粒径仪测粒径原理

仪器信息网粒径仪测粒径原理专题为您提供2024年最新粒径仪测粒径原理价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括粒径仪测粒径原理参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的粒径仪测粒径原理您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合粒径仪测粒径原理相关的耗材配件、试剂标物,还有粒径仪测粒径原理相关的最新资讯、资料,以及粒径仪测粒径原理相关的解决方案。
当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

粒径仪测粒径原理相关的仪器

  • 产品简介  粒径谱分析仪以激光二极管作为光源,31个粒径通道测量模块可准确计算颗粒物质量浓度和分布基础。该分析仪可检测固体颗粒物和小液滴粒径分布,测量过程没有半挥发性物质损失,适合官方作为PM10和PM2.5测量的组网仪器。在解决环境监测中需要解决的大气可吸入颗粒物等多种污染物的连续、实时、自动监测问题,特别是对颗粒物源解析、数浓度谱的研究有着重要的作用。功能特点  全自动无人值守在线实时监测,19寸机柜安装;  可同时测量PM1,PM2.5,PM10(可选配31个粒径通道),获得PM10,PM2.5 所有的EU及US-EPA认证;  粒径分布、相对温湿度探头、大气压力(三种选项);  不受震动影响,没有放射源,维护少,具有自动跟踪系统;  使用NAFION 作为除湿方法,使得SVC没有损失;  可做为大气监测系统的组网仪器;  维护费用、监测成本低。
    留言咨询
  • EDM 665 宽粒径气溶胶粒径谱仪&bull 仪器简介EDM665 WRAS(Wide Range Aerosol System)宽粒径气溶胶粒径谱仪,是将光学粒径谱(OPC)和扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C)结合起来分析颗粒物粒径的设备,光学粒径谱(OPC)主要用于微米级的颗粒的监测,监测31个通道;扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS+C)用于纳米颗粒研究,监测44个通道。粒径监测范围为5nm到32μm,共分为70多个通道,系统软件将自动绘制粒径和浓度分布图。系统带有自动采样、干燥除湿系统,可在无人监管条件下连续监测长达1月。可安装GPS和无线传输系统。。&bull 仪器优势&bull 宽范围,5.0nm ~ 32μm,71个粒径通道&bull 浓度范围1 ~ 107P/cm3&bull 独立监测系统,全自动,可长期无人监守工作&bull 48cm仪器固定架&bull SMPS,CPC,软件,在线实时监测,远程控制, GPS,认证,可靠稳定。&bull 仪器应用&bull 环境研究&bull 气溶胶研究&bull 移动气溶胶研究&bull 路旁监测&bull 引擎排放研究&bull 健康效应研究&bull 性能参数&bull SMPS+C测量原理静电分类和冷凝生长检测粒径范围M–DMA (5 – 350 nm) L–DMA (10 – 1094 nm)最小扫描时间150s浓度范围107 p/cm3采样流量0.3 L/min&bull 光学设备粒径范围250nm – 32μm粒径浓度1 ~ 2×103P/cm3采样流量1.2 L/min可重复性3%最大量程&bull 电源110 – 220 VAC, 50 – 60 Hz&bull 功率100 – 150 W&bull 温度范围- 20 to + 40°C (- 4 to 104°F), RH 95%&bull 尺寸(LWH)49 x 28 x 65 cm (19.3 x 11 x 25.6 in)&bull 重量38 kg
    留言咨询
  • 产品简介CCLJP-100B 大气颗粒物粒径监测仪基于高精度光散射粒子计数原理设计,采用泵吸式采样,用于监测大气环境中PM2.5、PM10、TSP浓度和0.3至20μm的12通道粒子个数和质量浓度,可选配气象监测 (温度、湿度、大气压、风速、风向) 、气态污染物监测(SO2、NO2、NO、CO、O3、TVOC) 等功能参数。适用于城市环境、建筑工地、厂矿企业等场所的颗粒物污染监控应用。性能特点v 可以精准分析大气中颗粒物粒径分布情况,并能实现粒径分布的实时监测,用监测数据说清机动车、扬尘、固定燃烧等颗粒物来源对空气污染的影响程度;v 该监测仪基于物联网技术设计,安装简便、成本低廉,可便于大规模高密度布点安装,为城市环境的颗粒物减排提供数据上的支撑; v 采用高精度大量程光散射粒子计数器,内部光路自清理设计,减轻了长期运行后传感器内部光学器件的积尘现象,保证数据的长期稳定有效。颗粒物采样管采用动态加热技术,降低湿度对颗粒物数值的影响,湿度补偿算法同时提升数据准确性。颗粒物零点自动校准技术,解决传感器长期运行的零点漂移问题;v 仪器配置触控显示屏,可本地查看实时数据、历史数据、设备状态信息等数据,并将监测数据发送至展示平台,可通过手机、电脑等设备浏览,并可选配LED显示屏;
    留言咨询

粒径仪测粒径原理相关的方案

粒径仪测粒径原理相关的论坛

  • 不同原理的粒度仪与粒径

    由于颗粒形状的复杂性,颗粒测量只能采用等效粒径的概念,和间接测量的方式。不同原理的粒度仪器,采用不同的等效粒径:激光衍射(散射)仪器采用的是散射粒径,近似等于等效截面粒径。沉降粒度仪采用的斯托克斯粒径(沉降速度与同质球体等效)。库尔特(电阻法)粒度仪采用的是体积等效粒径。 如果使用球形颗粒,各种仪器测量结果应该相同。 对于非球形颗粒,各种仪器测量结果差别不可预测,因为颗粒形状太复杂。但是对同一种非球形颗粒,不同仪器测量结果有规律可循。为此微纳公司研制了数据校准软件。根据用户提供的样品和相关目标仪器的粒度分布数据,交给具有一定的学习功能软件,今后遇到同类样品即使大小不同,也可给出相关性令人满意的结果。

  • 【讨论】一次粒径和二次粒径问题

    粒度测试有一个不太好定性的问题,那就是一次粒径和二次粒径问题。对于多数粉体颗粒,它有一定的大小,广义角度看单个颗粒是一个个体。但是从严谨角度说它依然是个可再分的由更小颗粒组成的群体。这时候问题就产生了,我们对颗粒进行粒度分析时,到底是希望测试粉体被分散到什么程度时的粒度分布呢?举个例子:某硫酸钡粉体,电镜拍摄的照片显示,单晶颗粒都在几百纳米级别,但是激光粒度仪测试结果微米级别的粒度分布,相差一个数量级。有些测试人员片面认为照片拍摄的东西绝对可靠,是粒度仪测试不准。这样判断过于主观了。这类问题晶粒如果处理后的样品体系中,超微粒子是均匀的,检测方法一般是一次粒度分析。如直观观测法,主要采用扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、隧道扫描电镜(STM)、原子力显微(AFM)等手段观测单个颗粒的原始粒径及型貌。但如果处理后的样品微粒是不均匀的,且团聚体是不易分散体,此时电镜法得到的一次粒度分析结果一般很难代表实际样品颗粒的分布状态。因此,对处理后的物料体系必须作二次粒度统计分析。目前,较先进的3种典型方法按原理上可分为高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。 这个问题其实也是一个粉体分散问题,测试粒度分布时,到底使用什么手段分散?分散到什么程度才是正确的?希望各路高手一起探讨,也让小弟多开阔眼界。

粒径仪测粒径原理相关的耗材

  • 填料粒径3μm的手性色谱柱
    3&mu m色谱柱系列综合介绍 3&mu m色谱柱系列 &mdash &mdash 填料粒径3&mu m的手性色谱柱,实现更高的分离性能 涂敷型:CHIRALPAK® AD-3/AD-3R, CHIRALPAK® AS-3/AS-3R CHIRALCEL® OD-3/OD-3R, CHIRALCEL® OJ-3/OJ-3R CHIRALPAK® AY-3/AY-3R, CHIRALCEL® OZ-3/OZ-3R 耐溶剂型:CHIRALPAK® IA-3, CHIRALPAK® IB-3, CHIRALPAK® IC-3 产品描述: 3&mu m的手性色谱柱系列,由于使用了3&mu m填料,所以可得到很尖锐的峰。由于能实现很高的理论塔板数,即使是短柱也可以在缩短分析时间的基础上显示出优异的分离能力。另外由于使用了高通用性的手性选择剂,可对各类化合物进行光学拆分。 更小粒径填料的优点: - 更高效 - 更高流速 - 更快出峰时间 - 更高操作压力 - 优化HPLC系统 可根据用途选择最适合的色谱柱规格: 4.6*150mm Ø 用于通常分析 4.6*50mm Ø 用于高速分析 4.6*250mm Ø 用于特别需要高分离度的时候 2.1*150mm、2.1*250mm Ø 用作LC-MS或者微型HPLC 3&mu m与5&mu m分离度对比: Column: (L) CHIRALPAK® AD-3 (particle size 3&mu m) (R) CHIRALPAK® AD-H (particle size 5&mu m) Size: 4.6*250mm Mobile Phase: n-Hexane/IPA=90/10 Flow rate: 1ml/min Temperature: 25℃ Sample: &alpha -(Trifluoromethyl)-benzylalcohol
  • COSMOSIL 平均粒径 (球形?中性)填料 30511-64
    COSMOSIL 平均粒径 (球形?中性)填料 30511-64因为硅胶呈弱酸性,在用柱色谱分离的时候,一些对pH敏感的化合物会被酸性的硅胶分解。将硅胶60(球形、中性)的pH值调整到中性,不但能将对pH敏感的化合物分离,而且也能分离一些理化性质未知的新物质。订购信息● 平均粒径 (球形 中性)产品名称平均粒径产品编号包装尺寸平均粒径 60 (球形?中性)开放柱层析75 μm30511-64100 g30511-35500 g30511-511 kg30511-065 kg30511-2225 kg140 μm30518-94100 g30518-65500 g30518-811 kg30518-5225 kg● 平均粒径 (球形)产品名称Particle size孔径级别产品编号包装尺寸平均粒径 60, 球形约. 70 ~ 230 目60ASP30731-711 kg30731-4225 kg约. 150 ~ 325 目SP30733-511 kg30733-2225 kg平均粒径 120, 球形约. 70 ~ 230 目120ASP30734-411 kg约. 150 ~ 325 目30735-311 kg● 平均粒径 (不规则)产品名称Particle size孔径级别产品编号包装尺寸平均粒径 60约. 70 ~ 230 目60ASP30724-55500 g30724-711 kg30724-845 kg30724-4225 kg约. 230 ~ 400 目SP30721-85500 g30721-011 kg30721-145 kg30721-7225 kg
  • AQ 粒径/内径*柱长2.7μm/2.1×50mm
    CAPCELL CORE核壳柱§ 由1.7μm的实心核和0.5μm的多孔硅胶构成粒径为2.7μm的核-壳填料,可以实现UPLC和HPLC上的快速高效分析固定相粒径内径长度50mm价格长度100mm价格长度150mm价格C182.7μm2.1mmF511035500F511056500F5110670004.6mmF511145500F511167100F511177500AQ2.7μm2.1mmF511635800F511656900F5116674004.6mmF511745800F511767400F511777800MP2.7μm2.1mmF512135800F512156900F5121674004.6mm————F512267400F512277800WP2.7μm2.1mmF512335800F512356900F5123674004.6mm————F512467400F512477800PFP2.7μm2.1mmF511435800F511456900F5114674004.6mmF511545800F511567400F511577800PC2.7μm2.1mmF511235500F511256500F5112670004.6mmF511345500F511367100F511377500ADME2.7μm2.1mmF511835600F511856500F5118670004.6mmF511935700F511957200————

粒径仪测粒径原理相关的资料

粒径仪测粒径原理相关的资讯

  • 外泌体粒径分析该选谁?不同外泌体粒径分析技术间的比较
    测量外泌体的粒径分布一直以来都是外泌体表征的重要组成部分。但是由于外泌体的尺寸仅为30~200 nm,所以必须借助一些特殊的检测手段才能够对这种在光学显微镜下不可视的颗粒进行观测。本篇就外泌体粒径测量技术的发展进行简述,并对不同技术的差异进行比较。一、电镜技术在外泌体发现的早期,由于还没有专门针对这类尺寸颗粒的分析方法,因此直接在电镜下面观察粒径并统计成为了早的外泌体粒径统计方法。但是这种方法费时费力,且通量低,在面对临床和科研中的大量样本时显得十分无力。文献中外泌体在电镜TEM模式下的经典形态 二、动态光散射技术 & 纳米粒子跟踪分析技术由于外泌体与材料学所合成的脂质体在形态上十分相似,因此用于脂质体表征的动态光散射技术(DLS)便被应用于外泌体的尺寸测量上。DLS利用光射到远小于其波长的小颗粒上时会产生瑞利散射现象,通过观察散射光的强度随时间的变化推算出溶液中颗粒的大小。但是这种技术会受到测量物质的颜色、电性、磁性等理化特性的影响,并且对于灰尘和杂质十分敏感。因此使得DLS在测量尺寸较小的粒子时,测量出的粒径与实际的分布具有较大的偏差。为了弥补DLS的短板,纳米粒子跟踪分析(NTA)技术孕育而生。这种技术采用激光散射显微成像技术,用于记录纳米粒子在溶液中的布朗运动轨迹,并通过Stokes-Einstein方程推算粒子大小。这种技术能够对30~1000 nm的粒径进行测量,因此能够提供更为地粒径数据。在诸多文献的测试中均取得了较DLS更好的精度,因此成为目前为主流的外泌体尺寸测量手段。NTA技术的工作原理与DLS技术在测量不同尺寸纳米球的数据对比。可见相比于DLS,NTA测量的粒径分布更为。 虽然NTA取得了比DLS 更高的性,但是随着外泌体研究的深入,其局限性也十分明显。先NTA仅能够测量溶液中颗粒的平均粒径尺寸,但是NTA无法分辨其中的外泌体、囊泡、脂蛋白,也不能区别不同源性的外泌体。这直接限制了外泌体粒径表征的意义,使得研究者很难探究外泌体尺寸与外泌体来源之间的关系。另外NTA本身对于测试时的温度、浓度和校准都有着较高要求,因此使得NTA在测试较小的粒子时其精度仍不能达到令人满意的效果,其测试结果却仍与电镜、AFM等成像技术所观测到的粒径存在着明显差异。外泌体在TEM下的成像及粒径统计与NTA测量的结果对比。可见NTA测量到的粒径要比TEM直接测量的结果大50~100 nm。 三、单粒子干涉反射成像技术为了解决上述在实际测试中的问题,一种新型的单粒子干涉反射成像传感器(SP-IRIS)技术孕育而生。这种技术摒弃了布朗运动轨迹追踪方法,通过基底与颗粒形成的相干光进行成像,通过成像后的亮度来直接计算纳米粒子的大小。从而避免了NTA测量粒径轨迹误差大的短板,拥有更高的灵敏度和精度,即使对于NTA无法区分的40 nm与70 nm的粒子混合溶液也依然能够取得很好的分辨率。SP-IRIS的原理及芯片微阵列打印的成像效果和对混合不同粒径小球的区分效果。可见SP-IRIS技术拥有更高的测试通量和测量精度。得益于这种高精度测量方法,越来越多的研究者终于能够测量到与电镜直接观测相当的粒径。这种优势所带来的效果不单单是能够让TEM的数据与纳米粒子表征的数据更为一致,同时还能够表征不同来源的外泌体之间的粒径差异。SP-IRIS、NTA和TEM统计同一样品时所测量的粒径分布。SP-IRIS在测量不同尺寸的外泌体时,测量的粒径与TEM的尺寸统计基本一致,而NTA统计的粒径则比TEM大约50 nm。此外SP-IRIS技术还能够提供不同来源外泌体的尺寸差异,能够看出CD9来源的外泌体要比其它来源的外泌体大~10 nm。 SP-IRIS的另一个优势在于能够更换激光源的波长,因此除了能够实现外泌体的形貌成像外,还能够实现单外泌体的荧光成像。使得单外泌体的荧光共定位成为可能,研究者通过这种单外泌体荧光成像能够研究单外泌体的表型、载物、来源等生物信息。使用SP-IRIS 对受伤组和对照组小鼠不同时间点的血清CD9、CD81来源外泌体的分泌量监测。可以看到CD81来源的外泌体的分泌量呈现先增加后减少的趋势,而CD9来源的外泌体分泌量则一直在增加。 综上所述,由于SP-IRIS技术的高精度、高灵敏度、可做单外泌体荧光成像的优势,目前有越来越多的学者开始对比NTA技术和SP-SPIS技术,其结果均认为SP-SPIS技术测试的效果要明显优于NTA,这其中也不乏Cell等高水平期刊。相信在不久的将来,SP-IRIS技术将会越来越普及,为研究者研究外泌体打开新的大门。 参考文献:[1]. Ayuko Hoshino, et al, Extracellular Vesicle and Particle Biomarkers Define Multiple Human Cancers,cell, 2020, 182, 1–18.[2]. Oguzhan Avci, et al., Interferometric Reflectance Imaging Sensor (IRIS)—A Platform Technology for Multiplexed Diagnostics and Digital Detection, Sensors 2015, 15, 17649-17665.[3]. George G. Daaboul, et al, Digital Detection of Exosomes by Interferometric Imaging, Scientific Reports,6, 37246.[4]. Federica Collino, et al, Extracellular Vesicles Derived from Induced Pluripotent Stem Cells Promote Renoprotection in Acute Kidney Injury Model, Cells 2020, 9, 453.[5]. Daniel Bachurski, et al, Extracellular vesicle measurements with nanoparticle tracking analysis – An accuracy and repeatability comparison between NanoSight NS300 and ZetaView, JOURNAL OF EXTRACELLULAR VESICLES 2019, 8, 1596016.[6]. Robert D. Boyd, et al, New approach to inter-technique comparisons for nanoparticle size measurements using atomic force microscopy, nanoparticle tracking analysis and dynamic light scattering, Colloids and Surfaces A: Physicochem. Eng. Aspects 387,2011, 35– 42.
  • 使用BeNano 90检测UV色浆粒径
    UV色浆是有机或者无机颗粒和分散液形成的分散体系,广泛应用于油墨、涂料,可进行印刷和喷涂,具有较好施工性、高光泽、干燥速度快、低污染、墨层丰满平整、美观、流平性佳、附着力优良、柔韧性好、表面耐抗性好、耐划伤、抗化学性好等特点。UV色浆在紫外光照射下会固化。UV色浆的发展趋势是使用极细纳米颗粒。纳米级颗粒UV色浆具有分散性好,光泽度更高,色彩鲜艳,更好的固化性能等特点。在这篇应用报告中,我们使用丹东百特仪器公司最新推出的BeNano 90 Zeta纳米粒度电位仪检测了分散在乙酸乙酯中的不同颜色的UV色浆的粒径和Zeta电位信息。原理和设备采用丹东百特公司的BeNano 90 Zeta纳米粒度电位仪进行测试。仪器使用波长671nm,功率50mW激光器作为光源。动态光散射光路收集90°散射光,通过相关计算得到原始相关曲线信号,进而推导出颗粒的布朗运动速度,由斯托克斯爱因斯坦方程得到颗粒的粒径和粒径分布信息。样品制备和测试条件一共检测了6个纳米色浆样品,颜色分别为红、蓝、黄、黑、白颜色。其中白色色浆有两个样品,其中一个为进口白色浆。色浆的原始浓度较高,使用乙酸乙酯(折射率1.37,粘度0.426 cp@25℃)进行分散。稀释倍数为1000-10000倍直至色浆透明。通过BeNano 90 Zeta内置的温度控制系统将测试温度控制为25℃±0.1℃,样品注入玻璃粒径池采用动态光散射进行粒径池进行粒径测试。每一个样品在放入样品池后进行至少三次测试,以检测结果的重复性和得到结果的标准偏差。测试结果和讨论图1. 动态光散射检测UV浆料的相关曲线和粒径分布(上)图1. 动态光散射检测UV浆料的相关曲线和粒径分布(下)通过使用动态光散射技术,得到了UV浆料的粒径和粒径分布。可以看出所有六个样品的光强分布为一个粒径峰,没有团聚物峰。通过表1中的结果可以看出,所有浆料中的颗粒均为纳米级颗粒,不同颜色的浆料的平均粒径在100 – 300nm范围内,多次重复性测试的标准偏差均较小,说明样品分散均匀。 PDI值均超过了0.08说明所有浆料样品中的颗粒粒径具有一定的分布。可以注意到,白色浆和进口白色浆的平均粒径非常接近,而且白色浆的PDI甚至小于进口白色浆,说明通过工艺控制国产白色浆从颗粒大小和分布的角度已经达到进口白色浆水平。表1. 6次重复性测试粒径和PDI结果
  • 从专利申请文献统计看近百年颗粒粒径检测技术演进
    p    strong 编者按 /strong :让PM2.5无所遁形的颗粒粒径检测技术,已被广泛应用于工业、化学、环境安全等诸多领域。本文作者利用中国专利文摘数据库(CNABS)和德温特世界专利索引数据库(DWPI),采用分类号G01N与关键词对2017年7月12日之前的专利申请文献进行了检索,并对颗粒粒径检测方法的各技术分支的发展状况进行了分析和综述,以期对该领域的进一步研究提供一些参考。 /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201803/insimg/8421654c-8b9f-40df-adeb-ff1dbf5948e4.jpg" title=" 00.jpg" / /p p   2011年底,美国驻华大使馆在新浪微博的官方账号发出一条微博:“北京空气质量指数439,PM2.5细颗粒浓度408.0,空气有毒害??”该微博随即在国内引发了对PM2.5(细颗粒物)的强烈关注,最终PM2.5被纳入到常规空气质量监测体系中。事实上,让PM2.5无所遁形的就是颗粒粒径检测技术,其已被广泛应用于工业、化学、环境安全等诸多领域。笔者利用中国专利文摘数据库(CNABS)和德温特世界专利索引数据库(DWPI),采用分类号 G01N与关键词对2017年7月12日之前的专利申请文献进行了检索,并对颗粒粒径检测方法的各技术分支的发展状况进行了分析和综述,以期对该领域的进一步研究提供一些参考。 /p p    strong 各项技术并行发展 /strong /p p   颗粒粒径或粒度分布的检测方法种类繁多,按照测量原理主要有7类技术分支,包括:筛分法、沉降法、显微图像法、光散射法、电阻法、静电法和超声法。笔者对各技术分支的专利申请量进行统计发现,光散射法的专利申请量最高,其早在20世纪70年代就进入人们的视线,是目前最先进、应用最广的一种颗粒测量技术。此外,排名第二的是显微镜法,尤其是电子显微镜图像分析技术是当前比较流行的分析手段,该方法优势明显,除了可得到颗粒的粒径,还可以对颗粒的结构、形状和表面形貌有一定的直观认识和了解。然后分别是沉降法和筛分法,这两种方法是测量颗粒粒径的传统方法,工艺过程简单、成本较低,且操作便捷、装置结构简单。 /p p   在颗粒粒径检测技术演进的过程中,主要的发展趋势有2个方面:检测精确度的提高及检测对象的扩展。上世纪 40年代以前,业内主要是采用筛分法、沉降法和显微镜法。其中筛分法最早的专利出现在1933年,公开号为GB402402A 沉降法则是基于 Stokes重力沉降公式来测定粒径,沉降法的专利早期以国外专利申请为主。显微镜法是唯一可直接观测单个或混合颗粒形状、粒度和分布的方法,早期国内相关专利申请较少,从2010年才开始出现激增态势。此外,将显微镜法和其他粒度测试方法结合于一体的装置,是当前显微镜法的研究热点,如上海理工大学公开号为CN102207443A、CN102207444A的专利申请,就是利用传感器件将多种颗粒粒度测量方法融合在一起。 /p p   随着计算机、电子和激光等技术的快速发展,20世纪70年代起,颗粒粒径检测逐渐开始实现检测对象的多元化,光散射颗粒粒度测量仪受到市场欢迎。光散射技术的思想最早由前苏联学者Mandelshtam于1926年提出,随后其应用逐步扩展至界面和胶体科学等领域,并开发出了荧光相关光谱法、X射线光子相关光谱法、动态光散射显微术等。近年来,对动态光散射仪器的应用需求明显增长,相关技术研究主要集中在对动态光散射仪器的局部结构改进和采用各种新技术改造传统装置以扩展新应用等方面。 /p p   对于电阻法和基于电阻法发展起来的静电法和超声法,其理论基础的发展目前已趋于成熟。其中电阻法最早为美国Coulter公司创始人Wallace H. Coulter于1953年发明,随后Coulter公司将其商品化,开发出库尔特计数器,Coulter公司此后不断对电阻法进行深入研究,其生产的 Multisizer I全自动粒度分析仪仍是目前较为先进的颗粒测量多功能仪器。而其他公司和个人对于电阻法、静电法和超声法的研究,在1980年之后得到迅速发展,大量相关的专利都是基于Coulter公司技术的改进而来。 /p p   总体而言,虽然不同检测方法均有其各自的特点和适应的颗粒类型,各技术之间呈现并行发展的趋势,但整体上呈现出向更快速、更准确以及更加便捷检测的方向发展,各分支的专利申请量也均呈现出上升趋势。 /p p   strong  两家公司平分秋色 /strong /p p   笔者分析了排名靠前的主要申请人的核心专利数量和企业综合实力,发现在颗粒粒径检测领域, a style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " title=" " target=" _self" href=" http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100646/" span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 英国马尔文仪器有限公司 /span /a (下称马尔文公司)和 a style=" text-decoration: underline color: rgb(0, 176, 240) " title=" " target=" _self" href=" http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100336/" span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 美国贝克曼库尔特公司 /span /a span style=" text-decoration: underline color: rgb(0, 176, 240) " ( /span 下称贝克曼公司)呈现平分秋色的竞争态势。 /p p   马尔文公司成立于1963年,早在20世纪80年代,该公司便进行了颗粒粒径测量仪器的技术研发,其最早的研究方向是基于激光技术测定颗粒粒径。随后,该公司研发了利用超声法测量颗粒粒径的相关技术,相关专利包括US5121629A、GB9801667D0、WO2010/041082A2等。在 1980年到2010年间,马尔文公司在颗粒粒径检测的几个主要技术分支上均保持了稳定的专利申请量,在光散射法和超声法检测两个分支的专利申请量最大。 /p p   马尔文公司在超声测量方面的主要产品为Ultrasizer MSV超声测量仪,该仪器可根据颗粒粒径与声波衰减之间的关系计算出颗粒粒度分布,同时还可以测出体系的固含量。随后,该公司在初代产品的基础上进行改进,开发出了探头式超声粒度测量仪。近年来,马尔文公司发展迅速,从专利申请分布来看,自2010年至今,该公司提交了50余件关于激光粒度分析的专利申请,这表明该公司可能欲向高精密仪器方向转型。 /p p   贝克曼公司于1997年成立,现已成为世界最大的颗粒分析仪器公司,其于1953年制造出了世界上第一台颗粒粒度分析仪,并于1965年对该产品提交了专利申请NL6505468A。 /p p   1983年贝克曼公司就进入了中国市场,并在北京、上海等地设立了代表处,此后不断完善专利战略,迅速占领了国内外市场。2000年之后,贝克曼公司进入超声颗粒测量领域,获得了一系列专利权,如公开号为WO0057774A1、US2006001875A1等。2000年至2012年,贝克曼公司在颗粒粒度检测的四个主要分支领域均进行了专利布局,其开发了基于电阻原理的Multisizer 3系列粒度分析仪,基于光脉冲原理的HIAC系列液体颗粒检测仪,基于光脉冲和库尔特原理的Multisizer 4e系列粒度分析仪,以及融合了超声与光散射原理的DelsaMax Pro粒径分析仪和DelsaMax CORE系列产品。其最新的DelsaMax Pro系列产品与马尔文公司的Zetasizer Nano系列产品采用的技术都结合了声学和光学颗粒检测技术,可见两家公司在该领域的竞争态势比较激烈。 /p p   笔者认为,今后颗粒粒径检测领域的技术发展将更注重提高测量精度和对颗粒特性的多方面测定等方面,将不同颗粒粒径检测技术进行融合以提高检测性能将成为未来专利布局的热点。(詹雪) /p p (本文仅代表作者个人观点) /p

粒径仪测粒径原理相关的试剂

Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制