半微量分析天平

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半微量分析天平相关的厂商

  • 400-659-9826
    梅特勒托利多是历史悠久的精密仪器及衡器制造商与服务提供商,产品应用于实验室、制造商和零售服务业。我们提供贯穿客户价值链的称重、分析和产品检测解决方案,帮助客户简化流程、提高生产率、确保产品符合法律法规要求以及优化成本。我们在全球范围内拥有40家分公司和销售机构,并在瑞士、德国、美国和中国等国家拥有生产基地。我们在中国的上海、常州和成都都设有运营中心、制造基地及研发中心,并拥有遍布全国的销售及服务网络。
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  • 原FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam?FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用最广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。更多信息可在公司官网上找到:http://thermofisher.com/EM 或扫描二维码,关注我们的微信公众号
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  • CAMECA SAS 铜牌12年
    400-860-5168转2751
    自1929年成立以来,CAMECA不断为国际一流科研机构提供大型材料分析仪器,并为半导体行业的精准测量需求提供解决方案。CAMECA在多个尖端微量分析技术上开拓进取,精益求精,所提供的设备包括: 二次离子质谱仪(SIMS) ,三维原子探针断层分析术(APT) ,电子探针微量分析 (EPMA) ,低能量电子激发X射线发射光谱(LEXES) CAMECA的总部邻近法国巴黎,分支机构遍及美国,德国,日本,韩国,中国,中国台湾,以及一个全球代理商网络,充分保证我们的支持服务惠及所有用户。 2007年,CAMECA加入AMETEK Inc.,成为这家全球电子和机电产品领先供应商的一部,隶属 AMETEK 材料分析部。
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半微量分析天平相关的仪器

  • 天平简介:梅特勒托利多XPR/XS分析天平快速安全的满足所有称量需求。其中,XPR分析天平具有全面的质量管理工具(QM),满足质量保证的要求,特别适合于例如制药行业的严格法规环境。而XS分析天平,配合其创新选件,为快速高效的称量过程设立了全新标准。天平特点:采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量需求;具有中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen)或触摸屏(TouchScreen),实现安全、便捷的天平操作;红外感应器(SmartSens)*,实现无需用手接触的称量操作:开关门、打印、去皮等;网格秤盘(SmartGrid),获得快速、准确的称量结果;水平控制系统(LevelControl)*,在天平偏移水平位置时提供警告提示功能;专业级全自动校准技术(proFACT)或全自动校准技术(FACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正,获得精确称量结果;最小称量值(MinWeigh)功能,提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒托利多客户服务工程师现场设置激活);天平校验功能(BalanceCheck)*,自动提示用户使用外部砝码校正天平,确保称量结果始终准确;显示屏塑料保护罩,避免散落样品的腐蚀;配备多个端口用于轻松连接和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽,方便连接打印机、电脑等外围设备;符合GxP规范的称量结果输出,获得完整的、可追溯的称量信息;GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作;*仅XP天平天平参数:XPR分析天平:量程120g~520g,可读性0.01mg~0.1mgXS分析天平:量程120g~220g,可读性0.01mg~0.1mg天平应用:梅特勒托利多XPR分析天平在例如需要符合美国药典(USP)或GMP/GLP规范的制药行业有着广泛的应用,同时也是获得至高称量准确度的完美解决方案。而XS分析天平,则是食品化工行业,关注至高称量效率,易于清洁的理想选择。 PR 微量天平主要型号:超微量天平XPR2U超微量天平XPR6U微量天平XPR2微量天平XPR10微量分析天平XPR56 微量分析天平XPR36XPR precision精密天平XPR204S精密天平XPR504SDR精密天平XPR303SN精密天平XPR603SNDR精密天平XPR4002S精密天平XPR10002S 分析天平分析天平 XPR226DR分析天平 XPR105DR分析天平 XPR204
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  • 梅特勒托利多XPR分析天平快速安全的满足所有称量需求,特别适合于例如制药行业的严格法规环境。仪器特点/功能:1. 采用高精度高分辨率后置式传感器,满足用户高精度的称量需求;2. 具有中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen),实现安全、便捷的天平操作;3. 红外感应器(SmartSens),实现无需用手接触的称量操作:开关门、打印、去皮等;4. 网格秤盘(SmartGrid),获得快速、准确的称量结果;5. 水平控制系统(LevelControl),在天平偏移水平位置时提供警告提示功能;6. 专业级全自动校准技术(proFACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正,获得精确称量结果;7. 最小称量值(MinWeigh)功能,提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒托利多客户服务工程师现场设置激活);8. 天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外部砝码校正天平,确保称量结果始终准确;9. 显示屏塑料保护罩,避免散落样品的腐蚀;10. 配备多个端口用于轻松连接和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽,方便连接打印机、电脑等外围设备;技术参数:型号 最大称量值/可读性XPR205 220g/0.01mgXPR105DR 31g/0.01mg,120g/0.1mgXPR205DR 81g/0.01mg,220g/0.1mgXPR204 220g/0.1mgXPR504 520g/0.1mgXRP504DR 101g/0.1mg,520g/1mg到梅特勒托利多官网去了解XPR系列天平XPR系列微量/超微量天平XPR系列分析天平XPR系列精密天平应用领域:梅特勒托利多XP分析天平在例如需要符合美国药典(USP)或GMP/GLP规范的制药行业有着广泛的应用,同时也是获得至高称量准确度的完美解决方案。PR 微量天平主要型号:超微量天平XPR2U超微量天平XPR6U微量天平XPR2微量天平XPR10微量分析天平XPR56 微量分析天平XPR36XPR precision精密天平XPR204S精密天平XPR504SDR精密天平XPR303SN精密天平XPR603SNDR精密天平XPR4002S精密天平XPR10002S 分析天平分析天平 XPR226DR分析天平 XPR105DR分析天平 XPR204
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  • 梅特勒托利多XPR2U/XPR6微量天平/超微量天平在处理昂贵、易分解或者有毒物质时,尽可能减少样品使用量意味着可以大大降低成本。而XPR26/XPR56微量天平/超微量天平特别适用于将微量样品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免样品转移过程中的误差和浪费。技术参数:XPR超微量/微量天平:量程2.1g~22g,可读性0.001mg~0.01mg主要特点:具有中文界面的TFT彩色触摸屏(SmartScreen),实现安全、便捷的天平操作;红外感应器(SmartSens),实现无需用手接触的称量操作:开关门、打印、去皮等;网格秤盘(SmartGrid),获得快速、准确的称量结果(仅XPR26/56型号);水平控制系统(LevelControl),在天平偏移水平位置时提供警告提示功能;专业级全自动校准技术(proFACT),温度漂移和时间触发的自动内置砝码校正和线性校正,获得精确称量结果;最小称量值(MinWeigh)功能,提供符合法规的称量帮助(需要梅特勒托利多客户服务工程师现场设置激活);天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外部砝码校正天平,确保称量结果始终准确;显示屏塑料保护罩,避免散落样品的腐蚀;配备多个端口用于轻松连接和一个可用于蓝牙、以太网、LocalCAN、RS232和PS/2通讯接口选件插槽,方便连接打印机、电脑等外围设备;符合GxP规范的称量结果输出,获得完整的、可追溯的称量信息;GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作;应用领域:梅特勒托利多XPR微量天平/超微量天平在制药行业标准品称量,汽车行业滤纸称量,贵金属行业样品称量等都有着广泛的应用。 PR 微量天平主要型号:超微量天平XPR2U超微量天平XPR6U微量天平XPR2微量天平XPR10微量分析天平XPR56 微量分析天平XPR36XPR precision精密天平XPR204S精密天平XPR504SDR精密天平XPR303SN精密天平XPR603SNDR精密天平XPR4002S精密天平XPR10002S 分析天平分析天平 XPR226DR分析天平 XPR105DR分析天平 XPR204
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半微量分析天平相关的资讯

  • 岛津推出全新“AP225W”半微量分析天平
    p style=" line-height: 1.5em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 岛津宣布推出其“AP225W”半微量分析天平。这款产品在能够测量高达220克物质的同时也具有最小的0.01mg的读数。 /p p style=" line-height: 1.5em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 这款天平可在大约两秒内完成测量,并且可以在0.01mg的量级上测量到220克。使用标准附件“AP支架”,可将测量瓶或试管保持在倾斜位置。此外,将可选的“STABLO-AP”离子发生器安装在在主机上可以迅速消除容器和样品上的静电,从而提高测量的可靠性。将AP225W连接到“LabSolutions Balance”测量数据管理系统可以使测量数据符合各种标准成为可能。 /p p style=" text-align: center line-height: 1.5em " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201808/insimg/7e9755ac-bbee-49cd-9a9c-bee7c699862a.jpg" title=" ap225w.jpg" / /p p style=" line-height: 1.5em "    span style=" color: rgb(31, 73, 125) font-size: 18px " strong 开发背景 /strong /span /p p style=" line-height: 1.5em "   在诸如药品,化学品和第三方实验室等需要测量0.01 mg量级的稀有痕量样品的行业中,将样品保留在烧瓶,试管或其他玻璃容器中时进行测量是十分必须的。采取这些措施是为了避免由于称重纸上剩余部分样品以及由于化学原因引起的样品物理性质变化所导致的测量差异。此外,由于在管理大量试剂时需要高度精确地测量使用量或变化量,因此需要具有较大称重能力的分析天平。 /p p style=" line-height: 1.5em "   为了满足上述的这些需求,岛津汇集了其质量传感器技术和数字控制技术,开发出具有最大称量能力的半微型天平AP225W。 /p p style=" line-height: 1.5em "    span style=" font-size: 18px color: rgb(31, 73, 125) " strong 特征 /strong /span /p p style=" line-height: 1.5em "    strong 一、快速稳定测量 /strong /p p style=" line-height: 1.5em "   可在两秒钟内完成0.01mg量级的痕量测定。同时,独有的温度变化补偿技术降低了由温度变化引起的灵敏度变化问题,实现长期稳定的测量。 /p p style=" line-height: 1.5em "    strong 二、使用“AP支架”和离子发生器快速,准确地测量容器中的样品 /strong /p p style=" line-height: 1.5em "   天平配备的AP支架可将玻璃容器放入称重室进行测量。该支架可将玻璃容器保持在倾斜位置,使样品可以轻松倒出,简化测量工作。此外,加入可选的STABLO-AP离子发生器以快速消除整个称重室(包括玻璃容器的表面)的静电,缩短测量时间并提高可靠性。 /p p style=" line-height: 1.5em "   三 strong 、支持高效液相色谱分析和数据管理的多种功能 /strong /p p style=" line-height: 1.5em "   该产品配备了各种功能,有利于HPLC用户使用,包括记忆化学配方和测量指南的功能。该产品可以使用LabSolutions Balance数据管理系统合并到岛津网络系统中。 /p p br/ /p
  • 大昌华嘉成功召开有机元素微量分析学术交流会
    近日,大昌华嘉仪器部在中科院上海有机化学研究所成功召开了有机元素微量分析学术交流会,本次会议特邀中科院上海有机化学研究所王约伯教授,高敏博士等诸位专家就有机元素微量分析的历史发展、目前概况及操作技术展开深入的探讨。 德国元素分析系统Elementar公司是研发、生产和销售碳、氢、氧、氮、硫等非金属元素的分析仪器,已有一百多年的历史,在元素分析仪器行业里有相当重要的地位。 大昌华嘉商业(中国)有限公司具有200年历史的瑞士国际贸易公司,作为Elemetar产品在国内的总代理,负责其所有产品、技术的推广销售和服务。 大昌华嘉科学仪器部总经理林波女士致辞 大昌华嘉科学仪器部总经理林波女士在会上发表了欢迎致辞,对远道而来的各位专家及用户表示了感谢和欢迎。Elementar上海技术中心的总经理叶昌强老师在会上介绍了Elementar元素分析不同型号的仪器的使用维护。 Elementar 上海技术中心总经理叶昌强老师 中科院上海有机化学研究所的诸位专家还带领用户进行了分组上机操作,让每位用户都能亲自操作仪器,更深入得了解仪器性能,使用方法技巧。 上海有机所王约伯教授为用户讲解元素分析方法 培训会后,各位专家还对学员进行了考核,并颁发了证书。希望这次的会议能成为用户与专家的桥梁,为广大用户构建一个互动的平台以达到沟通技术,增进了解,相互合作的目的。 学员合照
  • 外校 Or 内校,实验天平该如何选择?
    称量不仅仅是为了得到一个样品的质量,显示值与真值之间的误差远比它本身重要,决定相关分析可靠性的关键是误差。 可现实..... 我们习惯用分辨率评估误差。01天平是一种衡器,由埃及人发明,是衡量物体质量的仪器。它依据杠杆原理制成,在杠杆的两端各有一小盘,一端放砝码,另一端放要称的物体,杠杆中央装有指针,两端平衡时,两端的质量相等。天平在实验室中常见,而且必要。现代的天平,有普通天平、分析天平,有常量分析天平、微量分析天平、半微量分析天平,越来越精密,越来越灵敏,种类也越来越多。虽然最根本的原理还是一样的,但不同种类的天平,价格又可能相差非常多,让人眼花缭乱,无从选择。 今天我们就天平校准的区分,“外校” or “内校” ,进行天平选择的分析和介绍。02电子天平在的使用中,为确保天平灵敏度等处于最佳状态,需定期进行平衡校准。市面上常见的电子天平校准方式有内校和外校。外校型 电子天平:指通过手动,校准时先按校准键,再把标准砝码放到电子天平秤盘上,来完成校准过程。砝码用单独的砝码盒保存。內校型 电子天平:指校准砝码在电子天平内部,用电机驱动有内置砝码升降装置的电子天平,校准时只需按一下校准键就可以自动完成校准过程。03电子天平的准确性与校准方式无关,主要看砝码的等级和电子天平传感器质量。一般新出厂的天平所带的外带砝码和内置砝码等级是相同的,所以准确性基本没有区别。但随着使用时间的推移,外带砝码的损耗一般比内置砝码要大:会受灰尘、酸碱腐蚀等等影响,例如一个手指印就会有几十微克重。如果保管不当还有丢失的情况存在。所以若出现计量检验不合格的情况,就需要更换砝码。内置砝码的天平一般不会出现上述情况,并可以通过修改天平的校正程序参数来修正偏差。免去外校操作步骤的繁琐,方便快捷,但价格会普遍比外校天平价格贵20%左右。而如果对天平的精密度要求非常高的, 也可以对内校天平按外校步骤进行校准,这样得到的校准报告是最精确的。另外,有些品牌还推出了带有自动校准功能的外校天平,例如赛多利斯的带eCheck功能外校电子天平。会在插电源开机时自动启动,把内校砝码加载上去看偏差多少,并把偏差部分修正过来。但不能手动启动,也没有校准报告输出,是天平为了自检而设的功能。 虽然此类天平也是必须按外校步骤定期进行校准,但是对于对实验精度要求相对比较高的客户,就能免去校准周期内发生的误差,而价格也是和普通外校天平相差无二。总的来说,外部校准的缺点是操作比较复杂,对砝码要求比较严格,如果砝码有灰尘或磨损现象,会对校准产生影响,但是外校方式可选择性强,用户可以用不同质量的砝码进行校准;内部校准方式操作简单,省略很多操作步骤,也避免了标准砝码不同而带来的误差,但价格上比外校型天平高很多。任何抛开实验要求的对比都是耍流氓。大家可根据自己的实际情况(实验精度要求、经费等)选择合适的天平。● ● ●精选原创文章列表 全球仅有的烷基汞气相专用柱,到底好不好用? 日化企业如何在变化中的行业“求变”—— 记第四届化妆品技术研讨会 90后广药女生的抉择之一:毕业了要不要去小私企? 请挑些日子有功的事情坚持一二 惊讶!德国制造竟然是山寨货的先驱? 十年好基友,竟瞒着对方... 那么,新柱子到底要不要及时测柱效? 广州绿百草正式成为德国Sartorius授权经销商 广州绿百草正式成为美国VWR公司授权代理商 跳槽高峰期,如何找到一份好工作? 一个仪器经销商小老板对员工的年会讲话 用心坚持一件事4年,会带来什么?仪器经销商:说好的2016一起赚钱,我怎么就剩个裤衩? 惊讶!雾霾是怎样干掉我们的? 仪器随笔 — 谁送了我一个奶酪 十载 ? 人物 | 一个六年"特训"老油条销售经理的辗转发展 广州绿百草炫十年风采丨第八届慕尼黑(上海)生化展完美落幕 十载 ? 人物 | 一个分析仪器行业“小”老板的打工创业之路 用尽洪荒之力,叫你如何避免IKA T18刀头损坏 关于鸦片面膜中的禁限用物质——“糖皮质激素”的检测全面解决方案汇总 阿蛋学仪器 | 色谱分离的原理 So Easy ! 1万多买的新色谱柱柱压猛然飙升?原因竟然只是1个小失误!!广州绿百草 实验室综合供应商

半微量分析天平相关的方案

半微量分析天平相关的资料

半微量分析天平相关的试剂

半微量分析天平相关的论坛

  • 推荐几款微量分析天平

    公司要采购分析天平,买过一台十万分之一的梅特勒天平。现在要再买一台,领导觉得原来的太贵了,想换个便宜点的。通常称样量在10-20mg,偶尔也会称5mg。10-20mg需要比较精准,用来检测含量的。有没有称量在这个范围比较精准的,国产或者进口都行,有使用过的,劳烦提供一下厂家联系方式和型号价格。在这里提前感谢大家!

半微量分析天平相关的耗材

  • SI-234分析天平
    SI-234分析天平 产品介绍: 特制纯铝防风罩背板,全面提升天平防静电能力 单模块称重技术 全自动内校功能 带背景光显示屏 简单的菜单操作指导 过载保护 每次测量均有日期/时间标记 RS232接口 水平支脚和水平仪确保天平稳定,水平气泡前置,方便调节水平 不锈钢秤盘,方便清洗 计数,百分比称重,动物称重,单位转换,密度测定,公式求和 产品特点: 技术参数: 型号:SI-234 可读性: 0.1mg 量程:230g 去皮范围:0-230g 重复性:0.1mg 线性:0.2mg
  • 电光分析天平TG328A/B
    TG328A/B电光分析天平主要特点采用等臂杠杆式结构,并设有空气阻尼装置,从而使停点快速,读数准确,是工矿企业,科研机构,大专院校,实验室,化验室作精密称量、分析、测定的理想仪器。 TG328A/B电光分析天平主要技术参数 型 号TG328ATG328B称量范围(g)200200分度值(mg)0.10.1光学读数范围(mg)0-100-10机械加码范围(g)0.01-199.990.01-0.99秤盘尺寸(mm)φ75φ75外形尺寸(mm)420×370×500420×370×500净重(kg)1815
  • 半微量样品架 HunterLab Vista配件
    半微量样品架该样品支架可放置半微量分析塑料的比色皿进行可重复的总透射率和雾度测量。还可容纳外部路径长度尺寸不超过12.42mm×12.50mm(0.489英寸×0.492英寸)的半微型10mm比色皿。该支架包含三个PMMA塑料电池的入门工具包。适用于:HunterLab VISTA若要了解更多资讯,请联系021-54261103
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