深入挖掘了已运行电力用户的常见问题,还研究并讨论了相应的解决方案,参会代表纷纷表示非常满意此次研讨会的效果,希望以后能多举办这样的活动,为客户提供技术交流的互动平台。此次会议加深了客户与哈希公司之间的彼此了解,再次为促进我公司在电力行业的健康发展做出了积极的贡献。

化学电离源原理相关的试剂

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