寸证件照尺寸标准

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  • kf80法兰标准尺寸-现货直供
    kf80法兰标准尺寸-现货直供我公司采用三维建模软件，按照实际比例建立三维模型，根据客户文字、语言草图等需求描述，专业设计出适合客户所需产品方案（在方案定稿之前所有设计不收取任何费用）。为了生产出最匹配客户需求的产品，需要告知我公司以下几个问题点：1、产品在使用过程中是否有温度产生，高温和低温分别是多少摄氏度，是否需要通水或液氮冷却等内外在因素。2、对产品材质是否有特殊要求，真空领域腔体常用材质为：碳钢、铝、304不锈钢、316不锈钢等3、产品的链接方式，抽真空的方式，抽真空所用的真空泵等4、腔体真空度的要求，腔体抽完真空以后是否需要冲入保护气体或其他气体。通常常见真空腔体技术性能：材质：304不锈钢或客户指定材质。腔体适用温度范围：-190℃~+1200℃密封方式：氟胶“O”型圈或金属无氧铜密封圈出厂检测事项：1、真空漏率检测：标准检测漏率：1.3*10-8PaL/S 2、水冷水压检测：标准检测压力：8公斤24小时无泄漏检测。内外表面处理：拉丝抛光处理、喷砂电解处理、酸洗处理、电解抛光处理和镜面抛光处理等。实验室真空系统,真空腔体,真空探针台kf80法兰标准尺寸-现货直供
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    厂商： 郑州克普斯机械设备有限公司
    品牌： Argonaut
    型号： KF
    价格： 1元
  • 微粒计数仪尺寸标准品
    名称：微粒计数仪尺寸标准品型号：3K/4K系列 单标粒关键词：标准粒子2000 标准乳胶球粒子 、微粒计数仪尺寸标准品、乳胶球标准品、颗粒固体粉末标准物、微粒计数仪校准物产品说明：供应标准粒子2000 标准乳胶球粒子 是单分散聚苯乙烯微球的悬浮液，主要用于空气传播或液体微粒计数系统的校准。它们的直径通过行业标准与技术协会（NIST）可溯源至标准尺度。这类微粒的成品是低残留的水悬浮溶液，具有很低的背景干扰。同时这类产品已被确认稀释，只需耗时很少的浓度微调，即可直接应用于激光微粒计数仪。 特点：适用于空气传播或液体微粒分散体系的单分散聚苯乙烯微球悬浮液。微粒直径经过 National Institute of Standards and Technology（美国国家标准技术研究院，NIST）标准仪表溯源测量。准确校准洁净室和其他污染监测应用中使用的激光微粒计数仪或检查这些计数仪的性能。这类微粒的成品是低残留的水悬浮溶液，具有很低的背景干扰。技术参数成分：聚苯乙烯密度：1.05g/cm3折射指数：1.59@589nm(25°C)添加剂：含微量表面活性剂 目前所包括的产品系列为：2000系列标准粒子3000系列标准粒子4000系列标准粒子3K系列标准粒子（计数控制应用）4K系列标准粒子（计数控制应用）8000系列标准粒子9000系列标准粒子Dri-Cal系列标准粒子Surf-Cal系列标准粒子Pharm-Trol系列标准粒子（计数控制应用）Validex系列标准粒子（计数控制应用）Count-Cal系列标准粒子（计数控制应用）Ezy-Cal系列标准粒子（计数控制应用）流式细胞仪微粒染色和荧光微球临床诊断与应用微粒0.1μm 15mL 10九次方 3K-1000.15μm 15mL 10九次方 3K-1500.2μm 15mL 10九次方 3K-2000.22μm 15mL 10九次方 3K-2200.27μm 15mL 10九次方 3K-2690.3μm 15mL 10九次方 3K-3000.35μm 15mL 10九次方 3K-3500.4μm 15mL 10九次方 3K-4000.5μm 15mL 10九次方 3K-5000.6μm 15mL 10九次方 3K-6000.7μm 15mL 10九次方 3K-7000.8μm 15mL 10九次方 3K-8000.9μm 15mL 10九次方 3K-9001.0μm 15mL 10九次方 3K-9901.0μm 15mL 10九次方 3K10001.6μm 15mL 10九次方 3K16002.0μm 15mL 5x10八次方 4K-023.0μm 15mL 5x10七次方 4K-034.0μm 15mL 5x10七次方 4K-045.0μm 15mL 10七次方 4K-056.0μm 15mL 10七次方 4K-067.0μm 15mL 10七次方 4K-0710μm 15mL 10六次方 4K-1015μm 15mL 10六次方 4K-1520μm 15mL 3x10五次方 4K-2025μm 15mL 3x10五次方 4K-2530μm 15mL 3x10五次方 4K-3040μm 15mL 8x10四次方 4K-4050μm 15mL 8x10四次方 4K-5060μm 15mL 8x10四次方 4K-6070μm 15mL 8x10四次方 4K-7080μm 15mL 8x10四次方 4K-80100μm 15mL 8x10四次方 4K100具体详情请电询普洛帝中国服务中心！ 普洛帝、Puluody、普勒、Pull为PLDMC公司注册的商标！ 有关技术阐述、参数、服务为普洛帝拥有，普洛帝保留对经销商、用户的知情权！
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    厂商： 西安中特计量检测研究院有限公司
    品牌： 普洛帝/PULUODY
    型号： 3k/4k
    价格： 面议
  • Dhyana 401D前照式小尺寸sCMOS相机 400-860-5168转4585
    Dhyana 401D前照式小尺寸sCMOS相机产品特点：1.2英寸面阵6.5微米像元尺寸40fps全分辨率帧率72%QE@595nm45ke-满阱容量USB3.0接口技术参数：产品型号Dhyana401D芯片类型前照式sCMOS快门模式卷帘彩色/黑白黑白感光面积13.3mm x 13.3mm分辨率2O48(H)x2048(V)像元尺寸6.5 μm x 6.5 μm量子效率72%595nm满阱容量45ke-帧率40fps(16bit)«45fps(8bit)读出噪声2.1e- ( Median)曝光时间lO μ s-lOs像素合并2x2,4x4感兴趣区域支持触发模式硬件&软件外触发输出幽光信号、读出信号、高电平、低电平外部触发接口HIROSE数据接口USB3.0位深16bit&8bit光学接口M42电源USB3.Om 电功耗4W相机尺寸50mm x 50mm x62mm相机重量305g应用软件Mosaic / LabVIEW / Matlab / Micromanager / SampleproSDK支持兼容系统Windows/Linux操作环境温度0-40oC/湿度10-85%
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    厂商： 福芯科技(香港)有限公司
    品牌： 鑫图光电/Tucsen
    型号： Dhyana 401D
    价格： 5万 - 10万元
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  • 扫描电镜线宽标样 CDMS ISO标准特征尺寸放大标样蚀刻线
    符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样，可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用蚀刻制造技术制成，可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围，分别是 Pelcotec CDMS-1T ISO和 Pelcotec CDMS-0.1T ISO，都提供可追溯和认证标样，共有4个种：Pelcotec CDMS-1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位701-1Pelcotec CDMS-1T ISO，2mm - 1um，可追溯，没有样品台，蚀刻线个699-1Pelcotec CDMS-1T，2mm - 1um，可追溯，没有样品台，蚀刻线个Pelcotec CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位711-1Pelcotec CDMS-1C ISO，2mm - 1um，经过认证，没有样品台，蚀刻线个703-1Pelcotec CDMS-1C，2mm - 1um，经过认证，没有样品台，蚀刻线个Pelcotec CDMS-0.1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位708-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台，蚀刻线个700-01Pelcotec CDMS-0.1T，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台，蚀刻线个 Pelcotec CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位712-01Pelcotec CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，经认证，没有样品台，蚀刻线个704-01Pelcotec CDMS-0.1T ，2mm - 100nm，经认证，没有样品台，蚀刻线个 Pelcotec CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um和1um（适用于 Pelcotec CDMS-1T ISO 和 Pelcotec CDMS-1C ISO）。而Pelcotec CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10um、5um、2um、1um、500nm、250nm和100nm。较小的特征尺寸被嵌套在一起，以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm，厚度为525um ±10um，在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用，Pelcotec CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上，而对于LM应用，则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec CDMS-1-ISOPelcotec CDMS-0.1-ISO基底：硅是是基底尺寸：2.5×2.5mm是是基底厚度：525±10μm是是唯一序列识别号是是2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块是是垂直于 X 轴的刻度线，间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm是是仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—是可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不装在样品台上可用是是可安装在 SEM样品台上是是精度优于0.3%是是线边缘粗糙度为每 1um 线边缘长度 +/- 0.3nm是是测量报告的不确定性 (k=2)* 为 ±0.012μm是是
    供应商： 广州竞赢科学仪器有限公司
    品牌： Ted Pella
    价格： 面议
  • Pelcotec SEM线宽标样 CDMS 标准特征尺寸放大标样
    Pelcotec&trade CDMS 校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样，可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用最新的半导体和微机电系统(MEMS)制造技术制成，可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec&trade CDMS 校准标样有两种特征尺寸范围，分别是 Pelcotec&trade CDMS-1T 和 Pelcotec&trade CDMS-0.1T ，都提供可追溯和认证标样，共有4个种：Pelcotec&trade CDMS-1T : 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位682-1Pelcotec&trade CDMS-1T ，2mm - 1µ m，可追溯，没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-1C : 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位686-1Pelcotec&trade CDMS-1C ，2mm - 1µ m，经过认证，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS-0.1T : 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位683-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS-0.1C : 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位687-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ，2mm - 100nm，经认证，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS 标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m和1µ m（适用于 Pelcotec&trade CDMS-1T ISO 和 Pelcotec&trade CDMS-1C ）。而Pelcotec&trade CDMS-0.1T 和 0.1C 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m、1µ m、500nm、250nm和100nm。 Pelcotec&trade CDMS 标样采用超平整的硅衬底制成，采用精密的50nm铬沉积技术制造特征尺寸小于5µ m的部分，而采用50nm金/20nm铬的组合制造2µ m到100nm的特征尺寸。铬和金/铬在硅基底上提供了卓越的SE和BSE成像模式对比度，比刻蚀硅标样更易于确定特征。由于硅衬底、铬和铬/金特征都具有导电性，因此该校准标样不存在充电问题。由于其坚固的结构，CDMS标样可使用等离子体清洗器进行清洁。较小的特征尺寸被嵌套在一起，以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm，厚度为525µ m ±10µ m，在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec&trade CDMS 校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec&trade CDMS 校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用，Pelcotec&trade CDMS 安装在12mm的AFM圆片上，而对于LM应用，则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec&trade CDMS-1Pelcotec&trade CDMS-0.1基底：硅&check &check 基底尺寸：2.5×2.5mm&check &check 基底厚度：525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴的刻度线，间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料：50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（2μm 和 1μm）&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（500、250 和 100nm）—&check 可在晶圆级追溯到 NISTT 版本T 版本CDMS 标样直接获得NIST 标准认证C版本C版本不含样品台&check &check 可安装在 SEM样品台上&check &check 精度优于0.3%&check &check
    供应商： 广州竞赢化工科技有限公司
    品牌： Ted Pella
    价格： 面议
  • Pelcotec扫描电镜线宽标样 CDMS ISO标准特征尺寸放大标样
    符合ISO 17025:2017标准的CDMS产品。NIST标准的可追溯性或单独认证有证书。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样是一种独特的经济实惠、功能齐全、可追溯的校准标样，可用于快速精准的扫描电镜(SEM)、场发射扫描电镜(FESEM)、离子束刻蚀(FIB)、CD-SEM、LM和AFM放大倍数校准。这些标样采用最新的半导体和微机电系统(MEMS)制造技术制成，可以覆盖广泛的测量范围。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样有两种特征尺寸范围，分别是 Pelcotec&trade CDMS-1T ISO和 Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，都提供可追溯和认证标样，共有4个种：Pelcotec&trade CDMS-1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位691-1Pelcotec&trade CDMS-1T ISO，2mm - 1µ m，可追溯，没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到1微米，放大倍数范围为10倍到20,000倍，非常适合台式扫描电镜和低到中等放大应用。产品编号描述单位695-1Pelcotec&trade CDMS-1C ISO，2mm - 1µ m，经过认证，没有样品台个Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO: 可追溯，特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位692-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，可追溯，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS-0.1C ISO: 经过NIST标样认证的特征尺寸范围为2.0毫米到100纳米，放大倍数范围高达10倍到200,000倍，适用于所有扫描电镜和大多数场发射扫描电镜应用。产品编号描述单位696-01Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO，2mm - 100nm，经认证，没有样品台个 Pelcotec&trade CDMS ISO标样的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m和1µ m（适用于Pelcotec&trade CDMS-1T ISO 和 Pelcotec&trade CDMS-1C ISO）。而Pelcotec&trade CDMS-0.1T ISO 和 0.1C ISO 的特征尺寸范围为2mm、1mm、0.5mm、0.25mm、10µ m、5µ m、2µ m、1µ m、500nm、250nm和100nm。Pelcotec&trade CDMS ISO标样采用超平整的硅衬底制成，采用精密的50nm铬沉积技术制造特征尺寸小于5µ m的部分，而采用50nm金/20nm铬的组合制造2µ m到100nm的特征尺寸。铬和金/铬在硅基底上提供了卓越的SE和BSE成像模式对比度，比刻蚀硅标样更易于确定特征。由于硅衬底、铬和铬/金特征都具有导电性，因此该校准标样不存在充电问题。由于其坚固的结构，CDMS标样可使用等离子体清洗器进行清洁。较小的特征尺寸被嵌套在一起，以便于导航和快速校准。特征的精度为0.3%或更高。标样的实际尺寸为2.5 x 2.5mm，厚度为525µ m ±10µ m，在硅表面上没有涂层。每个Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样都有一个独特的识别编号。Pelcotec&trade CDMS ISO校准标样可供选择不安装或安装在SEM样品台A-R上。对于AFM应用，Pelcotec&trade CDMS ISO安装在12mm的AFM圆片上，而对于LM应用，则安装在25 x 75mm的载玻片上。也可以制备在自定义的支架上。可选的样品座。Pelcotec&trade CDMS-1-ISOPelcotec&trade CDMS-0.1-ISO基底：硅&check &check 基底尺寸：2.5×2.5mm&check &check 基底厚度：525±10μm&check &check 唯一序列识别号&check &check 2mm、1mm、0.5mm、0.25mm 的校准方块&check &check 垂直于 X 轴的刻度线，间距为 10μm、5μm、2μm 和 1μm&check &check 仅高分辨率版本 - 垂直于 X 轴的附加刻度线以 500、250 和 100 nm 节距标出—&check 特征材料：50nm Cr (2mm - 5µ m)&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（2μm 和 1μm）&check &check 特征材料：20nm Cr/50nm Au（500、250 和 100nm）—&check 可在晶圆级追溯到 NIST（ISO 17025:2017 认证标准）T 版本T 版本CDMS 标样直接获得 NIST 标准认证（ISO 17025:2017 认证标准）C版本C版本不含样品台&check &check 可安装在 SEM样品台上&check &check 精度优于0.3%&check &check
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  • 种子尺寸分析仪-测量种子尺寸的仪器
    TPKZ-3-L种子尺寸分析仪由浙江托普云农公司提供，种子尺寸分析仪采用图像识别技术设计而成，可以在极短的时间内快速完成考种工作，测量种子长度尺寸。种子分析仪，也可以理解为能够测量种子尺寸的分析仪。　　种子尺寸分析仪也称智能考种分析仪，托普云农新设计研发的智能型自动考种系统。这款仪器可以在极短的时间内快速完成考种工作，是现代育种考种、种子研发中的常用仪器之一。仪器是基于图像识别技术，突破籽粒和感知数据采集等关键技术，研发了集玉米、大豆等散粒长、粒宽、千粒重等多参数一体化快速检测设备，实现考种过程的自动化、智能化，减少人力成本投入，去除人为误差干扰，加强了考种测量准确率，构筑了智能化考种测量方法，为农业遗传育种研究而服务。　　用途：能测量数量、千粒重、平均粒型、每一粒籽粒的粒型。玉米棒除外。　　功能特点：　　1.实时性：测量速度快，能够实时测量出籽粒的数量、粒长、粒宽、周长、面积、重量等参数。算法计算时间≤1s，大大缩短了测量的时间，为研究降低了时间成本。　　2.一键式：智能考种分析系统是基于图像识别技术，一键执行，马上计算出所有测量参数，降低人工操作性，减少人为误差，简化操作流程，一键得到测量结果。　　3.存储方式：测量数据的保存可以为研究提供详尽而细致的数据结果，智能考种分析系统配备了相应存储容量，可将所有数据导出excel到电脑，方便用户进行本地数据存储和数据对比分析工作，满足了数据存储的需要。　　4.适应范围：针对于籽粒考种，智能考种分析系统设置散粒考种范围包括大豆，玉米的考种需求。　　种子尺寸分析仪技术参数：　　1.数粒范围：50~20000粒　　2.数粒精度：圆形种子自动数粒误差≤±0.1%，长形种子自动数粒误差≤±0.5%，可手动修正保证结果准确。粒型误差≤±0.5%　　3.系统供电：DC5V，直接使用USB供电，可以外接电脑或者充电宝　　4.响应时间：5s内输出结果
    时间： 2021-06-02
    作者： 托普云农
  • 继往开来，第10届全国几何质量和尺寸工程技术高峰论坛成功召开
    2024龙年，中国尺寸工程联盟迎来成立10周年庆。3月14-15日，第10届全国几何质量和尺寸工程技术高峰论坛在美丽的龙城柳州成功举办。本次论坛由中国尺寸工程联盟和广西科技大学联合主办，上海乾振汽车会议部承办。论坛吸引了国内几乎所有的整车企业，以及配套企业、航天、航空、检测装备等企业共计200余名技术人员参加。 论坛现场回顾过去10年，中国尺寸人见证了中国汽车从崛起、追赶到并跑的过程。从燃油车、电动车到网控车，汽车已从代步工具逐步向个性化自移动空间进化，层出不穷的新概念、眼花缭乱的新结构给尺寸工程带来了全新的挑战。在中国尺寸人的共同努力下，不仅全面支撑了汽车的进化，更让中国汽车车身的质量赶上了世界先进水平。在迎接外部挑战的同时，尺寸人还主动挑战自我，在强化尺寸工程技术的同时，更是关注标准化、自动化、数字化、智能化技术的融合，使尺寸工程的数字化转型在国内处于领先水平。十年，尺寸人一起携手走来，一起追求共同的理想，一起成就了中国汽车。 这是一个值得尺寸人骄傲和自豪的十年。本次大会的主题为“竞创”，中国尺寸人不仅将在竞争中成就彼此，更要在创新中百轲争先。大家今后还会团聚在一起，以柳州，这一龙城为起点，抬头腾飞，为中国汽车、中国制造做更大的贡献。参会代表合影本次论坛由东风汽车研发总院乘用车开发中心尺寸经理王珂担纲主持。联盟发起人、上海大学李明教授，广西科技大学秦小云副校长，以及棣拓(上海)科技公司的张慧博总经理分别开幕致辞。李明教授在回顾了尺寸工程十年来的发展历程后，做了《拥抱信息化和智能化的尺寸工程》的主旨报告，介绍对信息化、智能化技术应有的思考及工程实践案例，并重点讲解了计算机辅助规范（CAS）软件的研发思路和应用效果。棣拓（上海）科技发展有限公司高级技术经理邵俊和市场总监束忻玥分别分绍了自主研发的自动公差仿真分析技术和虚拟现实技术在尺寸工程中的应用。泛亚汽车技术中心有限公司胡敏博士团队的沈骏安经理介绍了用工匠之心迎接新场景、新结构挑战，满足全车开发的尺寸工程开发。上汽通用汽车有限公司的教授级高工杨玉芳介绍了企业在智能化尺寸工程方面的实践和一键全自动测量仿真及离线编程技术。下午，上海蔚来汽车有限公司尺寸工程专家付红圣和沈潇俊分别介绍了尺寸美学&尺寸工程在换电中的应用。博力加软件（上海）有限公司华南区负责人彭小飞介绍了Polyworks软件通过数据驱动的数字化连接3D测量技术。重庆赛力斯新能源汽车设计院有限公司尺寸工程部长郑耀凯介绍了智能尺寸测量规划平台（I-DMPP）的搭建与应用。苏州天准科技股份有限公司计量事业部产品总监王志伟介绍了机器视觉在新汽车行业尺寸工程中的应用。奇瑞汽车股份有限公司尺寸工程经理李文萍介绍了奇瑞汽车的尺寸工程从人工化到智能化的历程。15日上午，阿维塔科技（重庆）有限公司尺寸工程总工周智汉介绍了极致尺寸容差策略实施研究成果。上汽通用五菱汽车股份有限公司车体工程部张争团队的高级工程师刘丽娜介绍了尺寸测量系统融合创新探索成果。最后，来自东风汽车集团研发总院的车身总师、龙从林教授级高工通过三个实际工程案例，为大家分享了尺寸工程在边缘地带的应用和作用。此外，来自广西科技大学的郑伟光、长安汽车的蒋国平和尉红军、长城汽车的顾勇、北汽的潘强、上汽大通杨扬、一汽集团的赵振洲等技术专家也分别对尺寸工程中大家关注的问题进行了互动探讨。本次年会继去年邀请中国航发介绍尺寸工程应用情况后，今年又专门邀请了来自上海航天设备制造总厂的梁鑫光博士介绍了尺寸工程技术在航天空间机构产品研制中的应用探索与展望，旨在跨行业相互学习、相互促进和推进尺寸工程技术在中国制造业中的应用。部分报告嘉宾合影本次论坛还吸引了众多的软件和设备厂商以及相关院校参展，包括棣拓科技DTAS、博力加软件Polyworks、天准科技影像测量装备、先临三维3D扫描仪、龙测三维3D扫描仪、迪迈森测量机、上海信的数据分析管理软件、豪斯特模具装备、科锐特汽车工艺智能装备、恒成检具、广西科技大学、上海墨圆方信息科技等。值得一提的是，上海墨圆方信息科技有限公司带来了一款全新的计算机辅助规范（CAS）数智工具软件，引起了与会专家的高度关注。茶歇交流掠影从专家们的交流中，我们可以看到目前国内的尺寸工程发展趋势。一方面各厂家都在积极助力汽车进化和转型，另一方面则在通用数字化，特别是智能化技术的融合，以提升尺寸工程的质量和加速工作效率。从目前数字化转型的工程实践来看，中国汽车的尺寸工程数字化转型已走在了中国制造业的前列。我们有理由相信，在中国汽车人的共同努力下，中国的尺寸工程将迎来更大的辉煌。3月15日下午，一行代表参观了上汽通用五菱宝骏基地总装车间以及碰撞实验室，近距离了解汽车生产的过程。生产线上，智能机器人对零部件进行组装，工人们分环节地完成后续精细组装及验视、测量等工作。我们有理由相信，宝骏基地在未来能给我们带来更多意想不到的惊喜。上汽通用五菱宝骏基地参观第一个十年已圆满交付，期待下一个十年。我们的奋斗之路还在继续。每一次的努力和进步都离不开大家的关心与支持，也感谢每一位为年会付出努力的成员。期待来年尺寸大家庭再次汇聚，共同为我们的目标继续努力。中国尺寸工程联盟发起人附：中国尺寸工程联盟联络处Susie Hu 13801616369Mia Xiong13817962355
    时间： 2024-03-19
    作者： 牛亚伟
  • 2023年中国汽车工程学会尺寸工程分会论文征集通知
    由中国汽车工程学会尺寸工程分会主办的“2023 年汽车尺寸工程交流会”将于2023年7月召开。尺寸工程分会致力于在汽车尺寸工程领域开展学术交流、标准体系完善、人才培养及学会任务等工作，促进专业发展，提高专业水平，助力国家汽车专业尺寸工程整体技术水平提升。会议将以“务实、创新”为主题，以技术交流为目的，以助力汽车强国为初心，推动国内尺寸工程技术发展。诚挚欢迎尺寸工程专业的各位委员，从事汽车主机及零部件、摩托车制造及相关工业领域的尺寸工程技术人员，关心中国汽车尺寸工程技术进步的国内外友好人士踊跃投稿。入选论文将编入大会论文集，同时安排在会议上宣讲相关论文，并推荐在《汽车工艺与材料》、AI《汽车制造业》等杂志上发表。一、论文范围 1、尺寸工程技术在汽车尺寸同步工程方面的研究与应用；2、尺寸工程技术在白车身尺寸精度控制方面的研究与应用；3、尺寸工程技术在整车外观尺寸精度控制方面的研究与应用；4、尺寸工程技术在汽车质量控制工具方面的研究与应用；5、尺寸工程技术在汽车开发中的未来展望。二、论文格式要求采用A4幅面复印纸排版打印，上下左右的页边距均为30mm，字体及字号要求如下：论文题目（三号宋体加粗）作者姓名（作者所在单位 邮政编码）（五号宋体）【摘要】：300字以内（5号楷体）x x x x x x x x x x x x x x x （正文5号宋体）小标题（小4号黑体加粗）图表可用小5号或6号字要求文章没有发表过，且主题明确，逻辑严谨，文字精炼，图像清楚（若引用外文数据或图表必须翻译成中文），格式规范。要求专题论述论文不能超过2500字，综述性论文不能超过3500字。三、论文提交时间征文截止日期为2023年6月30日，论文请同时发至以下三个邮箱：联系人： 史有为 17743121786 shiyouwei@faw.com.cn杨 博 17804310832 yangbo1@faw.com.cn 苏志勇 13514466239 suzhiyong@faw.com.cn
    时间： 2023-03-10
    作者： 牛亚伟
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