介损仪内的标准

一、概述光时域反射计(OTDR)广泛应用于光纤及光缆的研究、生产、敷设及维护过程中。OTDR不仅能够测量光纤的位置/距离和损耗减,其独特的工作原理还使其可以从单端对整个光纤链路事件 (如接头,分路,缺陷,故障点等) 的幅度-位置特性进行定量测量。二、技术指标1、用于单模光时域反射仪的校准，具有单模光纤长度、光纤损耗计量功能；2、符合《JJG 959-2001光时域反射计检定规程》的要求；3、 工作波长1310nm、1550nm；4、长度(0~32)km，扩展不确定度优于U=(0.2+1.5×10-5L)m(k=2)；5、损耗扩展不确定度优于U=0.03dB/dB(k=2)。6、接口：光纤接口类型为FC/PC型；7、供电：供电电压220V±10V，50Hz~60Hz。三、OTDR计量参数的选择和测量原理1、OTDR计量参数的选择OTDR的生产厂家一般提供四项技术指标：位置/距离；损耗减；盲区和动态范围。其定义分别为：位置: OTDR 前面板与光纤一个特征点之间的距离(m)。距离: 光纤两个特征点之间的间隔(实际的或累积的)(m)。损耗减: 用dB表示的光功率的减小。如果用Pin (W) 表示进入一段光纤的功率，用Pout 表示离开另一端的功率，则这段光纤的衰减定义为：A = 10 lg(Pin / Pout )。盲区: 在一个反射或衰减事件之后的区域，在这个区域中，OTDR 显示的轨迹偏离未被干扰的背景轨迹的程度大于一个给定的纵坐标距离。动态范围: 使得背向散射信号等于噪声水平的衰减量。依照计量学的概念，并非所有可测量的量都具备计量上的意义。具有计量意义的量应具有以下性质：(1) 可定量测量；(2) 可以比对；(3) 具有溯源性。如果我们用上述标准衡量，OTDR的参数中，显然只有位置/距离和损耗减具备计量的溯源校准性质。 IEC94年发布的OTDR检定规程中也推荐检定这两项指标。OTDR的另外两项指标：盲区和动态范围仅是功能性的技术指标，既不需要专门的仪器设备，也不需要特殊的测试技术，只要OTDR的操作人员使用一段光纤，就可以依照定义直接测出。因此，我们在建立OTDR检定标准装置的课题中，勿需列入盲区和动态范围，但是如果用户要求，我们完全可以在用户的OTDR上立即实现其盲区和动态范围的测量。2、测量原理简介OTDR检定传递标准由光纤损耗传递标准和光纤长度传递标准部分组成。根据1994年国际电工委员会公布的“OTDR检定”IECTC86/WG4/SWG2文件，IEC推荐的OTDR的损耗标尺系数的检定方法有三种，即外光源法、标准光纤法和模拟接头法(又称标准损耗法)。本检定装置中是采用标准光纤法构成OTDT损耗传递标准的。其中选用的标准光纤满足以下条件：a）光纤的背向散射信号曲线与光信号传输的方向无关。b）光纤的背向散射信号的损耗与光纤的长度线性相关。同样根据JJG 959-2001 光时域反射计(OTDR)检定规程，OTDR的位置/距离标尺的检定，可用光纤循环延迟线法，由于循环延迟线法不仅测量精度高，便于传递且成本相对低，将二段优质光纤和一只宽光谱2×2耦合器按图一联接，其中引导光纤a的长度为2公里左右，作循环延迟线法的光纤b的长度12公里左右。光纤环RDL在OTDR上显示一系列在背向瑞利散射背景上由耦合器光纤尾端菲涅尔反射峰组成的”梳”状曲线。(如图2所示) 图2中，0号峰代表OTDR输出接头的反射。1号峰是光脉冲通过光纤1、耦合器和光纤2，并在光纤2远端反射，再沿原路返回到OTDR。2号峰一部分是光脉冲通过一次环路，经耦合器到光纤2远端反射，再经耦合器、光纤1回到OTDR；另一部分是光通过光纤1、耦合器和光纤2，并从光纤2远端反射后，经耦合器并通过环路一次，再经耦合器、光纤1回到OTDR。这两部分光虽然走过的路径不同， 但光程完全相等。其余的依次类推，只是光脉冲通过环路的次数不同。从1号峰起，每两个相邻的峰的间隔都是Lb/2，即环路的长度的一半。用数学表达式描述上述过程即： 1号峰位置 Lotdr.o = La 2号峰位置 Lotdr.1 = La + 3号峰位置 Lotdr.2 = La + Lb … … i 号峰位置 Lotdr i = La + 式中La是光纤循环延迟线引导光纤段长度；Lb是光纤环长度。 三、仪器操作程序1、仪器正常工作的条件a）放置OTDR传递标准装置的实验室应保持清洁,干燥.实验室应采取空调及恒温措施，温度应控制在20℃±3℃ ，在24小时内温度变化2℃.b） OTDR传递标准装置应放置在恒温实验室内24小时以上，使传递标准装置内的温度均匀。c） 被检测的OTDR按该仪器的说明书开机预热。d）注意检定测量所用的外连接跳线的长度值，（变换外连接跳线时，要注意对其数值进行测量和标注）2、OTDR损耗标尺系数的测量a）标准损耗Sref 和测量间隔△S的选择按照IEC TC86 / WG4 / SWG2的建议，选取标准损耗Sref~1dB测量间隔△S~2～3dB b）按图3连接测量装置 c）损耗标尺系数的测量①设置被测OTDR的群折射率nG＝1.4600②设置OTDR的中心波长λ0＝1310nm④设置衰减器, 使其引入衰减量为0dB选取被测OTDR的设置（如，测量范围，脉冲宽度，平均时间等）以便最大程度地发挥被测OTDR经标定后的测量精度。或是按照用户的要求选取被测OTDR的设置。用跳线连接被测OTDR的光输出端和标准光纤的正向输入端。移动OTDR的光标A，使A远离标准光纤前端产生的反射峰（使得实际反向散射曲线和反向散射曲线的直线部分向前方向的直线外延线之间的差足够小）；移动光标B，使AB之间光纤的损耗Sa.b 约等于1 dB。在被测OTDR上读取A，B间光纤段的衰减A01(dB/km)。用跳线连接被测OTDR的光输出端和标准光纤的反向输入端，按上述程序测量反方向的光纤衰减A02计算A0＝（A01＋A02）/2⑤调整衰减器引入插入损耗△S，重复2.3.2.1的测量，得到A1.1.，A1.2 ，算出A1＝（A11＋A12）/2⑥调整衰减器引入损耗2△S，重复2.3.2.1 测量，得到A2重复上述测量，直到衰减器引入损耗n△S，使得OTDR显示的标准光纤段反向散射曲线的噪声和OTDR测量损耗的分辨率处于同一量级（此时OTDR测量损耗 / 衰减的重复性明显下降）。⑦设置OTDR的中心波长λ0＝1.55nm。按以上步骤测量OTDR在1.55nm波长下的损耗减。⑧计算OTDR的损耗标尺系数SAj SAj为在功率水平“－j△S”下的损耗标尺系数。3、OTDR位置偏差的测量a）选择波长l=1310nm,群折射率nG=1.4600,脉冲宽度PW=100ns,测量范围3km左右,平均时间2min,对图二中的Lotdr.0进行测量，取两次测量结果的平均值作为测量值与标准值相减，D(L0) = (L0)otdr - (L0)ref其差值即为l=1310nm, PW=100ns, nG=1.4600的被测OTDR位置偏差。b）与步骤3.1相同，测出被测OTDR l=1310nm, PW=1ms, nG=1.4600的位置偏差。4、OTDR距离标尺系数的测量a）用被测OTDR测量标准光纤特征点的位置①设定被测OTDR的波长λ0＝1310nm，群折射率nG=1.4600②根据标准光纤循环延线反射峰的位置和损耗，选择OTDR的设置（如测量范围/分辨率，脉冲宽度，平均时间，缩放功能，等）以便最大程度发挥被检OTDR标定后的测量准确度③依次在被测OTDR上读取图二梳状反射峰前沿的位置，并记录为:L0, L1, L2,… … … , Ln直到接近OTDR测量动态范围的未端: 由于S/N下降，使得测量第(Ln＋1)个反射峰前沿位置时的定位重复性 选取的相应读数分辨率。b）数据处理参照JJG 959-2001 光时域反射计(OTDR)检定规程。c）标准光纤长度的温度修正光纤长度的温度系数α＝11.5x10-6，修正公式L＝L0＋L0´α(t-20)式中L实测光纤长度L0为修正到20o时OTDR的测量值T为实测温度。d）关于测量不确定度的说明标准OTDR的测量不确定度由三部分组成：光纤传递标准的检定不确定度；①被校准OTDR的分辨率引入的测量误差；②被校准OTDR的测量重复性 ③被校准OTDR的标尺系数误差；④测量环境和操作可能引入的误差。在上述第4节的数据处理程序给出的不确定度中，包括了①、②、③、④四种误差。测量总不确定度应是各类可能误差按误差理论合成。

1概述JS-21 是 RC 串联型标准介质损耗因数标准器。采用数控方式切换电阻，操作非常方便，在±2℃范围可以作到较高的重复性。该标准器可以模拟8种不同的电容值和10种不同的损耗，最高工作电压 10kV。2工作原理2.1介质损耗绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗叫介质损耗，简称介损。介质损耗角δ在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角(δ)。 简称介损角。介质损耗正切值tgδ又称介质损耗因数，是指介质损耗角正切值，简称介损角正切。介质损耗因数的定义如下:2.2串联模型串联模型认为损耗是与电容串联的电阻产生的。这种情况电路的电流相等:有功功率 无功功率×因此 可见，在WC一定的条件下，R与 tgδ成正比，所以介质损耗因数可用不同阻值的精密电阻来模拟。2.3并联模型并联认为损耗是与电容并联的电阻产生的，这种情况RC两端电压相等：有功功率 无功功率‍ 因此 可见，在一定的条件下，R与 tgδ成反比。3 仪器特点Ø 具有西林型电桥（串联模式）/电流比较仪型电桥（并联模式）两个模式，适用范围广。Ø 可以模拟8种不容的电容值和10种不同的损耗值，准确度高。Ø 支持介质损耗因数测试仪的正反接测试。Ø 内置相应的电容负载，真正考核被检仪器的负载能力。4主要技术指标参 数标称值准确度电容（C）100pF500pF1nF5nF10nF50nF100nF500nFA型：0.5级B型：0.2级介损(tgδ)00.02%0.05%0.1%0.2%0.5%1%2%5%10%0.1%0.2%0.5%1%2%5%10%0.1%0.2%0.5%1%2%5%10%0.1%0.2%0.5%1%2%5%10%0.1%0.2%0.5%1%2%5%10%0.1%0.2%0.5%1%2%5%10%0.1%0.2%0.5%1%2%5%10%0.1%0.2%0.5%1%2%5%10% 适用范围： 西林型电桥/电流比较仪型电桥；接 线： 正/反接线；电 容： 电容量 100pF、500pF、1nF、5nF、10nF、50nF、100nF、500nF；损 耗 值：100pF：0%、0.02%、0.05%、0.1%、0.2%、0.5%、1%、2%、5%、10%；500pF~500nF： 0.1%、0.2%、0.5%、1%、2%、5%、10%；准 确 度： 0.2%×读数+0.01%；使用频率： 45-55Hz；环境温度： (10-30)℃；相对湿度： 70%。

Q-SUN氙灯老化试验箱拥有低廉的购机成本和运行费用，全光谱阳光、高温和潮湿对产品造成的褪色、开裂、粉化、雾化和黄变等老化现象。在实验室加速老化机中实现产品几个月甚至几年的老化效果。Q-SUN满足GB/T 1865标准要求。GB/T 1865-2009标准介绍1 范围GB1865规定了评定色漆和清漆及相关产品涂层的耐人工气候性或者通过人工辐射暴露来评定其耐光性的试验方法。叙述了最重要的参数并规定了暴露设备中要使用的条件。GB1865适用于漆膜耐候性和耐光性的人工加速测定。2 引用标准下列标准所包含的条文，通过在GB1865中引用而构成为GB1865的条文。GB1865出版时，所示版本均为有效。所有标准都会被修订，使用GB1865的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。GB/T1765-79(89) 测定耐湿热、耐盐雾、耐候性(人工加速)的漆膜制备法GB/T1766-95 色漆和清漆涂层老化的评级方法GB3186-82(89) 涂料产品的取样GB6682-92 分析实验室用水规格和试验方法GB/T9271-88色漆和清漆标准试板(egv ISO1514:1984)GB/T13452.2-92色漆和清漆漆膜厚度的测定〔egv ISO2808:1974)3 定义GB1865采用下列定义3.1 老化状况:涂层经人工气候老化或人工辐射暴露直至达到某种老化指标过程中的各种性能的变化情况。注:老化的一种量度是低于400二 波长范围或在规定波长例如340- 的暴露辐射能H。经人工气候老化或人工辐射后，涂层的老化状况取决于涂料的类型、涂层暴露的条件、老化过程所选定测试的涂层性能项目和该性能变化的程度。3.2 暴露辐射能 H:试板已经受暴露的辐射能的一种量度，可由式(1)计算:H= Edt (1)式中 E— 辐照度(W/m2) t- 暴露时n (S) H- 暴露辐射能(J/m2 )。如果辐照度E在整个暴露时间是恒定的，则辐射暴露H可简便地由E和t的乘积得到3.3 老化指标:一种给定程度的老化，规定或商定受试涂层在某种选定性能的变化程度。Q-SUN氙灯老化试验箱用于GB/T 1865-2009 Cycle A方法一的测试方法Q-SUN氙灯老化试验箱用于GB/T 1865-2009 cycle A方法一的测试方法翁开尔是美国Q-LAB中国指定代理商，40年专业代理美国Q-LAB系列产品如氙灯老化箱Q-SUN,紫外老化箱QUV，循环盐雾腐蚀实验箱Q-FOG，欢迎致电【400-6808-138】咨询。Q-SUN 氙灯老化实验箱介绍Q-SUN氙灯试验箱——光稳定性和耐候性加速测试解决方案每年因光照、高温和潮湿造成的产品失效损失高达亿万美元。这些失效包括：褪色、变色、强度下降、开裂、裂纹、脆化和失光等。对于暴露在直射阳光、透过玻璃窗的阳光及室内强光照射下的材料都会发生老化降解的失效问题。Q-SUN氙灯老化机（氙灯试验箱）再现全光谱阳光、高温和潮湿对产品造成的褪色、开裂、粉化、雾化和黄变等老化现象。在实验室加速老化机中实现产品几个月甚至几年的老化效果。在几天或几周内，实验室人员就可以在Q-SUN中重现老化过程。Q-SUN氙灯试验箱是用于材料与成品测试的重要研发和质量控制设备，测试暴露于户外直射阳光、窗玻璃透射阳光或室内照明环境下的产品。Q-SUN试验箱型号和配置多样，您可以根据自己的测试要求，选择所需要的型号。Q-SUN氙灯试验箱特征1、Q-SUN氙灯试验箱有三种不同型号：台式Xe-1、全尺寸Xe-2和Xe-3。2、Q-SUN有完整的自诊断错误功能，Q-SUN控制器不断地监控所有系统的状态和性能。测试过程发生错误时会自动显示相应的代码信息，Q-SUN需要日常维护也会自动提醒，必要时会执行安全停机。3、测试人员可以在控制面板储存测试程序，每次运行只需简单调用。也用U盘下载测试数据，操作非常友好。选择Q-SUN的理由低成本Q-SUN氙灯试验箱是行业中运行成本最低的试验箱。其较低的购机成本、灯管价格和运行成本，在耐光试验行业中首屈一指。易操作Q-SUN氙灯试验箱的安装、设置和操作都十分简便（触屏操作）。专门设计的样品架使样品固定和评估非常简单。所有型号的设备都是全自动的，可在无人监管的情况下全天24小时，每周7天地连续运行。测试过程中如遇问题，设备会智能提示报警。易维护模块化的子系统，不仅便于故障判断，还便于更换零配件。这些特点使得Q-SUN维护非常简便，多数情况下不需要厂家维修人员的参与（如果需要，翁开尔在全国有许多网点，并有专业技术团队上门服务）。